專利名稱：高速串行接收器的自動(dòng)眼形圖老化測(cè)試技術(shù)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的實(shí)施例涉及串行接口領(lǐng)域。更特別地，本發(fā)明的實(shí)施例涉及高速串行接收器的自動(dòng)眼形圖老化測(cè)試技術(shù)。
背景技術(shù)：
隨著計(jì)算機(jī)設(shè)備和系統(tǒng)不斷進(jìn)步并變得更加復(fù)雜，用于在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的不同部件間傳輸數(shù)據(jù)的有用且高效的技術(shù)，在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)中已變得越來越關(guān)鍵。特別是用于增大在輸入/輸出(I/O)設(shè)備和計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的相應(yīng)接口間的數(shù)據(jù)傳輸率的技術(shù)，正在不斷開發(fā)，以改進(jìn)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的整體性能。
尤其是在計(jì)算機(jī)行業(yè)有一股強(qiáng)大的推力來發(fā)展串行接口，其正以不斷增大的比特率來傳送和接收數(shù)據(jù)。在本領(lǐng)域中眾所周知，串行接口用于兩個(gè)設(shè)備間(如計(jì)算機(jī)系統(tǒng)和I/O接口間)的串行通信，其中一次只能傳輸一位。例如，計(jì)算機(jī)通常包含許多不同串行接口端口，其服從各種不同的標(biāo)準(zhǔn)。串行端口被認(rèn)為是通用接口，其可用于和幾乎任何類型的設(shè)備對(duì)接。
然而，隨著不斷增大的串行接口比特率的出現(xiàn)，有一個(gè)相應(yīng)增長的對(duì)于測(cè)試這些串行接口健壯性的更復(fù)雜技術(shù)的需求。例如，對(duì)跳動(dòng)和大電壓幅度變化的容限，是串行接口的兩個(gè)具體特性，對(duì)其性能至關(guān)重要，但很難測(cè)試，因?yàn)槠浔仨氃诤芨咚傧聹y(cè)試，而采用的測(cè)試方法不能對(duì)其性能造成任何損害。另外，使事情復(fù)雜化在于用于測(cè)試這些串行接口的典型的大量制造環(huán)境不是非常復(fù)雜，不能提供真正測(cè)試這些性能所需的高速分析。
例如，目前一種靜態(tài)測(cè)試串行接口接收器對(duì)跳動(dòng)的容限的方法是利用一外部跳動(dòng)注入模塊(JIM)將跳動(dòng)注入傳輸信號(hào)中。該跳動(dòng)注入模塊必須和串行接口一起置于測(cè)試負(fù)載板上，并被調(diào)諧從而提供一定量的跳動(dòng)給接收器。在另一方法中，采用外部圖案發(fā)生器，其能夠使其發(fā)給接收器的傳輸圖案跳動(dòng)。不幸的是，現(xiàn)在測(cè)試串行接口接收器對(duì)跳動(dòng)、電壓幅度變化和其它條件的容限的方法有些繁瑣，其涉及許多不同操作和外部測(cè)試模塊。


圖1示出一例具有高速串行接口的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置的局部框圖。
圖2是示出根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的一例結(jié)構(gòu)框圖，該結(jié)構(gòu)可用來實(shí)現(xiàn)高速串行接口接收器的自動(dòng)老化測(cè)試技術(shù)。
圖3是示意電路圖，示出根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)送控制器及它與發(fā)送器和接收器的關(guān)系的更詳細(xì)例子。
圖4是一簡化的圖形，示出根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的通過自動(dòng)老化測(cè)試技術(shù)對(duì)發(fā)送器信號(hào)的擺動(dòng)速率和電壓電平的控制。
圖5A是無自動(dòng)眼形老化發(fā)送給接收器的發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)的圖形表示。
圖5B是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的由發(fā)送器發(fā)給接收器的老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)的圖形表示，該信號(hào)利用自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)已被老化，其中老化的發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)形成眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。
具體實(shí)施例方式
在以下描述中，將詳細(xì)描述本發(fā)明的各個(gè)實(shí)施例。但是，包括這樣的細(xì)節(jié)以便于對(duì)本發(fā)明的理解，并描述采用本發(fā)明的示例性實(shí)施例。此細(xì)節(jié)不應(yīng)用來將本發(fā)明限制于所描述的個(gè)別實(shí)施例中，因?yàn)槠渌母暮蛯?shí)施例是可能的，而同時(shí)又屬于本發(fā)明的領(lǐng)域內(nèi)。而且，盡管闡述了許多細(xì)節(jié)以提供對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的透徹理解，但顯然對(duì)本領(lǐng)域熟練人員而言，為實(shí)踐本發(fā)明的此實(shí)施例并不需該具體細(xì)節(jié)。在其它情況下，諸如眾所周知的方法、數(shù)據(jù)類型、協(xié)議、流程、部件、電子結(jié)構(gòu)和電路的細(xì)節(jié)不予詳細(xì)描述，或者將以框圖顯示，以免使本發(fā)明變得難懂。而且，將以詳細(xì)的實(shí)施例來描述本發(fā)明的實(shí)施例，但可用硬件、軟件、固件、中間件或其的結(jié)合來實(shí)現(xiàn)。
本發(fā)明的實(shí)施例涉及高速串行接口電路中的高速串行接收器的自動(dòng)老化測(cè)試技術(shù)。更特別地，包含在高速串行接口電路中的發(fā)送控制器耦聯(lián)串行接口電路的發(fā)送器。發(fā)送器耦聯(lián)串行接口電路的接收器。發(fā)送控制器包括電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器和阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器，各自用于儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值，還包括排序邏輯，動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值排序至發(fā)送器。電流補(bǔ)償值、阻抗補(bǔ)償值，以及排序邏輯動(dòng)態(tài)排序該值的速率都可編程，例如，作為測(cè)試進(jìn)程的一部分。發(fā)送器響應(yīng)動(dòng)態(tài)排序的電流和/或阻抗補(bǔ)償值而產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)，傳輸給接收器，以便測(cè)試接收器。
圖1示出一例具有高速串行接口的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置的局部框圖。系統(tǒng)配置100包括至少處理器101，例如中央處理單元(CPU)，存儲(chǔ)器控制中心(MCH)111，系統(tǒng)存儲(chǔ)器裝置113，和輸入/輸出(I/O)控制中心(ICH)131。MCH111和ICH131的結(jié)合體有時(shí)命名為芯片組102。芯片組102可為一個(gè)或多個(gè)集成電路芯片，其充當(dāng)中心或核心，用于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)100的處理器和其它部件間的數(shù)據(jù)傳輸。此外，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)可包括附加部件(未顯示)如協(xié)同處理器、調(diào)制解調(diào)器等等，其只是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)一個(gè)很基本的例子。
CPU101通過前端總線(FSB)103耦聯(lián)MCH111，而MCH111通過中心鏈路(HubLink)122(有時(shí)稱作后端總線)耦聯(lián)ICH131。MCH111執(zhí)行通常稱作“北橋功能”的功能，ICH131執(zhí)行通常稱作“南橋功能”的功能。
對(duì)本說明書來說，詞“處理器”或“CPU”指任何能夠執(zhí)行一系列指令的機(jī)器，其應(yīng)包括但不局限于通用微處理器、專用處理器、專用集成電路(ASIC)、多媒體控制器、信號(hào)處理器和微控制器等。在一實(shí)施例中，CPU101是通用微處理器，其能夠執(zhí)行Intel架構(gòu)指令集。例如，CPU101可為PENTIUM系列處理器中的一個(gè)，或CELERON系列處理器中的一個(gè)。
CPU101、ICH131和其它部件經(jīng)由MCH111訪問系統(tǒng)存儲(chǔ)器裝置113。在一實(shí)施例中，MCH111負(fù)責(zé)為所有以系統(tǒng)存儲(chǔ)器裝置113為目標(biāo)的存儲(chǔ)操作服務(wù)。MCH111可為獨(dú)立單元、芯片組的集成部分或某些更大單元的一部分，其控制各種系統(tǒng)部件和系統(tǒng)存儲(chǔ)器裝置113間的接口。
系統(tǒng)存儲(chǔ)器裝置113可包括任何適于儲(chǔ)存數(shù)據(jù)信息的存儲(chǔ)器件，例如靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SRAM)、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)、同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SDRAM)，以及雙倍數(shù)據(jù)速率(DDR)SDRAM或DRAM等。因此在一實(shí)施例中，系統(tǒng)存儲(chǔ)器裝置113包含易失性存儲(chǔ)器。此外，系統(tǒng)存儲(chǔ)器裝置113也可包括非易失性存儲(chǔ)器，例如只讀存儲(chǔ)器(ROM)(例如包括基本輸入/輸出系統(tǒng)(BIOS)ROM)。
ICH131提供MCH111和各種I/O設(shè)備、接口和端口間的接口控制，I/O設(shè)備、接口和端口可包括外圍部件互連(PCI)槽和PCI程序模塊(agents)133，用于利用標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)協(xié)議與網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行通信的網(wǎng)絡(luò)接口134，至少一個(gè)USB端口135，至少一個(gè)集成驅(qū)動(dòng)器(IDE)電子接口137(例如用于硬盤驅(qū)動(dòng)器)，和至少一個(gè)I/O設(shè)備152耦聯(lián)其上的至少一個(gè)高速串行接口150。此外，其它I/O接口139可通過之前描述的接口或其它類型接口來耦聯(lián)到ICH131。應(yīng)當(dāng)理解為，有很多種不同類型的I/O設(shè)備。I/O設(shè)備的例子可包括任何執(zhí)行I/O功能的I/O設(shè)備。例如，I/O設(shè)備可包括監(jiān)視器、鍵盤、調(diào)制解調(diào)器、打印機(jī)、存儲(chǔ)設(shè)備(例如光盤ROM(CD ROM)、數(shù)字化視頻光盤(DVD)、硬盤、軟盤等)或任何其它類型I/O設(shè)備，例如輸入設(shè)備控制器(鼠標(biāo)、軌跡球、指示設(shè)備)，媒體卡(例如音頻、視頻、圖形)等。
串行接口150可為一種高速串行接口。不同類型的高速串行接口的例子包括高速串行接口，如串行高級(jí)技術(shù)附加裝置(SATA)類接口，外圍部件互連(PCI)高速類接口等。應(yīng)當(dāng)理解為，高速串行接口150可和任何類型的高速串行接口兼容。此外，高速串行接口150包括實(shí)現(xiàn)串行接口接收器的自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)的邏輯，這將在以下更詳細(xì)討論。
本領(lǐng)域熟練人員應(yīng)當(dāng)理解為，圖1的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置100只是一例基本計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。此外，本領(lǐng)域熟練人員會(huì)認(rèn)識(shí)到圖1所示的示例環(huán)境并非旨在限制本發(fā)明的實(shí)施例。
盡管以下個(gè)別實(shí)施例中將描述本發(fā)明的各方面和各種功能部件，但應(yīng)當(dāng)理解為，這些方面和功能可用硬件、軟件、固件、中間件或其組合來實(shí)現(xiàn)。
本發(fā)明的實(shí)施例涉及高速串行接口電路中的高速串行接收器的自動(dòng)老化測(cè)試技術(shù)。特別地，包含在高速串行接口電路中的發(fā)送控制器耦聯(lián)串行接口電路的發(fā)送器。該發(fā)送器耦聯(lián)串行接口電路的接收器。發(fā)送控制器包括一電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器和一阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器，用于各自儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值，還包括排序邏輯，動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值排序至發(fā)送器。電流補(bǔ)償值、阻抗補(bǔ)償值以及排序邏輯動(dòng)態(tài)排序這些值的速率都可編程，例如，作為測(cè)試進(jìn)程的一部分。發(fā)送器響應(yīng)動(dòng)態(tài)排序的電流和/或阻抗補(bǔ)償值而產(chǎn)生一老化測(cè)試圖案信號(hào)，傳輸給接收器，便于測(cè)試接收器。
本發(fā)明的實(shí)施例特別涉及高速串行接口中的高速串行接收器的自動(dòng)老化測(cè)試技術(shù)。此外，在此描述的本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種方法及相應(yīng)的結(jié)構(gòu)，其用于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)，用于界定(margin)高速串行接收器的容限，以便測(cè)試接收器。這些技術(shù)可通過控制發(fā)送器的電流和阻抗補(bǔ)償機(jī)構(gòu)，以突出傳輸串行比特流測(cè)試圖案信號(hào)的時(shí)序和幅度特性來實(shí)現(xiàn)，其可用來界定串行接口接收器對(duì)跳動(dòng)和幅度變化(例如電壓擺幅)的容限。
現(xiàn)參照?qǐng)D2，圖2是一例根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖，其可用于實(shí)現(xiàn)高速串行接口接收器的自動(dòng)老化測(cè)試技術(shù)。如圖2所示，在一實(shí)施例中，可選地包含在動(dòng)態(tài)接收器測(cè)試器裝置206中的發(fā)送控制器204，可集成在高速串行接口電路202中。高速串行接口電路202包括高速發(fā)送器210，用于傳輸數(shù)據(jù)，以及高速接收器212，用于接收數(shù)據(jù)。
如圖2所示，發(fā)送控制器204耦聯(lián)串行接口電路202的發(fā)送器210。此外，發(fā)送器210直接耦聯(lián)串行接口電路202的接收器212，也通過動(dòng)態(tài)接收器測(cè)試器206耦聯(lián)接收器212。
特別觀察發(fā)送控制器204，發(fā)送控制器204包括存儲(chǔ)器，用于儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)或兩者。特別是在一實(shí)施例中，發(fā)送控制器204包括一電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器216，用于儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值，以及阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器218，用于儲(chǔ)存阻抗補(bǔ)償值。該阻抗和電流補(bǔ)償值可直接耦聯(lián)到發(fā)送器210的補(bǔ)償邏輯。特別地，儲(chǔ)存在阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器218中的阻抗補(bǔ)償值可耦聯(lián)發(fā)送器210的阻抗補(bǔ)償電路221，而儲(chǔ)存在電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器216中的電流補(bǔ)償值可耦聯(lián)發(fā)送器210的電流補(bǔ)償電路223。這樣，發(fā)送控制器204繞過了發(fā)送器210的正常補(bǔ)償邏輯226。
發(fā)送控制器還包括排序邏輯，用于動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)或兩者排序至發(fā)送器210。阻抗補(bǔ)償值發(fā)送至發(fā)送器210的阻抗補(bǔ)償電路221，電流補(bǔ)償值發(fā)送至發(fā)送器210的電流補(bǔ)償電路223。以下將更詳細(xì)討論的是，發(fā)送器響應(yīng)動(dòng)態(tài)排序的電流和/或阻抗補(bǔ)償值而產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)，傳輸給接收器，以便測(cè)試接收器。在一實(shí)施例中，老化測(cè)試圖案信號(hào)形成眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。
在一實(shí)施例中，如圖2所示，動(dòng)態(tài)接收器測(cè)試器206包含比較器234。利用發(fā)送控制器204，排序邏輯230可動(dòng)態(tài)地將順序的電流補(bǔ)償值和阻抗補(bǔ)償值分別排序至發(fā)送器210中原有的阻抗補(bǔ)償電路221和原有的電流補(bǔ)償電路223，而繞過正常補(bǔ)償邏輯226，以便控制老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)的強(qiáng)度和阻抗，該信號(hào)被傳輸給接收器，以測(cè)試接收器。應(yīng)當(dāng)理解為，電流補(bǔ)償值、阻抗補(bǔ)償值，以及排序邏輯動(dòng)態(tài)排序這些值的速率都可編程，例如，作為測(cè)試進(jìn)程的一部分。例如跳動(dòng)頻率可通過編程寫入排序邏輯230中的排序速率來控制。
老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)也直接送到比較器234中。這樣，比較器234可比較從發(fā)送器210直接發(fā)來的老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)236和其實(shí)際由接收器212接收的接收到的老化測(cè)試圖案信號(hào)240，以便測(cè)試接收器212能否準(zhǔn)確讀出發(fā)送給它的串行數(shù)據(jù)。
盡管圖2示出比較器234作為動(dòng)態(tài)接收器測(cè)試器206的部分，且老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)236和接收到的老化測(cè)試圖案信號(hào)240都通過動(dòng)態(tài)接收器測(cè)試器206發(fā)送，但應(yīng)當(dāng)理解為，包括比較器和測(cè)試圖案發(fā)送的功能可包括在串行接口電路202的其它部分或測(cè)試設(shè)備(例如負(fù)載板或測(cè)試卡)中。
阻抗補(bǔ)償值、電流補(bǔ)償值和排序邏輯速率可為從測(cè)試設(shè)備發(fā)送給發(fā)送控制器的預(yù)設(shè)測(cè)試圖案250的一部分，以便測(cè)試串行接口電路202中的接收器212。該預(yù)設(shè)測(cè)試圖案250可包括儲(chǔ)存在阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器218中的阻抗補(bǔ)償值，和/或儲(chǔ)存在電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器216中的電流補(bǔ)償值，也包括排序速率。如前所述，這些補(bǔ)償值然后通過排序邏輯230分別動(dòng)態(tài)排序至發(fā)送器的電流和阻抗補(bǔ)償電路221和223中，產(chǎn)生老化發(fā)送器測(cè)試圖案(例如眼形老化測(cè)試圖案)，以便測(cè)試接收器212。
例如，在圖2中，串行接口電路202示為正在測(cè)試器252(例如負(fù)載板或測(cè)試卡)上測(cè)試。測(cè)試器252可產(chǎn)生預(yù)設(shè)的測(cè)試圖案250，以便測(cè)試接收器212。例如，串行接口電路202的接收器212可用于設(shè)計(jì)有效性或在大量制造中作為測(cè)試屏來加以測(cè)試。
現(xiàn)參照?qǐng)D3，圖3是示意電路圖，示出根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)送控制器及其與發(fā)送器和接收器關(guān)系的更詳細(xì)例子。如圖3所示，發(fā)送控制器302包括電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器216，其含有電流補(bǔ)償值寄存器陣列306，用于儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值1-n，以及阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器218，其含有阻抗補(bǔ)償值寄存器陣列306，用于儲(chǔ)存阻抗補(bǔ)償值1-n。此外，電流補(bǔ)償值寄存器陣列306和阻抗補(bǔ)償值寄存器陣列308的各個(gè)寄存器各自耦聯(lián)到多路轉(zhuǎn)換器310和多路轉(zhuǎn)換器312。排序邏輯320依次耦聯(lián)到各個(gè)多路轉(zhuǎn)換器310和312，以便將來自發(fā)送控制器302的電流和/或阻抗補(bǔ)償值的一個(gè)或兩者都(以預(yù)編程的速率)分別動(dòng)態(tài)排序至發(fā)送器210的電流和阻抗補(bǔ)償電路。這樣，由發(fā)送器210產(chǎn)生了老化測(cè)試圖案信號(hào)，傳輸給接收器212，以便測(cè)試接收器。
特別地，電路補(bǔ)償寄存器陣列306中的電流補(bǔ)償值被動(dòng)態(tài)排序至發(fā)送器210中的發(fā)送電流源315(即Icomp)。發(fā)送電流源315響應(yīng)動(dòng)態(tài)排序的電流補(bǔ)償值而產(chǎn)生基于電流的老化測(cè)試圖案信號(hào)，其通過發(fā)送開關(guān)晶體管317和導(dǎo)線320傳輸至接收器212的接收器終端模塊322和差分放大器324中。
類似地，除電流補(bǔ)償值之外，阻抗或電阻補(bǔ)償值可被從阻抗補(bǔ)償值寄存器陣列308動(dòng)態(tài)排序至發(fā)送器210的可變電阻器332和334(即終端電阻)中。通過動(dòng)態(tài)排序阻抗補(bǔ)償值以調(diào)節(jié)可變電阻器332和334(即Rcomp)，可將老化測(cè)試圖案信號(hào)(如眼形老化測(cè)試圖案信號(hào))通過導(dǎo)線320和321送至接收器212的接收器212的終端322和差分放大器324中。此外，阻抗補(bǔ)償值也可直接發(fā)送給接收器終端322，以便確保不存在阻抗不匹配。
相應(yīng)地，在圖3所示實(shí)施例中，用于預(yù)設(shè)測(cè)試圖案的值可分別編程寫入電流補(bǔ)償值寄存器陣列306和/或阻抗補(bǔ)償值寄存器陣列308中的一個(gè)，或兩者，其相當(dāng)于將一連串電流和/或阻抗值分別動(dòng)態(tài)施加給發(fā)送器電流源315和/或發(fā)送器終端電阻332和334。特別地，排序邏輯320通過各自的多路轉(zhuǎn)換器310和312，以一預(yù)編程的排序速率，使這些電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值分別動(dòng)態(tài)施加給發(fā)送器電流源315和/或發(fā)送器終端電阻332和334，而繞過發(fā)送器210的正常補(bǔ)償邏輯。應(yīng)當(dāng)指出，該技術(shù)可用于多種發(fā)送器設(shè)計(jì)，只要其包括可變電流源和可變傳輸阻抗。
電流和/或阻抗值以一預(yù)設(shè)排序速率循環(huán)的作用是發(fā)送器信號(hào)擺動(dòng)速率和電壓電平得到控制，以產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)。
現(xiàn)轉(zhuǎn)入圖4，圖4是一簡化的圖形，示出根據(jù)通過自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)對(duì)發(fā)送器信號(hào)的擺動(dòng)速率和電壓電平的控制，如前所述。所發(fā)送的信號(hào)402的邊沿會(huì)被外推或內(nèi)拉，且最大電壓電平會(huì)上升或下降，取決于電流和/或阻抗補(bǔ)償值增大或減小。隨著時(shí)間推移，其導(dǎo)致所發(fā)送的信號(hào)402的眼形404在垂直方向(電壓)和水平方向(時(shí)間)上都減低。然而若電流和/或電阻值改變太多，則所發(fā)送的信號(hào)402將老化至進(jìn)入無效區(qū)域406內(nèi)一點(diǎn)，無效區(qū)域406是接收器不能準(zhǔn)確采樣串行數(shù)據(jù)(即識(shí)別“1”和“0”)的區(qū)域。
現(xiàn)參照?qǐng)D5A，圖5A是發(fā)送給接收器而無自動(dòng)眼形老化的發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)的圖形表示。如圖5A所示，從發(fā)送器至接收器的發(fā)送信號(hào)有一額定量跳動(dòng)504(大約113微秒)和一額定量的電壓幅度變化506。這樣，來自發(fā)送器的測(cè)試圖案信號(hào)502具有有效可采樣數(shù)據(jù)的大眼形510?？刹蓸訑?shù)據(jù)的眼形510之外的陰影區(qū)域512不能被接收器采樣。應(yīng)當(dāng)理解為，在此情況下還未采用之前所述的自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)。
另一方面，現(xiàn)轉(zhuǎn)入圖5B，圖5B是由發(fā)送器發(fā)送給接收器的老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)的圖形表示，如前所述，該信號(hào)已利用自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)老化，其中老化的發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)形成一眼形的老化測(cè)試圖案信號(hào)。在這一特定情況下，圖5B的眼形老化測(cè)試圖案，如前所述，通過將電流補(bǔ)償值動(dòng)態(tài)排序至發(fā)送器電流源而產(chǎn)生，以便產(chǎn)生眼形老化測(cè)試圖案522。
可以清楚看到，眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)包括圖5A中正常測(cè)試圖案信號(hào)約2倍大的跳動(dòng)524(大約200微秒)，以及圖5A中正常測(cè)試圖案信號(hào)約4倍大的電壓幅度變化526。因此，有效可采樣數(shù)據(jù)的眼形530小得多。利用該發(fā)給接收器的眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)，可測(cè)試接收器，看其是否仍可采樣(即能夠識(shí)別“1”和“0”)從發(fā)送器傳輸給它(即接收器通過)的串行數(shù)據(jù)，或有該量的跳動(dòng)和電壓幅度變化是否出現(xiàn)使接收器無法采樣傳輸數(shù)據(jù)(即接收器失效)的眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。如前所述，這通過將從接收器接收到的測(cè)試圖案信號(hào)與經(jīng)發(fā)送器發(fā)送的老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)比較，以確定接收器能否準(zhǔn)確讀出數(shù)據(jù)(即接收器通過或失效)來實(shí)現(xiàn)。
在之前所述的串行接收器的自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)中，可采用某些更改。然而，首先應(yīng)當(dāng)指出，在測(cè)試過程中，應(yīng)對(duì)正常電流和電阻補(bǔ)償水平的額定值為多少有所了解，使合適的電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值編程寫入電流和阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器中。另一種方法是利用電流和/或阻抗偏置值作為補(bǔ)償值，之后其可添加到接收器正常補(bǔ)償邏輯的正常補(bǔ)償值上，而不是將其覆蓋。同樣如前面所述，應(yīng)當(dāng)理解為可采用電流和/或阻抗補(bǔ)償值的任意結(jié)合?？赏瑫r(shí)采用兩者或只采用一個(gè)。例如，在圖5A和圖5B的例子中，這些例子只示出對(duì)電流補(bǔ)償值的控制。并且應(yīng)當(dāng)理解為，排序邏輯的更新速率可以改變，以得到各種不同的跳動(dòng)頻率。
回到圖2，為了實(shí)現(xiàn)高速串行接收器的自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)，在串行接口電路202上進(jìn)行一標(biāo)準(zhǔn)回送測(cè)試?；旧?，由分別編程寫入發(fā)送控制器204的電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器216和阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器218的電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值以及編程進(jìn)入排序邏輯230的預(yù)編程排序速率規(guī)定的預(yù)設(shè)測(cè)試圖案被送出至發(fā)送器210的電路補(bǔ)償電路221和/或阻抗補(bǔ)償電路223，以便控制發(fā)送器?；诖?，發(fā)送器210產(chǎn)生眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)，其被送至接收器212，且發(fā)送器的老化測(cè)試圖案信號(hào)236也被送至比較器234。比較器234也從接收器212中接收的接收到的測(cè)試圖案信號(hào)240。然后比較器比較接收到的測(cè)試圖案信號(hào)240和原先送入的老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)236，以確定接收器能否準(zhǔn)確采樣串行數(shù)據(jù)(即接收器能否識(shí)別數(shù)據(jù)比特流中的“1”和“0”)。若其能夠，則接收器212通過。若不能，則接收器212失效。
這些測(cè)試可用于設(shè)計(jì)有效性，以便通過改變自動(dòng)眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)，直到檢測(cè)到接收器失效，來確定接收器可容許多大的跳動(dòng)和/或電壓幅度變化。其也可用于大量制造測(cè)試環(huán)境中，用自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)來復(fù)制特定的跳動(dòng)條件和/或電壓幅度變化，如前所述。具有串行接口的芯片在其接收器無法處理特定跳動(dòng)信號(hào)和/或電壓幅度變化時(shí)，則不通過自動(dòng)眼形老化測(cè)試，于是被甄別出。
該測(cè)試可采用眾所周知的手段來完成。例如，串行接口電路202可采用測(cè)試器252(例如負(fù)載板或測(cè)試卡)作為大量制造環(huán)境或設(shè)計(jì)有效性測(cè)試的部分來測(cè)試?；蛘?，串行接口電路252也可作為在處理器和帶有輸入輸出控制中心(ICH)的芯片組控制下的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的部分來測(cè)試。在此情況下，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)本身可確定串行接口通過或不通過自動(dòng)眼形老化測(cè)試。同樣，應(yīng)當(dāng)理解為，比較老化發(fā)送器測(cè)試圖案信號(hào)和由接收器接收到的測(cè)試圖案信號(hào)的比較器的回送測(cè)試的邏輯無需是動(dòng)態(tài)測(cè)試器206的部分，而可由串行接口電路202的其它部件或測(cè)試器252來執(zhí)行。
如前所述，現(xiàn)在用于測(cè)試接收器對(duì)跳動(dòng)的容限的方法是，采用跳動(dòng)注入模塊(JIM)將跳動(dòng)注入所發(fā)送的信號(hào)。這些器件必須置于測(cè)試器(例如負(fù)載板)并被調(diào)諧從而提供一定量的跳動(dòng)。自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)比傳統(tǒng)JIM方法具有幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)。特別是自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)，包括發(fā)送控制器204的采用，無需任何外部部件，這簡化了測(cè)試器252(如負(fù)載板或測(cè)試卡)設(shè)計(jì)，并使測(cè)試器所需的控制量最小化。這不僅節(jié)省測(cè)試器252上跳動(dòng)注入模塊的成本，而且與控制跳動(dòng)注入模塊相比，允許測(cè)試器252采用其有限的測(cè)試通道來測(cè)試芯片。
此外，采用發(fā)送控制器204的自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)，通過將電流補(bǔ)償值和/或阻抗補(bǔ)償值分別編程寫入電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器和/或阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器中，和/或通過排序邏輯的更新速率控制，允許各種調(diào)諧。這是電流跳動(dòng)注入模塊不能提供的特性。此外，即使其提供了，其仍需更多來自測(cè)試器的控制。
此外，隨著具有越來越高接口頻率的串行接口產(chǎn)品開始超過現(xiàn)有外部測(cè)試設(shè)備目前所做的跳動(dòng)靜態(tài)測(cè)試能力，采用作為串行接口自身的部分的發(fā)送控制器204的自動(dòng)眼形老化測(cè)試技術(shù)在將來將變得越來越重要。發(fā)送控制器204允許跳動(dòng)和/或電壓幅度變化以動(dòng)態(tài)方式和可編程方式的動(dòng)態(tài)測(cè)試，從而使其可跟上用于測(cè)試目的的串行接口產(chǎn)品不斷增長的速度。
此外，盡管在各實(shí)施例中已描述了本發(fā)明的各方面和各種功能部件，但應(yīng)當(dāng)理解為這些方面和功能塊可用硬件、軟件、固件、中間件或其中的組合實(shí)現(xiàn)。
盡管已經(jīng)參照示例性實(shí)施例描述了本發(fā)明的實(shí)施例，但并非打算以限制含義來加以解釋此說明。對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例所屬領(lǐng)域的熟練人員而言，示例性實(shí)施例的各種修改以及本發(fā)明的其它實(shí)施例被認(rèn)為在本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)是顯而易見的。
權(quán)利要求
1.一種裝置，其特征在于，所述裝置包括發(fā)送控制器，耦聯(lián)串行接口電路的發(fā)送器，所述發(fā)送器耦聯(lián)串行接口電路的接收器，所述發(fā)送控制器還包括存儲(chǔ)器，用于儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)，和排序邏輯，動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)排序至發(fā)送器；其中發(fā)送器響應(yīng)電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中動(dòng)態(tài)排序的一個(gè)而產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)，發(fā)送給接收器，以便測(cè)試所述接收器。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述老化測(cè)試圖案信號(hào)形成眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器包含寄存器陣列。
4.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述電流補(bǔ)償值耦聯(lián)發(fā)送器的電流補(bǔ)償值電路。
5.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述阻抗補(bǔ)償值耦聯(lián)發(fā)送器的阻抗補(bǔ)償值電路。
6.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述存儲(chǔ)器包括電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器，以儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值；和阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器，以儲(chǔ)存阻抗補(bǔ)償值。
7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述排序邏輯動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值排序至發(fā)送器，其中發(fā)送器響應(yīng)動(dòng)態(tài)排序的電流和阻抗補(bǔ)償值而產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)，發(fā)送給接收器，以便測(cè)試該接收器。
8.如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述老化測(cè)試圖案信號(hào)形成眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。
9.如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器和阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器各自分別包含寄存器陣列。
10.如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述電流補(bǔ)償值耦聯(lián)發(fā)送器的電流補(bǔ)償值電路。
11.如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述阻抗補(bǔ)償值耦聯(lián)發(fā)送器的阻抗補(bǔ)償值電路。
12.如權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括比較器，所述比較器比較由發(fā)送器發(fā)給接收器的老化測(cè)試圖案信號(hào)和由接收器接收的接收到的測(cè)試圖案信號(hào)，以便測(cè)試該接收器。
13.一種方法，其特征在于，所述方法包括儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)；動(dòng)態(tài)的將電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)排序至串行接口電路的發(fā)送器；根據(jù)電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中動(dòng)態(tài)排序的一個(gè)而產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)；和將老化測(cè)試圖案信號(hào)發(fā)送給串行接口電路的接收器，以便測(cè)試該接收器。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述老化測(cè)試圖案信號(hào)形成眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。
15.如權(quán)利要求13所述的方法還包括，將電流補(bǔ)償值耦聯(lián)到發(fā)送器的電流補(bǔ)償電路中。
16.如權(quán)利要求13所述的方法還包括，將阻抗補(bǔ)償值耦聯(lián)到發(fā)送器的阻抗補(bǔ)償電路中。
17.如權(quán)利要求13所述的方法，其特征在于，所述儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)，還包括儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值和阻抗補(bǔ)償值兩者。
18.如權(quán)利要求17所述的方法，其特征在于，所述方法還包括動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值和阻抗補(bǔ)償值兩者都排序至發(fā)送器，產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)；和發(fā)送所述老化測(cè)試圖案信號(hào)至接收器，以便測(cè)試該接收器。
19.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于，所述老化測(cè)試圖案信號(hào)形成眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。
20.如權(quán)利要求18所述的方法，其特征在于，所述方法還包括，比較由發(fā)送器發(fā)給接收器的老化測(cè)試圖案信號(hào)和由接收器接收的接收到的測(cè)試圖案信號(hào)，以便測(cè)試該接收器。
21.一種串行接口電路，其特征在于，所述電路包括發(fā)送器；接收器；發(fā)送控制器，耦聯(lián)發(fā)送器，所述發(fā)送器耦聯(lián)所述接收器，所述發(fā)送控制器還包括存儲(chǔ)器，用于儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)，和排序邏輯，動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)排序至發(fā)送器；其中發(fā)送器響應(yīng)電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中動(dòng)態(tài)排序的一個(gè)而產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)，發(fā)送給接收器，以便測(cè)試接收器。
22.如權(quán)利要求21所述的串行接口電路，其特征在于，老化測(cè)試圖案信號(hào)形成眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。
23.如權(quán)利要求21所述的串行接口電路，其特征在于，存儲(chǔ)器包含寄存器陣列。
24.如權(quán)利要求21所述的串行接口電路，其特征在于，電流補(bǔ)償值耦聯(lián)發(fā)送器的電流補(bǔ)償值電路。
25.如權(quán)利要求21所述的串行接口電路，其特征在于，阻抗補(bǔ)償值耦聯(lián)發(fā)送器的阻抗補(bǔ)償值電路。
26.如權(quán)利要求21所述的串行接口電路，其特征在于，所述存儲(chǔ)器包括電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器，用于儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值；和阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器，用于儲(chǔ)存阻抗補(bǔ)償值。
27.如權(quán)利要求26所述的串行接口電路，其特征在于，排序邏輯動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值排序至發(fā)送器；其中發(fā)送器響應(yīng)動(dòng)態(tài)排序的電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值而產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)，發(fā)送給接收器，以便測(cè)試接收器。
28.如權(quán)利要求27所述的串行接口電路，其特征在于，所述老化測(cè)試圖案信號(hào)形成眼形老化測(cè)試圖案信號(hào)。
29.如權(quán)利要求27所述的串行接口電路，其特征在于，所述電流補(bǔ)償值存儲(chǔ)器和阻抗補(bǔ)償值存儲(chǔ)器各自分別含有寄存器陣列。
30.如權(quán)利要求27所述的串行接口電路，其特征在于，所述電流補(bǔ)償值耦聯(lián)發(fā)送器的電流補(bǔ)償值電路。
31.如權(quán)利要求27所述的串行接口電路，其特征在于，所述阻抗補(bǔ)償值耦聯(lián)發(fā)送器的阻抗補(bǔ)償值電路。
32.如權(quán)利要求27所述的串行接口電路，其特征在于，所述電路還包括比較器，所述比較器比較由發(fā)送器發(fā)給接收器的老化測(cè)試圖案信號(hào)和由接收器接收的接收到的測(cè)試圖案信號(hào)，以便測(cè)試接收器。
33.如權(quán)利要求27所述的串行接口電路，其特征在于，所述電路耦聯(lián)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的芯片組。
34.如權(quán)利要求33所述的串行接口電路，其特征在于，所述芯片組包括存儲(chǔ)器控制中心(MCH)和輸入/輸出控制中心(ICH)，所述串行接口耦聯(lián)ICH。
35.如權(quán)利要求33所述的串行接口電路，其特征在于，所述芯片組通過前端總線(FSB)耦聯(lián)處理器。
全文摘要
本發(fā)明的實(shí)施例涉及高速串行接收器的自動(dòng)老化測(cè)試技術(shù)。發(fā)送控制器耦聯(lián)串行接口電路的發(fā)送器。該發(fā)送器耦聯(lián)串行接口電路的接收器。發(fā)送控制器包括存儲(chǔ)器，用于儲(chǔ)存電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)，還包括排序邏輯，動(dòng)態(tài)地將電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中的一個(gè)排序至發(fā)送器。發(fā)送器響應(yīng)電流補(bǔ)償值或阻抗補(bǔ)償值中動(dòng)態(tài)排序的一個(gè)而產(chǎn)生老化測(cè)試圖案信號(hào)，發(fā)送給接收器，以便測(cè)試該接收器。
文檔編號(hào)H04L1/24GK1757193SQ200480006004
公開日2006年4月5日 申請(qǐng)日期2004年2月5日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月7日
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