一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置的制造方法
【專利說明】
[0001 ] 技術領域:
本發(fā)明涉及一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置。
[0002]【背景技術】:
氧化鋅納米材料在在電氣設備制造中被廣泛應用，如納米發(fā)電機，場效應晶體管，帶柵門的二極管，氣體傳感器，記憶存儲器等。研究發(fā)現(xiàn)，氧化鋅納米材料隨著其長度(高度)的變化而變化，而且在有光照和黑暗條件下，其電阻變化情況并不一樣。然而，到目前為止，要測量氧化鋅納米材料電阻需要使用微電制造和特殊設計的設備，這必然增加了實驗成本。
[0003]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
本發(fā)明的目的是提供一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置，解決上述缺陷。
[0004]上述的目的通過以下的技術方案實現(xiàn):
一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置，其組成包括:導電基板，所述的導電基板與導線(一)連接，所述的導線(一)與電源連接，所述的電源通過導線(二)與電流表連接，所述的電流表通過導線(三)與原子力顯微鏡探針連接，所述的原子力顯微鏡探針與氧化鋅納米材料接觸，所述的氧化鋅納米材料與導電基板連接，從而構成一個閉合的回路。
[0005]所述的一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置，所述的原子力顯微鏡探針針尖部分涂有金圖層。
[0006]有益效果:
1.本發(fā)明利用原子力顯微鏡技術通過原子力顯微鏡探針與氧化鋅納米材料接觸形成的閉合回路即可測量不同高度的氧化鋅納米材料的電流-電壓曲線，最終確定氧化鋅納米材料電阻與其(長度)高度的關系。
[0007]2.本發(fā)明可在常壓環(huán)境中測量氧化鋅納米材料的電流-電壓曲線，不需要特殊的環(huán)境及設備，減少了實驗的成本。
[0008]【附圖說明】:
附圖1是本發(fā)明的結構示意圖。
[0009]【具體實施方式】:
實施例1:
一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置，其組成包括:導電基板I，所述的導電基板與導線(一)連接，所述的導線(一)2與電源連接，所述的電源通過導線(二)與電流表3連接，所述的電流表通過導線(三)與原子力顯微鏡探針4連接，所述的原子力顯微鏡探針與氧化鋅納米材料5接觸，所述的氧化鋅納米材料與導電基板6連接，從而構成一個閉合的回路。
[0010]實施例2:
根據(jù)實施例1所述的一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置，所述的原子力顯微鏡探針針尖部分涂有金圖層。
【主權項】
1.一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置，其組成包括:導電基板，所述的導電基板與導線(一)連接，所述的導線(一)與電源連接，所述的電源通過導線(二)與電流表連接，所述的電流表通過導線(三)與原子力顯微鏡探針連接，所述的原子力顯微鏡探針與氧化鋅納米材料接觸，所述的氧化鋅納米材料與導電基板連接，從而構成一個閉合的回路。2.根據(jù)權利要求1所述的一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置，所述的原子力顯微鏡探針針尖部分涂有金圖層。
【專利摘要】一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置。氧化鋅納米材料在電氣設備制造中被廣泛應用，如納米發(fā)電機，氣體傳感器，記憶存儲器等。到目前為止，要測量氧化鋅納米材料電阻需要使用微電制造和特殊設計的設備，這必然增加了實驗成本。一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置，其組成包括：導電基板，所述的導電基板與導線（一）連接，所述的導線（一）與電源連接，所述的電源通過導線（二）與電流表連接，所述的電流表通過導線（三）與原子力顯微鏡探針連接，所述的原子力顯微鏡探針與氧化鋅納米材料接觸，所述的氧化鋅納米材料與導電基板連接，從而構成一個閉合的回路。本發(fā)明用于一種氧化鋅納米材料電阻測量方法及裝置。
【IPC分類】G01R27/08
【公開號】CN105652094
【申請?zhí)枴?br>【發(fā)明人】于廣濱, 高海連, 陳溪, 段元旺
【申請人】哈爾濱理工大學
【公開日】2016年6月8日
【申請日】2016年3月1日