本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理,尤其涉及基線分析方法、裝置、設(shè)備與計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、在大數(shù)據(jù)分析領(lǐng)域,基線分析被廣泛使用在各類業(yè)務(wù)場(chǎng)景中。大部分基線模型需要根據(jù)業(yè)務(wù)的不同來進(jìn)行定制開發(fā),從而滿足各類業(yè)務(wù)場(chǎng)景的使用需求。
2、然而,現(xiàn)有基于文件型存儲(chǔ)的基線分析器在交互的過程中數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和讀取速度慢,查詢效率低,并且無法進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)整。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明的主要目的在于提供一種基線分析方法、裝置、設(shè)備與計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),旨在提供一種效率高,且可以動(dòng)態(tài)調(diào)整的基線分析方法。所述技術(shù)方案如下:
2、第一方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種基線分析方法,包括:
3、從內(nèi)存中的基線區(qū)獲取基線數(shù)據(jù),從內(nèi)存中的比較區(qū)中獲取基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù);
4、基于基線分析邏輯參數(shù),將所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)與所述基線數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,得到所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的基線分析結(jié)果。
5、第二方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種基線分析裝置,包括:
6、數(shù)據(jù)獲取模塊,用于從內(nèi)存中的基線區(qū)獲取基線數(shù)據(jù),從內(nèi)存中的比較區(qū)中獲取基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù);
7、分析模塊,用于基于基線分析邏輯參數(shù),將所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)與所述基線數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,得到所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的基線分析結(jié)果。
8、第三方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種電子設(shè)備,所述設(shè)備包括:存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述方法的步驟。
9、第四方面,本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述方法的步驟。
10、在本申請(qǐng)實(shí)施例中,基于內(nèi)存存儲(chǔ)用于基線分析的基線數(shù)據(jù)和基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù),通過從內(nèi)存中的基線區(qū)獲取基線數(shù)據(jù),從內(nèi)存中的比較區(qū)中獲取基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù),基于基線分析邏輯參數(shù),將基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)與基線數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,得到基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的基線分析結(jié)果。通過內(nèi)存實(shí)現(xiàn)基線分析,在內(nèi)存中基線區(qū)和內(nèi)存區(qū)來存儲(chǔ)和讀取基線分析所需數(shù)據(jù),查詢效率高,并且在內(nèi)存中實(shí)現(xiàn)的基線分析方法,支持運(yùn)行中動(dòng)態(tài)地對(duì)于基線的各種參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,能夠使得基線分析方法更加靈活,提高基線分析方法的適用性。
1.一種基線分析方法,其特征在于,包括:
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述從內(nèi)存中的基線區(qū)獲取基線數(shù)據(jù),從內(nèi)存中的比較區(qū)獲取基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)之前,還包括:
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于基線分析周期,獲取所述基線分析周期對(duì)應(yīng)時(shí)間范圍內(nèi)的基線數(shù)據(jù)和基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù),并將所述基線數(shù)據(jù)存入基線區(qū),所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)存入比較區(qū),包括:
4.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于基線分析周期,獲取所述基線分析周期對(duì)應(yīng)時(shí)間范圍內(nèi)的基線數(shù)據(jù)和基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù),并將所述基線數(shù)據(jù)存入基線區(qū),所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)存入比較區(qū)之后,還包括:
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于基線分析邏輯參數(shù),將所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)與所述基線數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,得到所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的基線分析結(jié)果之前,還包括:
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述基于預(yù)定義分析維度,確認(rèn)所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的基線分析邏輯參數(shù)之后,還包括:
7.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于基線分析邏輯參數(shù),將所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)與所述基線數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,得到所述基線檢測(cè)對(duì)象數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的基線分析結(jié)果之后,還包括:
8.一種基線分析裝置,其特征在于,所述裝置包括:
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括:處理器和存儲(chǔ)器;其中存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序適于由所述處理器加載并執(zhí)行如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述方法的步驟。
10.一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì),所述計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述方法的步驟。