玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶顯示器玻璃基板檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著人們對(duì)顯示器的顯示效果的關(guān)注程度越來(lái)越高，特別是顯示器的分辨率的要求不斷提升；故而，在顯示器的玻璃基板加工過(guò)程中，其玻璃基板的質(zhì)量要求也要求越來(lái)越嚴(yán)格。
[0003]現(xiàn)有的玻璃基板缺陷檢測(cè)方法，采用激光掃描檢測(cè)的方式，設(shè)備成本較高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于提供一種玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，該玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法可降低設(shè)備成本，提高檢測(cè)效率。
[0005]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)。
[0006]玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，它包括以下步驟:
A、將玻璃基板固定于夾具，玻璃基板前端為光源，玻璃基板后端為攝像頭；
B、打開光源，攝像頭對(duì)玻璃基板進(jìn)行圖像采集；
C、對(duì)攝像頭所采集的圖像進(jìn)行圖像處理:
O目標(biāo)提取:對(duì)圖像進(jìn)行預(yù)處理分割，采用全局閾值技術(shù)處理及信號(hào)放大，使灰度圖像背景與缺陷分割開，完成缺陷灰度圖預(yù)處理，為圖像的特征提取做準(zhǔn)備；
2)特征提取:在缺陷灰度圖預(yù)處理后，對(duì)缺陷進(jìn)行分類，提取缺陷的幾何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征；利用這些特征完成對(duì)缺陷的長(zhǎng)寬、長(zhǎng)寬比、面積、平均灰度、明暗對(duì)比度、填充度的數(shù)學(xué)描述，得到缺陷的特征數(shù)值；
3)缺陷的分類:根據(jù)缺陷的特征數(shù)值，將相應(yīng)特征所對(duì)應(yīng)的缺陷劃分為表面內(nèi)部包含物、粘附物、氣泡、劃傷、灰塵；
D、打印數(shù)據(jù)報(bào)表和圖片，包含缺陷的分類和對(duì)應(yīng)的特征數(shù)值，以及標(biāo)準(zhǔn)缺陷數(shù)值。
[0007]所述攝像頭的數(shù)量至少為三個(gè)。
[0008]所述光源連接有光源控制器。
[0009]所述光源為L(zhǎng)ED發(fā)光體。
[0010]本發(fā)明的有益效果為:本發(fā)明所述一種玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，該玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法可降低設(shè)備成本，提高檢測(cè)效率。
【具體實(shí)施方式】
[0011]下面結(jié)合具體的實(shí)施方式來(lái)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說(shuō)明。
[0012]玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，它包括以下步驟:
A、將玻璃基板固定于夾具，玻璃基板前端為光源，玻璃基板后端為攝像頭； B、打開光源，攝像頭對(duì)玻璃基板進(jìn)行圖像采集；
C、對(duì)攝像頭所采集的圖像進(jìn)行圖像處理:
O目標(biāo)提取:對(duì)圖像進(jìn)行預(yù)處理分割，采用全局閾值技術(shù)處理及信號(hào)放大，使灰度圖像背景與缺陷分割開，完成缺陷灰度圖預(yù)處理，為圖像的特征提取做準(zhǔn)備；
2)特征提取:在缺陷灰度圖預(yù)處理后，對(duì)缺陷進(jìn)行分類，提取缺陷的幾何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征；利用這些特征完成對(duì)缺陷的長(zhǎng)寬、長(zhǎng)寬比、面積、平均灰度、明暗對(duì)比度、填充度的數(shù)學(xué)描述，得到缺陷的特征數(shù)值；
3)缺陷的分類:根據(jù)缺陷的特征數(shù)值，將相應(yīng)特征所對(duì)應(yīng)的缺陷劃分為表面內(nèi)部包含物、粘附物、氣泡、劃傷、灰塵；
D、打印數(shù)據(jù)報(bào)表和圖片，包含缺陷的分類和對(duì)應(yīng)的特征數(shù)值，以及標(biāo)準(zhǔn)缺陷數(shù)值。
[0013]作為優(yōu)選的實(shí)施方式，所述攝像頭的數(shù)量至少為三個(gè)，并可根據(jù)玻璃基板的大小，設(shè)置不同數(shù)量的攝像頭。所述光源連接有光源控制器，可根據(jù)不同的玻璃基板設(shè)置光源的亮度，所述光源為L(zhǎng)ED發(fā)光體。
[0014]上述一種玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，通過(guò)對(duì)攝像頭所采集的圖像進(jìn)行圖像處理，生產(chǎn)缺陷的分類和缺陷的特征數(shù)值，便于檢測(cè)人員快速判斷缺陷，該玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法可降低設(shè)備成本，提高檢測(cè)效率。
[0015]以上內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，本說(shuō)明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，它包括以下步驟: A、將玻璃基板固定于夾具，玻璃基板前端為光源，玻璃基板后端為攝像頭； B、打開光源，攝像頭對(duì)玻璃基板進(jìn)行圖像采集； C、對(duì)攝像頭所采集的圖像進(jìn)行圖像處理: O目標(biāo)提取:對(duì)圖像進(jìn)行預(yù)處理分割，采用全局閾值技術(shù)處理及信號(hào)放大，使灰度圖像背景與缺陷分割開，完成缺陷灰度圖預(yù)處理，為圖像的特征提取做準(zhǔn)備； 2)特征提取:在缺陷灰度圖預(yù)處理后，對(duì)缺陷進(jìn)行分類，提取缺陷的幾何特征、灰度特征、明暗特征、像素特征；利用這些特征完成對(duì)缺陷的長(zhǎng)寬、長(zhǎng)寬比、面積、平均灰度、明暗對(duì)比度、填充度的數(shù)學(xué)描述，得到缺陷的特征數(shù)值； 3)缺陷的分類:根據(jù)缺陷的特征數(shù)值，將相應(yīng)特征所對(duì)應(yīng)的缺陷劃分為表面內(nèi)部包含物、粘附物、氣泡、劃傷、灰塵； D、打印數(shù)據(jù)報(bào)表和圖片，包含缺陷的分類和對(duì)應(yīng)的特征數(shù)值，以及標(biāo)準(zhǔn)缺陷數(shù)值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于:所述攝像頭的數(shù)量至少為三個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于:所述光源連接有光源控制器。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于:所述光源為L(zhǎng)ED發(fā)光體。
【專利摘要】本發(fā)明涉及液晶顯示器玻璃基板檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法，通過(guò)對(duì)攝像頭所采集的圖像進(jìn)行圖像處理，生產(chǎn)缺陷的分類和缺陷的特征數(shù)值，便于檢測(cè)人員快速判斷缺陷，該玻璃基板的缺陷檢測(cè)方法可降低設(shè)備成本，提高檢測(cè)效率。
【IPC分類】G01N21-958
【公開號(hào)】CN104568989
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410839372
【發(fā)明人】肖紅星
【申請(qǐng)人】湖北優(yōu)尼科光電技術(shù)股份有限公司
【公開日】2015年4月29日
【申請(qǐng)日】2014年12月30日