專利名稱：一種電視機(jī)edid的自我檢驗和更新方法和電視機(jī)芯板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電視機(jī)領(lǐng)域，尤其涉及一種電視機(jī)EDID的自我檢驗和更新方法和電視機(jī)芯板。
背景技術(shù)：
目前，平板電視需要的 EDID(Extended Display Identification Data，擴(kuò)展 顯示標(biāo)識數(shù)據(jù))信息是先批量將EDID升級到對應(yīng)的EEPROM(ElectricallyErasable Programmable Read Only Memory，電可擦寫可編程只讀存儲器)，然后再將存儲有EDID 的EEPROM貼片到電視機(jī)芯片板上。在特殊情況下EEPROM中的EDID信息損壞，有兩種 方法進(jìn)行更新第一是將該EEPROM從電視上取下，升級好后再貼回去，或者直接用一顆 存儲有EDID的新的EEPROM進(jìn)行替換；第二是在電視的機(jī)芯板上預(yù)留與EEPROM連通的 I2C(Inter-Integrated Circuit,串行總線)接口，將外部升級工具連接到該接口進(jìn)行升 級。第一種方法升級EDID比較繁瑣，需要將EEPROM取下升級后再貼回去，況且在貼片過程 中，由于高溫等原因，容易贊成EDID信息再次損壞，導(dǎo)致升級失敗。用第二種方法升級EDID 相對比較簡單，發(fā)現(xiàn)EDID不正確后只需要自尊用外部工具再次更新EDID即可，但是在電視 銷售到終端客戶后EDID出錯，需要專業(yè)人士才能進(jìn)行升級，不方便售后服務(wù)。綜上可知，所述現(xiàn)有技術(shù)的電視機(jī)EDID更新的方法，在實際使用上顯然存在不便 與缺陷，所以有必要加以改進(jìn)。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述的缺陷，本發(fā)明的目的在于提供一種電視機(jī)EDID的自我檢驗和更新方 法和電視機(jī)芯板，使電視機(jī)EDID的校驗和更新更加簡便，方便電視的開發(fā)的調(diào)試，提高工 作效率，并減少售后成本。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種電視機(jī)EDID的自我檢驗和更新方法，所述方 法至少包括如下步驟A、接收擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)校驗更新指令，比較當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)及預(yù)置的擴(kuò) 展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)；B、比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)一致，并顯示所述當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)無損 壞信息，則結(jié)束程序流程；若兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)不一致，則執(zhí)行步驟C ；C、接收用戶指令，若所述用戶指令選擇進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新，執(zhí)行擴(kuò)展顯 示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新程序，更新完成后顯示完成信息，并結(jié)束程序流程；若所述用戶指令選擇不 進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新，則顯示當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)已損壞，然后結(jié)束程序流程。根據(jù)本發(fā)明的電視機(jī)擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)自我校驗和更新方法，所述步驟A進(jìn)一步 包括程序通過硬件連接所給出的EEPROM在I2C總線上的地址查找該EEPR0M，找到所述 EEPROM后讀取其中的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)到內(nèi)存的緩沖區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的電視機(jī)擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)自我校驗和更新方法，所述當(dāng)前擴(kuò)展顯示 標(biāo)識數(shù)據(jù)存儲在EEPROM中。根據(jù)本發(fā)明的電視機(jī)擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)自我校驗和更新方法，所述預(yù)置的擴(kuò)展顯 示標(biāo)識數(shù)據(jù)存儲在FLASH中。本發(fā)明相應(yīng)的提供一種電視機(jī)芯板，所述電視機(jī)芯板至少包括一 CPU，所述CPU包 括至少一校驗對比模塊，用于接收擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)校驗更新指令后，比較當(dāng)前擴(kuò) 展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)及預(yù)置的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)；
至少一選擇模塊，用于在所述校驗對比模塊比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)一 致，并顯示所述當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)無損壞信息，選擇不執(zhí)行數(shù)據(jù)更新；在所述校驗對比 模塊比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)不一致后，選擇執(zhí)行交由數(shù)據(jù)更新模塊處理；至少一數(shù)據(jù)更新模塊，用于接收用戶確定進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新指令后，對 所述電視機(jī)的現(xiàn)有的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)進(jìn)行更新；接收到用戶不進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更 新指令后，顯示當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)已損壞，并結(jié)束流程。根據(jù)本發(fā)明的電視機(jī)芯板，所述校驗對比模塊進(jìn)一步包括尋址模塊，用于在I2C總 線上查找裝有擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)的EEPR0M，并在找到所述EEPROM后讀取其中的擴(kuò)展顯示 標(biāo)識數(shù)據(jù)到內(nèi)存的緩沖區(qū)中。根據(jù)本發(fā)明的電視機(jī)芯板，所述電視機(jī)的芯板包括一用于存儲所述電視機(jī)當(dāng)前的 擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)的EEPR0M，所述EEPROM通過所述I2C總線與所述CPU電性連接。根據(jù)本發(fā)明的電視機(jī)芯板，所述電視機(jī)的芯板包括一用于存儲預(yù)置的擴(kuò)展顯示標(biāo) 識數(shù)據(jù)的FLASH，所述FLASH通過SPI接口與所述CPU對應(yīng)的接口電性連接。本發(fā)明通過在電視機(jī)芯板中預(yù)置EDID作備份，然后通過校驗對比電視機(jī)中現(xiàn)有 的EDID和備份的EDID，如果現(xiàn)有的EDID受損，則可以將備份的EDID寫入到存儲現(xiàn)有EDID 的存儲器中，覆蓋現(xiàn)有的EDID。借此通過本發(fā)明可以很簡單的對電視機(jī)EDID進(jìn)行更新，方 便電視的開發(fā)和調(diào)試，提高了工作效率，同時如果終端用戶發(fā)現(xiàn)EDID損壞的情況下直接在 菜單中執(zhí)行修復(fù)功能即可，減少了售后的成本。


圖1是本發(fā)明電視機(jī)芯板的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明電視機(jī)芯板一具體實施例的電路圖；圖3是本發(fā)明電視機(jī)EDID的自我檢驗和更新方法的流程圖；圖4是本發(fā)明優(yōu)選的電視機(jī)EDID的自我檢驗和更新方法的流程圖。
具體實施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對 本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并 不用于限定本發(fā)明。圖1示出了本發(fā)明電視機(jī)芯板的基本結(jié)構(gòu)，該電視機(jī)芯板100包括一 CPU10，該 CPU 10至少包括
—校驗對比模塊11，用于接收擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)校驗更新指令后，比較當(dāng)前擴(kuò)展 顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)及預(yù)置的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)，優(yōu)選的是，該校驗對比模塊11包括一尋址模塊 111，可以在I2C總線上查找裝有擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)的EEPROM 30，并在找到所述EEPROM 30 后讀取其中的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)到內(nèi)存的緩沖區(qū)中；一選擇模塊12，用于在所述校驗對比模塊11比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)一 致，并顯示所述當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)無損壞信息后，選擇不執(zhí)行數(shù)據(jù)更新；在所述校驗 對比模塊11比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)不一致后，選擇執(zhí)行交由數(shù)據(jù)更新模塊13處 理；一數(shù)據(jù)更新模塊13，用于接收用戶確定進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新指令后，對所 述電視機(jī)的現(xiàn)有的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)進(jìn)行更新；接收到用戶不進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新 指令后，顯示當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)已損壞，并結(jié)束流程。更好的是，電視機(jī)芯板100還包括
一 FLASH 20，與CPU 10連接，用于存儲電視機(jī)預(yù)置的EDID ；一 EEPROM 30，與CPU 10連接，用于存儲電視機(jī)當(dāng)前的EDID。借此，只要預(yù)先將電視機(jī)采用的EDID寫入到程序中，并在電視機(jī)菜單中增加EDID 校驗功能選項和EDID升級修復(fù)功能選項，當(dāng)電視機(jī)芯板100的EEPROM 30中的EDID受損 時，在CPU 10的控制下，可以將FLASH 20中預(yù)置的EDID寫入EEPROM 30并將原來的EDID 覆蓋，從而使EDID修復(fù)和更新更加簡便，提高了工作效率，方便電機(jī)機(jī)的開發(fā)和調(diào)試，減少 了電視機(jī)的售后成本。圖2是本發(fā)明電視機(jī)芯板一具體實施例的電路圖，在該實施例中，所述FLASH 20， 通過SPI (Serial Peripheral Interface，串行外設(shè)接口)與所述CPU 10對應(yīng)的接口電性 連接，用于存儲備份的EDID，優(yōu)選的，本實施例中的所述FLASH 20采用PS25LV040，在實際 應(yīng)用中，也可采用其它型號的FLASH進(jìn)行存儲備份的EDID。所述EEPROM 30通過I2C總線 與CPU 10連接，用于存儲現(xiàn)有的EDID。就目前情況來說，支持VGA (Video Graphics Array,視頻圖形陣列)和HDMI (High Definition Multimedia Interface，高清晰多媒體接口)已經(jīng)成了平板電視的標(biāo)準(zhǔn)配置。 在VGA和HDMI接口通信上都需要EDID支持。接口設(shè)備通過VGA或HDMI接口與電視機(jī)進(jìn) 行通信，從存儲EDID的EEPROM 30中讀取EDID信息，對取得的EDID信息進(jìn)行解析判斷電 視支持的格式，然后進(jìn)行輸出。本發(fā)明通過更改硬件存儲EDID的EEPROM 30與主IC(integrate circuit，集成電 路)的連接方式，直接將其連接到電視機(jī)芯板100的I2C總線上，主IC通過對I2C總線地址 確定EEPROM 30，并與EEPROM 30通信，對所存儲的EDID進(jìn)行升級和校驗。優(yōu)選的是，存儲 EDID的EEPROM 30總線地址為OxAO。圖3示出了本發(fā)明電視機(jī)EDID的自我檢驗和更新方法的流程，其通過圖1或圖2 所示的電視機(jī)芯板100實現(xiàn)，所述方法包括步驟S301，接收擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)校驗更新指令，比較當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)及 預(yù)置的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)，本步驟由校驗對比模塊11實現(xiàn)；步驟S302，比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)一致，并顯示所述當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識 數(shù)據(jù)無損壞信息，則結(jié)束程序流程；若兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)不一致，則執(zhí)行步驟S303，本步驟由選擇模塊12實現(xiàn)；步驟S303，接收用戶指令，若所述用戶指令選擇進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新，執(zhí)行 擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新程序，更新完成后顯示完成信息，并結(jié)束程序流程；若所述用戶指令 選擇不進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新，則顯示當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)已損壞，然后結(jié)束程序 流程，本步驟由數(shù)據(jù)更新模塊I3實現(xiàn)。優(yōu) 選的，步驟S301進(jìn)一步包括，EDID校驗指令發(fā)出后，CPU 10的尋址模塊111通 過地址數(shù)據(jù)在I2C總線上查找裝有EDID的EEPROM 30，查找完成后，讀取其中的EDID到內(nèi) 存的緩沖區(qū)中。借此，本發(fā)明使得電視控制程序能夠同EEPROM 30進(jìn)行通信，讀取EDID信息進(jìn)行 校驗并在出現(xiàn)錯誤的情況下進(jìn)行更新，方便電視開發(fā)和調(diào)試，提高了工作效率，同時由于修 復(fù)EDID的簡單化，也降低了電視機(jī)的售后成本。圖4是本發(fā)明優(yōu)選的電視機(jī)EDID的自我檢驗和更新方法的流程圖，其通過圖2所 示的電視機(jī)芯板100實現(xiàn)，所述方法包括步驟S401，接收用戶發(fā)出EDID校驗更新指令，進(jìn)入程序功能模塊，程序通過硬件 連接所給出的EEPROM 30在I2C總線上的地址查找該EEPR0M30，并在找到后讀取其中的 EDID到內(nèi)存的緩沖區(qū)中；步驟S402，比較讀取的EDID和程序中預(yù)置的EDID信息；步驟S403，判斷兩EDID是否一致，如果一致，執(zhí)行步驟S404，如果不一致則執(zhí)行步 驟 S405 ；步驟S404，系統(tǒng)顯示EEPROM 30中EDID無損壞信息，流程結(jié)束；步驟S405，接收用戶指令，如用戶確定選擇進(jìn)行EDID更新則執(zhí)行步驟S406，如選 擇用戶確定不進(jìn)行數(shù)據(jù)更新則執(zhí)行步驟S407 ；步驟S406，在CPU 10數(shù)據(jù)更新模塊13的控制下，將FLASH 20中的EDID寫入 EEPROM 30，并覆蓋EEPROM 30中原來的EDID，寫入完成后顯示EDID更新完成信息，流程結(jié) 束；步驟S407，顯示當(dāng)前的EDID受損，流程結(jié)束。綜上所述，本發(fā)明通過在電視機(jī)芯板中預(yù)置EDID作備份，然后通過校驗對比電視 機(jī)中現(xiàn)有的EDID和備份的EDID，如果現(xiàn)有的EDID受損，則可以將備份的EDID寫入到存儲 現(xiàn)有EDID的存儲器中，覆蓋現(xiàn)有的EDID。借此通過本發(fā)明可以很簡單的對電視機(jī)EDID進(jìn) 行更新，方便電視的開發(fā)和調(diào)試，提高了工作效率，同時如果終端用戶發(fā)現(xiàn)EDID損壞的情 況下直接在菜單中執(zhí)行修復(fù)功能即可，減少了售后的成本。當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟 悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變 形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種電視機(jī)擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)的自我校驗和更新方法，其特征在于，所述方法至少包括如下步驟A、接收擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)校驗更新指令，比較當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)及預(yù)置的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)；B、比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)一致，并顯示所述當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)無損壞信息，則結(jié)束程序流程；若兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)不一致，則執(zhí)行步驟C；C、接收用戶指令，若所述用戶指令選擇進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新，執(zhí)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新程序，更新完成后顯示完成信息，并結(jié)束程序流程；若所述用戶指令選擇不進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新，則顯示當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)已損壞，然后結(jié)束程序流程。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電視機(jī)擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)自我校驗和更新方法，其特征在 于，所述步驟A進(jìn)一步包括程序通過硬件連接所給出的EEPROM在I2C總線上的地址查找該EEPR0M，找到所述 EEPROM后讀取其中的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)到內(nèi)存的緩沖區(qū)中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電視機(jī)擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)自我校驗和更新方法，其特征在 于，所述當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)存儲在EEPROM中。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電視機(jī)擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)自我校驗和更新方法，其特征在 于，所述預(yù)置的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)存儲在FLASH中。
5.一種實現(xiàn)如權(quán)利要求1 4任一項所述方法的電視機(jī)芯板，其特征在于，所述電視機(jī) 芯板至少包括一 CPU，所述CPU包括至少一校驗對比模塊，用于接收擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)校驗更新指令后，比較當(dāng)前擴(kuò)展顯 示標(biāo)識數(shù)據(jù)及預(yù)置的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)；至少一選擇模塊，用于在所述校驗對比模塊比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)一致，并 顯示所述當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)無損壞信息，選擇不執(zhí)行數(shù)據(jù)更新；在所述校驗對比模塊 比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)不一致后，選擇執(zhí)行交由數(shù)據(jù)更新模塊處理；至少一數(shù)據(jù)更新模塊，用于接收用戶確定進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新指令后，對所述 電視機(jī)的現(xiàn)有的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)進(jìn)行更新；接收到用戶不進(jìn)行擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)更新指 令后，顯示當(dāng)前擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)已損壞，并結(jié)束流程。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電視機(jī)芯板，其特征在于，所述校驗對比模塊進(jìn)一步包括尋 址模塊，用于在I2C總線上查找裝有擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)的EEPR0M，并在找到所述EEPROM后 讀取其中的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)到內(nèi)存的緩沖區(qū)中。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電視機(jī)芯板，其特征在于，所述電視機(jī)的芯板包括一用于存 儲所述電視機(jī)當(dāng)前的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)的EEPR0M，所述EEPROM通過所述I2C總線與所述 CPU電性連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電視機(jī)芯板，其特征在于，所述電視機(jī)的芯板包括一用于存 儲預(yù)置的擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)的FLASH，所述FLASH通過SPI接口與所述CPU對應(yīng)的接口電性 連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種電視機(jī)EDID的自我檢驗和更新方法，所述方法至少包括A、接收EDID校驗更新指令，比較當(dāng)前EDID及預(yù)置的EDID；B、比較得到兩個擴(kuò)展顯示標(biāo)識數(shù)據(jù)一致，并顯示所述當(dāng)前EDID無損壞信息，則結(jié)束程序流程；若兩個EDID不一致，則執(zhí)行步驟C；C、接收用戶指令，若所述用戶指令選擇進(jìn)行EDID更新，執(zhí)行EDID更新程序，更新完成后顯示完成信息，并結(jié)束程序流程；若所述用戶指令選擇不進(jìn)行EDID更新，則顯示所述當(dāng)前EDID已損壞，并結(jié)束程序流程。本發(fā)明還相應(yīng)的提供一種電視機(jī)芯板。借此本發(fā)明方便了電視機(jī)的開發(fā)和調(diào)試，并減少了售后成本。
文檔編號H04N5/00GK101883204SQ20091010706
公開日2010年11月10日 申請日期2009年5月5日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月5日
發(fā)明者林凱, 顧永強(qiáng) 申請人:康佳集團(tuán)股份有限公司