技術(shù)編號：5821011
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于激光器檢測分析領(lǐng)域，具體涉及一種針對高功率半導(dǎo)體激光器及 陣列激光器的質(zhì)量和可靠性進(jìn)行檢測和篩選的方法。背景技術(shù)已有的半導(dǎo)體激光器的可靠性檢測方法是采用電老化法，在提高溫度、加大 電流的情況下加速老化一定時間(如24小時或更長)的方法，通過測量將閾值 電流或輸出光功率老化前后變化大的器件篩選掉，從而判定器件的可靠性。這種 方法費(fèi)時、耗電，還要有足夠容量的老化臺。對高功率陣列激光器來說，驅(qū)動電 流一般都在幾十安培以上，老化臺要有更大的電流容量。另外...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。