技術(shù)編號：5875759
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導體納米材料的光電性能測試，具體是指ー種用于半導體氣相光電性能高通量測試的芯片及裝置。背景技術(shù)由于太陽能的利用能夠緩解能源危機和環(huán)境問題帶來的社會壓力，人們對半導體光電材料和器件的研究越來越重視。半導體光電材料可以將一定光能轉(zhuǎn)化成電能，從而實現(xiàn)太陽能的利用。具有優(yōu)異光電性能的半導體材料，可應用于氣敏傳感器，光探測器，光催化劑等各個領(lǐng)域，因此具有重要的研究價值。但是新材料的開發(fā)并不是ー個簡單而順利的過程。由于目前無法根據(jù)材料的成分和處理工藝來準確...
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