技術(shù)編號(hào):42041743
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開涉及光檢測(cè)元件和電子設(shè)備。背景技術(shù)、通常,在具有測(cè)距功能的電子設(shè)備中,稱為飛行時(shí)間(tof)方法的測(cè)距方法是已知的。tof方法是通過(guò)用來(lái)自電子設(shè)備的照射光照射對(duì)象并且獲得直到照射光被反射并返回到電子設(shè)備的往返時(shí)間來(lái)測(cè)量距離的方法。例如,已經(jīng)提出了通過(guò)單光子雪崩二極管(spad)檢測(cè)反射光的tof型相機(jī)。spad是通過(guò)放大光電流具有改善的靈敏度的光電二極管。、spad用于蓋革模式,在該蓋革模式下,反向偏壓被施加至等于或高于特定電壓的電壓。在該蓋革模式下,執(zhí)行控制使得在電源被施加到陽(yáng)極側(cè)并...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路,無(wú)完整電路圖,適合研究學(xué)習(xí)。