技術(shù)編號(hào)：2951743
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明一般涉及質(zhì)譜儀，尤其涉及使用微波或高頻射頻等離子體形成試劑離子的 質(zhì)譜測(cè)定及其應(yīng)用。背景技術(shù)質(zhì)譜測(cè)定一般是指通過使用光譜數(shù)據(jù)測(cè)量其它物理量而對(duì)粒子質(zhì)量值的直接測(cè) 量或粒子質(zhì)量值的明確確定。質(zhì)譜儀經(jīng)常包括確定電離分子或成分的質(zhì)荷比。當(dāng)已知電離 粒子的電荷時(shí)，可以從質(zhì)量值譜來確定粒子的質(zhì)量值。已知用于執(zhí)行質(zhì)譜法的系統(tǒng)為質(zhì)譜儀。質(zhì)譜儀系統(tǒng)一般包括離子源、質(zhì)量過濾器 或分離器以及檢測(cè)器。例如，可以通過在離子源中影響電子來產(chǎn)生離子而使分子或成分的 樣品電離。例...
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