專利名稱：高可靠記憶合金電器接插件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電器接插件，尤其是高可靠記憶合金電器接插件。特別適用于長期發(fā)熱的工作環(huán)境。
背景技術(shù)：
目前，國內(nèi)使用的電器接插件由于多次插拔或長期工作而溫度升高，因此出現(xiàn)插頭與插座之間的松動，導(dǎo)致接觸不良、接觸電阻增大、電能損耗、甚至于斷電而影響工作，有待改進(jìn)。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有電器接插件插頭與插座之間長期插拔或因發(fā)熱升溫而松動導(dǎo)致的導(dǎo)電不良的不足，本實(shí)用新型提供一種高可靠記憶合金電器接插件，以克服其不足。
本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是在插頭的外圓周套裝一記憶合金插座，該插座為環(huán)狀并且在上中部預(yù)制有較深的缺口，且其在高溫定型時(shí)的直徑小于插頭直徑，在常溫裝配時(shí)，因記憶合金柔軟而很容易擴(kuò)大到插頭的直徑。當(dāng)插頭插入記憶合金插座時(shí)，記憶合金接插件有電流通過，由于其自身電阻發(fā)熱開有缺口的記憶合金插座收縮到較小的直徑，從而使記憶合金插座將插頭牢牢抱緊，保證良好的導(dǎo)電狀態(tài)。記憶合金插座采用NiTi、CuAlBeX或CuAlMnX合金制造。
本實(shí)用新型的有益效果是，接插高度可靠，導(dǎo)電良好，成本較低。
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。


圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)立體示意圖。
在圖1中，在插頭的外周圍裝有一記憶合金插座1，該插座為環(huán)狀并且在上中部預(yù)制有缺口。在接觸電阻或電流電阻的作用下，記憶合金插座1發(fā)熱升溫直徑變小，將插頭2牢牢抱緊，當(dāng)用電電器停止工作時(shí)，記憶合金插座1逐漸冷卻，變軟，使得插頭2很容易拔出。
權(quán)利要求1.一種高可靠記憶合金電器接插件，包括插頭，其特征在于在插頭的外周套裝有一記憶合金插座。
2.根據(jù)權(quán)力要求1所述的接插件，其特征在于記憶合金插座采用NiTi、CuAlBeX或CuAlMnX合金制造。
3.根據(jù)權(quán)力要求1所述的接插件，其特征在于記憶合金插座的形狀為環(huán)狀且在其上中部預(yù)制有缺口。
專利摘要一種高可靠記憶合金電器接插件，在其插頭的外周套裝一記憶合金插座，該插座為環(huán)狀并且在上中部預(yù)制有較深的缺口，且其在高溫定型時(shí)的直徑小于插頭直徑，在常溫裝配時(shí)，因記憶合金柔軟而很容易擴(kuò)大到插頭的直徑。當(dāng)插頭插入記憶合金插座時(shí)，記憶合金接插件有電流通過，由于其自身電阻發(fā)熱開有缺口的記憶合金插座收縮到較小的直徑，從而使記憶合金插座將插頭牢牢抱緊，保證良好的導(dǎo)電狀態(tài)。記憶合金插座采用NiTi、CuAlBeX或CuAlMnX合金制造。
文檔編號H01R4/01GK2884563SQ20052013221
公開日2007年3月28日 申請日期2005年11月1日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月1日
發(fā)明者荊毅, 董元源 申請人:甘肅省機(jī)械科學(xué)研究院