技術編號：5843918
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種三維測量裝置，具體涉及一種利用投影技術的三維測量裝置。背景技術目前，現(xiàn)有的無陰影3維輪廓測量技術是雙側白光掃描測量方式。申請人株式會 社高永科技，申請的專利號為200480003759. X的專利中公開如下技術特征先是第一側光 源產(chǎn)生的平行光，經(jīng)過光柵產(chǎn)生的結構光經(jīng)過鏡片反射后照射測量對象的一側，另一側光 源也產(chǎn)生光柵結構光經(jīng)過鏡片反射后照射測量對象的另一側，光柵移動后，兩側光源交替 逐次掃描，圖像采集裝置依次采集圖像，經(jīng)過計算機計算出兩側的...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。