技術(shù)編號：10721848
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。光纖彎曲會(huì)造成光纖的輻射損耗，尤其是當(dāng)光纖受到半徑很大的彎曲時(shí)，彎曲半徑與纖芯直徑具有可比性時(shí)，它的傳輸特性會(huì)發(fā)生變化，大量的傳導(dǎo)模被轉(zhuǎn)化成輻射模，不再繼續(xù)傳輸，而是進(jìn)入包層被涂覆層或包層吸收，從而引起光纖的附加耗損。其中宏彎損耗光纖的曲率半徑比光纖直徑大的的的彎曲引起的附加耗損。因此，對光纖進(jìn)行宏彎損耗測試是光纖制造過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，現(xiàn)在常用的光纖宏彎損耗測試方法是將光纖纏繞在柱狀的測試輪軸上，通過對比光纖彎曲狀態(tài)與未彎曲狀態(tài)時(shí)光學(xué)特性的變化來檢測光...
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