技術(shù)編號(hào):10469841
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。目前,已有的用于位姿檢測(cè)或位移檢測(cè)的設(shè)備主要分為接觸式和非接觸式兩種。當(dāng)工作環(huán)境允許通過接觸的方式來檢測(cè)位姿或位移時(shí),可以選用接觸式的檢測(cè)設(shè)備,但這些設(shè)備對(duì)接觸部件存在機(jī)械性的磨損,所以設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間工作后,會(huì)出現(xiàn)穩(wěn)定性和精度下降的情況。當(dāng)工作環(huán)境不允許與被檢測(cè)體有接觸,這時(shí)就要選用非接觸式的檢測(cè)設(shè)備,如一些利用GPS、電磁信號(hào)、超聲波和紅外光進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備,但他們的檢測(cè)結(jié)果容易受到電磁干擾、環(huán)境噪音、接收信號(hào)電平波動(dòng)等情況的影響,抑或容易受到雨水、灰塵、酸堿...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。