一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法和電容式觸摸裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法和電容式觸摸裝置，該校準(zhǔn)方法能夠準(zhǔn)確校準(zhǔn)所述電容式觸摸屏的基準(zhǔn)電容值，進(jìn)而防止對(duì)電容式觸摸屏的操作失效。該方法包括：所述電容式觸摸屏上電時(shí)，獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值；根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。本發(fā)明實(shí)施例適用于觸摸屏檢測(cè)領(lǐng)域。
【專利說明】一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法和電容式觸摸裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及觸摸屏檢測(cè)【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法和電容式觸摸裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，觸摸屏已經(jīng)逐漸取代機(jī)械式按鈕面板成為電子設(shè)備領(lǐng)域新的人機(jī)交互手段。在各種類型的觸摸屏中，電容式觸摸屏由于其透光率、清晰度和可靠性更好，而被應(yīng)用于越來越多的電子設(shè)備中。
[0003]電容式觸摸屏是基于觸摸屏上的電容變化來判斷是否有觸摸操作。所以電容式觸摸屏在上電時(shí)，首先要獲取電容式觸摸屏上無干擾時(shí)的基準(zhǔn)電容值，據(jù)此基準(zhǔn)電容值作參考來檢測(cè)觸摸屏上的電容變化，以此來判斷觸摸屏上是否有觸摸操作。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)中，記載了以下兩種基準(zhǔn)電容值的校準(zhǔn)方法:
[0005]I)對(duì)于在獲取基準(zhǔn)電容值時(shí)觸摸屏上有異物(如水潰)的情況，一旦異物被去除后，觸摸屏的電容會(huì)產(chǎn)生變化。此時(shí)觸摸屏檢測(cè)到該電容變化值持續(xù)的時(shí)間超過一定時(shí)間后，該觸摸屏?xí)?qiáng)制更新該基準(zhǔn)電容值。但是，采用該校準(zhǔn)方法會(huì)使得人手故意長時(shí)間按壓時(shí)也更新基準(zhǔn)電容值，從而造成誤校準(zhǔn)，且可能導(dǎo)致正常觸摸操作失效。
[0006]2)對(duì)于在獲取基準(zhǔn)電容值時(shí)觸摸屏上有大面積按壓(如人手按壓)的情況，一旦人手撤走后，觸摸屏檢測(cè)的電容變化值會(huì)出現(xiàn)多個(gè)正負(fù)值，在該正負(fù)值比例達(dá)到一定的閾值時(shí)，觸摸屏?xí)?duì)基準(zhǔn)電容值進(jìn)行校準(zhǔn)。但是，該校準(zhǔn)方法中，首先正負(fù)值的比例很難準(zhǔn)確定義，且可能由于觸摸屏周圍存在導(dǎo)體或充電設(shè)備，會(huì)對(duì)觸摸屏的電容值產(chǎn)生影響，所以該校準(zhǔn)方法不穩(wěn)定，會(huì)造成誤校準(zhǔn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明實(shí)施例提供了 一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法和電容式觸摸裝置，能夠?qū)﹄娙菔接|摸屏進(jìn)行校準(zhǔn)，且避免電容式觸摸屏校準(zhǔn)錯(cuò)誤，進(jìn)而防止對(duì)電容式觸摸屏操作失效。
[0008]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:
[0009]第一方面，提供了一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法，該方法包括:
[0010]在所述電容式觸摸屏上電時(shí)，獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0011]獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值；
[0012]根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0013]在第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第一方面，根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:
[0014]若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值；
[0015]若所述第一差值大于所述預(yù)設(shè)的第一閾值，獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的當(dāng)時(shí)的檢測(cè)電容值；
[0016]獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的
第二差值；
[0017]根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0018]在第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:
[0019]若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0020]若所述第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，獲得所述第二差值與所述第一差值之差的第二差值；
[0021]根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0022]在第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:
[0023]若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值；
[0024]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0025]在第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，該方法還包括:
[0026]若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，還將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0027]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，還將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0028]在第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式或第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式，該方法還包括:
[0029]若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0030]若所述第三差值小于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值；
[0031]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0032]第二方面，提供了一種電容式觸摸裝置，所述電容式觸摸裝置包括電容式觸摸屏，該電容式觸摸裝置還包括:處理器；
[0033]所述處理器，用于在所述電容式觸摸屏上電時(shí)，獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，以及所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的
第一差值；
[0034]所述處理器，還用于根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0035]在第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第二方面，所述處理器根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:[0036]若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，所述處理器將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值；
[0037]若所述第一差值大于所述預(yù)設(shè)的第一閾值，所述處理器獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值；
[0038]獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的
第二差值；
[0039]根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0040]在第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第一種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述處理器根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:
[0041]若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，所述處理器將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0042]若所述第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，所述處理器獲得所述第二差值與所述
第一差值之差的第二差值；
[0043]根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0044]在第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第二種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述處理器根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:
[0045]若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值；
[0046]若所述第三差值大于預(yù)設(shè)的第三閾值，所述處理器將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0047]在第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合第三種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述處理器還用于:
[0048]若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，所述處理器還將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0049]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，所述處理器還將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0050]在第五種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，結(jié)合三種可能的實(shí)現(xiàn)方式或第四種可能的實(shí)現(xiàn)方式，所述處理器還用于:
[0051]若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，所述處理器將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0052]若所述第三差值小于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，所述處理器將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值；
[0053]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，所述處理器將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0054]基于上述技術(shù)方案的描述，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法和觸摸裝置，由于電容式觸摸屏的基準(zhǔn)電容值可能會(huì)受到外界環(huán)境(如溫度、濕度等)的影響，還有可能受到外界干擾(如觸摸屏上有異物或人手觸摸時(shí))，所以該方法根據(jù)該觸摸屏的觸摸點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值和觸摸屏上電時(shí)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值，來確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值，其中備份基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏在某一環(huán)境下，無干擾時(shí)的基準(zhǔn)電容值，臨時(shí)基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏本次上電時(shí)所處的環(huán)境及干擾狀況下檢測(cè)的基準(zhǔn)電容值。
[0055]這樣首先該觸摸裝置在所述電容式觸摸屏上電時(shí)，首先獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，然后獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值，若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，則說明所述觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境很接近，且可以認(rèn)為所述觸摸屏上電時(shí)沒有受到干擾，可以將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值。
[0056]而當(dāng)?shù)谝徊钪荡笥谒鲱A(yù)設(shè)的第一閾值，則說明所述觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境相差很大或所述觸摸屏上電時(shí)受到干擾。那么該觸摸裝置還需要進(jìn)一步對(duì)該觸摸點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)。由于所述電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法和觸摸裝置考慮了備份基準(zhǔn)電容值，使得所述觸摸屏的校準(zhǔn)有了參考，使得該校準(zhǔn)方法能夠更精細(xì)的對(duì)所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值進(jìn)行校準(zhǔn)，而不是在觸摸屏上電時(shí)對(duì)該觸摸屏的電容值直接進(jìn)行檢測(cè)校準(zhǔn)，進(jìn)而防止對(duì)觸摸屏的操作失效。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0057]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0058]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法流程示意圖；
[0059]圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法流程示意圖；
[0060]圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種觸摸裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0061]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0062]實(shí)施例一、
[0063]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法，具體如圖1所示，該方法包括:
[0064]101、所述電容式觸摸屏上電時(shí)，所述電容式觸摸裝置獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0065]其中，所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值為每次電容式觸摸屏上電時(shí)，所述電容式觸摸裝置所獲取的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的采樣電容值。例如，當(dāng)具有電容式觸摸屏的手機(jī)剛開機(jī)時(shí)，手機(jī)會(huì)將此刻觸摸檢測(cè)點(diǎn)的采樣電容值作為所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0066]102、所述電容式觸摸裝置獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值。
[0067]所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏在某一環(huán)境下，無干擾時(shí)的基準(zhǔn)電容值。[0068]具體的，該備份基準(zhǔn)電容值可以是該觸摸屏在出廠時(shí)設(shè)置的電容值。當(dāng)然也可以是通過該方法校準(zhǔn)后的基準(zhǔn)電容值。
[0069]103、根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0070]所述基準(zhǔn)電容值為所述電容式觸摸裝置檢測(cè)是否有觸摸操作時(shí)，使用的電容值。具體的，所述電容式觸摸裝置檢測(cè)是否有觸摸操作時(shí)，是將檢測(cè)到的電容值與此基準(zhǔn)電容值進(jìn)行比較來判斷。
[0071]根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體可以是:若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的環(huán)境沒有發(fā)生變化，可以選擇將所述備份基準(zhǔn)電容值作為基準(zhǔn)電容值，也可以選擇將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為基準(zhǔn)電容值。若所述第一差值大于預(yù)設(shè)的第一閾值，說明可能所述觸摸點(diǎn)受到了干擾或所述觸摸點(diǎn)的環(huán)境發(fā)生了變化，該備份基準(zhǔn)電容值和臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為基準(zhǔn)電容值都不準(zhǔn)確，會(huì)造成誤操作，這樣所述觸摸屏可以采用其它方法對(duì)該觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值進(jìn)行校準(zhǔn)。具體的，可以在預(yù)設(shè)的時(shí)間結(jié)束后，可以重新獲取所述觸摸點(diǎn)的電容值，將重新獲取的電容值可以作為基準(zhǔn)電容值。當(dāng)然，還可以采用其它方式對(duì)觸摸點(diǎn)的電容值進(jìn)行校準(zhǔn)，本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不作具體限定。
[0072]基于上述技術(shù)方案的描述，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法，由于電容式觸摸屏的基準(zhǔn)電容值可能會(huì)受到外界環(huán)境(如溫度、濕度等)的影響，還有可能受到外界干擾(如觸摸屏上有異物或人手觸摸時(shí))，所以該方法根據(jù)該觸摸屏的觸摸點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值和觸摸屏上電時(shí)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值，來確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值，其中備份基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏在某一環(huán)境下，無干擾時(shí)的基準(zhǔn)電容值，臨時(shí)基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏本次上電時(shí)所處的環(huán)境及干擾狀況下檢測(cè)的基準(zhǔn)電容值。
[0073]這樣首先該觸摸裝置在所述電容式觸摸屏上電時(shí)，首先獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，然后獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值，若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，則說明所述觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境很接近，且可以認(rèn)為所述觸摸屏上電時(shí)沒有受到干擾，可以將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值。
[0074]而當(dāng)?shù)谝徊钪荡笥谒鲱A(yù)設(shè)的第一閾值，則說明所述觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境相差很大或所述觸摸屏上電時(shí)受到干擾。那么該觸摸裝置還需要進(jìn)一步對(duì)該觸摸點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)。由于所述電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法考慮了備份基準(zhǔn)電容值，使得所述觸摸屏的校準(zhǔn)有了參考，使得該校準(zhǔn)方法能夠更精細(xì)的對(duì)所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值進(jìn)行校準(zhǔn)，而不是在觸摸屏上電時(shí)對(duì)該觸摸屏的電容值直接進(jìn)行檢測(cè)校準(zhǔn)，進(jìn)而防止對(duì)觸摸屏的操作失效。
[0075]實(shí)施例二、
[0076]本發(fā)明實(shí)施例提供了 一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法，具體如圖2所示，該方法包括:
[0077]201、所述電容式觸摸屏上電時(shí)，所述電容式觸摸裝置獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0078]其中，所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值為每次電容式觸摸屏上電時(shí)，所述電容式觸摸裝置所獲取的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的采樣電容值。例如，當(dāng)具有電容式觸摸屏的手機(jī)剛開機(jī)時(shí)，手機(jī)會(huì)將此刻觸摸檢測(cè)點(diǎn)的采樣電容值作為所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0079]202、所述電容式觸摸裝置獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值。
[0080]所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏在某一環(huán)境下，無干擾時(shí)的基準(zhǔn)電容值。
[0081]具體的，該備份基準(zhǔn)電容值可以是該觸摸屏在出廠時(shí)設(shè)置的電容值。當(dāng)然也可以是通過該方法校準(zhǔn)后的基準(zhǔn)電容值。
[0082]所述基準(zhǔn)電容值為所述電容式觸摸裝置檢測(cè)是否有觸摸操作時(shí)，使用的電容值。具體的，所述電容式觸摸裝置檢測(cè)是否有觸摸操作時(shí)，是將檢測(cè)到的電容值與此基準(zhǔn)電容值進(jìn)行比較來判斷。
[0083]假設(shè)所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值為a，臨時(shí)基準(zhǔn)電容值為b,第一差值為I,貝丨J I = a-bo
[0084]203、若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，所述電容式觸摸裝置將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值。
[0085]假設(shè)預(yù)設(shè)的第一閾值為O，基準(zhǔn)電容值為C，則當(dāng)I < O時(shí)，說明獲取所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況接近，考慮到臨時(shí)基準(zhǔn)實(shí)際是由當(dāng)時(shí)的檢測(cè)值獲得的，它更接近實(shí)際情況，也可使觸摸效果更好，此時(shí)所述備份將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值可以作為所述基準(zhǔn)電容值，即基準(zhǔn)電容值c = b。
[0086]204、若所述第一差值大于預(yù)設(shè)的第一閾值，所述電容式觸摸裝置獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值。
[0087]當(dāng)I> ο時(shí)，說明獲取所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況與檢測(cè)備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比發(fā)生了變化，和/或所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)受到了干擾。例如，所述電容式觸摸屏所在環(huán)境的溫濕度發(fā)生變化、該觸摸檢測(cè)點(diǎn)有水潰等干擾等。
[0088]為了獲得準(zhǔn)確的基準(zhǔn)電容值，此時(shí)該電容式觸摸裝置還需要進(jìn)一步的獲取所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的檢測(cè)電容值。
[0089]205、所述電容式觸摸裝置獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第二差值。
[0090]假設(shè)所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值為d，第二差值為m，則m = d_b。
[0091]206、若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，所述電容式觸摸裝置將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0092]假設(shè)所述預(yù)設(shè)的第二閾值為p，當(dāng)m < P時(shí)，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況接近，但與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比發(fā)生了變化。如，所述電容式觸摸屏所在環(huán)境的溫濕度發(fā)生了變化。此時(shí)該電容式觸摸裝置將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值，即c = b。
[0093]207、若所述第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，所述電容式觸摸裝置獲得所述第
二差值與所述第一差值之差的第三差值。
[0094]若所述第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比可能發(fā)生了變化，也可能是所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)受到了干擾，從而導(dǎo)致所述檢測(cè)電容值與所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值的差值較大。[0095]為了獲得準(zhǔn)確的基準(zhǔn)電容值，此時(shí)該觸摸裝置還需要進(jìn)一步的獲取所述第二差值與所述第一差值之差的第三差值。
[0096]假設(shè)第三差值為η,當(dāng) m > P,獲得 n = m_l = (d-b)-(a_b) = d_a。
[0097]208、若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，所述電容式觸摸裝置將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值。
[0098]假設(shè)第三閾值為q，當(dāng)η < q，也即d_a < q時(shí)，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況又與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況接近，這樣可確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)在檢測(cè)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)受到了干擾。
[0099]此時(shí)該電容式觸摸裝置將所述備份基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值，即c = a。
[0100]209、若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，所述電容式觸摸裝置將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0101]當(dāng)η > q，也即d_a > q時(shí)，說明不僅僅是所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)在獲取所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)受到了干擾，同時(shí)所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比也發(fā)生了變化，例如當(dāng)所述觸摸屏遭遇溫濕度變化，同時(shí)手大面積按壓上電的情況，此時(shí)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值與所述備份基準(zhǔn)電容值均不能作為所述基準(zhǔn)電容值，而是將所述檢測(cè)電容值作為所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值，即c = d。
[0102]可選的，若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，即當(dāng)m < P時(shí)，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比發(fā)生了變化。通常情況下，該觸摸屏所處的環(huán)境狀況在一段時(shí)間內(nèi)變化不是很大，但出廠時(shí)檢測(cè)該備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境狀況與所述電容式觸摸屏當(dāng)前的環(huán)境狀況可能變化較大，這樣為了簡化該電容式觸摸裝置的校準(zhǔn)基準(zhǔn)電容值的過程，若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，還可以將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，即a = b，這樣在下次開機(jī)時(shí)，若該觸摸屏沒有受到干擾，且與上次上電時(shí)的環(huán)境狀況接近，該電容式觸摸裝置僅通過對(duì)所述第一閾值的判斷就可以更新所述基準(zhǔn)電容值。
[0103]同樣，為了簡化下次的校準(zhǔn)過程，若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，可以將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0104]可選的，當(dāng)所述觸摸裝置所在的環(huán)境發(fā)生變化，和/或所述觸摸裝置受到外界干擾時(shí)，對(duì)所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)后，也可以將其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值也更新為觸摸檢測(cè)點(diǎn)校準(zhǔn)后的基準(zhǔn)電容值，具體過程為:
[0105]若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0106]若所述第三差值小于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值；
[0107]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0108]基于上述技術(shù)方案的描述，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法，由于電容式觸摸屏的基準(zhǔn)電容值可能會(huì)受到外界環(huán)境(如溫度、濕度等)的影響，還有可能受到外界干擾(如觸摸屏上有異物或人手觸摸時(shí))，所以該方法引入了備份基準(zhǔn)電容值、觸摸屏上電時(shí)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值和檢測(cè)電容值，其中備份基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏在某一環(huán)境下，無干擾時(shí)的基準(zhǔn)電容值，臨時(shí)基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏本次上電時(shí)所處的環(huán)境及干擾狀況下檢測(cè)的基準(zhǔn)電容值，檢測(cè)電容值是該觸摸屏在上電后的各檢測(cè)時(shí)刻檢測(cè)獲得的電容值。
[0109]這樣首先該觸摸裝置在所述電容式觸摸屏上電時(shí)，首先獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，然后獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值，若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，則說明所述觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境很接近，且可以認(rèn)為所述觸摸屏上電時(shí)沒有受到干擾，可以將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值。
[0110]而當(dāng)?shù)谝徊钪荡笥谒鲱A(yù)設(shè)的第一閾值，則說明所述觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境相差很大或所述觸摸屏上電時(shí)受到干擾。然后獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值及所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第二差值。若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，則說明該觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境不同，此時(shí)確定所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值為臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0111]反之若該第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，獲得所述第二差值與所述第一差值之差的第三差值，若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，則說明所述觸摸屏上電后所處的環(huán)境又與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境相差不大，但所述觸摸屏上電時(shí)受到了干擾，則將所述備份基準(zhǔn)電容值確定為所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值。
[0112]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，則說明所述觸摸屏上電后所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境相差較大，且上電時(shí)受到了干擾，則將所述基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0113]由于所述電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法考慮了環(huán)境變化和干擾的情況，所以該校準(zhǔn)方法能夠準(zhǔn)確校準(zhǔn)所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值，進(jìn)而防止對(duì)觸摸屏的操作失效。
[0114]實(shí)施例三、
[0115]本發(fā)明實(shí)施例還提供了 一種電容式觸摸裝置30，所述電容式觸摸屏裝置30包括電容式觸摸屏31，具體如圖3所示，該觸摸裝置30還包括處理器32。
[0116]所述處理器32，用于在所述電容式觸摸屏31上電時(shí)，獲得所述電容式觸摸屏31的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，以及所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值。
[0117]其中，所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值為每次電容式觸摸屏31上電時(shí)，所述電容式觸摸裝置30所獲取的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的采樣電容值。例如，當(dāng)具有電容式觸摸屏的手機(jī)剛開機(jī)時(shí)，手機(jī)會(huì)將此刻觸摸檢測(cè)點(diǎn)的采樣電容值作為所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0118]所述備份基準(zhǔn)電容值為該觸摸屏在某一環(huán)境下，無干擾時(shí)的基準(zhǔn)電容值。具體的，該備份基準(zhǔn)電容值可以是該觸摸屏在出廠時(shí)設(shè)置的電容值。當(dāng)然也可以是通過該方法校準(zhǔn)后的基準(zhǔn)電容值。
[0119]所述處理器32，還用于根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0120]其中，所述基準(zhǔn)電容值為所述電容式觸摸裝置30檢測(cè)是否有觸摸操作時(shí)，使用的電容值。具體的，所述電容式觸摸裝置30檢測(cè)是否有觸摸操作時(shí)，是將檢測(cè)到的電容值與此基準(zhǔn)電容值進(jìn)行比較來判斷。
[0121]所述處理器32根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值可以是:若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的環(huán)境沒有發(fā)生變化，可以選擇將所述備份基準(zhǔn)電容值作為基準(zhǔn)電容值，也可以選擇將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為基準(zhǔn)電容值。若所述第一差值大于預(yù)設(shè)的第一閾值，說明可能所述觸摸點(diǎn)受到了干擾或所述觸摸點(diǎn)的環(huán)境發(fā)生了變化，該備份基準(zhǔn)電容值和臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為基準(zhǔn)電容值都不準(zhǔn)確，會(huì)造成誤操作，這樣所述觸摸屏可以采用其它方法對(duì)該觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值進(jìn)行校準(zhǔn)。具體的，可以在預(yù)設(shè)的時(shí)間結(jié)束后，可以重新獲取所述觸摸點(diǎn)的電容值，將重新獲取的電容值可以作為基準(zhǔn)電容值。當(dāng)然，還可以采用其它方式對(duì)觸摸點(diǎn)的電容值進(jìn)行校準(zhǔn)，本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不作具體限定。
[0122]可選的，所述處理器32根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:
[0123]若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，將所述備份基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值；
[0124]若所述第一差值大于所述預(yù)設(shè)的第一閾值，獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值；
[0125]獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的
第二差值；
[0126]根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0127]若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，說明獲取所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況接近，考慮到所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值實(shí)際是由當(dāng)時(shí)的檢測(cè)值獲得的，它更接近實(shí)際情況，也可使觸摸效果更好，此時(shí)將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值。
[0128]若所述第一差值大于預(yù)設(shè)的第一閾值，說明獲取所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況與檢測(cè)備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比發(fā)生了變化，和/或所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)受到了干擾。例如，所述電容式觸摸屏31所在環(huán)境的溫濕度發(fā)生變化、該觸摸檢測(cè)點(diǎn)有水潰等干擾等。為了獲得準(zhǔn)確的基準(zhǔn)電容值，此時(shí)所述處理器32還需要進(jìn)一步的獲取所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的檢測(cè)電容值。
[0129]可選的，所述處理器32根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:
[0130]若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0131]若所述第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，獲得所述第二差值與所述第一差值之差的第二差值；
[0132]根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
[0133]若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的所述第二閾值，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況接近，但與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比發(fā)生了變化。如，所述電容式觸摸屏31所在環(huán)境的溫濕度發(fā)生了變化。此時(shí)該處理器32將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值。[0134]若所述第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比可能發(fā)生了變化，也可能是所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)受到了干擾，從而導(dǎo)致所述檢測(cè)電容值與所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值的差值較大。為了獲得準(zhǔn)確的基準(zhǔn)電容值，此時(shí)該處理器32還需要進(jìn)一步的獲取所述第二差值與所述第一差值之差的第二差值。
[0135]可選的，所述處理器根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括:
[0136]若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值；
[0137]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0138]若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況又與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境接近，這樣可確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)在檢測(cè)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)受到了干擾。此時(shí)該處理器32將所述備份基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值。
[0139]若所述第三差值大于預(yù)設(shè)的所述第三閾值，說明不僅僅是所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)在獲取所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)受到了干擾，同時(shí)所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比也發(fā)生了變化，例如當(dāng)所述電容式觸摸屏31遭遇溫濕度變化的同時(shí)，手大面積按壓上電的情況，此時(shí)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值與所述備份基準(zhǔn)電容值均不能作為所述基準(zhǔn)電容值，而是將所述檢測(cè)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值。
[0140]可選的，所述處理器32還用于，若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0141]若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，說明所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)當(dāng)前的環(huán)境狀況與檢測(cè)所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況接近，但與檢測(cè)所述備份基準(zhǔn)電容值時(shí)的環(huán)境狀況相比發(fā)生了變化。為了簡化該電容式觸摸裝置30的校準(zhǔn)基準(zhǔn)電容值的過程，此時(shí)所述處理器32可以將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，這樣在下次開機(jī)時(shí)，若該觸摸屏31沒有受到干擾，且與上次上電時(shí)的環(huán)境接近，該電容式觸摸裝置30僅通過對(duì)所述第一閾值的判斷就可以更新所述基準(zhǔn)電容值。
[0142]所述處理器32，還用于若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，還將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0143]可選的，當(dāng)所述觸摸裝置30所在的環(huán)境發(fā)生變化，和/或所述觸摸裝置30受到外界干擾時(shí)，對(duì)所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)后，也可以將其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值也更新為觸摸檢測(cè)點(diǎn)校準(zhǔn)后的基準(zhǔn)電容值。因此所述處理器32還用于:
[0144]若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸屏31的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值；
[0145]若所述第三差值小于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏31的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值；
[0146]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏31的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0147]基于上述技術(shù)方案的描述，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種電容式觸摸裝置，該觸摸裝置包括電容式觸摸屏和處理器，由于電容式觸摸屏的基準(zhǔn)電容值可能會(huì)受到外界環(huán)境(如溫度、濕度等)的影響，還有可能受到外界干擾(如觸摸屏上有異物或人手觸摸時(shí))，所以所述處理器在所述電容式觸摸屏上電時(shí)，首先獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，然后獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值，若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，則說明所述觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境很接近，且可以認(rèn)為所述觸摸屏上電時(shí)沒有受到干擾，可以將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值。
[0148]而當(dāng)?shù)谝徊钪荡笥谒鲱A(yù)設(shè)的第一閾值，則說明所述觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境相差很大或所述觸摸屏上電時(shí)受到干擾。然后獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值及所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第二差值。若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，則說明該觸摸屏上電時(shí)所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境不同，此時(shí)確定所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值為臨時(shí)基準(zhǔn)電容值。
[0149]反之若該第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，獲得所述第二差值與所述第一差值之差的第三差值，若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，則說明所述觸摸屏上電后所處的環(huán)境又與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境相差不大，但所述觸摸屏上電時(shí)受到了干擾，則將所述備份基準(zhǔn)電容值確定為所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值。
[0150]若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，則說明所述觸摸屏上電后所處的環(huán)境與測(cè)量備份基準(zhǔn)電容值的環(huán)境相差較大，且上電時(shí)受到了干擾，則將所述基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
[0151]由于所述電容式觸摸裝置考慮了環(huán)境變化和干擾的情況，該電容式觸摸裝置能夠準(zhǔn)確校準(zhǔn)所述觸摸屏的基準(zhǔn)電容值，進(jìn)而防止對(duì)觸摸屏的操作失效。
[0152]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實(shí)現(xiàn)上述方法實(shí)施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成，前述的程序可以存儲(chǔ)于一計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，執(zhí)行包括上述方法實(shí)施例的步驟；而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括:R0M、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。
[0153]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種電容式觸摸屏的校準(zhǔn)方法，其特征在于，該方法包括: 所述電容式觸摸屏上電時(shí)，獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值； 獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值; 根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括: 若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，將所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值； 若所述第一差值大于預(yù)設(shè)的第一閾值，獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值； 獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第二差值; 根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括: 若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值； 若所述第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，獲得所述第二差值與所述第一差值之差的第二差值; 根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括: 若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值； 若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，該方法還包括: 若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，還將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值； 若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，還將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的方法，其特征在于，該方法還包括: 若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值； 若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值； 若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
7.一種電容式觸摸裝置，所述觸摸裝置包括電容式觸摸屏，其特征在于，所述觸摸裝置還包括處理器；所述處理器，用于在所述電容式觸摸屏上電時(shí)，獲得所述電容式觸摸屏的觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值，以及所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)備份基準(zhǔn)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第一差值； 所述處理器，還用于根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸摸裝置，其特征在于，所述處理器根據(jù)所述第一差值和預(yù)設(shè)的第一閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括: 若所述第一差值小于預(yù)設(shè)的第一閾值，將所述備份基準(zhǔn)電容值作為所述基準(zhǔn)電容值；若所述第一差值大于所述預(yù)設(shè)的第一閾值，獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值；獲得所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的檢測(cè)電容值與所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值之差的第二差值; 根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的觸摸裝置，其特征在于，所述處理器根據(jù)所述第二差值和預(yù)設(shè)的第二閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括: 若所述第二差值小于預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值； 若所述第二差值大于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，獲得所述第二差值與所述第一差值之差的第二差值; 根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的觸摸裝置，其特征在于，所述處理器根據(jù)所述第三差值和預(yù)設(shè)的第三閾值確定所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值具體包括: 若所述第三差值小于預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值； 若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的觸摸裝置，其特征在于，所述處理器還用于， 若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述臨時(shí)基準(zhǔn)電容值； 若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，還將所述備份基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
12.根據(jù)權(quán)利要求10或11所述的觸摸裝置，其特征在于，所述處理器還用于， 若所述第二差值小于所述預(yù)設(shè)的第二閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述的臨時(shí)基準(zhǔn)電容值； 若所述第三差值小于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述備份基準(zhǔn)電容值； 若所述第三差值大于所述預(yù)設(shè)的第三閾值，將所述觸摸屏的其它觸摸檢測(cè)點(diǎn)的基準(zhǔn)電容值更新為所述檢測(cè)電容值。
【文檔編號(hào)】G06F3/044GK103677452SQ201210315508
【公開日】2014年3月26日 申請(qǐng)日期:2012年8月30日 優(yōu)先權(quán)日:2012年8月30日
【發(fā)明者】劉海龍, 周錦 申請(qǐng)人:華為終端有限公司