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頭位置解調(diào)方法和盤裝置的制作方法

文檔序號(hào):6762713閱讀:136來源:國(guó)知局

專利名稱::頭位置解調(diào)方法和盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
:本發(fā)明涉及一種頭位置解調(diào)方法和盤裝置,用于通過盤上所記錄的伺服(servo)信號(hào)來解調(diào)頭位置,更具體地說,涉及一種頭位置解調(diào)方法和盤裝置,用于減少由于頭的讀特性所引起的解調(diào)位置誤差。
背景技術(shù)
:用于在旋轉(zhuǎn)的盤介質(zhì)上記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)的盤存儲(chǔ)裝置被廣泛用作數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置。如圖23所示,這種盤裝置由以下各部分組成用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的盤94、用于帶動(dòng)盤94旋轉(zhuǎn)的主軸馬達(dá)96、用于在盤94上記錄和再現(xiàn)信息的頭90和用于將頭90移動(dòng)到目標(biāo)位置的致動(dòng)器(actuator)92。這種盤裝置的典型例子是磁盤裝置(HDD硬盤驅(qū)動(dòng)器)和光盤裝置(DVD-ROM、MO)。如圖24所示,在磁盤裝置上,多個(gè)用于檢測(cè)頭90的位置的位置信號(hào)100被記錄在盤94上相對(duì)于旋轉(zhuǎn)中心98的弧位置中,并組成了一個(gè)磁道(track)。位置信號(hào)100由伺服標(biāo)記、磁道號(hào)和偏移信息(伺服信息)組成??梢允褂么诺捞?hào)和偏移信息來檢測(cè)頭90的當(dāng)前位置。確定這個(gè)位置信息和目標(biāo)位置之間的差,根據(jù)位移量(差)來計(jì)算驅(qū)動(dòng)量,并提供用于驅(qū)動(dòng)致動(dòng)器92的驅(qū)動(dòng)量,即,在VCM(音圈馬達(dá))的情況下提供電流,在電致伸縮的致動(dòng)器的情況下提供電壓。磁盤94上的伺服信號(hào)(位置信號(hào))100或者由盤裝置自身來記錄,即通過STW(ServoTrackWrite,伺服磁道寫)方法來記錄,或者由外部STW裝置來記錄。對(duì)于這種位置信號(hào)將使用一種面積解調(diào)方法,該方法使用二相伺服信號(hào)PosN和PosQ。圖25描繪了通過二相伺服信號(hào)而進(jìn)行的位置解調(diào),而圖26描繪了其中的二相伺服信號(hào)。如圖25所示,位置信號(hào)(伺服圖案)由相位彼此錯(cuò)開的四個(gè)偏移信號(hào)(伺服脈沖)A-D組成。在圖25中,伺服脈沖(servoburst)A和B相對(duì)于磁道位置(虛線位置)對(duì)稱記錄,伺服脈沖C和D相對(duì)于磁道邊界(實(shí)線位置)對(duì)稱記錄。通過以下公式,由頭讀取伺服脈沖A-D時(shí)的輸出PosA-PosD來計(jì)算二相伺服信號(hào)PosN和PosQ。PosN=PosA-PosBPosQ=PosC-PosD或者PosN=(PosA-PosB)/(PosA+PosB)PosQ=(PosC-PosD)/(PosC+PosD)如圖26的詳細(xì)放大視圖所示,相比于PosN,信號(hào)PosQ移動(dòng)了1/4磁道相位。使用PosN或PosQ的絕對(duì)位置中相對(duì)較小的那個(gè)值來解調(diào)出解調(diào)位置Pos。換言之,如圖25所示,選擇圖25中用粗體線表示的、在所獲得的PosN或PosQ中絕對(duì)值較小的那個(gè)。按照這種方式,來自頭90的每個(gè)偏移信號(hào)(PosA到PosD)的讀輸出幅度正比于在頭90的位置處的偏移信號(hào)(PosA到PosD)的面積。換言之,伺服信號(hào)能夠通過解調(diào)由幅度所指示的面積來解調(diào)頭的位置。通過將面積解調(diào)方法的二相伺服信號(hào)的所選信號(hào)連接起來,就獲得了實(shí)際位置的解調(diào)位置。在連接的時(shí)候,發(fā)生了PosN和PosQ的切換。即使有了這種切換,連接起來的解調(diào)位置也最好是直線。如圖27所示,妨礙產(chǎn)生直線的原因如下第一個(gè)原因就是用于以磁道為單位對(duì)所檢測(cè)到的PosN和PosQ進(jìn)行換算的增益(稱為位置敏感度)出現(xiàn)了偏差。這個(gè)增益根據(jù)頭的檢測(cè)敏感度而變化,如果出現(xiàn)了偏差,那么在用于解調(diào)PosN的部分和用于解調(diào)PosQ的部分之間的邊界上,解調(diào)位置變得不同,其中發(fā)生了階越差(stepdifference)。第二個(gè)原因是因在伺服信號(hào)記錄期間不穩(wěn)定的寫而造成的伺服脈沖A到D的記錄位置的波動(dòng),這被稱為RRO(RepeatableRunOut,可重復(fù)性跑偏)。第三個(gè)原因是頭的讀芯寬度(readcorewidth)小于磁道寬度,因此PosN和PosQ因頭輸出而飽和,并且由此在連接的部分發(fā)生了階越差。為了解決RRO的問題和位置敏感度的測(cè)量誤差的問題,提出了以下方法。(1)如果絕對(duì)值|N|<|Q|,則通過±N/2(|N|+|Q|)來解調(diào)位置,否則通過±Q/2(|N|+|Q|)來解調(diào)位置(美國(guó)專利公報(bào)No.5,867,341,“Diskdrivesystemusingmultiplepairsofembeddedservobursts”(例如第6頁))。(2)如果絕對(duì)值|N|<|Q|,則通過±N/4|Q|來解調(diào)位置,否則通過±Q/4|N|來解調(diào)位置(美國(guó)專利公報(bào)No.6,369,974,“Diskdrivewithmethodofconstructingacontinuouspositionsignalandconstrainedmethodoflinearizingsuchapositionsignalwhilemaintainingcontinuity”(第9頁,第10頁))。(3)如果絕對(duì)值|N|<|Q|,則通過±N/|N|2+|Q|2]]>來解調(diào)位置,否則通過±Q/|N|2+|Q|2]]>來解調(diào)位置(日本在先公開專利申請(qǐng)No.H9-198817,“Magneticdiskapparatus”)。所有這些方法都具有以下特性(1)如果PosN和PosQ為“0”,則解調(diào)位置也是0,以及(2)對(duì)于通過PosN和通過PosQ進(jìn)行解調(diào)的兩種情況而言,PosN和PosQ的解調(diào)區(qū)域的邊界具有相同值。正如以上公式所示,這些方法不需要測(cè)量位置敏感度,因此可以避免位置敏感度的測(cè)量誤差帶來的影響。即使因伺服信號(hào)的寫精度的影響而造成了PosN和PosQ的伺服脈沖的寫位置移動(dòng),在PosN和PosQ的解調(diào)區(qū)段(block)的邊界處也不會(huì)發(fā)生位移。建立對(duì)PosN和PosQ的解調(diào)公式,使得這些值與在各個(gè)解調(diào)區(qū)域的邊沿處的相鄰解調(diào)公式匹配。例如,當(dāng)在美國(guó)專利公報(bào)No.5,867,341,“Diskdrivesystemusingmultiplepairsofembeddedservobursts”的方法中,|N|和|Q|相同時(shí),其中兩個(gè)公式的值都變成了±1/4,相互匹配。這些現(xiàn)有技術(shù)都假設(shè)在圖27中所述的信號(hào)PosN和PosQ的飽和度是恒定的,并且在一個(gè)信號(hào)的分母中,含有另一信號(hào)的信號(hào)成份,由此就消除了切換時(shí)的階越差。然而,隨著當(dāng)前對(duì)更大存儲(chǔ)容量的需求,磁道間距必須縮小。因此,頭的讀芯寬度將減小,這就使得生產(chǎn)出具有均一檢測(cè)特性的頭裝置(特別是MR頭)變得更加困難。所以,根據(jù)讀元件的檢測(cè)性能,通過檢測(cè)伺服脈沖而得到的PosN和PosQ的飽和寬度與飽和區(qū)域(saturationarea)將隨之改變,如圖28A、28B和28C所示。因此,在現(xiàn)有技術(shù)中,因?yàn)榧词菇鉀Q了位置敏感度和RRO的問題,也沒有考慮飽和寬度的變化,所以解調(diào)位置將會(huì)因飽和寬度的變化而出現(xiàn)偏差。具體地說,這影響了定位精度的提高,而目前由于磁道間距的減小正需要提高定位精度。
發(fā)明內(nèi)容考慮到以上問題,本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供一種頭位置解調(diào)方法和一種盤裝置,用于降低因頭的檢測(cè)性能而引起的位置信號(hào)的飽和的影響,并解調(diào)出精確的頭位置。本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種頭位置解調(diào)方法和一種盤裝置,用于降低位置敏感度、RRO和位置信號(hào)的飽和的影響,并解調(diào)出精確的頭位置。本發(fā)明的又一個(gè)目的在于提供一種頭位置解調(diào)方法和一種盤裝置,用于使用解調(diào)公式從位置信號(hào)中檢測(cè)出飽和區(qū)域,并降低飽和的影響。為了實(shí)現(xiàn)這些目的,本發(fā)明所提供的頭位置解調(diào)方法通過從記錄在盤上的伺服信息中獲得二相伺服信號(hào)PosN和PosQ,從而解調(diào)頭的位置,該方法包括由PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值之間的比值來判斷PosN或PosQ的飽和區(qū)域和非飽和區(qū)域的步驟,在飽和區(qū)域中通過將PosN和PosQ組合起來的第一解調(diào)公式來計(jì)算解調(diào)位置的第一步驟,以及在非飽和區(qū)域中通過將PosN和PosQ組合起來的第二解調(diào)公式來計(jì)算解調(diào)位置的第二步驟。本發(fā)明的盤裝置包括用于從記錄有伺服信息的盤上讀取信息的頭,用于將所述頭定位到所述盤上的預(yù)定位置的致動(dòng)器,以及用于從所述頭所讀取的伺服信息中獲得二相伺服信號(hào)PosN和PosQ,解調(diào)所述頭的位置,并控制所述致動(dòng)器的控制單元。而且所述控制單元由PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值之間的比值來判斷PosN或PosQ的飽和區(qū)域和非飽和區(qū)域,在飽和區(qū)域中通過將PosN和PosQ組合起來的第一解調(diào)公式來計(jì)算解調(diào)位置,并且在非飽和區(qū)域中通過將PosN和PosQ組合起來的第二解調(diào)公式來計(jì)算解調(diào)位置。在本發(fā)明的解調(diào)方法中,通過PosN和PosQ的各自絕對(duì)值之間的比值來判斷某一部分是否飽和,并且對(duì)飽和部分和非飽和部分使用不同的解調(diào)方法,所以可以根據(jù)所述部分是否飽和來選擇最優(yōu)公式,因此相比于根本不考慮飽和的傳統(tǒng)方法而言,本發(fā)明的方法能夠?qū)崿F(xiàn)更精確的位置解調(diào)。本發(fā)明還優(yōu)選地包括比較PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值的步驟,以及根據(jù)比較結(jié)果和判斷結(jié)果來選擇所述第一和第二步驟之一的步驟。由此就可以很容易地實(shí)現(xiàn)位置解調(diào)。在本發(fā)明中,第一和第二解調(diào)公式還優(yōu)選地構(gòu)造為使得由第一解調(diào)公式得出的解調(diào)位置和由第二解調(diào)公式得出的解調(diào)位置在飽和區(qū)域和非飽和區(qū)域之間的解調(diào)邊界上相互匹配。由此就可以防止在解調(diào)邊界上產(chǎn)生階越差。在本發(fā)明中,所述判斷步驟優(yōu)選地包括以下步驟,即在PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值之間的比值等于或小于預(yù)定比值時(shí)判斷為飽和,而在所述比值超過預(yù)定比值時(shí)判斷為非飽和。根據(jù)這一方面,將PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值進(jìn)行比較,并根據(jù)由此得到的比值是大于還是小于預(yù)定的飽和系數(shù)r來判斷是飽和還是非飽和,所以就不必預(yù)先測(cè)量位置敏感度,并且即使不知道所檢測(cè)出的PosN和PosQ實(shí)際上對(duì)應(yīng)于多少磁道,也能夠?qū)︼柡妥龀鰷?zhǔn)確的判斷。本發(fā)明優(yōu)選地還包括以下步驟,即選擇與多個(gè)頭中所選出的頭相對(duì)應(yīng)的預(yù)定比值。由此就可以根據(jù)頭的特性來判斷飽和。在本發(fā)明中,所述第一步驟優(yōu)選地包括使用由PosN、PosQ和所述比值的組合而構(gòu)造的第一解調(diào)公式來進(jìn)行解調(diào)的步驟。由此就可以防止在解調(diào)邊界上的階越差,并且能夠?qū)崿F(xiàn)更精確的位置解調(diào)。在本發(fā)明中,所述第一步驟優(yōu)選地包括以下步驟,即使用滿足以下條件的第一解調(diào)公式進(jìn)行解調(diào),其中PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值中較小的絕對(duì)值包含在分子中,而較大的絕對(duì)值和所述預(yù)定比值包含在分母中,并且所述第二步驟優(yōu)選地包括以下步驟,即使用滿足以下條件的第二解調(diào)公式進(jìn)行解調(diào),其中PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值中較小的絕對(duì)值包含在分子中,而較大的絕對(duì)值包含在分母中。由此就可以解決飽和問題和解調(diào)邊界上的階越差問題。在本發(fā)明中,所述第一步驟的第一解調(diào)公式優(yōu)選地由以下兩個(gè)公式組成當(dāng)PosN的絕對(duì)值等于或小于PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,其中PosN包含在分子中,而PosQ的絕對(duì)值、以及預(yù)定比值加1所得的和的兩倍則包含在分母中;以及當(dāng)PosN的絕對(duì)值大于PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,其中PosQ包含在分子中,而PosN的絕對(duì)值、以及預(yù)定比值加1所得的和的兩倍則包含在分母中。在本發(fā)明中,所述第二步驟的第二解調(diào)公式優(yōu)選地由以下兩個(gè)公式組成當(dāng)PosN的絕對(duì)值等于或小于PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,其中PosN包含在分子中,而PosN的絕對(duì)值與PosQ的絕對(duì)值相加之和的兩倍則包含在分母中;以及當(dāng)PosN的絕對(duì)值大于PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,其中PosQ包含在分子中,而PosN的絕對(duì)值與PosQ的絕對(duì)值相加之和的兩倍則包含在分母中。本發(fā)明還優(yōu)選地包括以下步驟,即由頭位于預(yù)定的磁道位置時(shí)的PosQ值、以及頭位于距上述磁道位置1/4磁道遠(yuǎn)的位置時(shí)的PosQ值,來測(cè)量所述預(yù)定比值。圖1描繪了根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的盤存儲(chǔ)裝置的配置;圖2描繪了圖1中的盤的位置信號(hào);圖3描繪了圖2中的位置信號(hào)的細(xì)節(jié);圖4是圖2中的位置信號(hào)的讀波形圖;圖5描繪了圖1中的頭的尋道(seek)操作;圖6描繪了圖1中的伺服控制系統(tǒng);圖7描繪了根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的位置解調(diào)方法;圖8描繪了圖7中的飽和系數(shù);圖9中的功能框圖描繪了圖1中頭位置控制部分的位置解調(diào)部分的實(shí)施例;圖10是當(dāng)圖9中的磁道號(hào)正常時(shí)的計(jì)算表;圖11是當(dāng)圖9中的磁道號(hào)異常時(shí)的計(jì)算表;圖12描繪了圖10和圖11中的計(jì)算表區(qū)域劃分;圖13描繪了本實(shí)施例的仿真目標(biāo)區(qū)域;圖14是根據(jù)本發(fā)明的第一仿真結(jié)果的特性圖;圖15是根據(jù)本發(fā)明的第二仿真結(jié)果的特性圖;圖16是根據(jù)作為對(duì)比示例的第一現(xiàn)有技術(shù)的第一仿真結(jié)果的特性圖;圖17是根據(jù)作為對(duì)比示例的第一現(xiàn)有技術(shù)的第二仿真結(jié)果的特性圖;圖18是根據(jù)作為對(duì)比示例的第二現(xiàn)有技術(shù)的第一仿真結(jié)果的特性圖;圖19是根據(jù)作為對(duì)比示例的第二現(xiàn)有技術(shù)的第二仿真結(jié)果的特性圖;圖20是根據(jù)作為對(duì)比示例的第三現(xiàn)有技術(shù)的第一仿真結(jié)果的特性圖;圖21是根據(jù)作為對(duì)比示例的第三現(xiàn)有技術(shù)的第二仿真結(jié)果的特性圖;圖22是描繪對(duì)圖8中的飽和系數(shù)進(jìn)行的測(cè)量處理的流程圖;圖23描繪了傳統(tǒng)的磁盤裝置的配置;圖24描繪了圖23中的位置信號(hào);圖25描繪了傳統(tǒng)的位置解調(diào)處理;圖26描繪了圖25中的二相伺服信號(hào);圖27描繪了圖25中的解調(diào)誤差因素;并且圖28A、28B和28C是頭的二相伺服信號(hào)的特性圖。具體實(shí)施例方式下面將按照盤存儲(chǔ)裝置、位置解調(diào)方法、示例、參數(shù)測(cè)量處理和其它實(shí)施例的順序來描述本發(fā)明的各個(gè)實(shí)施例,但本發(fā)明并不局限于以下實(shí)施例。圖1描繪了根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的盤存儲(chǔ)裝置的配置,圖2描繪了圖1中的磁盤的位置信號(hào)的排列,圖3描繪了圖1和圖2中的磁盤的位置信號(hào)的構(gòu)造,圖4是圖3中的位置信號(hào)的讀波形圖,圖5描繪了圖1中的頭位置控制,并且圖6描繪了具有圖1中的配置的伺服控制系統(tǒng)。圖1示出了作為盤存儲(chǔ)裝置的磁盤裝置。如圖1所示,磁盤10是磁存儲(chǔ)介質(zhì),它被放置在主軸馬達(dá)18的旋轉(zhuǎn)軸19上。主軸馬達(dá)18帶動(dòng)磁盤10旋轉(zhuǎn)。致動(dòng)器(VCM)14在端部有一個(gè)磁頭12,并且致動(dòng)器14在磁盤10的半徑方向上移動(dòng)該磁頭12。致動(dòng)器14由音圈馬達(dá)(VCM)組成,該VCM繞其中心處的旋轉(zhuǎn)軸而旋轉(zhuǎn)。在圖1中,有兩個(gè)磁盤10被放置在磁盤裝置中,并且有四個(gè)磁頭12同時(shí)由同一個(gè)致動(dòng)器14來驅(qū)動(dòng)。磁頭12由讀元件和寫元件組成。在磁頭12中,在滑動(dòng)器(slider)上層疊有包括磁阻(MR)元件的讀元件,而在其上又層疊了包括寫線圈的寫元件。位置檢測(cè)電路20將磁頭12所讀取的位置信號(hào)(模擬信號(hào))轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。讀/寫(R/W)電路22控制磁頭12的讀和寫。主軸馬達(dá)(SPM)驅(qū)動(dòng)電路24用于驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)18。音圈馬達(dá)(VCM)驅(qū)動(dòng)電路26向音圈馬達(dá)(VCM)14提供驅(qū)動(dòng)電流以驅(qū)動(dòng)VCM14。微控制器(MCU)28從來自位置檢測(cè)電路20的數(shù)字位置信號(hào)中檢測(cè)(解調(diào))出當(dāng)前位置,并且根據(jù)檢測(cè)到的當(dāng)前位置和目標(biāo)位置之間的誤差來計(jì)算VCM驅(qū)動(dòng)命令值。換言之,執(zhí)行位置解調(diào)和伺服控制。只讀存儲(chǔ)器(ROM)30存儲(chǔ)MCU28的控制程序。硬盤控制器(HDC)32基于伺服信號(hào)的扇區(qū)號(hào)(sectornumber)來判斷磁道上的位置,并記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)。隨機(jī)訪問存儲(chǔ)器(RAM)34臨時(shí)存儲(chǔ)讀數(shù)據(jù)和寫數(shù)據(jù)。HDC32通過ATA和SCSI這樣的接口IF與主機(jī)通信。總線36將這些組件連接起來。如圖2所示,在磁盤10上,從外圈磁道到內(nèi)圈磁道,在每個(gè)磁道的圓周方向上等間隔地放置伺服信號(hào)(位置信號(hào))。每個(gè)磁道由多個(gè)扇區(qū)組成,圖2中的實(shí)線表示伺服信號(hào)的記錄位置。如圖3所示,位置信號(hào)由伺服標(biāo)記ServoMark、磁道號(hào)GrayCode、索引Index和偏移信息(伺服脈沖)PosA、PosB、PosC和PosD組成。圖3中的虛線示出了磁道中心。圖4是在圖3中的位置信號(hào)被磁頭12讀取時(shí)的信號(hào)波形。使用圖4所示的信號(hào)波形中的磁道號(hào)GrayCode和偏移信息PosA、PosB、PosC和PosD,就檢測(cè)出磁頭在半徑方向上的位置。同樣,基于索引信號(hào)Index,就可以知道磁頭在圓周方向上的位置。例如,檢測(cè)到索引信號(hào)時(shí)的扇區(qū)號(hào)被設(shè)置為零,并且每次檢測(cè)到伺服信號(hào),就通過加1獲得磁道上每個(gè)扇區(qū)的扇區(qū)號(hào)。在記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)時(shí),這個(gè)伺服信號(hào)的扇區(qū)號(hào)就成了參照。在一個(gè)磁道上有一個(gè)索引信號(hào)。可以用扇區(qū)號(hào)來代替索引信號(hào)。圖5是致動(dòng)器的尋道控制的示例,該操作由圖1中的MCU28來執(zhí)行。通過圖1中的位置檢測(cè)電路20,MCU28確認(rèn)致動(dòng)器的位置,執(zhí)行伺服計(jì)算,并且向VCM14提供適當(dāng)?shù)碾娏鳌D5示出了從尋道開始時(shí)起的控制轉(zhuǎn)變、致動(dòng)器14的電流、致動(dòng)器(頭)的速度和致動(dòng)器(頭)的位置,所述尋道用于將磁頭12從某一磁道位置移動(dòng)到目標(biāo)磁道位置。換言之,在尋道控制中,經(jīng)過粗調(diào)控制、安放(settling)控制和后續(xù)控制這樣的轉(zhuǎn)變,就可以將磁頭移動(dòng)到目標(biāo)位置。粗調(diào)控制基本上是一種速度控制,而安放控制和后續(xù)控制基本上屬于位置控制,在以上兩種情形中,都必須檢測(cè)出頭的當(dāng)前位置。為了以這種方式來確認(rèn)位置,如上所述應(yīng)預(yù)先在磁盤上記錄伺服信號(hào),如圖2所示。換言之,如圖3所示,記錄用于指示伺服信號(hào)起始位置的伺服標(biāo)記、用于指示磁道號(hào)的格雷碼(graycode)、索引信號(hào)和用于指示偏移量的PosA-PosD這樣的信號(hào)。這些信號(hào)由磁頭來讀取,并且位置檢測(cè)電路20將這些信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字值。MCU28執(zhí)行圖6中伺服控制系統(tǒng)的操作。換言之,目標(biāo)位置r和當(dāng)前位置y之間的誤差由計(jì)算模塊28-1來計(jì)算,控制量由控制模塊28-2來計(jì)算,而作為裝備(plant)的VCM14被驅(qū)動(dòng)。對(duì)于所述裝備的位置,來自磁頭12的伺服信號(hào)的位置由解調(diào)模塊28-3來解調(diào),并得到當(dāng)前位置y。這個(gè)時(shí)候,上述的位置敏感度、RRO和飽和的影響都進(jìn)入到伺服控制系統(tǒng)中。下面將描述本發(fā)明的位置解調(diào)的原理。圖7描繪了本發(fā)明的位置解調(diào)操作,而圖8描繪了圖7中的飽和判斷。在本發(fā)明中,如圖7中的信號(hào)PosN和PosQ的波形圖所示的那樣來判斷PosN和PosQ是否飽和。為了判斷飽和,就要判斷PosN和PosQ各自絕對(duì)值之間的比值是大于還是小于比例系數(shù)r,而這取決于磁道和磁頭。對(duì)于飽和區(qū)段(block)和非飽和區(qū)段使用不同的解調(diào)方法。另外,將解調(diào)公式構(gòu)造為使得每個(gè)解調(diào)區(qū)段的邊沿與相鄰解調(diào)區(qū)段的邊沿相匹配。換言之,在傳統(tǒng)的方法中,如上所述,無論飽和還是非飽和,都使用相同的解調(diào)公式。因此無法支持不同的飽和寬度,并且解調(diào)位置的精度會(huì)下降。然而在本發(fā)明中,對(duì)于每一個(gè)飽和區(qū)段和非飽和區(qū)段,都選擇最優(yōu)公式,所以解調(diào)可以比根本不考慮飽和的傳統(tǒng)方法更加精確。為了進(jìn)行解調(diào),在這個(gè)實(shí)施例中將使用以下邏輯。當(dāng)|N|≤|Q|時(shí),如果|N|≤r|Q|,則±N/(|Q|×(2(r+1)))(1)如果|N|>r|Q|,則±N/((|N|+|Q|)×2)(2)當(dāng)|N|>|Q|時(shí),如果|Q|≤r|N|,則±Q/(|N|×(2(r+1)))(3)如果|Q|>r|N|,則±Q/((|N+|Q|)×2)(4)換言之,將PosN的絕對(duì)值|N|和PosQ的絕對(duì)值|Q|進(jìn)行比較,并根據(jù)其比值是大于還是小于預(yù)定的r來判斷是飽和還是非飽和。因?yàn)檫@種方法并不預(yù)先測(cè)量位置敏感度,并且因?yàn)樵诓⒉恢浪鶛z測(cè)出的PosN和PosQ對(duì)應(yīng)于多少磁道的狀態(tài)下需要準(zhǔn)確地判斷飽和,所以要確定PosN和PosQ的比值。以后將描述導(dǎo)出這些解調(diào)公式的原因,但是這里將描述公式(1)到(4)中的“r”的計(jì)算方法。這里“r”被稱為飽和系數(shù)。并且如下確定“r”。如圖8所示,假設(shè)PosN或PosQ的飽和量被換算成R個(gè)磁道。由于PosN和PosQ之間移動(dòng)了1/4磁道,因此|N|和|Q|在其絕對(duì)位置的1/4磁道點(diǎn)處相交。這時(shí),飽和區(qū)段和非飽和區(qū)段的邊界位置是(1/2-R)。如果在這一位置處的|N|和|Q|的比值為r,則如下確定r。1∶r=R∶(1/2-R)(5)r=(1-2R)/(2R)(6)R=1/2/(1+r)(7)對(duì)于r和R而言,首先通過在PosN或PosQ為零的位置上的頭輸出A和在|N|=|Q|的位置(1/4磁道位置)上的頭輸出B,使用R=A/4B來確定飽和磁道的數(shù)量R;然后,按照公式(6)來確定“r”。如上所述,使用以這種方式確定的r,通過比較|N|和|Q|,就可以判斷出飽和區(qū)域和非飽和區(qū)域。|N|>r|Q|時(shí)由公式(2),或者|Q|>r|N|時(shí)由公式(4)給出非飽和區(qū)域,所以使用了公式(2)和公式(4)之一。換言之,±N/((|N|+|Q|)×2)或者±Q/((|N|+|Q|)×2)。以上公式的前面帶有符號(hào)“±”,這是因?yàn)镻osN或PosQ相對(duì)于磁道方向的曲線斜率可以是正負(fù)兩個(gè)方向的。換言之,根據(jù)進(jìn)行換算的條件而在前面加上+或-,使得在磁道增加的方向上斜率為正。如果以這種方式來構(gòu)造公式,那么各個(gè)公式的值在PosN和PosQ的解調(diào)區(qū)段的邊界區(qū)域上相互匹配。例如,當(dāng)PosN和PosQ都有相等的值V時(shí),以上兩個(gè)公式都變成了±1/4,其中V被分子分母相互抵消。因此在非飽和區(qū)域的邊界,所述兩個(gè)公式始終得出同樣的值。接下來,|N|≤r|Q|時(shí)由公式(1),或者|Q|≤r|N|時(shí)由公式(3)給出飽和區(qū)域,所以使用了公式(1)和公式(3)之一。換言之,使用±N/(|Q|×(2(r+1)))和±Q/(|N|×(2(r+1)))之一。以上公式的前面也帶有符號(hào)“±”,這是因?yàn)镻osN或PosQ相對(duì)于磁道方向的曲線斜率可以是正負(fù)兩個(gè)方向的。根據(jù)進(jìn)行換算的條件而在前面加上+或-,使得在磁道增加的方向上斜率為正。在飽和區(qū)域中,PosN和PosQ之一始終保持為恒定值。因此使用飽和側(cè)的值作為分母。在圖8中,這就是R值。另外要進(jìn)行校正,使得這個(gè)公式的斜率等于“1”(線性特性)。為此,由于分母為R,所以乘以R(=1/2/(1+r))?,F(xiàn)在考慮兩類判決公式的邊界,即公式(2)或公式(4)以及公式(1)或公式(3)的邊界?;谏鲜鼋庹{(diào)邏輯,所述邊界就是PosN和PosQ的絕對(duì)值之比等于“r”的時(shí)候。例如,當(dāng)基于PosN執(zhí)行解調(diào)時(shí),邊界如下?!繬/(|N|+|Q|)×2=±N/((|N|+(|N|r))×2)=±r/((1+r)×2)±N/|Q|×(2(r+1))=±N/(|N|r×(2(r+1))=±r/((1+r)×2)因此,兩個(gè)公式得出相同的值。對(duì)于PosQ來說也是一樣的。按照這種方式,在解調(diào)邊界處,計(jì)算結(jié)果與相鄰區(qū)域的解調(diào)公式的結(jié)果之間沒有偏差。因此,在解調(diào)邊界處不會(huì)產(chǎn)生階越差。圖9是描繪根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的位置解調(diào)系統(tǒng)的框圖,圖10和圖11是其計(jì)算表,而圖12是描述所述計(jì)算表的選擇的圖。圖9中的位置解調(diào)系統(tǒng)由圖1中的MCU28執(zhí)行。MCU28使用圖9中的解調(diào)位置作為當(dāng)前位置來執(zhí)行公知的伺服操作(例如,觀測(cè)器控制),并計(jì)算VCM14的控制量。在圖9中,信號(hào)解調(diào)部分40從來自磁頭12的位置信號(hào)(見圖4)中分離出磁道號(hào)和偏移信號(hào)(PosA到PosD)。計(jì)算單元42和44分別利用以下計(jì)算公式來計(jì)算二相伺服信號(hào)PosN和PosQ。PosN=PosA-PosB(8)PosQ=PosC-PosD(9)飽和系數(shù)表46存儲(chǔ)每個(gè)磁頭和每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)(zone)的飽和系數(shù)r。飽和系數(shù)r由將在圖22中描述的測(cè)量處理獲得。飽和系數(shù)表46由信號(hào)解調(diào)部分40所解調(diào)出的磁道號(hào)和磁頭號(hào)來索引,并輸出對(duì)應(yīng)于磁頭和存儲(chǔ)區(qū)的飽和系數(shù)r。條件判斷部分48判斷上述公式(1)到(4)的條件。換言之,比較|N|和|Q|、|N|和r|Q|、以及|Q|和r|N|的值。磁道號(hào)正常判斷部分50判斷磁道號(hào)是否被正常讀取。換言之,因?yàn)榭赡馨l(fā)生讀錯(cuò)誤,所以要判斷磁頭是否正常讀取了盤上的磁道號(hào)。如圖3和圖7所示,如果磁道號(hào)是偶數(shù),PosQ為負(fù),而如果磁道號(hào)是奇數(shù),則PosQ為正。因此,磁道號(hào)正常判斷部分50從信號(hào)解調(diào)部分40接收磁道號(hào)和PosQ,當(dāng)磁道號(hào)是偶數(shù)并且PosQ為負(fù)時(shí),或者當(dāng)磁道號(hào)是奇數(shù)并且PosQ為正時(shí),判斷出該磁道號(hào)為正常的,否則判斷出其為異常的。四個(gè)操作模塊52、54、56和58分別執(zhí)行公式(2)、公式(1)、公式(3)和公式(4),并如下計(jì)算N2、N1、Q1和Q2。N2=N/((|N|+|Q|)×2)N1=N/(|Q|×(2(r+1)))Q2=Q/((|N|+|Q|)×2)Q1=Q/(|N|×(2(r+1)))解調(diào)位置計(jì)算部分60具有磁道號(hào)正常時(shí)的解調(diào)計(jì)算表62和磁道號(hào)異常時(shí)的解調(diào)計(jì)算表64,分別如圖10和圖11所示,根據(jù)從磁道號(hào)正常判斷部分50中輸出的磁道正?;虍惓E袛嘟Y(jié)果而從這兩個(gè)表中選擇一個(gè),并計(jì)算解調(diào)位置。在如圖12所示的這些表62和64中,PosN和PosQ的一個(gè)周期(其對(duì)應(yīng)于兩個(gè)磁道,即2n和2n+1)被劃分為8段,分別設(shè)置有相應(yīng)的公式。換言之,如圖10和圖11所示,基于以下各方面來選擇每一區(qū)段的公式PosN和PosQ的極性;磁道號(hào)除以2后的余數(shù)Track%2(這代表了該磁道號(hào)是奇數(shù)還是偶數(shù));|N|和|Q|、|N|和r|Q|以及|Q|和r|N|的值的比較結(jié)果,在選擇了公式后計(jì)算出解調(diào)位置。例如,在磁道號(hào)正常時(shí)采用圖10中計(jì)算表62的情況下,如果PosN和PosQ的極性為「-」,磁道號(hào)是偶數(shù)(Track%2=0),并且|N|≥|Q|(「1」),|Q|≤r|N|(「1」),那么該區(qū)域是飽和區(qū)域,所以根據(jù)公式(3),使用區(qū)段1的公式=Track-Q1-0.5來計(jì)算解調(diào)位置。如果PosN和PosQ的極性是「-」,磁道號(hào)是偶數(shù)(Track%2=0),并且|N|≥|Q|(「1」),而|Q|≤r|N|不成立(「0」),那么該區(qū)域是非飽和區(qū)域,所以根據(jù)公式(4),使用區(qū)段1的另一個(gè)公式=Track-Q2-0.5來計(jì)算解調(diào)位置。這同樣適用于區(qū)段2到8。在磁道號(hào)異常時(shí)采用圖11中計(jì)算表64的情況下,假設(shè)磁道號(hào)是當(dāng)前解調(diào)區(qū)域的相鄰區(qū)域的磁道號(hào),并向圖10中的公式加「1」或「-1」。例如,在圖11中,如果PosN和PosQ的極性為「-」,磁道號(hào)是奇數(shù)(Track%2=1),并且|N|≥|Q|(「1」),|Q|≤r|N|(「1」),那么該區(qū)域是飽和區(qū)域,所以根據(jù)公式(3),使用區(qū)段1的公式=Track-Q1-0.5+1來計(jì)算解調(diào)位置。如果PosN和PosQ的極性是「-」,磁道號(hào)是奇數(shù)(Track%2=1),并且|N|≥|Q|(「1」),而|Q|≤r|N|不成立(「0」),那么該區(qū)域是非飽和區(qū)域,所以根據(jù)公式(4),使用區(qū)段1的另一個(gè)公式=Track-Q2-0.5+1來計(jì)算解調(diào)位置。這同樣適用于區(qū)段2到8。另外,通過將表62和64合并在一起,就能夠壓縮用于解調(diào)位置的邏輯。按照這種方式,根據(jù)本發(fā)明的位置解調(diào)方法,由PosN和PosQ的各自絕對(duì)值之比來判斷飽和,并對(duì)飽和區(qū)段和非飽和區(qū)段使用不同的解調(diào)方法。解調(diào)公式被構(gòu)造為使得每個(gè)解調(diào)區(qū)段的邊沿與相鄰解調(diào)區(qū)段的邊沿相匹配。因?yàn)槭歉鶕?jù)是飽和還是非飽和來選擇最優(yōu)公式,所以與根本不考慮飽和的傳統(tǒng)方法相比,本發(fā)明的方法能夠進(jìn)行更精確的解調(diào)。另外,比較PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值,由其比值是大于還是小于預(yù)定的飽和系數(shù)r來判斷是飽和還是非飽和,所以不必再預(yù)先測(cè)量位置敏感度,并且即使不知道所檢測(cè)出的PosN和PosQ實(shí)際上對(duì)應(yīng)于多少磁道,也能夠?qū)︼柡妥龀鰷?zhǔn)確的判斷。在飽和區(qū)域,因?yàn)镻osN和PosQ之一總是保持為恒定值,所以將飽和側(cè)的值用作分母,并且乘以R(=1/(2×(1+r))),使得這個(gè)公式的斜率變?yōu)?。因此,在解調(diào)邊界,計(jì)算結(jié)果與相鄰區(qū)域的解調(diào)公式的結(jié)果沒有任何偏差。由此,在解調(diào)邊界就不會(huì)產(chǎn)生階越差。用實(shí)際的C語言程序編寫的上述解調(diào)邏輯的示例如下所示。<prelisting-type="program-listing"><![CDATA[//A、B、C、D是脈沖的解調(diào)值//N=(A-B);Q=(C-D);AbsN=N;if(AbsN<0)AbsN=-AbsN;AbsQ=Q;if(AbsQ<0)AbsQ=-AbsQ;//N和Q中絕對(duì)值較小的被用于解調(diào)if(AbsN<=AbsQ){//CASE解調(diào)PosNif(AbsN<=r*AbsQ)PosTemp=N/AbsQ/(2*(1+r));elsePosTemp=N/(AbsN+AbsQ)/2;PosOfs=0;if(Q<=0){if((Track&amp;1)==1){if(N<=0)PosOfs+=+1;elsePosOfs+=-1;}}else{PosTemp=-PosTemp;if((Track&amp;1)==0){if(N<=0)PosOfs+=-1;elsePosOfs+=+1;}}}else{//CASE解調(diào)PosQif(AbsQ<=r*AbsN)PosTemp=Q/AbsN/(2*(1+r));elsePosTemp=Q/(AbsN+AbsQ)/2;if(N<=0){PosTemp=-PosTemp;if(Q<=0){PosOfs=-1/2;if((Track&amp;1)==1)PosOfs+=+1;}else{PosOfs=+1/2;if((Track&amp;1)==0)PosOfs+=-1;}}else{PosTemp=+PosTemp;if(Q<=0){PosOfs=+1/2;if((Track&amp;1)==1)PosOfs+=-1;}else{PosOfs=-1/2;if((Track&amp;1)==0)PosOfs+=+1;}}}Position=Track+PosTemp+PosOfs;]]></pre>作為本發(fā)明的示例,現(xiàn)在將描述本發(fā)明的仿真結(jié)果。圖13描繪了對(duì)解調(diào)性能進(jìn)行仿真的目標(biāo)區(qū)域,圖14和圖15示出了本發(fā)明的仿真結(jié)果,圖16和圖17示出了在美國(guó)專利公報(bào)No.5,867,341,“Diskdrivesystemusingmultiplepairsofembeddedservobursts”中現(xiàn)有技術(shù)的解調(diào)公式所產(chǎn)生的仿真結(jié)果,圖18和圖19示出了在美國(guó)專利公報(bào)No.6,369,974,“Diskdrivewithmethodofconstructingacontinuouspositionsignalandconstrainedmethodoflinearizingsuchapositionsignalwhilemaintainingcontinuity”中現(xiàn)有技術(shù)的解調(diào)公式所產(chǎn)生的仿真結(jié)果,圖20和圖21示出了在日本在先公開專利申請(qǐng)No.H9-198817,“Magneticdiskapparatus”中現(xiàn)有技術(shù)的解調(diào)公式所產(chǎn)生的解調(diào)結(jié)果。下面將描述用于仿真的計(jì)算方法。首先,以磁道為單位給出PosN和PosQ的飽和量(磁道數(shù))和RRO的大小。然后,關(guān)于圖13中作為計(jì)算范圍的那個(gè)區(qū)域(將某一磁道的0.5磁道寬度的范圍作為參考),絕對(duì)位置被劃分為若干小的等份(0.0001磁道)。考慮每一等份的飽和量和RRO,以磁道為單位計(jì)算出PosN和PosQ的信號(hào)。使用每個(gè)解調(diào)公式計(jì)算出解調(diào)位置的值。這里假設(shè)沒有發(fā)生磁道號(hào)讀錯(cuò)誤。于是得到了絕對(duì)位置相對(duì)于解調(diào)位置的曲線。另外,對(duì)于每個(gè)點(diǎn)確定這樣一個(gè)值,該值是相鄰等份點(diǎn)的解調(diào)位置的微分值除以單位等份寬度的結(jié)果,并將該值看作是增益。同樣示出了絕對(duì)位置相對(duì)于增益的曲線。圖14和圖15是本發(fā)明的解調(diào)方法的仿真結(jié)果(絕對(duì)位置相對(duì)于解調(diào)位置的特性和絕對(duì)位置相對(duì)于增益的特性),其中圖14是RRO為零并且飽和等于0.4磁道時(shí)的結(jié)果,而圖15是RRO為零并且飽和等于0.3磁道時(shí)的結(jié)果。如圖14和圖15所示,取決于飽和還是非飽和來轉(zhuǎn)換解調(diào)公式,所以在任何飽和量處,增益都是平的。圖16和圖17是美國(guó)專利公報(bào)No.5,867,341,“Diskdrivesystemusingmultiplepairsofembeddedservobursts”中現(xiàn)有技術(shù)的解調(diào)方法的仿真結(jié)果(絕對(duì)位置相對(duì)于解調(diào)位置的特性和絕對(duì)位置相對(duì)于增益的特性),其中圖16是RRO為零并且飽和等于0.4磁道時(shí)的結(jié)果,而圖17是RRO為零并且飽和等于0.3磁道時(shí)的結(jié)果。如圖16和圖17所示,解調(diào)特性根據(jù)飽和量而變化,增益在非飽和區(qū)域中是平的,但是在飽和區(qū)域中則發(fā)生了很大變化。圖18和圖19是美國(guó)專利公報(bào)No.6,369,974,“Diskdrivewithmethodofconstructingacontinuouspositionsignalandconstrainedmethodoflinearizingsuchapositionsignalwhilemaintainingcontinuity”中現(xiàn)有技術(shù)的解調(diào)方法的仿真結(jié)果(絕對(duì)位置相對(duì)于解調(diào)位置的特性和絕對(duì)位置相對(duì)于增益的特性),其中圖18是RRO為零并且飽和等于0.4磁道時(shí)的結(jié)果,而圖19是RRO為零并且飽和等于0.3磁道時(shí)的結(jié)果。如圖18和圖19所示,解調(diào)位置精度下降,并且增益在飽和區(qū)域中雖然平坦但不等于1,而在非飽和區(qū)域中則波動(dòng)很大。圖20和圖21是日本在先公開專利申請(qǐng)No.H9-198817,“Magneticdiskapparatus”中現(xiàn)有技術(shù)的解調(diào)方法的仿真結(jié)果(絕對(duì)位置相對(duì)于解調(diào)位置的特性和絕對(duì)位置相對(duì)于增益的特性),其中圖20是RRO為零并且飽和等于0.4磁道時(shí)的結(jié)果,而圖21是RRO為零并且飽和等于0.3磁道時(shí)的結(jié)果。如圖20和圖21所示,增益在飽和區(qū)域和非飽和區(qū)域中都有很大波動(dòng)??梢?,根據(jù)本發(fā)明,解調(diào)位置更加精確而與PosN和PosQ的飽和量無關(guān),并且增益平坦,所以本發(fā)明對(duì)提高頭定位精度做出了貢獻(xiàn)。下面參考圖22來描述對(duì)上述飽和系數(shù)r的測(cè)量處理。在磁盤裝置出廠之前,對(duì)各個(gè)磁盤裝置都要執(zhí)行這種測(cè)量處理。(S10)將磁頭號(hào)Head初始化為“0”。(S12)將目標(biāo)位置TargetPos設(shè)置為目標(biāo)磁道TargetTrack。(S14)磁頭號(hào)Head所代表的磁頭尋道到目標(biāo)位置TargetPos。并且在這一位置,從磁頭的讀輸出中測(cè)量出PosQ的絕對(duì)值|Q|的平均值,并將其存儲(chǔ)到變量A中。(S16)目標(biāo)位置TargetPos被改變?yōu)槟繕?biāo)磁道TargetTrack+0.25,并且所述磁頭尋道到目標(biāo)位置TargetPos。并且在這一位置處,從磁頭的讀輸出中測(cè)量出PosQ的絕對(duì)值|Q|的平均值,并將其存儲(chǔ)到變量B中。(S18)通過R=A/(4B)來計(jì)算飽和磁道的數(shù)量R,并通過r=(1-2R)/(2R)來計(jì)算飽和系數(shù)r。然后,計(jì)算出的r被存儲(chǔ)在表46中這一磁頭的存儲(chǔ)區(qū)域中(參見圖9)。(S20)將磁頭號(hào)Head加“1”。判斷磁頭號(hào)Head是否超過最大磁頭號(hào)MaxHead。如果磁頭號(hào)Head沒有超過最大磁頭號(hào)MaxHead,則處理返回步驟S12。如果磁頭號(hào)Head超過最大磁頭號(hào)MaxHead,則處理結(jié)束。換言之,在偏移量為“0”的測(cè)量磁道中對(duì)信號(hào)的飽和量進(jìn)行測(cè)量。然后,以1/4磁道的偏移量來確定在|N|=|Q|的點(diǎn)的信號(hào)的值。通過這兩個(gè)測(cè)量值來確定每一個(gè)磁頭的飽和系數(shù)r。在這個(gè)流程中,只有一個(gè)測(cè)量點(diǎn),但是可以確定很多點(diǎn)上的平均值。在圖9中還示出,所述區(qū)域可被劃分為多個(gè)存儲(chǔ)區(qū),并為每個(gè)存儲(chǔ)區(qū)確定飽和系數(shù)r。特別是在將旋轉(zhuǎn)致動(dòng)器用于VCM時(shí),取決于磁頭的偏離角度(yawangle),讀磁頭的檢測(cè)特性會(huì)有所不同,并且飽和寬度也會(huì)不同,所以優(yōu)選的是對(duì)每一個(gè)存儲(chǔ)區(qū)都測(cè)量飽和系數(shù)r。通過以上實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述,但是在本發(fā)明必要特征的范圍內(nèi)可以用各種方式來修改本發(fā)明,而不應(yīng)當(dāng)將這些修改從本發(fā)明的技術(shù)范圍內(nèi)排除出去。例如,在以上實(shí)施例中,對(duì)飽和區(qū)域使用解調(diào)公式N/|Q|,對(duì)非飽和區(qū)域使用解調(diào)公式N/(|N|+|Q|),但是也可以使用其它解調(diào)公式。換言之,如圖7所示,假設(shè)信號(hào)PosN和PosQ具有梯形波的形式,但是取決于和磁頭特性及磁道寬度之間的關(guān)系,信號(hào)PosN和PosQ可能具有更圓一些的波形,接近于正弦波,而不是具有象梯形波那樣的角度的形狀。在這種情況下,因?yàn)榕c絕對(duì)位置之間的偏差值變小并且增益變小,所以采用一種與上述組合不同的對(duì)飽和或非飽和區(qū)域的解調(diào)公式的組合可能是最優(yōu)的。下面將描述這些組合。(1)對(duì)飽和區(qū)域使用解調(diào)公式N/|Q|,而對(duì)非飽和區(qū)域使用解調(diào)公式N/N2+Q2.]]>即,當(dāng)|N|≤|Q|時(shí),如果|N|≤r|Q|,則&PlusMinus;N/(|Q|*22(1+r2))---(10)]]>如果|N|>r|Q|,則&PlusMinus;N/(N2+Q2*22)---(11)]]>當(dāng)|N|>|Q|時(shí),如果|Q|≤r|N|,則&PlusMinus;Q/(|N|*22(1+r2))---(12)]]>如果|Q|>r|N|,則&PlusMinus;Q/(N2+Q2*22)---(13)]]>(2)對(duì)飽和區(qū)域使用解調(diào)公式N/N2+Q2,]]>而對(duì)非飽和區(qū)域使用解調(diào)公式N/(|N|+|Q|)。即,當(dāng)|N|≤|Q|時(shí),如果|N|≤r|Q|,則&PlusMinus;N*1+r2/(N2+Q2*2(r+1))---(14)]]>如果|N|>r|Q|,則±N/((|N|+|Q|)*2)(15)當(dāng)|N|>|Q|時(shí),如果|Q|≤r|N|,則&PlusMinus;Q*1+r2/(N2+Q2*2(r+1))---(16)]]>如果|Q|>r|N|,則±Q/((|N|+|Q|*2)(17)雖然使用磁盤裝置描述了盤裝置,但是本發(fā)明可應(yīng)用于其它盤裝置,例如光盤裝置。這樣,根據(jù)本發(fā)明的位置解調(diào)方法,通過PosN和PosQ的各自絕對(duì)值之比來判斷是飽和還是非飽和,對(duì)于飽和區(qū)段和非飽和區(qū)段使用不同的解調(diào)方法,并且解調(diào)公式被構(gòu)造為使得每個(gè)解調(diào)區(qū)段的邊沿與相鄰解調(diào)區(qū)段的邊沿相匹配。因此,根據(jù)區(qū)段是飽和還是非飽和來選擇最優(yōu)的公式,從而與根本不考慮飽和的傳統(tǒng)方法相比,能夠進(jìn)行更精確的位置解調(diào)。另外,比較PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值,由其比值是大于還是小于預(yù)定的飽和系數(shù)r來判斷是飽和還是非飽和,所以不必再預(yù)先測(cè)量位置敏感度,并且即使不知道所檢測(cè)出的PosN和PosQ實(shí)際上對(duì)應(yīng)于多少磁道,也能夠?qū)︼柡妥龀鰷?zhǔn)確的判斷。本申請(qǐng)基于在先的日本專利申請(qǐng)No.2003-187286,并要求其優(yōu)先權(quán),該申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容已通過參照而結(jié)合在本申請(qǐng)當(dāng)中。權(quán)利要求1.一種頭位置解調(diào)方法,用于通過從記錄在一個(gè)盤上的伺服信息中獲得二相伺服信號(hào)PosN和PosQ來解調(diào)頭的位置,所述方法包括由所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值之間的比值來判斷所述PosN或所述PosQ的飽和區(qū)域和非飽和區(qū)域的步驟;在所述飽和區(qū)域中,通過將所述PosN和PosQ組合起來的第一解調(diào)公式來計(jì)算解調(diào)位置的第一步驟;以及在所述非飽和區(qū)域中,通過將所述PosN和PosQ組合起來的第二解調(diào)公式來計(jì)算解調(diào)位置的第二步驟。2.如權(quán)利要求1所述的頭位置解調(diào)方法,還包括比較所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值的步驟,以及根據(jù)所述比較結(jié)果和所述判斷結(jié)果來選擇所述第一和第二步驟之一的步驟。3.如權(quán)利要求1所述的頭位置解調(diào)方法,其中,所述第一和第二解調(diào)公式被構(gòu)造為使得由所述第一解調(diào)公式得到的解調(diào)位置和由所述第二解調(diào)公式得到的解調(diào)位置在所述飽和區(qū)域和所述非飽和區(qū)域之間的解調(diào)邊界上相互匹配。4.如權(quán)利要求1所述的頭位置解調(diào)方法,其中,所述判斷步驟包括以下步驟,即在所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值之間的比值等于或小于預(yù)定比值時(shí)判斷為飽和,而在所述比值超過所述預(yù)定比值時(shí)判斷為非飽和。5.如權(quán)利要求4所述的頭位置解調(diào)方法,還包括以下步驟,即對(duì)應(yīng)于從多個(gè)頭中選出的頭來選擇所述預(yù)定比值。6.如權(quán)利要求4所述的頭位置解調(diào)方法,其中,所述第一步驟包括以下步驟,即使用由所述PosN、所述PosQ和所述比值的組合而構(gòu)造的所述第一解調(diào)公式來進(jìn)行解調(diào)。7.如權(quán)利要求4所述的頭位置解調(diào)方法,其中,所述第一步驟包括以下步驟,即使用所述第一解調(diào)公式進(jìn)行解調(diào),在所述第一解調(diào)公式中,所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值中較小的絕對(duì)值包含在分子中,而較大的絕對(duì)值和所述預(yù)定比值則包含在分母中,并且所述第二步驟包括以下步驟,即使用所述第二解調(diào)公式進(jìn)行解調(diào),在所述第二解調(diào)公式中,所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值中較小的絕對(duì)值包含在分子中,而較大的絕對(duì)值則包含在分母中。8.如權(quán)利要求7所述的頭位置解調(diào)方法,其中,所述第一步驟中的第一解調(diào)公式由以下兩個(gè)解調(diào)公式組成當(dāng)所述PosN的絕對(duì)值等于或小于所述PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,在該公式中,所述PosN包含在分子中,而所述PosQ的絕對(duì)值、以及所述預(yù)定比值加1所得的和的兩倍則包含在分母中;以及當(dāng)所述PosN的絕對(duì)值大于所述PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,在該公式中,所述PosQ包含在分子中,而所述PosN的絕對(duì)值、以及所述預(yù)定比值加1所得的和的兩倍則包含在分母中。9.如權(quán)利要求7所述的頭位置解調(diào)方法,其中,所述第二步驟中的第二解調(diào)公式由以下兩個(gè)解調(diào)公式組成當(dāng)所述PosN的絕對(duì)值等于或小于所述PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,在該公式中,所述PosN包含在分子中,而所述PosN的絕對(duì)值與所述PosQ的絕對(duì)值相加之和的兩倍則包含在分母中;以及當(dāng)所述PosN的絕對(duì)值大于所述PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,在該公式中,所述PosQ包含在分子中,而所述PosN的絕對(duì)值與所述PosQ的絕對(duì)值相加之和的兩倍則包含在分母中。10.如權(quán)利要求4所述的頭位置解調(diào)方法,還包括以下步驟,即由所述頭位于預(yù)定的磁道位置時(shí)的PosQ值、以及所述頭位于距所述磁道位置1/4磁道遠(yuǎn)的位置時(shí)的PosQ值,來測(cè)量所述預(yù)定比值。11.一種盤裝置,包括用于從記錄有伺服信息的盤上讀取信息的頭;用于將所述頭定位到所述盤上的預(yù)定位置的致動(dòng)器;和用于從所述頭所讀取的伺服信息中獲得二相伺服信號(hào)PosN和PosQ,解調(diào)所述頭的位置,并控制所述致動(dòng)器的控制單元,其中,所述控制單元由所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值之間的比值來判斷所述PosN或PosQ的飽和區(qū)域和非飽和區(qū)域,在所述飽和區(qū)域中通過將所述PosN和PosQ組合起來的第一解調(diào)公式來計(jì)算解調(diào)位置,并且在所述非飽和區(qū)域中通過將所述PosN和PosQ組合起來的第二解調(diào)公式來計(jì)算解調(diào)位置。12.如權(quán)利要求11所述的盤裝置,其中,所述控制單元比較所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值,并根據(jù)所述比較結(jié)果和所述區(qū)域判斷結(jié)果來選擇所述第一和第二解調(diào)公式之一。13.如權(quán)利要求11所述的盤裝置,其中,所述第一和第二解調(diào)公式被構(gòu)造為使得由所述第一解調(diào)公式得到的解調(diào)位置和由所述第二解調(diào)公式得到的解調(diào)位置在所述飽和區(qū)域和所述非飽和區(qū)域之間的解調(diào)邊界上相互匹配。14.如權(quán)利要求11所述的盤裝置,其中,所述控制單元在所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值之間的比值等于或小于預(yù)定比值時(shí)判斷為飽和,而在所述比值超過所述預(yù)定比值時(shí)判斷為非飽和。15.如權(quán)利要求14所述的盤裝置,其中,所述控制單元對(duì)應(yīng)于從多個(gè)頭中選出的頭來選擇所述預(yù)定比值。16.如權(quán)利要求14所述的盤裝置,其中,所述控制單元使用由所述PosN、所述PosQ和所述比值的組合而構(gòu)造的所述第一解調(diào)公式來進(jìn)行解調(diào)。17.如權(quán)利要求14所述的盤裝置,其中,所述控制單元使用所述第一解調(diào)公式進(jìn)行解調(diào),在所述第一解調(diào)公式中,所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值中較小的絕對(duì)值包含在分子中,而較大的絕對(duì)值和所述預(yù)定比值則包含在分母中,并且所述控制單元使用所述第二解調(diào)公式進(jìn)行解調(diào),在所述第二解調(diào)公式中,所述PosN的絕對(duì)值和所述PosQ的絕對(duì)值中較小的絕對(duì)值包含在分子中,而較大的絕對(duì)值則包含在分母中。18.如權(quán)利要求17所述的盤裝置,其中,所述控制單元的第一解調(diào)公式由以下兩個(gè)解調(diào)公式組成當(dāng)所述PosN的絕對(duì)值等于或小于所述PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,在該公式中,所述PosN包含在分子中,而所述PosQ的絕對(duì)值、以及所述預(yù)定比值加1所得的和的兩倍則包含在分母中;以及當(dāng)所述PosN的絕對(duì)值大于所述PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,在該公式中,所述PosQ包含在分子中,而所述PosN的絕對(duì)值、以及所述預(yù)定比值加1所得的和的兩倍則包含在分母中。19.如權(quán)利要求17所述的盤裝置,其中,所述控制單元的第二解調(diào)公式由以下兩個(gè)解調(diào)公式組成當(dāng)所述PosN的絕對(duì)值等于或小于所述PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,在該公式中,所述PosN包含在分子中,而所述PosN的絕對(duì)值與所述PosQ的絕對(duì)值相加之和的兩倍則包含在分母中;以及當(dāng)所述PosN的絕對(duì)值大于所述PosQ的絕對(duì)值時(shí)所使用的解調(diào)公式,在該公式中,所述PosQ包含在分子中,而所述PosN的絕對(duì)值與所述PosQ的絕對(duì)值相加之和的兩倍則包含在分母中。20.如權(quán)利要求14所述的盤裝置,其中,所述控制單元由所述頭位于預(yù)定的磁道位置時(shí)的PosQ值、以及所述頭位于距所述磁道位置1/4磁道遠(yuǎn)的位置時(shí)的PosQ值,來測(cè)量所述預(yù)定比值。全文摘要通過從頭的輸出中得到的二相伺服信號(hào)PosN和PosQ來解調(diào)頭位置,從而獲得更精確的解調(diào)位置。由PosN和PosQ的各自絕對(duì)值之間的比值來判斷PosN和PosQ的飽和,對(duì)于飽和區(qū)域和非飽和區(qū)域使用不同的解調(diào)方法,并且解調(diào)公式被構(gòu)造為使得每個(gè)解調(diào)區(qū)域的邊沿與相鄰解調(diào)區(qū)域的邊沿相匹配。另外,通過比較PosN的絕對(duì)值和PosQ的絕對(duì)值,并確定其比值是大于還是小于預(yù)定的飽和系數(shù)r,來判斷是飽和還是非飽和。文檔編號(hào)G11B5/596GK1577591SQ200410037480公開日2005年2月9日申請(qǐng)日期2004年4月29日優(yōu)先權(quán)日2003年6月30日發(fā)明者高石和彥申請(qǐng)人:富士通株式會(huì)社
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