技術(shù)編號(hào)：10513548
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 衛(wèi)星運(yùn)行在空間輻射環(huán)境，星上的電子設(shè)備會(huì)受到空間質(zhì)子、電子以及其它類(lèi)型 的輻照，并產(chǎn)生輻照效應(yīng)。單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)是由于空間質(zhì)子、重離子引起的一種輻照效應(yīng)， 發(fā)生SEU時(shí)，電子器件的存儲(chǔ)器的邏輯狀態(tài)會(huì)發(fā)生改變，進(jìn)而引起程序執(zhí)行錯(cuò)誤，甚至電路 失效。目前，空間電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中一般選擇SEU閾值滿(mǎn)足設(shè)計(jì)需求的抗輻射加固的器件，并 采取諸如三模冗余等加固措施來(lái)緩解SEU問(wèn)題。然而隨著衛(wèi)星數(shù)據(jù)處理能力需求的增加、以 及來(lái)自低成本和快速研發(fā)進(jìn)度的需求，經(jīng)過(guò)抗輻射加...
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