技術(shù)編號：12710837
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明系一種測量任一局部曲面半徑的方法與儀器，屬于光機(jī)電物理檢測設(shè)備。背景技術(shù)目前，公知檢測曲面半徑的方法中，三D掃描測量既可以完整測定正球體的半徑，也可以測量不規(guī)則物體物理特征，但需要較貴的掃描儀；而游標(biāo)卡尺或激光徑向測量適合完整球體的測量。本發(fā)明為測定任一局部區(qū)域曲面半徑提供方法與設(shè)備。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明系一種曲面半徑測量方法與儀器。下面結(jié)合附圖與實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。圖1至圖5為測量曲面半徑測量方法的工作原理示意圖；圖6為曲面半徑測量儀立體視圖圖7為曲面半徑測量儀附件圖圖8為曲面半徑測量...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。