專利名稱：預(yù)置凹坑信息檢測裝置、光信息記錄裝置、程序及計(jì)算機(jī)可讀取信息記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及從具有形成了用于記錄信息的軌道的引導(dǎo)槽和預(yù)先設(shè)置在該引導(dǎo)槽間的預(yù)置凹坑的光信息記錄介質(zhì)中檢測與預(yù)置凹坑有關(guān)的信息的預(yù)置凹坑信息檢測裝置、具有該預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光信息記錄裝置、用于由計(jì)算機(jī)控制該信息記錄裝置的動作的程序以及存儲了該程序的計(jì)算機(jī)可讀取信息記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)：
近年來，在作為光信息記錄介質(zhì)已經(jīng)普及了的記錄型光盤的數(shù)字多用途光盤(DVD)的種類中，DVD-R或DVD-RW(以下總稱作‘DVD-R/RW’)中，在盤制造時為了準(zhǔn)確地檢測在各半徑位置的線速度，而施加使成為記錄信息的軌道的引導(dǎo)槽蛇行的擺動。在該情況下，在進(jìn)行了CLV(線速度一定)旋轉(zhuǎn)控制時，采用擺動頻率為一定的格式。從而，在使用這樣的光盤的光盤裝置中，檢測基于該引導(dǎo)槽的擺動的信號(稱作‘?dāng)[動信號’)，從而進(jìn)行光盤的旋轉(zhuǎn)控制或生成記錄時鐘。
此外，例如在緊湊盤(compact disk)的CD-R或CD-RW中，通過頻率調(diào)制來使該擺動信號具有被稱作ATIP的地址(時間)信息，在其它的DVD的DVD+R或DVD+RW中，通過相位調(diào)制方式在擺動信號中記錄稱作ADIP的地址信息。
但是，在前述DVD-R/RW的情況下，擺動信號中不含有盤面內(nèi)的位置信息，而是作為其代替，在兩個軌道(引導(dǎo)槽)之間的引導(dǎo)軌道(岸臺)上形成有包含地址信息的預(yù)置凹坑。擺動信號是以一定周期發(fā)生的振幅比較小的信號，預(yù)置凹坑(LPPLand Pre-Pit)信號是間歇性發(fā)生的振幅比較大的信號，基本上兩者是可分離的。
通過用規(guī)定的限幅電平將基于具有光拾取器的至少兩個光接收區(qū)域的光接收元件所檢測出的推挽信號的信號進(jìn)行二值化，從而得到預(yù)置凹坑信號。但是，預(yù)置凹坑信號的最大振幅值根據(jù)光盤裝置的物鏡的光軸偏離、盤的傾斜(tilt)、盤面內(nèi)的反射率變化等而變動。
因此，將限幅電平固定而將包含預(yù)置凹坑信號的推挽信號二值化時，可能誤檢測出預(yù)置凹坑信號。特別在盤面內(nèi)的記錄完畢區(qū)域中，由于來自作為記錄數(shù)據(jù)的RF信號的串?dāng)_噪聲而容易誤檢測預(yù)置凹坑信號，因此重要的是更恰當(dāng)?shù)卦O(shè)定限幅電平。
因此，以往，作為恰當(dāng)?shù)卦O(shè)定限幅電平的方法，提出了如下的方法。
例如，特開2000-207744號公報(bào)中公開了一種檢測預(yù)置凹坑信號的最大振幅值，通過將其分壓來設(shè)定限幅電平的預(yù)置凹坑信號檢測電路。

發(fā)明內(nèi)容
但是，在該現(xiàn)有的方法中，不檢測成為誤檢測的原因的擺動信號本身，在設(shè)定限幅電平時，不進(jìn)行與擺動信號的比較，因此存在殘留有誤檢測的可能性的問題。
本發(fā)明為了解決這樣的問題而完成，其目的在于可以排除擺動信號等的噪聲的影響，從而穩(wěn)定地恰當(dāng)檢測出與光信息記錄介質(zhì)中設(shè)置的預(yù)置凹坑有關(guān)的信息(預(yù)置凹坑信號)，以及由此，光信息記錄裝置可以準(zhǔn)確地訪問光信息記錄介質(zhì)上的希望的軌道。
本發(fā)明為了達(dá)成上述目的，提供如下構(gòu)成的預(yù)置凹坑信息檢測裝置。
即，包括光拾取器，對具有引導(dǎo)槽和預(yù)先設(shè)置在該引導(dǎo)槽間的預(yù)置凹坑的光信息記錄介質(zhì)照射光，該引導(dǎo)槽成為記錄信息的軌道；光接收單元，具有在軌道的寬度方向上被分割了的至少兩個光接收區(qū)域，接收由光信息記錄介質(zhì)反射了的光；以及差檢測電路，檢測從該光接收單元的兩個光接收區(qū)域輸出的信號的差。
進(jìn)而，設(shè)有第一峰值檢測電路，檢測從該差檢測電路輸出的信號的峰值并輸出；濾波電路，從由所述差檢測電路輸出的信號中提取基于所述引導(dǎo)槽的擺動的信號；第二峰值檢測電路，檢測從該濾波電路輸出的信號的峰值并輸出；差動分壓電路，以規(guī)定的比例將所述第一峰值檢測電路的輸出值和所述第二峰值檢測電路的輸出值的差進(jìn)行分壓后輸出；以及比較器，對所述差檢測電路的輸出和所述差動分壓電路的輸出進(jìn)行比較，輸出與所述預(yù)置凹坑有關(guān)的信息。
所述濾波電路最好由以根據(jù)所述光信息記錄介質(zhì)中形成的所述引導(dǎo)槽的擺動而檢測出的擺動信號的頻率作為中心頻率的帶通濾波器構(gòu)成。
而且，提供一種光信息記錄裝置，具有該預(yù)置凹坑信息檢測裝置，基于由該預(yù)置凹坑信息檢測裝置檢測出的預(yù)置凹坑信息來檢測光信息記錄介質(zhì)上的光點(diǎn)位置的地址。
本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置也可以將所述預(yù)置凹坑信息檢測裝置的結(jié)構(gòu)變更一部分，設(shè)置第一電壓檢測電路，檢測從該所述檢測電路輸出的差信號的峰值電壓并輸出；濾波電路，從所述差信號中除去所述預(yù)置凹坑的檢測分量；第二電壓檢測電路，檢測從該濾波電路輸出的信號的峰值電壓并輸出；差動分壓電路，以規(guī)定的比率將所述第一電壓檢測電路的輸出電壓和所述第二電壓檢測電路的輸出電壓的差進(jìn)行分壓；以及比較器，將所述差信號與所述差動分壓電路的輸出電壓進(jìn)行比較，輸出與所述預(yù)置凹坑有關(guān)的信息。
該情況下的上述濾波電路也最好由以根據(jù)所述光信息記錄介質(zhì)中形成的所述引導(dǎo)槽的擺動而檢測出的擺動信號的頻率作為中心頻率的帶通濾波器構(gòu)成。
進(jìn)而，提供一種光信息記錄裝置，具有該預(yù)置凹坑信息檢測裝置，基于由該預(yù)置凹坑信息檢測裝置檢測出的預(yù)置凹坑信息來檢測光信息記錄介質(zhì)上的光點(diǎn)位置的地址。
在該光信息記錄裝置中，最好使所述第一電壓檢測電路和所述第二電壓檢測電路的至少一個成為保持最大振幅電壓的最大振幅保持電路，該裝置設(shè)置用于選擇多個設(shè)定值來作為該保持電壓的變化率的變化率選擇單元。
進(jìn)而，最好至少使所述第一電壓檢測電路成為所述最大振幅保持電路，所述變化率選擇單元具有在旋轉(zhuǎn)所述光信息記錄介質(zhì)時的所述軌道的線速度越快則使所述變化率的設(shè)定值越大的功能。
此外，最好所述第一電壓檢測電路和所述第二電壓檢測電路的至少一個中設(shè)置在希望的定時將檢測電壓復(fù)位的復(fù)位單元。
進(jìn)而，也可以具有用于識別光信息記錄介質(zhì)的安裝的識別單元，在該識別單元每次識別所述光信息記錄介質(zhì)的安裝時，所述復(fù)位單元將所述檢測電壓復(fù)位。
進(jìn)而，也可以設(shè)置D/A轉(zhuǎn)換電路，可設(shè)定多個電壓來輸出；以及選擇單元，選擇所述差動分壓電路的輸出電壓和所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓中的其中一個，作為為了與所述差信號進(jìn)行比較而輸入所述比較器的比較信號。
所述選擇單元最好在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道(seeking)動作時，選擇設(shè)定為規(guī)定的電壓的所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓，在尋道動作完成后，選擇所述差動分壓電路的輸出電壓。
或者，也可以設(shè)置D/A轉(zhuǎn)換電路，其結(jié)構(gòu)為可設(shè)定多個電壓來輸出；以及選擇單元，用于選擇所述第一電壓檢測電路的輸出電壓和所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓中的其中一個，作為除了所述第二電壓檢測電路的輸出電壓之外輸入所述差動分壓電路的電壓。
在該情況下，所述選擇單元最好在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作時，選擇設(shè)定為規(guī)定的電壓的所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓，在尋道動作完成后，選擇所述第二電壓檢測電路的輸出電壓。
進(jìn)而，最好設(shè)置解除單元，用于在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作中，至少將所述第一電壓檢測電路的檢測電壓復(fù)位，在尋道動作完成后，解除該復(fù)位狀態(tài)，在由該解除單元解除所述復(fù)位狀態(tài)之后經(jīng)過規(guī)定時間后，由所述選擇單元選擇所述差動分壓電路的輸出電壓。
或者，也可以設(shè)置解除單元，用于在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作中，至少將所述第一電壓檢測電路的檢測電壓復(fù)位，在尋道動作完成后，解除該復(fù)位狀態(tài)，在由該解除單元解除所述復(fù)位狀態(tài)之后經(jīng)過規(guī)定時間后，由所述選擇單元選擇所述第一電壓檢測電路的輸出電壓。
本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置通過得到來自分割光接收元件的各輸出的差信號，可以降低RF信號引起的串?dāng)_噪聲，而且，通過分別檢測從該差信號中除去了預(yù)置凹坑信號的最大振幅電壓以及預(yù)置凹坑信號的其他的噪聲的最大振幅電壓，可以設(shè)定預(yù)這些振幅變動對應(yīng)的最佳的限幅電平，因此可以檢測適當(dāng)?shù)卦O(shè)定了的預(yù)置凹坑信號。
此外，使用該預(yù)置凹坑信號，可以準(zhǔn)確地對光信息記錄介質(zhì)的希望的軌道進(jìn)行存取。


圖1是表示具有本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光信息記錄裝置的實(shí)施例的光盤裝置的結(jié)構(gòu)的方框圖。
圖2是將該光盤裝置所使用的光信息記錄介質(zhì)的光盤的盤面放大來表示各軌道的結(jié)構(gòu)的圖。
圖3是表示圖1所示的光盤裝置中的光拾取器的光接收元件及其輸出信號檢測單元的結(jié)構(gòu)例的圖。
圖4是說明DVD-R/RW的情況下的擺動信號和預(yù)置凹坑信號的結(jié)構(gòu)的圖。
圖5是概略地表示圖1所示的擺動檢測電路12和預(yù)置凹坑檢測電路13的關(guān)系的方框圖。
圖6是表示本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的方框圖。
圖7是表示圖6所示的電路中的推挽信號的擺動信號分量和預(yù)置凹坑信號分量以及限幅電平和比較器輸出的關(guān)系的波形圖。
圖8是表示峰值檢測電路中的多個變化率(衰減率)的不同的波形圖。
圖9是表示圖6中的預(yù)置凹坑峰值檢測電路30以及擺動峰值檢測電路32的具體結(jié)構(gòu)例的電路圖。
圖10是與表示本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的圖6同樣的方框圖。
圖11是與表示本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的第三實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的圖6同樣的方框圖。
圖12是表示具有圖10所示的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光盤裝置中的基本的尋道動作處理的流程圖。
圖13是表示具有圖11所示的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光盤裝置中的基本的尋道動作處理的流程圖。
圖14是表示具有圖10所示的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光盤裝置中的加上了復(fù)位動作的尋道動作處理的流程圖。
圖15是表示具有圖11所示的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光盤裝置中的加上了復(fù)位動作的尋道動作處理的流程圖。
具體實(shí)施例方式
以下，基于附圖具體地說明用于實(shí)施本發(fā)明的最佳方式。

圖1是表示具有本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光信息記錄裝置的實(shí)施例的光盤裝置的結(jié)構(gòu)的方框圖。圖2是將該光盤裝置所使用的光信息記錄介質(zhì)的光盤的盤面放大來表示各軌道的結(jié)構(gòu)的圖，圖3是表示圖1所示的光盤裝置中的光拾取器的光接收元件及其輸出信號檢測單元的結(jié)構(gòu)例的圖。
圖1所示的光盤裝置1使用DVD-R/RW作為光盤2，是對該光盤2記錄/再現(xiàn)信息的DVD-R/RW驅(qū)動裝置，包括光拾取器3、再現(xiàn)電路4、解碼器5、微型計(jì)算機(jī)(圖中為CPU)6、編碼器7、激光器控制電路8、運(yùn)算電路9、伺服電路10、時鐘生成電路11、擺動檢測電路12、預(yù)置凹坑(LPP)檢測電路13、地址解碼器14以及使光盤2旋轉(zhuǎn)的電機(jī)。
微型計(jì)算機(jī)(以下簡稱為‘CPU’)6由中央處理裝置、作為程序存儲器的ROM以及作為數(shù)據(jù)存儲器的RAM等構(gòu)成，統(tǒng)一控制該光盤裝置1的各部分。
光拾取器3包括半導(dǎo)體激光器等激光源；用于將該激光源發(fā)出的激光聚光后對光盤2照射點(diǎn)光同時分離來自光盤的反射光的、由準(zhǔn)直透鏡和聚光透鏡以及分光鏡等構(gòu)成的光學(xué)系統(tǒng)；以及作為接收其反射光并變換為電氣信號(再現(xiàn)信號)的光接收單元的光接收元件等。該光拾取器3可通過省略了圖示的跟蹤(tracking)電機(jī)和直線進(jìn)給機(jī)構(gòu)在光盤2的徑向上移動。
在該光盤裝置1中，在信息記錄時，從外部的主機(jī)裝置經(jīng)由CPU6對編碼器7發(fā)送要記錄的信息，編碼器7變換數(shù)據(jù)格式，激光器控制電路8根據(jù)信息位而進(jìn)行搭載于光拾取器3中的激光源的發(fā)光控制，從而進(jìn)行通過用于記錄的點(diǎn)光對光盤2上的記錄動作。
在再現(xiàn)時，光拾取器3對光盤2上照射激光產(chǎn)生的用于再現(xiàn)的點(diǎn)光，由光接收元件檢測其反射光，再現(xiàn)電路4對該被檢測出的再現(xiàn)信號進(jìn)行濾波和數(shù)字化。然后，解碼器5對由該再現(xiàn)電路4生成的數(shù)據(jù)的格式進(jìn)行變換，CPU6將該再現(xiàn)信息發(fā)送到未圖示的外部主機(jī)裝置。
如后所述，設(shè)在光拾取器3中的光接收元件的結(jié)構(gòu)為在光盤2的軌道的寬度方向上被二分割，運(yùn)算電路9根據(jù)由該光接收元件的兩個光接收區(qū)域分別檢測出的兩個信號而生成伺服信號，伺服電路10按照該伺服信號對前述的跟蹤電機(jī)進(jìn)行驅(qū)動控制，從而進(jìn)行光拾取器3的跟蹤位置的控制。而且，伺服電路10根據(jù)從時鐘生成電路11輸出的時鐘信號，還進(jìn)行使光盤2旋轉(zhuǎn)的電機(jī)15的旋轉(zhuǎn)控制。
此外，由光接收元件的兩個光接收區(qū)域分別檢測出的各信號由運(yùn)算電路9運(yùn)算后被發(fā)送到擺動檢測電路12和預(yù)置凹坑檢測電路13。然后，時鐘生成電路11基于由擺動檢測電路12檢測出的擺動時鐘，生成追隨光盤2的旋轉(zhuǎn)的準(zhǔn)確的時鐘信號。
此外，預(yù)置凹坑檢測電路13從運(yùn)算電路9的輸出信號中檢測包含物理地址信息的預(yù)置凹坑信號，地址解碼器14將其變換為地址信息，得到此時的光拾取器3對光盤2的存取位置的地址信息。
這里，通過圖2說明光盤2上的軌道結(jié)構(gòu)等。
在DVD-R/RW等光盤2上，如圖2所示，被稱作凹槽(groove)16的引導(dǎo)槽一邊蛇行(擺動)一邊被刻在螺旋上，形成了由該凹槽16記錄信息的各周的軌道17。在DVD-R的情況下，在凹槽16上進(jìn)行光拾取器3跟蹤控制，通過光點(diǎn)Sp以一定的線速度進(jìn)行數(shù)據(jù)的記錄以及再現(xiàn)。鄰接的凹槽16之間的部分被稱作岸臺(land)18，在該岸臺18上預(yù)先從盤制造階段起記錄了用于表示光盤2的位置信息等的預(yù)置凹坑LPP。
如圖3所示的光接收元件26這樣，作為設(shè)在光拾取器3中的光接收單元的光接收元件具有由沿著軌道的切線方向的分割線Ld在軌道的寬度方向上分割了的至少兩個光接收區(qū)域26a、26b，其由兩個光接收元件構(gòu)成。而且，由該各光接收區(qū)域26a、26b各接收被照射到光盤2上的光點(diǎn)Sp的反射光產(chǎn)生的光點(diǎn)Sp’的一半，分別變換為電信號。因此，作為用于檢測圖2所示的凹槽16的擺動(蛇行)信息的最簡單的擺動信號運(yùn)算，如該圖3所示，采用通過運(yùn)算放大器OP0構(gòu)成的減法器運(yùn)算來自各光接收區(qū)域26a、26b的輸出信號A和B的差(A-B)的方法。
此外，如圖2所示的預(yù)置凹坑LPP參照相對于軌道17的中心記錄在盤外周側(cè)的信息，所以如果是未記錄盤則僅外周側(cè)的光接收區(qū)域26b檢測該信息，所以可以由此進(jìn)行預(yù)置凹坑的檢測。但是，在光盤2上記錄了數(shù)據(jù)之后，在僅從光接收區(qū)域26b進(jìn)行了檢測的情況下，從軌道17上檢測的數(shù)據(jù)的高頻(RF)信號分量成為噪聲，不能正確地檢測預(yù)置凹坑。
因此，與檢測擺動信息的情況同樣，一般通過求來自兩個光接收區(qū)域26a、26b的輸出信號A和B的差(A-B)，除去RF信號分量從而檢測預(yù)置凹坑信號。
圖4是用于說明DVD-R/RW的情況下的擺動信號和預(yù)置凹坑信號的圖。在本例中，如在擺動信號SWb的正極性側(cè)由虛線所表示的，要檢測的預(yù)置凹坑信號SLPP表現(xiàn)為正的脈沖狀。但是，有時預(yù)置凹坑信號SLPP在擺動信號SWb的負(fù)極性側(cè)表現(xiàn)為負(fù)的脈沖狀。
將DVD的信道位(channel bit)(基準(zhǔn)線速度時為26.15625MHz)的周期設(shè)為TC時，擺動信號周期TW為186TC(基準(zhǔn)速度時約為140kHz)，1個同步幀為8擺動。
DVD數(shù)據(jù)的1個扇區(qū)由26個同步幀構(gòu)成，分別從扇區(qū)的前端幀起按順序稱作EVEN(偶數(shù))幀、ODD(奇數(shù))幀時，預(yù)置凹坑LPP被記錄在EVEN幀或ODD幀的某一個中?；旧?，預(yù)置凹坑LPP被記錄在EVEN幀的前端3個擺動各自的峰值位置，對于恐怕與記錄在內(nèi)周側(cè)的預(yù)置凹坑LPP干擾的位置，記錄在ODD幀中，這對每個扇區(qū)都不同。此外，預(yù)置凹坑信號SLPP每2幀構(gòu)成1位，同步(Sync)1位+數(shù)據(jù)(記錄信息)12位被記錄在每一扇區(qū)中。
圖5是概略地表示圖1所示的擺動檢測電路12和預(yù)置凹坑檢測電路13的關(guān)系的方框圖。
對于來自光拾取器3的光接收元件26中的各光接收區(qū)域26a、26b的輸出信號A、B，分別使用AGC(Auto Gain Control，自動增益控制)電路19將振幅設(shè)為一定。
由于光接收區(qū)域26a、26b的光接收元件的輸出的偏差、光盤的偏心或面振動、光拾取器3的透鏡位置變化等而發(fā)生輸出信號A和B的輸出振幅的差，但通過AGC電路19使振幅一定，通過運(yùn)算放大器OP0構(gòu)成的減法器時，可以得到高效率地除去了同相的RF信號分量的推挽信號Ps。而且，該推挽信號Ps分別被輸入擺動檢測電路12和預(yù)置凹坑檢測電路13中。
擺動檢測電路12包括擺動信號提取電路21、運(yùn)算放大器構(gòu)成的擺動比較器22，通過將推挽信號Ps輸入擺動信號提取電路21從而提取擺動信號Wb的分量，通過擺動比較器22將該擺動信號Wb二值化，從而輸出擺動時鐘Clw。
在圖1所示的時鐘生成電路11中，由內(nèi)部PLL電路基于該擺動時鐘CLw進(jìn)行對于編碼器7的時鐘的生成、對于伺服電路10的時鐘的生成，在光盤2上以一定的線速度記錄數(shù)據(jù)。
此外，為了在希望的盤位置開始記錄而需要位置信息，預(yù)置凹坑LPP中記錄了用于此的地址信息。
預(yù)置凹坑檢測電路13是以適當(dāng)?shù)南薹娖綄⑼仆煨盘朠s中被疊加在擺動信號SWb中的預(yù)置凹坑信號SLPP的分量二值化從而檢測預(yù)置凹坑信號SLPP的電路，限幅電平設(shè)定電路24包括由運(yùn)算放大器構(gòu)成的預(yù)置凹坑比較器(比較電路)25。本發(fā)明的光盤2裝置的特征在于預(yù)置凹坑檢測電路13中的限幅電平的設(shè)定。
圖6是表示本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的方框圖。參照該圖詳細(xì)地說明本實(shí)施例的預(yù)置凹坑信號和擺動信號的檢測處理。
在圖6中，來自光拾取器3的兩個光接收區(qū)域26a、26b的各輸出信號A、B由運(yùn)算電路9作為推挽信號Ps輸出，輸入該推挽信號Ps的預(yù)置凹坑檢測電路13由CPU6控制，檢測出預(yù)置凹坑信號SLPP后輸出到地址解碼器14，或者輸入了推挽信號Ps的擺動檢測電路12生成擺動時鐘CLw后輸出到時鐘生成電路11。
作為光接收區(qū)域被二等分了的光接收單元的光接收元件26基于由各光接收區(qū)域26a、26b分別接收了的光量來發(fā)生電流。該各電流的輸出信號A、B分別單獨(dú)輸入運(yùn)算電路9內(nèi)的兩個電流電壓變換器27(I/V變換器)中后被變換為電壓信號。來自各光接收區(qū)域26a、26b的輸出信號A、B還被輸入圖1所示的伺服電路10。另外，光接收元件26不限于被二分割了的結(jié)構(gòu)，在沿著軌道的方向上也被分割而被四分割，或者在此以上被分割也可以。
輸出信號A、B被變換后的電壓信號分別由個別的AGC電路19將振幅設(shè)為一定，該各信號被輸入作為差檢測電路的由運(yùn)算放大器OP0構(gòu)成的減法器，得到作為差信號的推挽信號Ps。該推挽信號Ps由高通濾波器(HPF)電路29除去了直流分量之后，從運(yùn)算電路9被輸出，然后分為兩個路徑而分別被輸入預(yù)置凹坑檢測電路13和擺動檢測電路12。
被輸入預(yù)置凹坑檢測電路13的推挽信號Ps分別被輸入預(yù)置凹坑檢測電路13內(nèi)的預(yù)置凹坑比較器25、預(yù)置凹坑峰值檢測電路(在圖中位‘預(yù)置凹坑P/H電路’)30、兼用作擺動檢測電路12的作為濾波電路的帶通濾波(BPF)電路31。
預(yù)置凹坑峰值檢測電路30是第一峰值檢測電路以及第一電壓檢測電路，檢測并保持作為連續(xù)模擬信號輸入的推挽信號Ps的峰值、即正極性側(cè)的最大振幅電壓。該檢測出的峰值如圖7所示，是與預(yù)置凹坑信號SLPP分量的峰值一致的值。另外，在預(yù)置凹坑信號SLPP作為反極性(負(fù)極側(cè))的脈沖發(fā)生的情況下，在輸入預(yù)置凹坑峰值檢測電路30之前由反轉(zhuǎn)電路等反轉(zhuǎn)信號的極性即可。后面詳細(xì)敘述包含來自CPU6的控制的該預(yù)置凹坑峰值檢測電路30的具體結(jié)構(gòu)例。
此外，作為濾波電路的帶通濾波電路(以下簡稱作‘BPF電路’)31是對于推挽信號Ps以擺動信號頻率為中心頻率的帶通濾波器，從被輸入的推挽信號Ps除去預(yù)置凹坑信號SLPP的分量從而提取擺動信號SWb的分量。
該擺動信號SWb輸入擺動峰值檢測電路(擺動P/H電路)32。該擺動峰值檢測電路是第二峰值檢測電路以及第二電壓檢測電路，檢測并保持作為連續(xù)模擬信號的擺動信號SWb的峰值(正極性側(cè)的最大振幅電壓)。該擺動信號SWb的峰值如圖7所示，是與預(yù)置凹坑信號SLPP谷(bottom)值即從擺動信號Wb突出的預(yù)置凹坑信號SLPP的中的最低值一致的值。關(guān)于該擺動峰值檢測電路32也在后面詳細(xì)敘述具體的結(jié)構(gòu)例。
然后，將保持在該預(yù)置凹坑峰值檢測電路30中的預(yù)置凹坑信號SLPP的峰值和保持在擺動峰值檢測電路32中的擺動信號SWb的峰值輸入作為差動分壓電路的分壓器33的兩端，以規(guī)定的比例將該差分壓，將該分壓后的輸出電壓作為限幅電平輸入預(yù)置凹坑比較器25。由此，限幅電平如圖7中虛線所示，被設(shè)定在從擺動信號SWb突出的預(yù)置凹坑信號SLPP的部分的最高值和最低值之間。
其結(jié)果，預(yù)置凹坑比較器25不受擺動信號Wb影響，并且即使在預(yù)置凹坑信號SLPP的最大振幅稍微變動了的情況下，也可以穩(wěn)定地將推挽信號Ps二值化，從而可以輸出預(yù)置凹坑信號SLPP(圖7所示的比較器輸出)。在該第一實(shí)施例中，上述預(yù)置凹坑峰值檢測電路30、BPF電路31、擺動峰值檢測電路32、以及分壓器33構(gòu)成圖5所示的限幅電平設(shè)定電路24。
另外，從BPF電路31輸出的擺動信號SWb的相位不偏差(不延遲)的情況下，預(yù)置凹坑信號SLPP的谷值和擺動信號SWb的峰值在相同的定時出現(xiàn)。即，由于預(yù)置凹坑信號SLPP被檢測的定時和擺動信號SWb的峰值被檢測的定時一致，因此不設(shè)置用于保持峰值的擺動峰值檢測電路32也可以與上述同樣地設(shè)定限幅電平。
此外，也可以代替擺動峰值檢測電路32而設(shè)置檢測并保持從BPF電路31輸出的擺動信號SWb的平均電壓的平均電壓檢測電路。在該情況下，將預(yù)置凹坑峰值檢測電路30中保持的預(yù)置凹坑信號SLPP的峰值和從平均電壓檢測電路輸出的平均電壓輸入作為差動分壓電路的分壓器33的兩端，以規(guī)定的比例將該差分壓，將該分壓后的輸出電壓作為限幅電平輸入預(yù)置凹坑比較器25。
這樣，即使在預(yù)置凹坑信號SLPP的最大振幅由于盤面的偏心或透鏡位置變化等的影響而變化了的情況下，也可以設(shè)定適當(dāng)?shù)南薹娖綇亩鴻z測預(yù)置凹坑信號SLPP。
另一方面，擺動檢測電路12中，推挽信號Ps由兼用作預(yù)置凹坑檢測電路的濾波電路的BPF電路31除去預(yù)置凹坑信號SLPP的分量，擺動信號SWb的分量被提取。該BPF電路31也可以在擺動檢測電路12中單獨(dú)地設(shè)置。而且，該提取出的擺動信號SWb的分量由高通濾波(HPF)電路34高精度地除去直流分量后成為擺動信號SWb，進(jìn)而由擺動比較器22與基準(zhǔn)電壓Vref比較后生成擺動時鐘，被輸出到時鐘生成電路11。
在本實(shí)施例中，該BPF電路31以及高通濾波電路34構(gòu)成圖5所示的擺動信號提取電路21。
根據(jù)該圖6所示的結(jié)構(gòu)，可以穩(wěn)定地檢測預(yù)置凹坑信號SLPP和擺動時鐘。
這里，詳細(xì)敘述預(yù)置凹坑峰值檢測電路30以及擺動峰值檢測電路32的具體結(jié)構(gòu)例。圖9是表示其具體的結(jié)構(gòu)例的電路圖。該電路結(jié)構(gòu)對于預(yù)置凹坑峰值檢測電路30和擺動峰值檢測電路32都相同，所以在該說明中，僅稱作峰值檢測電路30、32。
該峰值檢測電路30、32構(gòu)成在電容器中保持輸入的最大振幅電壓的最大振幅保持電路(峰值保持電路)，將對電容器充電電荷的速度和放電該電荷的速度單獨(dú)地設(shè)計(jì)，但一般它們多具有相關(guān)關(guān)系。換言之，降低保持電壓的放電引起的變化率(稱作衰減率)，盡可能使該保持時間延長時，無論如何，充電的速度也某種程度上變慢。
DVD-R/RW的預(yù)置凹坑信號的情況下，從幀的前端到第3擺動構(gòu)成1位，到下1位到來為止的間隔大概為2幀，這大約相當(dāng)于3000TC(TC為DVD的信道位的周期)。相對于此，預(yù)置凹坑信號的脈寬位數(shù)TC左右(在DVD-R/RW的標(biāo)準(zhǔn)中半值寬度為1TC以上)，因此為了實(shí)現(xiàn)預(yù)置凹坑信號分量的峰值保持，有高速的充電速度和緩慢的放電速度這樣的相反的要求。
進(jìn)而，為了使對光盤的記錄速度高速化，要求對于更短的預(yù)置凹坑信號可以準(zhǔn)確地檢測其峰值電平的電路。從而，在對于預(yù)置凹坑信號的峰值檢測電路中，為了縮短充電時間而必需加快充電速度，但由于到下一個閾值凹坑信號為止的時間間隔縮短，所以可以將變化率(衰減率)增大該部分。
因此，在本實(shí)施例中，如圖8中虛線所示，峰值檢測電路30、32的至少一個(預(yù)置凹坑峰值檢測電路30)可以設(shè)定多個衰減率，記錄速度越為高速則將該衰減率設(shè)定得越大。
此外，這些峰值檢測電路30、32分別具有將峰值電平復(fù)位的功能。這是由于，預(yù)置凹坑信號的振幅由于光盤的個體差異而不同，而且預(yù)置凹坑峰值檢測電路30的衰減率被設(shè)定得非常小，長時間保持預(yù)置凹坑信號的峰值電平，因此在更換光盤時，將該檢測電壓復(fù)位而重新適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行設(shè)定。
圖9所示的峰值檢測電路為了完成這些功能而被構(gòu)成，具有三個電容器C1、C2、C3、兩個運(yùn)算放大器OP1、OP2、整流二極管D、四個電阻R1～R4、四個開關(guān)SW1～SW4。由此，構(gòu)成將輸入以及輸出阻抗變換的兩個電壓輸出電路、整流二極管D和保持電容器C3構(gòu)成的充電電路、以及電阻R1～R4和開關(guān)SW1～SW4構(gòu)成的放電電路和該變化率(衰減率)設(shè)定單元以及復(fù)位單元。
在該峰值檢測電路中，輸入信號(推挽信號Ps或擺動信號SWb)被輸入有運(yùn)算放大器OP1構(gòu)成的第一級的電壓輸出器，其輸出電壓經(jīng)由整流二極管D對保持電容器C3進(jìn)行充電。在電阻R1～R4以及開關(guān)SW1～SW4全部不存在的情況下，該電容器C3中蓄積的電荷不流入運(yùn)算放大器OP2，也不逆流過二極管D，保持蓄積的狀態(tài)。由此，電容器C3保持輸入電壓的峰值電壓。
但是，實(shí)際上設(shè)有與電容器C3并聯(lián)連接的電阻R1～R4的串聯(lián)電路，與該各電阻并聯(lián)連接的開關(guān)SW1～SW4構(gòu)成的放電電路，電容器C3中蓄積的電荷由該放電電路放電，電容器C3的電容和電阻R1～R4中的未被開關(guān)SW1～SW4短路的電阻的合成電阻值的積的放電時間常數(shù)越小則該電容器C3的放電速度(衰減率)越大，被快速放電。從而，通過改變作為變化率選擇部的開關(guān)SW1～SW4的開閉數(shù)，增減合成電阻值從而可以變更衰減率。
作為具體的操作例，在記錄速度(圖1中的光盤2和光拾取器3的相對速度)慢的情況下，根據(jù)CPU6的指令，將開關(guān)SW1～SW4全部開路，將合成電阻值R設(shè)為電阻R1～R4的各電阻值的和(R1+R2+R3+R4)。然后，隨著記錄速度的增加，將開關(guān)每次一個地依次閉合，例如在僅閉合了開關(guān)SW1的情況下，不通過電阻R1而通過電阻值為0的開關(guān)SW1來放電，所以成為與電容器C3的電容和合成電阻值R＝R2+R3+R4的積對應(yīng)的衰減率。進(jìn)而，在記錄速度增加了的情況下，CPU6進(jìn)而將開關(guān)閉合，將合成電阻值R如R＝R3+R4、R＝R4這樣減小。這樣，記錄線速度越快則將放電時間常數(shù)設(shè)定得越小，將衰減率設(shè)定得越大，提早放電。
其結(jié)果，可以更準(zhǔn)確地檢測預(yù)置凹坑信號或擺動信號的峰值電平。此外，在CPU6將全部的開關(guān)SW1～SW4閉合了的情況下，成為將保持電容器C3的兩端子間短路，因此被充電到電容器C3中的電荷被一瞬間被放電，峰值保持電壓被復(fù)位。
從而，本實(shí)施例中的開關(guān)SW1～SW4兼作選擇多個設(shè)定值作為保持電壓的變化率的變化率選擇單元，在希望的定時將檢測電壓復(fù)位的復(fù)位單元。
該復(fù)位動作可以在希望的定時進(jìn)行，但由于在更換作為光信息記錄介質(zhì)的光盤時，光盤裝置具有識別光盤的安裝的識別單元，所以在其每次識別光盤的安裝時，可以自動地進(jìn)行復(fù)位動作。
另外，作為開關(guān)SW1～SW4的結(jié)構(gòu)，不限于機(jī)械觸點(diǎn)開關(guān)，也可以使用光MOS繼電器等半導(dǎo)體開關(guān)，這樣則可以容易地進(jìn)行控制。此外，在該電路例中設(shè)置了多個電阻值固定的電阻器，但也可以使用可以按照CPU6的指令來改變電阻值的可變電阻對放電時間進(jìn)行控制，并進(jìn)行變化率的選擇。此外，代替多個電阻或者與多個電阻同時并聯(lián)連接設(shè)置多個電容器，通過開關(guān)的開閉來增減蓄積電荷的電容器的數(shù)(合成電容)，從而變更衰減率也可以。即，保持電容器的電容和放電電路的電阻值的至少一個可變即可。
接著，說明本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的第二實(shí)施例。圖10是與該圖6同樣的電路圖，對與圖6對應(yīng)的部分賦予同一符號。
在本實(shí)施例中，與所述第一實(shí)施例不同的僅是預(yù)置凹坑檢測電路13，因此僅說明其不同點(diǎn)。
即，在預(yù)置凹坑檢測電路13中具有可設(shè)定多個直流電壓并輸出的D/A轉(zhuǎn)換電路(DAC)11，以及作為由CPU6控制的選擇部分的選擇開關(guān)42。
而且，通過CPU6切換控制選擇開關(guān)42，選擇分壓器33的輸出電壓和D/A轉(zhuǎn)換電路41的輸出電壓的其中一個作為比較信號即限幅電平的信號，為了與作為差信號的推挽信號Ps進(jìn)行比較，可以輸入比較器25。
從而，將選擇開關(guān)42切換到D/A轉(zhuǎn)換電路41側(cè)時，可以固定地設(shè)定限幅電平。由此，在光拾取器的尋道時或高速記錄時等，即使在不能正常地進(jìn)行預(yù)置凹坑信號的峰值檢測的情況下，也可以穩(wěn)定地進(jìn)行限幅電平的設(shè)定以及預(yù)置凹坑信號SLPP的檢測。
其它的結(jié)構(gòu)與所述第一實(shí)施例相同，因此省略其說明。
接著，說明本發(fā)明的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的第三實(shí)施例。圖11是與該圖6同樣的電路圖，對與圖6對應(yīng)的部分賦予同一符號。
在本實(shí)施例中，與所述第一實(shí)施例不同的僅是預(yù)置凹坑檢測電路13，因此僅說明其不同點(diǎn)。
即，在預(yù)置凹坑檢測電路13的內(nèi)部具有可設(shè)定多個直流電壓并輸出的D/A轉(zhuǎn)換電路(DAC)43，以及作為由圖1所示的CPU6控制的選擇部分的選擇開關(guān)44。
然后，通過CPU6切換控制選擇開關(guān)44，選擇預(yù)置凹坑峰值檢測電路30的輸出電壓和D/A轉(zhuǎn)換電路43的輸出電壓的其中一個，輸入到在一端被輸入擺動峰值檢測電路32的輸出電壓的分壓器33的另一端。
從而，將選擇開關(guān)44切換到D/A轉(zhuǎn)換電路43側(cè)時，分壓器33將D/A轉(zhuǎn)換電路43的輸出電壓和擺動峰值檢測電路32的輸出電壓的差進(jìn)行分壓，為了與輸入作為差信號的推挽信號Ps進(jìn)行比較，而將該分壓電壓作為比較信號即限幅電平的信號輸入比較器25。
在該情況下，可以根據(jù)擺動信號SWb分量的振幅變動來設(shè)定限幅電平。由此，在光拾取器的尋道時或高速記錄時等，即使在不能正常地進(jìn)行預(yù)置凹坑信號SLPP的峰值檢測的情況下，也可以穩(wěn)定地進(jìn)行限幅電平的設(shè)定以及預(yù)置凹坑信號SLPP的檢測。進(jìn)而，與所述第二實(shí)施例進(jìn)行比較，可以與擺動信號SWb分量成正比地變化限幅電平，所以可以進(jìn)行更穩(wěn)定的預(yù)置凹坑信號SLPP的峰值檢測。這里還可以將擺動峰值檢測電路32的輸出電壓設(shè)定為某一固定電壓。
其它的結(jié)構(gòu)與所述第一實(shí)施例相同，因此省略其說明。
接著，說明具有上述第二實(shí)施例或第三實(shí)施例的預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光盤裝置中的尋道動作時的處理。圖12至圖15是表示執(zhí)行各實(shí)施例的尋道動作的處理內(nèi)容的流程圖，分別表示各實(shí)施例中基本的尋道動作處理以及進(jìn)一步增加了復(fù)位動作的尋道動作處理的流程。
另外，這些流程圖所示的處理表示圖1所示的CPU6按照存儲在內(nèi)部的存儲器中的程序而進(jìn)行處理的過程。此外，這些流程圖中，將各處理的步驟記作S。
首先通過圖12說明具有圖10所示的第二實(shí)施例的預(yù)置凹坑檢測裝置的光盤裝置中的基本的尋道動作處理。
開始該處理時，首先在步驟101中從主機(jī)裝置等接收到尋道命令(包含尋道目標(biāo)的地址等)之后，進(jìn)至步驟102，將圖10所示的選擇開關(guān)42切換到D/A轉(zhuǎn)換電路(DAC)41側(cè)，將限幅電平設(shè)定為固定電平。
接著，進(jìn)至步驟103，根據(jù)當(dāng)前光點(diǎn)存在的地址以及目標(biāo)地址來計(jì)算光拾取器3內(nèi)的物鏡的移動量、即光拾取器3的移動量，在步驟104中對圖1中的伺服電路10發(fā)出指令，以便基于該計(jì)算出的移動量來進(jìn)行尋道動作。伺服電路10接收該指示，驅(qū)動包含跟蹤電機(jī)的尋道機(jī)構(gòu)，從而使光拾取器3向光盤2的徑向移動被指示了的移動量并進(jìn)行尋道動作。
根據(jù)該尋道動作，判斷為光點(diǎn)接近了目標(biāo)地址附近時，進(jìn)至步驟105，進(jìn)行預(yù)置凹坑信號的檢測。將D/A轉(zhuǎn)換電路(DAC)41的輸出電壓作為限幅電平來進(jìn)行此時的預(yù)置凹坑信號的檢測。
然后，在步驟106中，判斷檢測出的預(yù)置凹坑信號的地址信息是否為目標(biāo)地址，在不是目標(biāo)地址的情況下，返回步驟103，直到檢測出目標(biāo)地址為止，重復(fù)進(jìn)行步驟106之前的動作。
在步驟106中判斷為目標(biāo)地址時，在步驟107中將選擇開關(guān)42切換到分壓器33側(cè)，將分壓器33的分壓電壓作為限幅電平，檢測以后的預(yù)置凹坑信號，從而結(jié)束處理。
如以上這樣，在進(jìn)行向光盤2上的任意的目標(biāo)地址移動光拾取器3的尋道動作時，將選擇開關(guān)42切換到D/A轉(zhuǎn)換電路(DAC)41側(cè)，在尋道完成后切換到分壓器33側(cè)，分別設(shè)定線幅電平。
通常，在尋道動作中，光點(diǎn)Sp向與軌道17正交的方向移動，因此推挽信號Ps無論如何都紊亂，由于該影響，預(yù)置凹坑峰值檢測電路30檢測不適當(dāng)?shù)碾娖?，不能設(shè)定適當(dāng)?shù)南薹娖健５?，根?jù)本實(shí)施例，在這樣的尋道動作中，可以將限幅電平設(shè)定為適當(dāng)?shù)墓潭娖?，并可以檢測適當(dāng)?shù)念A(yù)置凹坑信號，可以進(jìn)行穩(wěn)定的存取。
接著，通過圖13說明圖11所示的第三實(shí)施例的具有預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光盤裝置中的基本的尋道動作處理。
在該圖13的流程圖中，與所述圖12的流程圖不同的是步驟102’和107’。在步驟102’中，將圖11所示的選擇開關(guān)44切換到D/A轉(zhuǎn)換電路(DAC)43側(cè)，將由分壓器33分壓后的電壓作為線幅電平來設(shè)定D/A轉(zhuǎn)換電路(DAC)43的輸出電壓和擺動峰值檢測電路32的輸出電壓的差。
此外，在步驟107’中，將選擇開關(guān)44切換到預(yù)置凹坑峰值檢測電路30側(cè)，將由分壓器33分壓后的電壓作為線幅電平來設(shè)定預(yù)置凹坑峰值檢測電路30的輸出電壓和擺動峰值檢測電路32的輸出電壓的差。
其它的步驟的處理與圖12中說明的各步驟相同，因此其說明省略。關(guān)于該情況下的效果，如圖11的說明的最后的敘述。
接著，通過圖14所示的流程圖說明由圖12說明了的尋道動作時的處理、以及增加了復(fù)位動作后的處理。另外，在圖14中，進(jìn)行與圖12所示的各步驟相同的處理的步驟賦予相同的步驟序號。此外，圖14中的步驟102a以及步驟107c與圖12中的步驟102以及步驟107相同，所以省略這些各步驟的說明。
這里，與通過圖12說明的處理不同的是，在步驟102中將選擇開關(guān)42切換到D/A轉(zhuǎn)換電路41側(cè)之后，在步驟102b中將預(yù)置凹坑值檢測電路30設(shè)為復(fù)位狀態(tài)。此時，擺動峰值檢測電路32最好也設(shè)為復(fù)位狀態(tài)。即，在使用圖9所示的電路的情況下，通過將開關(guān)SW1～SW4全部閉合(導(dǎo)通)，將電容器C3的兩端子間短路，將電容器C3保持的電荷瞬間地放電，從而將峰值電壓復(fù)位。
然后，維持著該復(fù)位狀態(tài)，在步驟103～步驟106的循環(huán)處理中，在檢測出目標(biāo)地址之前進(jìn)行尋道動作，在步驟106中檢測出目標(biāo)地址的情況下，進(jìn)至步驟107a，根據(jù)記錄速度(圖1中的光盤2和光拾取器3的相對速度)，將圖9所示的開關(guān)SW1～SW4選擇性地開路(截止)，與解除復(fù)位狀態(tài)同時，選擇保持電壓的變化率(衰減率)。
由此，預(yù)置凹坑峰值檢測電路30以及擺動峰值檢測電路32的各電容器C3成為可以檢測保持新的峰值電壓的狀態(tài)。然后，在步驟107b中待機(jī)規(guī)定時間，在此期間對電容器C3蓄積電荷從而檢測保持新的峰值電壓時，在步驟107c中將選擇開關(guān)42切換到分壓器33側(cè)，中止使用D/A轉(zhuǎn)換電路41，結(jié)束該處理。
這樣，在尋道動作中，至少將預(yù)置凹坑峰值檢測電路30維持在復(fù)位狀態(tài)，或者擺動峰值檢測電路32也維持在復(fù)位狀態(tài)時，具有如下的優(yōu)點(diǎn)。
通常，在尋道動作中，由于前述理由，有時峰值檢測電路30、32中檢測保持了不適當(dāng)?shù)母叩姆逯惦妷?。因此，即使想要這樣切換選擇開關(guān)42并再設(shè)定限幅電平，正常的推挽信號Ps的話也不超過該峰值，從而成為異常峰值被保持的狀態(tài)，恐怕不能設(shè)定適當(dāng)?shù)南薹娖?，并不能檢測預(yù)置凹坑信號。
相對于此，在通過如上述處理的步驟進(jìn)行了復(fù)位動作的情況下，通過在尋道動作時被檢測的紊亂的信號，至少防止預(yù)置凹坑峰值檢測電路30保持異常的電平，并可以進(jìn)行適當(dāng)?shù)念A(yù)置凹坑檢測以及由此進(jìn)行穩(wěn)定的存取。
接著，圖15所示的流程圖中表示對通過圖13說明的尋道動作時的處理進(jìn)一步加上了復(fù)位動作的處理。另外，在圖15中，對進(jìn)行與圖13以及圖14所示的各步驟相同的處理的步驟賦予同一步驟序號。此外，圖15中的步驟102a’以及步驟107c’與圖13中的步驟102’以及步驟107’相同，所以省略該流程圖的處理的說明。
另外，即使在圖6所示的第一實(shí)施例的具有預(yù)置凹坑信息檢測裝置的光盤裝置中，作為該預(yù)置凹坑峰值檢測電路30以及擺動峰值檢測電路32，如果使用圖9所示的峰值檢測電路，則可以進(jìn)行如下的處理，即將圖14以及圖15所示的流程圖中的步驟12b中的預(yù)置凹坑峰值檢測電路30設(shè)為復(fù)位狀態(tài)，或者同時將擺動峰值檢測電路32也設(shè)為復(fù)位狀態(tài)。
此外，可以進(jìn)行步驟107a中的至少如下的處理，即解除預(yù)置凹坑峰值檢測電路30的復(fù)位狀態(tài)，同時選擇保持電壓的變化率(衰減率)，或者同時擺動峰值檢測電路32也解除復(fù)位狀態(tài)，從而選擇保持電壓的變化率。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性本發(fā)明可以適用于對形成了包含地址信息的預(yù)置凹坑的各種光盤等光信息記錄介質(zhì)記錄(或記錄再現(xiàn))信息的各種光盤裝置等光信息記錄裝置。由此，可以穩(wěn)定地檢測適當(dāng)?shù)念A(yù)置凹坑信息，并可以準(zhǔn)確地對光信息記錄介質(zhì)的希望的軌道進(jìn)行存取。
另外，本發(fā)明不限定于上述實(shí)施例的結(jié)構(gòu)，在權(quán)利要求范圍所記載的技術(shù)思想的范圍內(nèi)，當(dāng)然可以進(jìn)行各種各樣的變更。
本申請以2003年12月5日申請的特愿2003-406978號為基礎(chǔ)，通過在此進(jìn)行引用而加進(jìn)其內(nèi)容。
權(quán)利要求
1.一種預(yù)置凹坑信息檢測裝置，包括光拾取器，對具有引導(dǎo)槽和預(yù)先設(shè)置在該引導(dǎo)槽間的預(yù)置凹坑的光信息記錄介質(zhì)照射光，該引導(dǎo)槽成為記錄信息的軌道；光接收單元，具有在所述軌道的寬度方向上被分割了的至少兩個光接收區(qū)域，接收由所述光信息記錄介質(zhì)反射了的光；差檢測電路，檢測從該光接收單元的所述兩個光接收區(qū)域輸出的信號的差；第一峰值檢測電路，檢測從該差檢測電路輸出的信號的峰值并輸出；濾波電路，從由所述差檢測電路輸出的信號中提取基于所述引導(dǎo)槽的擺動的信號；第二峰值檢測電路，檢測從該濾波電路輸出的信號的峰值并輸出；差動分壓電路，將所述第一峰值檢測電路的輸出值和所述第二峰值檢測電路的輸出值的差以規(guī)定的比例進(jìn)行分壓后輸出；以及比較器，對所述差檢測電路的輸出和所述差動分壓電路的輸出進(jìn)行比較，輸出與所述預(yù)置凹坑有關(guān)的信息。
2.如權(quán)利要求1所述的預(yù)置凹坑信息檢測裝置，其特征在于，所述濾波電路由以根據(jù)所述光信息記錄介質(zhì)中形成的所述引導(dǎo)槽的擺動而檢測出的擺動信號的頻率作為中心頻率的帶通濾波器構(gòu)成。
3.一種光信息記錄裝置，具有如權(quán)利要求1所述的預(yù)置凹坑信息檢測裝置，并具有基于由該預(yù)置凹坑信息檢測裝置檢測出的預(yù)置凹坑信息來檢測光信息記錄介質(zhì)上的光點(diǎn)位置的地址的結(jié)構(gòu)。
4.一種預(yù)置凹坑信息檢測裝置，包括光拾取器，對具有引導(dǎo)槽和預(yù)先設(shè)置在該引導(dǎo)槽間的預(yù)置凹坑的光信息記錄介質(zhì)照射光，該引導(dǎo)槽成為記錄信息的軌道；光接收單元，具有在所述軌道的寬度方向上被分割了的至少兩個光接收區(qū)域，接收由所述光信息記錄介質(zhì)反射了的光；差檢測電路，檢測從該光接收單元的所述兩個光接收區(qū)域輸出的信號的差；第一電壓檢測電路，檢測從該差檢測電路輸出的差信號的峰值電壓并輸出；濾波電路，從所述差信號中除去所述預(yù)置凹坑的檢測分量；第二電壓檢測電路，檢測從該濾波電路輸出的信號的峰值電壓或平均電壓并輸出；差動分壓電路，將所述第一電壓檢測電路的輸出電壓和所述第二電壓檢測電路的輸出電壓的差以規(guī)定的比率進(jìn)行分壓；以及比較器，將所述差信號與所述差動分壓電路的輸出電壓進(jìn)行比較，輸出與所述預(yù)置凹坑有關(guān)的信息。
5.如權(quán)利要求4所述的預(yù)置凹坑信息檢測電路，其特征在于，所述濾波電路由以根據(jù)所述光信息記錄介質(zhì)中形成的所述引導(dǎo)槽的擺動而檢測出的擺動信號的頻率作為中心頻率的帶通濾波器構(gòu)成。
6.一種光信息記錄裝置，具有如權(quán)利要求4所述的預(yù)置凹坑信息檢測裝置，并具有基于由該預(yù)置凹坑信息檢測裝置檢測出的預(yù)置凹坑信息來檢測光信息記錄介質(zhì)上的光點(diǎn)位置的地址的結(jié)構(gòu)。
7.如權(quán)利要求6所述的光信息記錄裝置，其特征在于，使所述第一電壓檢測電路和所述第二電壓檢測電路的至少一個成為保持最大振幅電壓的最大振幅保持電路，并包含用于選擇多個設(shè)定值來作為該保持電壓的變化率的變化率選擇單元。
8.如權(quán)利要求7所述的光信息記錄裝置，其特征在于，至少使所述第一電壓檢測電路成為所述最大振幅保持電路，所述變化率選擇單元具有在旋轉(zhuǎn)所述光信息記錄介質(zhì)時的所述軌道的線速度越快則使所述變化率的設(shè)定值越大的功能。
9.如權(quán)利要求6所述的光信息記錄裝置，其特征在于，所述第一電壓檢測電路和所述第二電壓檢測電路的至少一個具有在希望的定時將檢測電壓復(fù)位的復(fù)位單元。
10.如權(quán)利要求9所述的光信息記錄裝置，其結(jié)構(gòu)為具有對光信息記錄介質(zhì)的安裝進(jìn)行識別的識別單元，在該識別單元每次對所述光信息記錄介質(zhì)的安裝進(jìn)行識別時，所述復(fù)位單元將所述檢測電壓復(fù)位。
11.如權(quán)利要求6所述的光信息記錄裝置，其特征在于，還設(shè)有D/A轉(zhuǎn)換電路，其結(jié)構(gòu)為可設(shè)定多個電壓來輸出；以及選擇單元，用于選擇所述差動分壓電路的輸出電壓和所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓中的其中一個，作為為了與所述差信號進(jìn)行比較而輸入所述比較器的比較信號。
12.如權(quán)利要求6所述的光信息記錄裝置，其特征在于，設(shè)有D/A轉(zhuǎn)換電路，其結(jié)構(gòu)為可設(shè)定多個電壓來輸出；以及選擇單元，用于選擇所述第一電壓檢測電路的輸出電壓和所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓中的其中一個，作為除了所述第二電壓檢測電路的輸出電壓之外輸入所述差動分壓電路的電壓。
13.如權(quán)利要求11所述的光信息記錄裝置，所述選擇單元具有如下的功能，即在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作時，選擇設(shè)定為規(guī)定的電壓的所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓，在尋道動作完成后，選擇所述差動分壓電路的輸出電壓。
14.如權(quán)利要求12所述的光信息記錄裝置，所述選擇單元具有如下的功能，即在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作時，選擇設(shè)定為規(guī)定的電壓的所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓，在尋道動作完成后，選擇所述第二電壓檢測電路的輸出電壓。
15.如權(quán)利要求11所述的光信息記錄裝置，其構(gòu)成為設(shè)有解除單元，用于在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作中，至少將所述第一電壓檢測電路的檢測電壓復(fù)位，在尋道動作完成后，解除該復(fù)位狀態(tài)，在由該解除單元解除所述復(fù)位狀態(tài)之后經(jīng)過規(guī)定時間后，由所述選擇單元選擇所述差動分壓電路的輸出電壓。
16.如權(quán)利要求12所述的光信息記錄裝置，其構(gòu)成為設(shè)有解除單元，用于在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作中，至少將所述第一電壓檢測電路的檢測電壓復(fù)位，在尋道動作完成后，解除該復(fù)位狀態(tài)，在由該解除單元解除所述復(fù)位狀態(tài)之后經(jīng)過規(guī)定時間后，由所述選擇單元選擇所述第一電壓檢測電路的輸出電壓。
17.一種程序，由對如權(quán)利要求11所述的光信息記錄裝置的動作進(jìn)行控制的計(jì)算機(jī)執(zhí)行的命令構(gòu)成，所述命令包括，在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作時，由所述選擇單元選擇設(shè)定為規(guī)定的電壓的所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓，在尋道動作完成后，選擇所述差動分壓電路的輸出電壓。
18.一種程序，由對如權(quán)利要求12所述的光信息記錄裝置的動作進(jìn)行控制的計(jì)算機(jī)執(zhí)行的命令構(gòu)成，所述命令包括，在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作時，由所述選擇單元選擇設(shè)定為規(guī)定的電壓的所述D/A轉(zhuǎn)換電路的輸出電壓，在尋道動作完成后，選擇所述第二電壓檢測電路的輸出電壓。
19.一種程序，由對如權(quán)利要求11所述的光信息記錄裝置的動作進(jìn)行控制的計(jì)算機(jī)執(zhí)行的命令構(gòu)成，由如下命令構(gòu)成，在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作中，至少將所述第一電壓檢測電路的檢測電壓復(fù)位，在尋道動作完成后，解除該復(fù)位狀態(tài)，在解除所述復(fù)位狀態(tài)之后經(jīng)過規(guī)定時間后，由所述選擇單元選擇所述差動分壓電路的輸出電壓。
20.一種程序，由對如權(quán)利要求11所述的光信息記錄裝置的動作進(jìn)行控制的計(jì)算機(jī)執(zhí)行的命令構(gòu)成，由如下命令構(gòu)成，在對所述光信息記錄介質(zhì)上的規(guī)定位置的尋道動作中，至少將所述第一電壓檢測電路的檢測電壓復(fù)位，在尋道動作完成后，解除該復(fù)位狀態(tài)，在由該解除單元解除所述復(fù)位狀態(tài)之后經(jīng)過規(guī)定時間后，由所述選擇單元選擇所述第一電壓檢測電路的輸出電壓。
21.一種計(jì)算機(jī)可讀取信息記錄介質(zhì)，記錄了如所述權(quán)利要求17所述的程序。
22.一種計(jì)算機(jī)可讀取信息記錄介質(zhì)，記錄了如所述權(quán)利要求18所述的程序。
23.一種計(jì)算機(jī)可讀取信息記錄介質(zhì)，記錄了如所述權(quán)利要求19所述的程序。
24.一種計(jì)算機(jī)可讀取信息記錄介質(zhì)，記錄了如所述權(quán)利要求20所述的程序。
全文摘要
通過運(yùn)算電路求與來自光拾取器中的光接收單元的兩個光接收區(qū)域的輸出信號的差對應(yīng)的推挽信號(Ps)，在預(yù)置凹坑檢測電路中，由預(yù)置凹坑峰值檢測電路檢測該推挽信號(Ps)的峰值，由BPF電路提取擺動信號分量，由擺動峰值檢測電路檢測該峰值，由分壓器將信號(Ps)的峰值和擺動信號分量的峰值的差分壓，將該分壓電壓作為限幅電平輸入預(yù)置凹坑比較器(25)，在此將推挽信號(Ps)二值化后輸出推挽信號(S
文檔編號G11B7/09GK1902686SQ200480040218
公開日2007年1月24日 申請日期2004年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月5日
發(fā)明者萩原啟 申請人:株式會社理光