技術(shù)編號：39713088
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種數(shù)據(jù)讀取技術(shù)，尤其涉及一種數(shù)據(jù)存儲裝置及其讀取電壓的搜尋方法。背景技術(shù)、數(shù)據(jù)存儲裝置靜止時間過長或者使用壽命減少的時候，數(shù)據(jù)存儲裝置會出現(xiàn)電壓漂移的現(xiàn)象，導(dǎo)致錯誤率上升，數(shù)據(jù)穩(wěn)定性差。用原存儲器顆粒廠商的默認(rèn)讀取電壓讀數(shù)據(jù)存儲裝置，如果電壓漂移過大，將會導(dǎo)致讀取到的翻轉(zhuǎn)比特太多，超過主控端或數(shù)據(jù)存儲裝置上面的糾錯單元(比如ldpc譯碼單元)的譯碼糾錯能力，則會出現(xiàn)數(shù)據(jù)丟失的情況。為了解決數(shù)據(jù)存儲裝置嚴(yán)重的電壓漂移現(xiàn)象，一般在用默認(rèn)讀取電壓讀取出錯無法通過譯碼糾錯更正之后，會用重讀...
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