技術編號：5821626
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及的離子化(電離)方法和離子化裝置(離子源)應用于質(zhì)譜分析領域，屬于 敞開環(huán)境下使用的質(zhì)譜儀器的相關技術。這種離子化方法也可以推廣應用到其它電離分析領 域。背景技術傳統(tǒng)的離子化方法可以概括為電子轟擊離子化方法(EI)、化學電離離子化方法(CI)、 場解吸離子化方法(FD/FI)、快原子轟擊電離方法(FAB)等。傳統(tǒng)的離子化技術要求將樣 品引入高真空系統(tǒng)，裝置及操作復雜、容易導致離子源及分析器污染等問題。另外，這些離 子化方法由于能量傳遞過程激烈，在...
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