技術(shù)編號(hào)：10611292
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。顯微光學(xué)技術(shù)，例如顯微拉曼、顯微焚光，因其高分辨性和低損傷性廣泛應(yīng)用于材料微區(qū)性質(zhì)的表征?；诠步癸@微系統(tǒng)的原位電學(xué)測(cè)量技術(shù)在材料微區(qū)性質(zhì)表征方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，如可以提供微區(qū)光學(xué)、電學(xué)等方面性質(zhì)的原位測(cè)量。而基于探針的傳統(tǒng)的電學(xué)測(cè)量由于探針座尺寸、重量等的限制，不能在商業(yè)化的共焦顯微光學(xué)儀器上使用。針對(duì)上述問(wèn)題，提出一種能夠在微區(qū)內(nèi)(納米量級(jí))實(shí)現(xiàn)在光照下材料精確的1-V電學(xué)性質(zhì)測(cè)量和在器件運(yùn)作過(guò)程中如柵壓調(diào)控下的光學(xué)測(cè)量的微區(qū)光學(xué)、電學(xué)的測(cè)量裝置及方法...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。