專利名稱：光頭、光盤驅(qū)動器、光檢測裝置和光頭的信號生成方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光頭、光盤驅(qū)動器、光檢測裝置、以及用于光頭的信號生成方法。
背景技術(shù)：
在用于將光信號記錄在光盤上或再生光盤上的光學(xué)信號的光頭中，由光源發(fā)出的光束通過物鏡傳送而照射到光盤的記錄表面，所產(chǎn)生的反射光束再次通過物鏡傳送，并由光檢測器檢測以獲得檢測信號，然后基于檢測信號生成再生信號、聚焦誤差信號、和循軌誤差信號。
例如，日本未經(jīng)審查專利申請公開第2003-248957號提出了具有兩個光檢測器的光頭，每個光檢測器包括四個受光體(受光體部分)。
在光頭中，反射光束在兩個光檢測器中的每一個的光接收表面上都形成單一的光斑。使用光斑尺寸(light spot size)法檢測聚焦誤差信號，在光斑尺寸法中，檢測在光檢測器的各個光接收表面上形成的光斑的尺寸之間的差。使用微分補(bǔ)償推挽(DifferentialCompensate Push-Pull，DCPP)法檢測循軌誤差信號，在該方法中，檢測由于構(gòu)成反射光束的零階光和正負(fù)一階光之間的干涉引起的強(qiáng)度分布的變化，并基于物鏡和兩個光檢測器之間的位置的移位量校正通過檢測獲得的值。
即，聚焦誤差信號和循軌誤差信號都是利用兩個光檢測器檢測到的。

發(fā)明內(nèi)容
在如上所述構(gòu)成的光頭中，為了獲得關(guān)于聚焦伺服和循軌伺服的最佳特性，即，為了使聚焦誤差信號和循軌誤差信號的特性最優(yōu)，應(yīng)選擇構(gòu)成兩個光檢測器的受光體的最佳尺寸。
然而，在如上所述的光頭中，由于兩個光檢測器的受光體所輸出的檢測信號既用于聚焦誤差信號的檢測，也用于循軌誤差信號的檢測，因而當(dāng)選擇的受光體的尺寸能夠最佳地檢測出聚焦誤差信號和循軌誤差信號之一時，很難最佳地檢測出聚焦誤差信號和循軌誤差信號中的另一信號。
因此，不可避免地需要進(jìn)行抉擇，或者以最優(yōu)化聚焦誤差信號和循軌誤差信號之一而犧牲另一個的最優(yōu)來選擇受光體的尺寸，或者以獲得對于聚焦誤差信號和循軌誤差信號都合適的特性來選擇受光體的尺寸。
希望提供有利于聚焦誤差信號和循軌誤差信號都能獲得最佳特性的光頭、光盤驅(qū)動器、光檢測裝置以及用于光頭的信號生成方法。
根據(jù)本發(fā)明的一個實(shí)施例，提供了一種光頭，包括光源，用于發(fā)射光束；物鏡，用于聚集由光源發(fā)射的光束，從而使用所聚集的光束照射光盤；第一光檢測器和第二光檢測器，具有各自的光接收表面；光學(xué)系統(tǒng)，用于使由光盤反射照射光束產(chǎn)生的反射光束傳播通過物鏡，以在第一和第二光檢測器的每個光接收表面上形成單一的光斑；以及誤差信號生成裝置，用于當(dāng)在各個光接收表面上形成光斑時，基于由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號。第一和第二光檢測器中的至少一個的光接收表面具有在對應(yīng)光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度。至少一個光檢測器的光接收表面由沿第一方向排列的第一到第六受光體形成。第一和第二受光體關(guān)于沿寬度方向通過中心并在垂直于第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置。第三和第四受光體分別從第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于中心線軸對稱。第五和第六受光體分別從第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于中心線軸對稱。誤差信號生成裝置被設(shè)置成在光斑尺寸法中通過使用由第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成聚焦誤差信號，以及在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用另一和信號作為校正信號來生成循軌誤差信號。
根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，提供了一種光盤驅(qū)動器，包括驅(qū)動裝置，用于保持和旋轉(zhuǎn)光盤；以及光頭，用于使用光束照射由驅(qū)動裝置旋轉(zhuǎn)的光盤以進(jìn)行記錄或再生，并且檢測由光盤反射照射光束產(chǎn)生的反射光束。光頭包括光源，用于發(fā)射光束；物鏡，用于聚集由光源發(fā)射的光束，從而使用所聚集的光束照射光盤；第一光檢測器和第二光檢測器，具有各自的光接收表面；光學(xué)系統(tǒng)，用于使由光盤反射照射光束產(chǎn)生的反射光束傳播通過物鏡，以在第一和第二光檢測器的每個光接收表面上形成單一的光斑；以及誤差信號生成裝置，用于當(dāng)在各個光接收表面上形成光斑時，基于由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號。第一和第二光檢測器中的至少一個的光接收表面具有在對應(yīng)光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度。至少一個光檢測器的光接收表面由沿第一方向排列的第一到第六受光體形成。第一和第二受光體關(guān)于沿寬度方向通過中心并在垂直于第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置。第三和第四受光體分別從第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于中心線軸對稱。第五和第六受光體分別從第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于中心線軸對稱。誤差信號生成裝置被設(shè)置成在光斑尺寸法中通過使用由第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成聚焦誤差信號，以及在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用另一和信號作為校正信號來生成循軌誤差信號。
根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，提供了一種光檢測裝置，包括光源，用于向光盤發(fā)射光束；第一光檢測器和第二光檢測器，具有各自的光接收表面；棱鏡，用于使由光源發(fā)射的光束傳播通過物鏡，以照射光盤，并且使由光盤反射照射光束產(chǎn)生的反射光束傳播通過物鏡，以在第一和第二光檢測器的每個光接收表面上形成單一的光斑。光源、第一和第二光檢測器、以及棱鏡設(shè)置在相同的基板上。第一和第二光檢測器中的至少一個的光接收表面具有在對應(yīng)光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度。至少一個光檢測器的光接收表面由沿第一方向排列的第一到第六受光體形成。第一和第二受光體關(guān)于沿寬度方向通過中心并在垂直于第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置。第三和第四受光體分別從第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于中心線軸對稱。第五和第六受光體分別從第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于中心線軸對稱。
根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例，提供了一種用于光頭的信號生成方法，該方法包括以下步驟聚集由光源發(fā)射的光束以照射光盤；使用由光盤反射照射光束產(chǎn)生的反射光束照射第一和第二光檢測器各自的光接收表面，從而在每個光接收表面上形成單一的光斑；以及基于由第一和第二檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號。第一和第二光檢測器中的至少一個的光接收表面具有在對應(yīng)光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度。至少一個光檢測器的光接收表面由沿第一方向排列的第一到第六受光體形成。第一和第二受光體關(guān)于沿寬度方向通過中心并在垂直于第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置。第三和第四受光體分別從第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于中心線軸對稱。第五和第六受光體分別從第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于中心線軸對稱。在光斑尺寸法中，通過使用由第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成聚焦誤差信號，以及，在微分補(bǔ)償推挽法中，通過使用另一和信號作為校正信號來生成循軌誤差信號。
在根據(jù)這些實(shí)施例的光頭、光盤驅(qū)動器、光檢測裝置、和用于光頭的信號生成方法中，第一和第二光檢測器中的至少一個的光接收表面被分為第一到第六受光體。因此，第一和第二受光體的寬度以及第三和第四受光體的寬度可以獨(dú)立地選擇。因此，可以同時獲得最優(yōu)的聚焦誤差信號FE和最優(yōu)的循軌誤差信號TE。這有利于同時獲得聚焦誤差信號和循軌誤差信號這兩者的最優(yōu)特性。


圖1示出了包括根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的光頭的光盤驅(qū)動器的結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖2示出了根據(jù)第一實(shí)施例的光頭的光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的示圖；圖3A是第一光檢測器的平面圖，圖3B是第二光檢測器的平面圖；
圖4示出了在本發(fā)明的第一實(shí)施例中由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號的聚焦誤差信號生成電路的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖5示出了在本發(fā)明的第一實(shí)施例中由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成循軌誤差信號的循軌誤差信號生成電路的電路構(gòu)造的方塊圖；圖6示出了在本發(fā)明的第二實(shí)施例中由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號的聚焦誤差信號生成電路的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖7示出了在本發(fā)明的第二實(shí)施例中由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成循軌誤差信號的循軌誤差信號生成電路的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖8示出了在本發(fā)明的第三實(shí)施例中由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號的聚焦誤差信號生成電路的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖9示出了在本發(fā)明的第三實(shí)施例中由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成循軌誤差信號的循軌誤差信號生成電路的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖10示出了在本發(fā)明的第四實(shí)施例中由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號的聚焦誤差信號生成電路的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖；圖11示出了在本發(fā)明的第四實(shí)施例中由第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成循軌誤差信號的循軌誤差信號生成電路的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖；
圖12示出了根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施例的光頭的關(guān)學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖13示出了根據(jù)本發(fā)明的第六實(shí)施例的光頭的關(guān)學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖14是根據(jù)相關(guān)技術(shù)的第一和第二光檢測器的平面圖；圖15是用于說明根據(jù)相關(guān)技術(shù)使用光斑尺寸法檢測聚焦誤差信號的示意圖；圖16是用于說明聚焦誤差信號的示意圖；圖17是用于說明相關(guān)技術(shù)中聚焦透鏡信號發(fā)生的問題的示意圖；圖18是用于說明相關(guān)技術(shù)中聚焦透鏡信號發(fā)生的問題的示意圖；圖19是用于說明通過推挽法檢測循軌誤差信號的示意圖；圖20是用于說明通過根據(jù)相關(guān)技術(shù)的推挽法檢測循軌誤差信號的示意圖；圖21是用于說明相關(guān)技術(shù)中循軌誤差信號的問題的發(fā)生原理的示意圖；圖22是用于說明循軌誤差信號的問題的示意圖；以及圖23是用于說明微分補(bǔ)償推挽法的原理的示意圖。
具體實(shí)施例方式
為了獲得有關(guān)聚焦誤差信號和循軌誤差信號的最優(yōu)特性，第一和第二光檢測器中的至少一個的光接收表面由第一到第六受光體形成，在光斑尺寸法中通過使用由第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成聚焦誤差信號，以及，在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用另一和信號作為校正信號來生成循軌誤差信號。
第一實(shí)施例以下將參考附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1示出了包括根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的光頭的光盤驅(qū)動器的結(jié)構(gòu)的方塊圖。圖2示出了根據(jù)第一實(shí)施例的光頭的光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。圖3A是第一光檢測器的平面圖，以及圖3B是第二光檢測器的平面圖。圖1所示的光盤驅(qū)動器是包括下面所述的光頭的記錄再生裝置的實(shí)例。
參考圖1，光盤驅(qū)動器101包括主軸電動機(jī)103，用于驅(qū)動和旋轉(zhuǎn)光盤102(一種光學(xué)記錄介質(zhì)，例如，CD-R、DVD±R、或DVD-RAM)；光頭104；以及進(jìn)給電動機(jī)105，用于驅(qū)動光頭104。主軸電動機(jī)103設(shè)置為在系統(tǒng)控制器107和伺服控制器109的控制下以預(yù)定的旋轉(zhuǎn)速度旋轉(zhuǎn)。
信號調(diào)制解調(diào)器及ECC塊108調(diào)制或解調(diào)由信號處理器120輸出的信號，并附加糾錯碼(ECC)。光頭104在系統(tǒng)控制器107和伺服控制器109的控制下，用光束照射正在旋轉(zhuǎn)的光盤102的信號記錄表面，由此將光學(xué)信號記錄在光盤102上或從光盤102再生光學(xué)信號。
光頭104被設(shè)置為基于由光盤102的信號記錄表面反射的光束，檢測各種類型的光束(將在后面描述)，并將對應(yīng)于光束的信號提供給信號處理器120。
信號處理器120被設(shè)置為基于與光束對應(yīng)的檢測信號生成伺服控制信號。伺服控制信號包括聚焦誤差信號、循軌誤差信號、RF信號、用于運(yùn)行OPC(最優(yōu)功率控制)的監(jiān)視信號(以下稱作R-OPC信號)、以及用于在記錄期間控制光盤旋轉(zhuǎn)的ATIP(絕對時間預(yù)制溝槽)信號。在本實(shí)施例中，信號處理器120包括聚焦誤差信號生成電路120A(圖4)和循軌誤差信號生成電路120B(圖5)，將在后面描述。
此外，根據(jù)可從其中再生數(shù)據(jù)的記錄介質(zhì)的類型，伺服控制器109、信號調(diào)制解調(diào)器及ECC塊108、以及其他部分基于上述信號執(zhí)行特殊的處理，例如解調(diào)和糾錯。
例如，當(dāng)由信號調(diào)制解調(diào)器及ECC塊108解調(diào)記錄信號得到的信號打算將數(shù)據(jù)保存在計算機(jī)中時，經(jīng)過解調(diào)的信號通過接口111被輸出到外部計算機(jī)130等。因此，外部計算機(jī)130等可以接收記錄在光盤102上的信號作為再生信號。
當(dāng)由信號調(diào)制解調(diào)器及ECC塊108解調(diào)記錄信號得到的信號是用于音頻/視頻應(yīng)用程序時，D/A和A/D轉(zhuǎn)換器112中的D/A轉(zhuǎn)換器將解調(diào)的信號從數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號，并且將得到的模擬信號提供給音頻/視頻處理器113。然后，音頻/視頻處理器113執(zhí)行音頻/視頻信號處理，并將得到的處理信號通過音頻/視頻信號輸入/輸出單元114傳輸給外部的成像或投影裝置。
光頭104與進(jìn)給電動機(jī)105連接，用于將光頭104移動到例如光盤102的特定記錄磁道。主軸電動機(jī)103、進(jìn)給電動機(jī)105、以及用于保持光頭104的物鏡的啟動器的聚焦方向和循軌方向通過伺服控制器109控制。
更具體地，伺服控制器109基于ATIP信號控制主軸電動機(jī)103，并基于聚集誤差信號和循軌誤差信號控制啟動器。
此外，激光控制器121控制光頭104中的激光束源。在該實(shí)施例中，激光控制器121控制在記錄和再生過程中由激光束源發(fā)射的激光束的功率。
下面，將描述光頭104的結(jié)構(gòu)。
參考圖2，光頭104包括激光束源1、準(zhǔn)直透鏡2、偏振光束分光器3、四分之一波長板4、物鏡5、聚光透鏡6、棱鏡7、第一光檢測器8、以及第二光檢測器9。這些部件安裝在托架上(圖中未示出)。
在激光束源1的前面，準(zhǔn)直透鏡2、偏振光束分光器3、四分之一波長板4、物鏡5按所述順序直線排列。光盤102位于物鏡5的前面。
偏振光束分光器3具有面向激光束源1的第一表面3A、與第一表面3A相對并面向物鏡5的第二表面3B、與第一表面3A和第二表面3B垂直的第三表面3C、與第三表面3C相對的第四表面3D、以及大體上與第一表面3A和第二表面3B成45度角的偏振光束分光表面32。
在偏振光束分光器3的第四表面3D的前面，聚光透鏡6、棱鏡7、第一光檢測器8按該順序直線排列。
棱鏡7具有面向聚光透鏡6的第一表面7A、與第一表面7A相對并面向第一光檢測器8的第二表面7B、與第一表面7A和第二表面7B垂直的第三表面7C、與第三表面7C相對的第四表面7D、以及大體上與第一表面7A和第二表面7B成45度角的半反射表面72。
設(shè)置第二光檢測器9，使其面對棱鏡7的第四表面7D。
用L0表示聚光透鏡6的焦距(從聚光透鏡6到其聚光點(diǎn)(condensing point)的距離)，用L1表示從聚光透鏡6到第一光檢測器8的光接收表面82的光程的長度，以及，用L2表示從聚光透鏡6到第二光檢測器9的光接收表面92的光程的長度。那么，在該實(shí)施例中，為了使在光接收表面82上形成的徑向上的射束點(diǎn)尺寸大體上與在光接收表面92上形成的相同方向上的射束點(diǎn)尺寸相同，聚光透鏡6和第一和第二光檢測器8和9被設(shè)置為滿足下列關(guān)系L1＝L0-ΔL (1)L2＝L0+ΔL (2)L1＜L0＜L2 (3)其中ΔL是預(yù)定長度。
在光頭104中，從激光束源1發(fā)射的光束通過準(zhǔn)直透鏡2入射到偏振光束分光器3上。
入射到偏振光束分光器3的第一表面3A上的部分光束被傳播通過偏振光束分光表面32和第二表面3B，從而通過四分之一波長板4和物鏡5后照射光盤102，入射到偏振光束分光器3上的其他部分的光束被偏振光束分光表面32反射。
到達(dá)光盤102的光束被光盤102的記錄表面反射。所得到的反射光束通過四分之一波長板4入射到偏振光束分光器3的第二表面3B上，被偏振光束分光表面32反射，然后，被反射的光束通過聚光透鏡6從第四表面3D傳送到棱鏡7的第一表面7A。
入射到棱鏡7的第一表面7A上的部分反射光束傳播通過半反射表面72和第二表面7B，然后到達(dá)第一光檢測器8的光接收表面82，因此，在光接收表面82上形成單一光斑。
入射到棱鏡7上的另一部分反射光束被半反射表面72反射。反射光束傳播通過第四表面7D并到達(dá)第二光檢測器9的光接收表面92，從而在光接收表面92上形成單一光斑。
在該實(shí)施例中，偏振光束分光器3、四分之一波長板4、聚光透鏡6、棱鏡7夠成光學(xué)系統(tǒng)。
下面將描述第一和第二光檢測器8和9。
如圖3A所示，第一光檢測器8的光接收表面82為具有一定長度和寬度的矩形形狀，寬度方向與對應(yīng)光盤102徑向的的第一方向X重合，長度方向與垂直于第一方向X的方向重合。也就是說，照射光盤102的光束被反射，并且反射光束入射到第一光檢測器8的光接收表面82上形成單一的光斑。在照射光盤102的光束中，沿光盤102的徑向延伸的光盤區(qū)域所對應(yīng)的光斑10的區(qū)域在第一方向X上延伸。
第一光檢測器8的光接收表面82是由沿寬度方向(即，第一方向X)排列的第一到第六矩形受光體8402、8404、8406、8408、8410、和8412形成的。
第一到第六矩形受光體8402、8404、8406、8408、8410、和8412關(guān)于通過寬度方向的中心并在長度方向(即，與第一方向X垂直的方向)上延伸的中心線86軸對稱設(shè)置。即，第一和第二受光體8402和8404之間的分界線與中心線86重合。第一和第二受光體8402和8404具有相同的矩形形狀和尺寸，相同的長度和寬度。
第三和第四受光體8406和8408分別從第一和第二受光體8402和8404連續(xù)向外設(shè)置，從而相對于中心線86軸對稱。第三和第四受光體8406和8408具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸。
第五和第六受光體8410和8412分別從第三和第四受光體8406和8408連續(xù)向外設(shè)置，從而相對于中心線86軸對稱。第五和第六受光體8410和8412具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸。
如圖3B所示，與上述的第一光檢測器8類似，第二光檢測器9的光接收表面92由沿寬度方向(第一方向X)排列的第一到第六矩形受光體9402、9404、9406、9408、9410、和9412形成。
圖4示出了在本發(fā)明的第一實(shí)施例中由第一和第二光檢測器8和9輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號的聚焦誤差信號生成電路120A的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖。圖5示出了在本發(fā)明的第一實(shí)施例中由第一和第二光檢測器8和9輸出的檢測信號生成循軌誤差信號的循軌誤差信號生成電路120B的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖。
在該實(shí)施例中，通過光斑尺寸法生成聚焦誤差信號，通過微分補(bǔ)償推挽(DCPP)法生成循軌誤差信號。
參考圖4和圖5，分別用B2、C1、B1、C2、A、和D表示第一光檢測器8的第一到第六受光體8402～8412輸出的檢測信號，以及分別用F2、G1、F1、G2、E、和H表示第二光檢測器9的第一到第六受光體9402～9412輸出的檢測信號。
如圖4所示，根據(jù)下面的等式(4)，使用例如8個加法器14和3個減法器16生成聚焦誤差信號FEFE＝{(B2+C1)-(A+B1+C2+D)}-{(F2+G1)-(E+F1+G2+H)} (4)從等式(4)顯而易見，在該實(shí)施例中，在第一光檢測器8的光接收表面82中，通過靠近中心線86的第一和第二受光體8402和8404檢測出光斑10的中心區(qū)域，以及由第三到第六受光體8406、8408、8410、和8412檢測出光斑10相對于第一方向X的光斑側(cè)面區(qū)域。類似地，在第二光檢測器9的光接收表面92中，由靠近中心線96的第一和第二受光體9402和9406檢測光斑12的中心區(qū)域，以及由第三到第六受光體9406、9408、9410、和9412檢測光斑12相對于第一方向X的光斑側(cè)面區(qū)域。
因此，在該實(shí)施例中，由第一光檢測器8的第一和第二受光體8402和8404輸出的檢測信號B2和C1的和信號(B2+C1)以及由第二光檢測器9的第一和第二受光體9402和9404輸出的檢測信號F2和G1的和信號(F2+G1)被用作光斑尺寸法中的檢測信號。
如圖5所示，根據(jù)下面的等式(5)，使用例如4個加法器14、3個減法器16和一個放大器18生成循軌誤差信號TETE＝{(A+B1+B2)-(C1+C2+D)}-m{(B1+B2)-(C1+C2)}(5)其中m表示用于糾正透鏡移動對循軌誤差信號TE的影響的校正系數(shù)。
從等式(5)顯而易見，在該實(shí)施例中，在第一光檢測器8的光接收表面82中，由位于中心線86一側(cè)的第一、第三、和第五受光體8402、8406、和8410檢測光斑10在中心線86的第一方向X的這一側(cè)上光斑的區(qū)域，以及由位于中心線86另一側(cè)的第二、第四、和第六受光體8404、8408、和8412檢測光斑10在中心線86的第一方向X的這另一側(cè)上光斑的區(qū)域。此外，由第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408檢測光斑10的中心區(qū)域。
因此，在該實(shí)施例中，由第一光檢測器8的第一和第三受光體8402和8406輸出的檢測信號B2和B1的和信號與由第一光檢測器8的第二和第四受光體8404和8408輸出的檢測信號C1和C2的和信號之間的差信號(B1+B2)-(C1+C2)被用作微分補(bǔ)償推挽(DCPP)法中的校正信號。
在該實(shí)施例中，聚焦誤差信號生成電路120A和循軌誤差信號生成電路120B構(gòu)成了誤差信號生成裝置。
分別用D1、D2、D3和D4表示第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408的寬度，以及分別用D1′、D2′、D3′和D4′表示第一、第二、第三、和第四受光體9402、9404、9406、和9408的寬度。那么，根據(jù)上述的實(shí)施例，下面的兩個條件可以被同時滿足。
(1)選擇第一光檢測器8的第一和第二受光體8402和8404的寬度D1和D2、以及第二光檢測器9的第一和第二受光體9402和9404的寬度D1′和D2′，從而獲得最優(yōu)的聚焦誤差信號FE。
(2)選擇第一光檢測器8的第一、第二、第三和第四受光體8402、8404、8406、和8408的寬度D1、D2、D3、和D4，從而獲得最優(yōu)的循軌誤差信號TE，即，獲得使得獲得最優(yōu)循軌誤差信號成為可能的校正信號。
即，由于第一光檢測器8的光接收表面82被分成6個受光體8402～8412，因此可以獨(dú)立地選擇第一和第二受光體8402和8404的寬度D1和D2，以及第三和第四受光體8406和8408的寬度D3和D4。因此，可以同時獲得最優(yōu)聚焦誤差信號FE和最優(yōu)循軌誤差信號TE。這在獲得關(guān)于聚焦誤差信號和循軌誤差信號兩者的最優(yōu)特性上是有利的。
第二實(shí)施例下面，將描述本發(fā)明的第二實(shí)施例。
第二實(shí)施例與第一實(shí)施例的不同之處在于計算聚焦誤差信號FE和循軌誤差信號TE的等式不同。
圖6示出了在第二實(shí)施例中由第一和第二光檢測器8和9的檢測信號生成聚焦誤差信號的聚焦誤差信號生成電路120A的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖。圖7示出了在第二實(shí)施例中由第一和第二光檢測器8和9的檢測信號生成循軌誤差信號的循軌誤差信號生成電路120B的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖。
如圖6所示，根據(jù)下面的等式(4)，使用例如8個加法器14和3個減法器16生成聚焦誤差信號FEFE＝{(B1+B2+C1+C2)-(A+D)}-{(F1+F2+G1+G2)-(E+H)} (6)從等式(6)顯而易見，在第二實(shí)施例中，在第一光檢測器8的光接收表面82中，由靠近中心線86的第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8406檢測光斑10的中心區(qū)域，以及由第五和第六受光體8410和8412檢測光斑10相對于第一方向X光斑的側(cè)面區(qū)域。類似地，在第二光檢測器9的光接收表面92中，由靠近中心線96的第一、第二、第三、和第四受光體9402、9404、9406、和9408檢測光斑12的中心區(qū)域，以及由第五和第六受光體9410和9412檢測光斑12相對于第一方向X光斑的側(cè)面區(qū)域。
因此，在該實(shí)施例中，第一光檢測器8的第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408的檢測信號B2、C1、B1、和C2的和信號(B1+B2+C1+C2)以及第一、第二、第三、和第四受光體9402、9404、9406、和9408的檢測信號F2、G1、F1、和G2的和信號(F1+F2+G1+G2)被用作光斑尺寸法中的檢測信號。
如圖7所示，根據(jù)下面的等式(7)，使用例如4個加法器14、3個減法器16和一個放大器18生成循軌誤差信號TETE＝{(A+B1+B2)-(C1+C2+D)}-m(B2-C1) (7)從等式(7)顯而易見，在第二實(shí)施例中，與第一實(shí)施例類似，在第一光檢測器8的光接收表面82中，由位于中心線86一側(cè)的第一、第三、和第五受光體8402、8406、和8410檢測光斑10在中心線86的第一方向X這一側(cè)上光斑的區(qū)域，以及由位于中心線86另一側(cè)的第二、第四、和第六受光體8404、8408、和8412檢測光斑10在中心線86的第一方向X這另一側(cè)上的光斑區(qū)域。與第一實(shí)施例不同的是，光斑10的中心區(qū)域由第一和第二受光體8402和8404檢測光斑。
因此，在第二實(shí)施例中，第一和第二受光體8402和8404的檢測信號B2和C1的差信號被用作微分補(bǔ)償推挽(DCPP)法中的校正信號。
根據(jù)第二實(shí)施例，下面的兩個條件可以被同時滿足。
(1)選擇第一光檢測器8的第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408的寬度D 1、D2、D3、和D4，以及第二光檢測器9的第一、第二、第三、和第四受光體9402、9404、9406、和9408的寬度D1′、D2′、D3′、和D4′，從而獲得最優(yōu)的聚焦誤差信號FE。
(2)選擇第一光檢測器8的第一和第二受光體8402和8404的寬度D1和D2，因此獲得最優(yōu)的循軌誤差信號TE，即，獲得使得獲得最優(yōu)循軌誤差信號成為可能的校正信號。
即，與第一實(shí)施例類似，因?yàn)榈谝还鈾z測器8的光接收表面82被分成6個受光體8402～8412，因此可以獨(dú)立地選擇第一和第二受光體8402和8404的寬度D1和D2，以及第三和第四受光體8406和8408的寬度D3和D4。因此，可以同時獲得最優(yōu)聚焦誤差信號FE和最優(yōu)循軌誤差信號TE。這在獲得關(guān)于聚焦誤差信號和循軌誤差信號兩者的最優(yōu)特性上是有利的。
第三實(shí)施例下面，將描述本發(fā)明的第三實(shí)施例。
第三實(shí)施例與第一和第二實(shí)施例的不同在于，在第一和第二實(shí)施例中，所使用的每個第一和第二光檢測器8和9應(yīng)用了6個受光體，而在第三實(shí)施例中，所使用的第一光檢測器8應(yīng)用了6個受光體，所使用的第二光檢測器9應(yīng)用了3個受光體。
圖8示出了在第三實(shí)施例中由第一和第二光檢測器8和9輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號的聚焦誤差信號生成電路120A的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖。圖9示出了在第三實(shí)施例中由第一和第二光檢測器8和9輸出的檢測信號生成循軌誤差信號的循軌誤差信號生成電路120B的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖。
下面，將描述第一和第二光檢測器8和9。
參考圖8，第一光檢測器8的光接收表面82被設(shè)置為與第一實(shí)施例相同。即，第一光檢測器8的光接收表面82由沿寬度方向(第一方向X)排列的第一到第六矩形受光體8402、8404、8406、8408、8410、和8412形成。
第二光檢測器9的光接收表面92是由沿寬度方向(第一方向X)排列的第一到第三矩形受光體9402、9404、和9406形成的。
第一、第二和第三受光體9402、9404、和9406關(guān)于中心線96軸對稱設(shè)置，其中中心線96通過排列方向的中心并在長度方向(即，與第一方向X垂直的方向)上延伸。
第一受光體9402的中心位于中心線96上。
第二和第三受光體9404和9406從第一受光體9402連續(xù)向外設(shè)置。第二和第三受光體9404和9406具有相同的矩形形狀，以及具有相同長度和寬度的相同尺寸。
在第三實(shí)施例中，第二光檢測器9的第一受光體9402相當(dāng)于第一實(shí)施例中第二光檢測器9的第一和第二受光體9402和9404的結(jié)合。即，第三實(shí)施例中的第二光檢測器9的第一受光體9402的寬度D1′等于第一實(shí)施例中第二光檢測器9的第一和第二受光體9402和9404的寬度D1′和D2′的和。
分別用B2、C1、B1、C2、A、和D表示第一光檢測器8的第一到第六受光體8402～8412輸出的檢測信號，以及分別用E、F和G表示第二光檢測器9的第一、第二、和第三受光體9402、9404、和9406輸出的檢測信號。
如圖8所示，根據(jù)下面的等式(8)，使用例如6個加法器14和2個減法器16生成聚焦誤差信號FEFE＝{(B2+C1)-(A+B1+C2+D)}-{-E+(F+G)} (8)從等式(8)顯而易見，在第三實(shí)施例中，在第一光檢測器8的光接收表面82中，由靠近中心線86的第一和第二受光體8402和8404檢測光斑10的中心區(qū)域，以及由第三、第四、第五、和第六受光體8406、8408、8410、和8412檢測光斑10相對于第一方向X光斑的側(cè)面區(qū)域。此外，在第二光檢測器9的光接收表面92中，由靠近中心線96的第一受光體9402檢測的光斑12的中心區(qū)域，以及由第二和第三受光體9404和9406檢測光斑12相對于第一方向X的光斑側(cè)面區(qū)域。
因此，在第三實(shí)施例中，由第一光檢測器8的第一和第二受光體8402和8404輸出的檢測信號B2和C1的和信號(B2+C1)以及由第二光檢測器9的第一受光體9402輸出的檢測信號E被用作光斑尺寸方法中的檢測信號。
如圖5所示，以與第一實(shí)施例相同的方式，根據(jù)前面給出的等式(5)生成循軌誤差信號TE。
因此，在第三實(shí)施例中，由第一光檢測器8的第一和第三受光體8402和8406輸出的檢測信號B2和B1的和信號與第一光檢測器8的第二和第四受光體8404和8408的檢測信號C1和C2的和信號之間的差信號(B1+B2)-(C1+C2)被用作微分補(bǔ)償推挽(DCPP)法中的校正信號。
根據(jù)上述的第三實(shí)施例，分別用D1、D2、D3、和D4表示第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408的寬度，以及分別用D1′、D2′、和D3′表示第一、第二、和第三受光體9402、9404、和9406的寬度，下面的兩個條件可以被同時滿足。
(1)選擇第一光檢測器8的第一和第二受光體8402和8404的寬度D1和D2以及第二光檢測器9的第一受光體9402的寬度D1′，從而獲得最優(yōu)的聚焦誤差信號FE。
(2)選擇第一光檢測器8的第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406和8408的寬度D 1、D2、D3、和D4，因此獲得最優(yōu)的循軌誤差信號TE，即，獲得使得獲得最優(yōu)循軌誤差信號成為可能的校正信號。
即，同樣在第三實(shí)施例中，與第一和第二實(shí)施例相似，因?yàn)榈谝还鈾z測器8的光接收表面82被分成6個受光體8402～8412，因此可以獨(dú)立地選擇第一和第二受光體8402和8404的寬度D1和D2，以及第三和第四受光體8406和8408的寬度D3和D4。因此，可以同時獲得最優(yōu)聚焦誤差信號FE和最優(yōu)循軌誤差信號TE。這在獲得關(guān)于聚焦誤差信號和循軌誤差信號兩者的最優(yōu)特性上是有利的。
此外，在第三實(shí)施例中，由于第二光檢測器9的光接收表面92被分成3個受光體，即，第一、第二、和第三受光體9402、9404、和9406，因而與光接收表面92被分成6個受光體的情況相比，第二光檢測器9的結(jié)構(gòu)和誤差信號生成裝置(聚焦誤差信號生成電路120A)可以被簡化。這有利于減少成本。此外，因?yàn)槭芄怏w數(shù)量少，可以減少安培噪音。這可以用來改進(jìn)信號的質(zhì)量。
第四實(shí)施例下面，將描述本發(fā)明的第四實(shí)施例。
第四實(shí)施例與第三實(shí)施例的不同在于計算聚焦誤差信號FE和循軌誤差信號TE的等式。
圖10示出了在第四實(shí)施例中由第一和第二光檢測器8和9輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號的聚焦誤差信號生成電路120A的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖。圖11示出了在第四實(shí)施例中由第一和第二光檢測器8和9輸出的檢測信號生成循軌誤差信號的循軌誤差信號生成電路120B的電路結(jié)構(gòu)的方塊圖。
下面，將描述第一和第二光檢測器8和9。
如圖10所示，第一光檢測器8的光接收表面82被設(shè)置為與第二實(shí)施例相同。即，第一光檢測器8的光接收表面82是由沿寬度方向(第一方向X)排列的第一到第六矩形受光體8402、8404、8406、8408、8410、和8412形成的。
第二光檢測器9的光接收表面92被設(shè)置為與第三實(shí)施例相同。即，光接收表面92是由沿寬度方向(第一方向X)排列的第一、第二、和第三矩形受光體9402、9404、和9406形成的。
在第四實(shí)施例中，第二光檢測器9的第一受光體9402相當(dāng)于第一實(shí)施例中第二光檢測器9的第一、第二、第三、和第四受光體9402、9404、9406、和9408的結(jié)合。即，第四實(shí)施例中第二光檢測器9的第一受光體9402的寬度D1′等于第一實(shí)施例中第一、第二、第三、和第四受光體9402、9404、9406、和9408的寬度D1′、D2′、D3′和D4′的和。
分別用B2、C1、B1、C2、A、和D表示第一光檢測器8的第一到第六受光體8402～8412輸出的檢測信號，以及分別用E、F、和G表示第一、第二、和第三受光體9402、9404、和9406輸出的檢測信號。
如圖10所示，與第三實(shí)施例相似，根據(jù)前面給出的等式(8)，使用例如6個加法器14和2個減法器16生成聚焦誤差信號FE。在第四實(shí)施例中，與第三實(shí)施例相似，在第一光檢測器8的光接收表面82中，由靠近中心線86的第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408檢測光斑10的中心區(qū)域，以及由第五和第六受光體8410和8412檢測光斑10相對于第一方向X光斑的側(cè)面區(qū)域。此外，在第二光檢測器9的光接收表面92中，由靠近中心線96的第一受光體9402檢測光斑12的中心區(qū)域，以及由第二和第三受光體9404和9406檢測光斑12相對于第一方向X光斑的側(cè)面區(qū)域。
因此，在第四實(shí)施例中，由第一光檢測器8的第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408輸出的檢測信號B2、C1、B1、和C2的和信號(B1+B2+C1+C2)以及由第二光檢測器9的第一受光體9402輸出的檢測信號E被用作光斑尺寸方法中的檢測信號。
如圖11所示，以與第二實(shí)施例相同的方式，根據(jù)前面給出的等式(5)生成循軌誤差信號TE。
因此，在第四實(shí)施例中，由第一光檢測器8的第一和第二受光體8402和8404輸出的檢測信號B2和C1的差信號(B2-C1)被用作微分補(bǔ)償推挽法中的校正信號。
根據(jù)上述的第四實(shí)施例，分別用D1、D2、D3、和D4表示第一光檢測器8的第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408的寬度，以及分別用D1′、D2′、和D3′表示第二光檢測器9的第一、第二、和第三受光體9402、9404、和9406的寬度，下面的兩個條件可以被同時滿足。
(1)選擇第一光檢測器8的第一、第二、第三、和第四受光體8402、8404、8406、和8408的寬度D1、D2、D3、和D4以及第二光檢測器9的第一受光體9402的寬度D1′，從而獲得最優(yōu)的聚焦誤差信號FE。
(2)選擇第一光檢測器8的第一和第二受光體8402和8404的寬度D1和D2，因此獲得最優(yōu)的循軌誤差信號TE，即，獲得使得獲得最優(yōu)循軌誤差信號成為可能的校正信號。
即，同樣在第四實(shí)施例中，與第一、第二和第三實(shí)施例相似，因?yàn)榈谝还鈾z測器8的光接收表面82被分成6個受光體8402～8412，因此可以獨(dú)立地選擇第一和第二受光體8402和8404的寬度D1和D2，以及第三和第四受光體8406和8408的寬度D3和D4。因此，可以同時獲得最優(yōu)聚焦誤差信號FE和最優(yōu)循軌誤差信號TE。這在獲得關(guān)于聚焦誤差信號和循軌誤差信號兩者的最優(yōu)特性上是有利的。
此外，在第四實(shí)施例中，與第三實(shí)施例相似，由于第二光檢測器9的光接收表面92被分成3個受光體，即，第一、第二、和第三受光體9402、9404、和9406，因而與光接收表面92被分成6個受光體的情況相比，第二光檢測器9的結(jié)構(gòu)和誤差信號生成裝置(聚焦誤差信號生成電路120A)可以被簡化。這有利于減少成本。此外，因?yàn)槭芄怏w數(shù)量少，可以減少安培噪音(amp noise)。這可以用來改進(jìn)信號的質(zhì)量。
第五實(shí)施例下面，將描述本發(fā)明的第五實(shí)施例。
第五實(shí)施例與第一到第四實(shí)施例的區(qū)別在于，在第一到第四實(shí)施例中，由棱鏡7的半反射表面72將反射光束引向第一和第二光檢測器8和9，而在第五實(shí)施例中，由全息光學(xué)元件(HOE)將反射光束引向第一和第二光檢測器8和9。
圖12示出了根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施例的光頭的關(guān)學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。在下面的描述中，與第一到第四實(shí)施例中的部件相對應(yīng)的部件用相同的標(biāo)號表示，并省略對其的描述。
如圖12所示，在偏振光束分光器3的第四表面3D的前面，聚光透鏡6、HOE 20和受光基板22按該順序直線排列。
受光基板22具有盤狀絕緣基板2202，該基板具有面向HOE 20的上表面(厚度方向上的一個表面)。在該上表面上，在第一和第二光學(xué)元件8和9之間設(shè)置有間隔。
HOE 20使通過聚光透鏡6傳播的反射光發(fā)生衍射，發(fā)射出兩束衍射光，即，正一階光和負(fù)一階光。此外，HOE 20生成散焦像差(defocusing aberration)。由于正散焦像差存在于聚焦在第一光檢測器8上的正一階衍射光束中，所以焦點(diǎn)L1位于第一光檢測器8的光接收表面82之后。另一方面，與正一階衍射光束的情況相反，聚焦在第二光檢測器9上的負(fù)一階衍射光束具有負(fù)散焦像差，因此，焦點(diǎn)L2位于第二光檢測器9的光接收表面92之前。在兩束衍射光中，一束被引向第一光檢測器8，另一束被引向第二光檢測器9。
用L0表示聚光透鏡6的焦距(從聚光透鏡6到焦點(diǎn)的距離)，用ΔL表示由于HOE 20的聚焦能力引起的焦點(diǎn)的移動量，用L1表示聚焦在第一光檢測器8上的正一階衍射光束的聚光點(diǎn)(condensingpoint)，以及用L2表示聚焦在第二光檢測器9的負(fù)一階衍射光束的聚光點(diǎn)，為了使光束點(diǎn)在光接收表面82的徑向上的尺寸大體上與光束點(diǎn)在光接收表面92的相同方向上的尺寸相同，選擇HOE 20的散焦量ΔL、從聚光透鏡6到第一光檢測器8和第二光檢測器9的距離L、從聚光透鏡6到正一階衍射光束的聚光點(diǎn)的長度L1、以及從聚光透鏡6到負(fù)一階衍射光束的聚光點(diǎn)的長度L2，使其滿足下列的關(guān)系L＝L0 (1)L1＝L0+ΔL (2)L2＝L0-ΔL (3)L1＜L0＜L2 (4)其中ΔL是預(yù)設(shè)的長度。
在光頭104中，從激光源1發(fā)射的光束通過準(zhǔn)直透鏡2入射在偏振光束分光器3上。
入射在偏振光束分光器3的第一表面3A上的部分光束傳播通過偏振光束分光表面32和第二表面3B，從而通過四分之一波長板4和物鏡5照射到光盤102。入射到偏振光束分光器3的其他部分的光束被偏振光束分光表面32反射。
到達(dá)光盤102的光束被光盤102的記錄表面反射。被反射的光束穿過物鏡5和四分之一波長板4入射到偏振光束分光器3的第二表面3B上，并被偏振光束分光表面32反射。被反射的光束從第四表面3D傳播穿過聚光透鏡6并入射到HOE 20。
入射到HOE 20上的反射光被分成兩束衍射光。一束衍射光入射到第一光檢測器8的光接收表面82上以在其上形成單一光斑，另一束衍射光入射到第二光檢測器9的光接收表面92上形成單一光斑。
在該實(shí)施例中，光學(xué)系統(tǒng)由偏振光束分光器3、四分之一波長板4、聚光透鏡6和HOE 20形成。
在如上所述構(gòu)建的第五實(shí)施例中，具有與第一到第四實(shí)施例中信號處理電路120相同的電路結(jié)構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)與第一到第四實(shí)施例一樣的操作和優(yōu)點(diǎn)。
第六實(shí)施例下面，將描述本發(fā)明的第六實(shí)施例。
第六實(shí)施例與第一到第五實(shí)施例的不同在于，第一到第五實(shí)施例中，諸如激光源1、準(zhǔn)直透鏡2、偏振光束分光器3、以及第一和第二光檢測器8和9的光學(xué)元件是獨(dú)立的，而在第六實(shí)施例中，這些光學(xué)元件是集成在光檢測裝置中。
圖13示出了根據(jù)本發(fā)明的第六實(shí)施例的光頭的關(guān)學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
參考圖13，光頭104包括準(zhǔn)直透鏡2、四分之一波長板4、物鏡5、和光檢測裝置24，這些部件被安裝在托架上(圖中未示出)。
在光檢測裝置24的前面，四分之一波長板4、準(zhǔn)直透鏡2、以及物鏡5按該順序直線排列，并且光盤102位于物鏡5的前面。
光檢測裝置24是通過在諸如由半導(dǎo)體構(gòu)成的同一基板26上設(shè)置激光源1、第一和第二光檢測器8和9、以及棱鏡28實(shí)現(xiàn)的。
棱鏡28被設(shè)置為將激光源1發(fā)射的激光束導(dǎo)向光盤102，并將光盤102反射的光束引向第一和第二光檢測器8和9。
更具體地，棱鏡28包括底面2802，設(shè)置在絕緣基板26的上表面之上；頂面2804，與底面2802平行相對且之間具有間隙；以及斜面2806，基本上與底面2802成45度角，并面向激光源1。
在底面2802面向第一光檢測器8的區(qū)域設(shè)置有半反射膜2802A，在頂面2804上設(shè)置有反射膜(反射涂層)2804A，以及在斜面2806上設(shè)置有偏振光束分光膜2806A。
用L0表示聚光透鏡6的焦距(從聚光透鏡6到其焦點(diǎn)的距離)，用L1表示從聚光透鏡6穿過斜面2806到達(dá)第一光檢測器8的光接收表面82的光程的長度，以及用L2表示從聚光透鏡6穿過斜面2806、底面2802和頂面2804到達(dá)第二光檢測器9的光接收表面92的光程的長度。那么，在第六實(shí)施例中，為了使在光接收表面82上關(guān)于徑向形成的聚束點(diǎn)的尺寸與在光接收表面92上關(guān)于同一方向形成的聚束點(diǎn)的尺寸大體相同，設(shè)置聚光透鏡6、棱鏡28以及第一和第二光檢測器8和9以滿足下列關(guān)系L1＝L0-ΔL (1)L2＝L0+ΔL (2)L1＜L0＜L2 (3)其中，ΔL是預(yù)定長度。
在光頭104中，從激光源1發(fā)射的光束被棱鏡28的斜面2806的偏振光束分光膜2806A反射，因此，反射光束穿過四分之一波長板4、準(zhǔn)直透鏡2、和物鏡5照射到光盤102上。
到達(dá)光盤102的光束被光盤102的記錄表面反射。反射光束穿過物鏡5、準(zhǔn)直透鏡2、和四分之一波長板4傳播通過棱鏡28的斜面2806的偏振光束分光膜2806A，并入射到棱鏡28的底面2802的半反射膜2802A上。
入射到半反射膜2802A上的部分反射光傳播通過半反射膜2802A以照射第一光檢測器8的光接收表面82，從而在光接收表面82上形成單一光斑。
入射到半反射膜2802A上的反射光的其他部分被半反射膜2802A反射，并且反射光束入射到底面2802上的第二光檢測器9的光接收表面92上，因此，在光接收表面92上形成單一光斑。
在該實(shí)施例中，光學(xué)系統(tǒng)由準(zhǔn)直透鏡2、四分之一波長板4和棱鏡28構(gòu)成。
在如上所述構(gòu)建的第六實(shí)施例中，具有與第一到第四實(shí)施例中信號處理電路120相同的電路結(jié)構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)與第一到第四實(shí)施例一樣的操作和優(yōu)點(diǎn)。
此外，與第一到第四實(shí)施例具有相同設(shè)置的信號處理電路120(誤差信號生成裝置)可以被設(shè)置在光檢測裝置24的基板26上。
以上的實(shí)施例中描述了基于第一光檢測器8的受光體輸出的檢測信號生成循軌誤差信號TE的情況。然而，應(yīng)該了解，也可以基于第二光檢測器9的受光體輸出的檢測信號生成循軌誤差信號TE。
此外，實(shí)施例中描述了第一和第二光檢測器8和9中的至少一個使用6個受光體來實(shí)現(xiàn)。然而，例如，可以使用大于或等于8的偶數(shù)個受光體來實(shí)現(xiàn)第一和第二光檢測器8和9中的至少一個。同樣在該種情況下，通過獨(dú)立地選擇受光體的長度，可以同時獲得最優(yōu)聚焦誤差信號FE和最優(yōu)循軌誤差信號TE。這有利于獲得聚焦誤差信號和循軌誤差信號兩者的最優(yōu)特性。
下面，將描述相關(guān)技術(shù)和實(shí)施例之間的比較。
圖14是根據(jù)相關(guān)技術(shù)的第一和第二光檢測器的平面圖。圖15是用于說明使用光斑尺寸法檢測聚焦誤差信號的示意圖。圖16是用于說明聚焦誤差信號的示意圖。圖17和18是用于說明相關(guān)技術(shù)中聚焦透鏡信號發(fā)生的問題的示意圖。
圖19是用于說明使用推挽法檢測循軌誤差信號的示意圖。圖20是用于說明根據(jù)相關(guān)技術(shù)檢測循軌誤差信號的示意圖。圖21是用于說明相關(guān)技術(shù)中循軌誤差信號的問題的發(fā)生原理的示意圖。圖22是用于說明循軌誤差信號問題的示意圖。圖23是用于說明微分補(bǔ)償推挽法的原理的示意圖。
首先，將描述通過光斑尺寸法檢測聚焦誤差信號以及在相關(guān)技術(shù)中發(fā)生的問題。
參考圖14，在相關(guān)技術(shù)中，也設(shè)置了第一光檢測器8′和第二光檢測器9′，并且分別在光接收表面82′和92′上形成光斑10和12。光斑10和12為橢圓形，這是因?yàn)闀鄣姆瓷涔馐ㄟ^棱鏡28發(fā)生像散現(xiàn)象。
根據(jù)相關(guān)技術(shù)，每個光接收表面82′和92′由四個受光體形成。用A′、B′、C′、和D′表示第一光檢測器8′的各個受光體輸出的檢測信號，用E′、F′、G′、和H′表示第二光檢測器9’的各個受光體輸出的檢測信號。
在第一光檢測器8′中，對于受光體相對第一方向X的寬度，兩個中間受光體8402′和8404′的寬度相同，以及兩個側(cè)受光體8406′和8408′的寬度相同。
類似地，在第二光檢測器9′中，對于受光體相對第一方向X的寬度，兩個中間受光體9402′和9404′的寬度相同，以及兩個側(cè)受光體9406′和9408′的寬度相同。
如圖15所示，當(dāng)物鏡5聚焦時，形成由實(shí)線表示的光斑10和12。當(dāng)物鏡5從聚焦位置移近或移開光盤102時，形成用虛線表示的光斑10和12。即，當(dāng)物鏡5不聚焦時，光斑10和12中的一個的直徑變得大于由實(shí)線表示的直徑，而另一個的直徑變得小于由實(shí)線表示的直徑。
根據(jù)光斑尺寸法，聚焦誤差信號FE可以由下面的等式(10)來表示FE＝{(B′+C′)-(A′+D′)}+{-(F′+G′)+(E′+H′)} (10)在圖16中，橫軸表示物鏡5的散焦量d(離聚焦位置的移動量)，以及縱軸表示信號電平L。
第一差信號S1相當(dāng)于等式(10)中的第一項，是基于第一光檢測器8′的受光體輸出的檢測信號A′、B′、C′、和D′生成的。
第二差信號S2相當(dāng)于等式(10)中的第二項，是基于第二光檢測器9′的受光體輸出的檢測信號E′、F′、G′、和H′生成的。
因此，可以將聚焦誤差信號FE表示為S1+S2，由虛線表示。由虛線表示的聚焦誤差信號FE被稱作S形信號(S曲線信號)。
對于聚焦誤差信號FE，可以實(shí)現(xiàn)S形信號的正峰和負(fù)峰之間部分的直線性，優(yōu)選地具有寬的峰峰間隔。
圖17A示出了在所選定的第一和第二光檢測器8’和9’的每一個的中間兩個受光體的寬度較大的情況下的第一信號S1、第二信號S2、以及聚焦誤差信號FE。
當(dāng)所選擇的第一和第二光檢測器8′和9′的每一個的中間兩個受光體的寬度較大時，S形信號的斜度小，并且線性變差。這對于實(shí)現(xiàn)良好的聚焦伺服特性不利。此外，當(dāng)如下所述，由形成在光接收表面82′和92′上的光斑10和12中的衍射光強(qiáng)度分布的變化引起的AC分量作為噪聲疊加在聚焦誤差信號FE上時，特性易受噪聲的影響。
圖17B示出了在所選擇的第一和第二光檢測器8′和9′的每一個的中間兩個受光體的寬度較小的情況下的第一信號S1、第二信號S2、以及聚焦誤差信號FE。
當(dāng)在將第一和第二光檢測器8′和9′的每一個的中間兩個受光體的寬度選定為較小時，S形信號的斜度增加，線性得到改善。然而，S形信號的范圍(聚焦誤差信號FE的正峰和負(fù)峰之間的部分)變得較小，從而聚焦伺服可運(yùn)行的范圍變得較小。這對于實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦伺服操作不利。此外，聚焦誤差信號FE易受在第一和第二光檢測器8′和9′和將反射光束引向第一和第二光檢測器8′和9′的光學(xué)系統(tǒng)之間的相對位置(關(guān)于第一方向)的變化的影響。
由此，在如上所述的相關(guān)技術(shù)中，應(yīng)該為第一和第二光檢測器8′和9′的受光體的寬度選擇最佳值，以實(shí)現(xiàn)關(guān)于聚焦誤差信號FE的良好特性，從而實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的聚焦伺服的特性。
接下來，將描述通過微分補(bǔ)償推挽法檢測循軌誤差信號以及在相關(guān)技術(shù)中發(fā)生的問題。
如圖19所示，在光盤102的記錄表面上，形成有槽脊(land)102A和凹槽102B。當(dāng)槽脊102A的中心被光束點(diǎn)照射時，由于槽脊102A和凹槽102B之間的高度差，產(chǎn)生零階衍射光、正一階衍射光、以及負(fù)一階衍射光，并且零階衍射光、正一階衍射光、以及負(fù)一階衍射光形成反射光束。
如圖20所示，由反射光束在第一光檢測器8′的光接收表面82′上形成的光斑包括由零階衍射光形成的中心區(qū)域10A、以及零階衍射光被正和負(fù)一階衍射光干涉的側(cè)面區(qū)域10B和10C。側(cè)面區(qū)域10B和10C關(guān)于第一方向X位于中心區(qū)域10A的兩側(cè)，并且在側(cè)面區(qū)域10B和10C中光的光強(qiáng)度大于或小于在中心區(qū)域10A中的光強(qiáng)度。
當(dāng)光束點(diǎn)位于槽脊102A的中心時，側(cè)面區(qū)域10B和10C中的光強(qiáng)度相同。當(dāng)光束點(diǎn)離開槽脊102A的中心時，側(cè)面區(qū)域10B和10C中的一個的光強(qiáng)度變大，而另一個的光強(qiáng)度變小。
在普通的推挽法中，可通過下面的公式(11)表示循軌誤差信號TETE＝(A+B)-(C+D)(11)如圖21所示，當(dāng)物鏡5位于由實(shí)線表示的位置、并在光盤102的槽脊102A的中心形成光斑時，由反射光束形成的光斑形成在第一光檢測器8’的光接收表面82’上，其也由實(shí)線表示。
當(dāng)執(zhí)行光頭的搜尋操作(在光盤102的徑向上的移動操作)時，根據(jù)搜尋操作，在循軌方向上通過循軌伺服操作，伴隨延時地移動物鏡5。
這與圖21中虛線所表示的在循軌方向移動物鏡5等效。如圖22中(a)所示，循軌誤差信號TE發(fā)生偏移，因此，檢測到帶有與相對真正磁軌位置的DC偏移對應(yīng)的誤差的不正確循軌信號。即，如圖22中(b)所示，當(dāng)偏移為0時，可靠地檢測到真正的磁軌位置。
因此，在微分補(bǔ)償推挽法中，可消除這種偏移。
更特別地，如圖20所示，關(guān)于與第一光檢測器8’的兩個中間受光體8402′和8404′有關(guān)的光斑，兩個中間受光體8402′和8404′僅被零階衍射光照射，以使光強(qiáng)度的分布呈現(xiàn)出高斯分布，如圖20中(a)所示。如果包括高斯分布峰值的部分在兩個受光體8402′和8404′之間均勻地分布，則物鏡5的位移量(在光盤102的徑向上的位移量)為0。
因而，如圖23所示，由兩個中間受光體8402′和8404′輸出的檢測信號之間的差信號(B-C)與物鏡5的位移量成比例，這與循軌誤差信號TE的偏移量Soff類似。
因此，可以通過將差信號(B-C)與校正系數(shù)相乘來消除偏移量Soff。
即，在微分補(bǔ)償推挽法中，可由下面的公式(12)表示循軌誤差信號TETE＝{(A+B)-(C+D)}-m(B-C)(12)可通過增加兩個中間受光體8402′和8404′的寬度，來增加檢測到的高斯分布的部分，從而增加與透鏡位移量有關(guān)的差信號(B-C)的變化量。這對于準(zhǔn)確地消除循軌誤差信號TE的偏移量Soff有利。
然而，當(dāng)兩個中間受光體8402′和8404′的寬度過度地增加時，兩個中間受光體8402′和8404′都被零階衍射光兩側(cè)的正一階和負(fù)一階衍射光照射到。因此，例如，當(dāng)執(zhí)行光頭的搜尋操作時，正一階和負(fù)一階衍射光的成分將作為AC成分影響到差信號(B-C)，以使由公式(12)所表示的循軌誤差信號TE的電平增加或降低。這產(chǎn)生了對不正確循軌信號的檢測，并因此發(fā)生循軌偏移(AC偏移)。
由此，在上面所述的相關(guān)技術(shù)中，如先前所述的，應(yīng)該為第一和第二光檢測器8′和9′的受光體8402′、8404′、9402′和9404′的寬度選擇最佳值。此外，為了實(shí)現(xiàn)有關(guān)循軌誤差信號的良好的特性并從而實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的循軌伺服特性，應(yīng)該為第一光檢測器8′的受光體8402′和8404′的寬度選擇最佳值。
因此，不可避免地需要進(jìn)行抉擇，或者以最優(yōu)化聚焦誤差信號和循軌誤差信號之一而犧牲另一個的最優(yōu)來選擇受光體8402′和8404′的寬度，或者以獲得對于聚焦誤差信號和循軌誤差信號都合適的特性選擇受光體8402′和8404′的寬度。
與之對照，根據(jù)實(shí)施例，由于第一光檢測器8(或第二光檢測器9)的光接收表面由六個受光體構(gòu)成，因而可同時得到最佳的聚焦誤差信號FE和最佳的循軌誤差信號TE。這對于實(shí)現(xiàn)關(guān)于聚焦誤差信號和循軌誤差信號兩者的良好特性有利。
上述描述并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包括在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種光頭，包括光源，用于發(fā)射光束；物鏡，用于聚集由所述光源發(fā)射的光束，從而使用所聚集的光束照射光盤；第一光檢測器和第二光檢測器，具有各自的光接收表面；光學(xué)系統(tǒng)，用于使由所述光盤反射所述照射光束產(chǎn)生的反射光束傳播通過所述物鏡，以在所述第一和第二光檢測器的每個所述光接收表面上形成單一的光斑；以及誤差信號生成裝置，用于當(dāng)在所述各個光接收表面上形成所述光斑時，基于由所述第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號；其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面具有在對應(yīng)所述光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度，其中，所述至少一個光檢測器的所述光接收表面由沿所述第一方向排列的第一到第六受光體構(gòu)成，其中，所述第一和第二受光體關(guān)于沿所述寬度方向通過中心并在垂直于所述第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置，其中，所述第三和第四受光體分別從所述第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述第五和第六受光體分別從所述第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述誤差信號生成裝置被設(shè)置成在光斑尺寸法中通過使用由所述第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由所述第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成所述聚焦誤差信號，以及在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用另一和信號作為校正信號生成所述循軌誤差信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光頭，其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面為具有一定寬度和長度的矩形形狀，所述長度的方向垂直于所述第一方向。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的光頭，其中，所述第一和第二受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸，其中，所述第三和第四受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸，以及其中，所述第五和第六受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光頭，其中，所述光學(xué)系統(tǒng)包括聚光透鏡，用于聚集所反射的光束，以及其中，所述聚光透鏡和所述第一和第二光檢測器被設(shè)置為使L1＝L0-ΔL以及L2＝L0+ΔL，其中，L0表示從所述聚光透鏡到所述聚光透鏡的聚光點(diǎn)的長度，L1表示從所述聚光透鏡到所述第一和第二光檢測器中的一個的所述光接收表面的光程的長度，以及L2表示從所述聚光透鏡到所述第一和第二光檢測器中的另一個的所述光接收表面的光程的長度。
5.一種光盤驅(qū)動器，包括驅(qū)動裝置，用于保持和旋轉(zhuǎn)光盤；以及光頭，用于使用光束照射由所述驅(qū)動裝置旋轉(zhuǎn)的所述光盤以進(jìn)行記錄或再生，并且檢測由所述光盤反射所述照射光束產(chǎn)生的反射光束；其中，所述光頭包括光源，用于發(fā)射光束；物鏡，用于聚集由所述光源發(fā)射的光束，從而使用所聚集的光束照射光盤；第一光檢測器和第二光檢測器，具有各自的光接收表面；光學(xué)系統(tǒng)，用于使由所述光盤反射所述照射光束產(chǎn)生的反射光束傳播通過所述物鏡，以在所述第一和第二光檢測器的每個所述光接收表面上形成單一的光斑；以及誤差信號生成裝置，用于當(dāng)在所述各個光接收表面上形成所述光斑時，基于由所述第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號；其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面具有在對應(yīng)所述光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度，其中，所述至少一個光檢測器的所述光接收表面由沿所述第一方向排列的第一到第六受光體形成，其中，所述第一和第二受光體關(guān)于沿所述寬度方向通過中心并在垂直于所述第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置，其中，所述第三和第四受光體分別從所述第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述第五和第六受光體分別從所述第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述誤差信號生成裝置被設(shè)置成在光斑尺寸法中通過使用由所述第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由所述第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成所述聚焦誤差信號，以及在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用另一和信號作為校正信號來生成所述循軌誤差信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤驅(qū)動器，其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面為具有一定寬度和長度的矩形形狀，所述長度的方向垂直于所述第一方向。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光盤驅(qū)動器，其中，所述第一和第二受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸，其中，所述第三和第四受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸，以及其中，所述第五和第六受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤驅(qū)動器，其中，所述光學(xué)系統(tǒng)包括聚光透鏡，用于聚集所反射的光束，以及其中，所述聚光透鏡和所述第一和第二光檢測器被設(shè)置為使L1＝L0-ΔL以及L2＝L0+ΔL，其中，L0表示從所述聚光透鏡到所述聚光透鏡的聚光點(diǎn)的長度，L1表示從所述聚光透鏡到所述第一和第二光檢測器中的一個的所述光接收表面的光程的長度，以及L2表示從所述聚光透鏡到所述第一和第二光檢測器中的另一個的所述光接收表面的光程的長度。
9.一種光檢測裝置，包括光源，用于向光盤發(fā)射光束；第一光檢測器和第二光檢測器，具有各自的光接收表面；以及棱鏡，用于使由所述光源發(fā)射的所述光束傳播通過物鏡，以照射所述光盤，并且使由所述光盤反射所述照射光束產(chǎn)生的反射光束傳播通過所述物鏡，以在所述第一和第二光檢測器的每個所述光接收表面上形成單一的光斑；其中，所述光源、所述第一和第二光檢測器、以及所述棱鏡設(shè)置在相同的基板上，其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面具有在對應(yīng)所述光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度，其中，所述至少一個光檢測器的所述光接收表面由沿所述第一方向排列的第一到第六受光體形成，其中，所述第一和第二受光體關(guān)于沿所述寬度方向通過中心并在垂直于所述第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置，其中，所述第三和第四受光體分別從所述第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，以及其中，所述第五和第六受光體分別從所述第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置，其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面為具有一定寬度和長度的矩形形狀，所述長度的方向垂直于所述第一方向。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的光檢測裝置，其中，所述第一和第二受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸，其中，所述第三和第四受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸，以及其中，所述第五和第六受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光檢測裝置，還包括誤差信號生成裝置，用于當(dāng)在所述各個光接收表面上形成所述光斑時，基于所述第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號，其中，所述誤差信號生成裝置被設(shè)置成在光斑尺寸法中通過使用由所述第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由所述第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成聚焦誤差信號，以及在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用另一和信號作為校正信號來生成循軌誤差信號。
13.一種光頭的信號生成方法，包括以下步驟聚集由光源發(fā)射的光束以照射光盤；使用由所述光盤反射所述照射光束產(chǎn)生的反射光束照射第一和第二光檢測器的各自的光接收表面，從而在所述每個光接收表面上形成單一的光斑；以及基于由所述第一和第二檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號；其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面具有在對應(yīng)所述光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度，其中，所述至少一個光檢測器的所述光接收表面由沿所述第一方向排列的第一到第六受光體形成，其中，所述第一和第二受光體關(guān)于沿所述寬度方向通過中心并在垂直于所述第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置，其中，所述第三和第四受光體分別從所述第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述第五和第六受光體分別從所述第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，在光斑尺寸法中通過使用由所述第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由所述第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成所述聚焦誤差信號，以及在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用所述另一和信號作為校正信號來生成所述循軌誤差信號。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光頭的信號生成方法，其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面為具有一定寬度和長度的矩形形狀，所述長度的方向垂直于所述第一方向。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的光頭的信號生成方法，其中，其中，所述第一和第二受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸，其中，所述第三和第四受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸，以及其中，所述第五和第六受光體具有相同的矩形形狀以及具有相同長度和寬度的相同尺寸。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光頭的信號生成方法，其中，所述光學(xué)系統(tǒng)包括聚光透鏡，用于聚集所反射的光束，以及其中，所述聚光透鏡和所述第一和第二光檢測器被設(shè)置為使L1＝L0-ΔL以及L2＝L0+ΔL，其中，L0表示從所述聚光透鏡到所述聚光透鏡的聚光點(diǎn)的長度，L1表示從所述聚光透鏡到所述第一和第二光檢測器中的一個的所述光接收表面的光程的長度，以及L2表示從所述聚光透鏡到所述第一和第二光檢測器中的另一個的所述光接收表面的光程的長度。
17.一種光頭，包括光源，用于發(fā)射光束；物鏡，用于聚集由所述光源發(fā)射的光束，從而使用所聚集的光束照射光盤；第一光檢測器和第二光檢測器，具有各自的光接收表面；光學(xué)系統(tǒng)，用于使由所述光盤反射所述照射光束產(chǎn)生的反射光束傳播通過所述物鏡，以在所述第一和第二光檢測器的每個所述光接收表面上形成單一的光斑；以及誤差信號發(fā)生器，用于當(dāng)在所述各個光接收表面上形成所述光斑時，基于由所述第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號；其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面具有在對應(yīng)所述光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度，其中，所述至少一個光檢測器的所述光接收表面由沿所述第一方向排列的第一到第六受光體形成，其中，所述第一和第二受光體關(guān)于沿所述寬度方向通過中心并在垂直于所述第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置，其中，所述第三和第四受光體分別從所述第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述第五和第六受光體分別從所述第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述誤差信號發(fā)生器被設(shè)置成在光斑尺寸法中通過使用由所述第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由所述第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成所述聚焦誤差信號，以及在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用另一和信號作為校正信號來生成所述循軌誤差信號。
18.一種光盤驅(qū)動器，包括驅(qū)動單元，用于保持和旋轉(zhuǎn)光盤；以及光頭，用于使用光束照射由所述驅(qū)動裝置旋轉(zhuǎn)的所述光盤以進(jìn)行記錄或再生，并且檢測由所述光盤反射所述照射光束產(chǎn)生的反射光束；其中，所述光頭包括光源，用于發(fā)射光束；物鏡，用于聚集由所述光源發(fā)射的光束，從而使用所聚集的光束照射光盤；第一光檢測器和第二光檢測器，具有各自的光接收表面；光學(xué)系統(tǒng)，用于使由所述光盤反射所述照射光束產(chǎn)生的反射光束傳播通過所述物鏡，以在所述第一和第二光檢測器的每個所述光接收表面上形成單一的光斑；以及誤差信號發(fā)生器，用于當(dāng)在所述各個光接收表面上形成所述光斑時，基于由所述第一和第二光檢測器輸出的檢測信號生成聚焦誤差信號和循軌誤差信號；其中，所述第一和第二光檢測器中的至少一個的所述光接收表面具有在對應(yīng)所述光盤的徑向的第一方向上延伸的寬度，其中，所述至少一個光檢測器的所述光接收表面由沿所述第一方向排列的第一到第六受光體形成，其中，所述第一和第二受光體關(guān)于沿所述寬度方向通過中心并在垂直于所述第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置，其中，所述第三和第四受光體分別從所述第一和第二受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述第五和第六受光體分別從所述第三和第四受光體連續(xù)向外設(shè)置，以關(guān)于所述中心線軸對稱，其中，所述誤差信號發(fā)生器被設(shè)置成在光斑尺寸法中通過使用由所述第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由所述第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號來生成所述聚焦誤差信號，以及在微分補(bǔ)償推挽法中通過使用另一和信號作為校正信號來生成所述循軌誤差信號。
全文摘要
一種光頭，包括光源、物鏡、光檢測器、光學(xué)系統(tǒng)以及誤差信號發(fā)生器。至少一個光檢測器的光接收表面具有沿對應(yīng)光盤的徑向的第一方向延伸的寬度，由沿第一方向排列的第一到第六受光體構(gòu)成。第一和第二受光體、第三和第四受光體以及第五和第六受光體關(guān)于在垂直于第一方向的方向上延伸的中心線軸對稱設(shè)置。誤差信號發(fā)生器被設(shè)置成在光斑尺寸法中使用由第一和第二受光體輸出的檢測信號的和信號和由第一到第四受光體輸出的檢測信號的和信號之一作為檢測信號生成聚焦誤差信號，而在微分補(bǔ)償推挽法中使用另一和信號作為校正信號生成循軌誤差信號。
文檔編號G11B7/135GK1783258SQ20051010948
公開日2006年6月7日 申請日期2005年10月20日 優(yōu)先權(quán)日2004年10月20日
發(fā)明者安澤卓也 申請人:索尼公司