專利名稱：鍵盤測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
鍵盤測(cè)試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試系統(tǒng)，特別涉及一種應(yīng)用于一便攜式電子產(chǎn)品如一筆記 本電腦的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
鍵盤是計(jì)算機(jī)主要的輸入設(shè)備，對(duì)鍵盤進(jìn)行功能測(cè)試以確保鍵盤能夠正常輸入在 計(jì)算機(jī)制造領(lǐng)域是必不可少的。鍵盤主要由內(nèi)部控制電路及外部按鍵組成。鍵盤內(nèi)部的按鍵排線一般采取矩陣式 排列，由行信號(hào)線與列信號(hào)線組成，如圖1所示(僅以4X4鍵盤為例)，行列信號(hào)線在交叉 點(diǎn)處沒有直接相交，而通過設(shè)置一個(gè)開關(guān)選擇性地導(dǎo)通，每一開關(guān)對(duì)應(yīng)鍵盤外部的一個(gè)按 鍵。當(dāng)鍵盤上有按鍵被按下時(shí)，其對(duì)應(yīng)的開關(guān)導(dǎo)通，因而對(duì)應(yīng)的行列信號(hào)線被短路，然后通 過鍵盤掃描電路得到該按鍵的編碼信息。筆記本電腦的鍵盤控制電路是設(shè)置在主板上的，由主板來實(shí)現(xiàn)鍵盤功能。目前，各 家筆記本電腦廠商一般還是采取人工方式對(duì)筆記本電腦的鍵盤進(jìn)行測(cè)試，即作業(yè)員逐個(gè)按 下鍵盤上所有的按鍵進(jìn)行測(cè)試。一般筆記本電腦的鍵盤由84個(gè)按鍵組成，若敲打一個(gè)按鍵 以1秒的時(shí)間計(jì)算，則測(cè)試整個(gè)筆記本電腦的鍵盤大概需要80多秒的時(shí)間，因此，檢測(cè)效 率不高；而且人工檢測(cè)容易因?yàn)闄z測(cè)人員的疏忽導(dǎo)致檢測(cè)錯(cuò)誤，因此，檢測(cè)精度也不高 ’另 外，人工檢測(cè)需要大量人力，且在檢測(cè)過程中會(huì)產(chǎn)生鍵盤的損耗費(fèi)用，因此，成本比較高。

發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本實(shí)用新型的目的在于提供一種檢測(cè)效率及檢測(cè)精度比較高、成本比 較低的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)一主板的鍵盤功能進(jìn)行檢測(cè)， 其特征在于，該鍵盤測(cè)試系統(tǒng)包括—控制單元，用于輸出一執(zhí)行指令；一微處理器，與該控制單元相連以接收該執(zhí)行指令，并根據(jù)該執(zhí)行指令依次輸出 若干控制信號(hào)；一鍵盤開關(guān)單元，與該微處理器相連，該鍵盤開關(guān)單元包括若干電子開關(guān)，該若干 電子開關(guān)分別接收該微處理器輸出的若干控制信號(hào)并依次導(dǎo)通；一鍵盤接口，與該鍵盤開關(guān)單元的若干電子開關(guān)相連；以及 一主板，包括一鍵盤接口電路，該鍵盤接口電路通過該鍵盤接口與該鍵盤開關(guān)單 元的若干電子開關(guān)相連，當(dāng)該鍵盤開關(guān)單元內(nèi)的電子開關(guān)依次導(dǎo)通時(shí)該主板依次輸出對(duì)應(yīng) 按鍵的編碼信息。 相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型提供的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)通過該微處理器控制該鍵盤開 關(guān)單元中的若干電子開關(guān)依次導(dǎo)通，使主板依次輸出對(duì)應(yīng)按鍵的編碼信息，從而根據(jù)主板 輸出的編碼信息判斷該主板的鍵盤功能是否正常。本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)無需通過人工敲打鍵盤上的所有按鍵進(jìn)行檢測(cè)，因此，檢測(cè)效率及檢測(cè)速度比較高，且因節(jié)省人力及鍵盤 損耗費(fèi)用而降低了成本。

圖1繪示現(xiàn)有鍵盤內(nèi)部的按鍵排線示意圖。圖2繪示本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)所應(yīng)用的一筆記本電腦的外觀示意圖。圖3繪示本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)的較佳實(shí)施方式的內(nèi)部方框圖。圖4繪示本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中測(cè)試單元的較佳實(shí)施方式的電路圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖說明及較佳實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述請(qǐng)參考圖2及圖3，本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)的較佳實(shí)施方式用于對(duì)一筆記本電 腦1的鍵盤2進(jìn)行功能測(cè)試。該鍵盤測(cè)試系統(tǒng)包括一測(cè)試單元100、一主板200、一比較單 元300及一指示單元400。該測(cè)試單元100包括一控制單元110、一微處理器120、一鍵盤開 關(guān)單元130以及一鍵盤接口 140。該主板200包括一鍵盤接口電路210。該主板200設(shè)置 在該筆記本電腦1內(nèi)。請(qǐng)參考圖4，該控制單元110包括一控制開關(guān)SW1、兩電阻Rl、R2以及兩電容Cl、 C2。本較佳實(shí)施方式中，該控制開關(guān)SWl為一按鍵開關(guān)。該控制開關(guān)SWl的第一端1接地， 并通過該電容Cl與其第二端2相連。該控制開關(guān)SWl的第二端2通過該電阻Rl接一電源 VCC,并通過該電阻R2與該微處理器120相連。該控制開關(guān)SWl的第二端2還通過該電容 C2接地。該微處理器120為一可編程集成電路控制芯片，比如為一型號(hào)為80C51的控制芯 片。該微處理器120包括第一組輸入輸出引腳Pl. 0-P1. 7、第二組輸入輸出引腳P2. 0-P2. 7 以及一第三輸入輸出引腳P3.0。該微處理器120的第三輸入輸出引腳P3.0通過該電阻R2 與該控制開關(guān)SWl的第二端2相連。該微處理器120的第一組輸入輸出引腳PI. 0-P1. 7與 第二組輸入輸出引腳P2. 0-P2. 7與該鍵盤開關(guān)單元130相連。另外，為保證該微處理器120 可正常工作，該微處理器120還應(yīng)包括其它引腳如電源引腳、接地引腳以及時(shí)鐘引腳等，以 及該等引腳所對(duì)應(yīng)連接的電路如電源電路、時(shí)鐘電路等，此為現(xiàn)有技術(shù)，在此不再贅述。該鍵盤開關(guān)單元130包括十六個(gè)MOS (Metal Oxide Semiconductor，金屬氧化物半 導(dǎo)體)場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16。每一 MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16的柵極分別與該第一組輸入輸出引腳 Pl. 0-P1. 7及第二組輸入輸出引腳P2. 0-P1. 7對(duì)應(yīng)相連，并分別通過一電阻R3與其對(duì)應(yīng)的 源極相連。每一 MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16的源極分別與該鍵盤接口 140對(duì)應(yīng)的一輸入引腳相 連。每一 MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16的漏極分別通過一電阻R4與該鍵盤接口 140對(duì)應(yīng)的一輸出 引腳相連。在其它實(shí)施方式中，該十六個(gè)MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16還可為其它電子開關(guān)，如三 極管，也可以是MOS場(chǎng)效應(yīng)管與三極管等不同電子開關(guān)之組合。該鍵盤接口 140可為一連接器，其包括八個(gè)輸入引腳KI0-KI7以及十六個(gè)輸出引 腳K00-K015O該鍵盤接口 140的輸入引腳KI0-KI7及輸出引腳K00-K015與該主板200的 鍵盤接口電路210相連。在本較佳實(shí)施方式中，每一 MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16的源極及漏極均 對(duì)應(yīng)該鍵盤接口 140的一輸入引腳及一輸出引腳，但，任意兩個(gè)MOS場(chǎng)效應(yīng)管的漏極及源極所連接的鍵盤接口 140的輸入引腳及輸出引腳不完成相同，即如果有兩個(gè)MOS場(chǎng)效應(yīng)管的 源極連接到該鍵盤接口 140的同一個(gè)輸入引腳，則該兩個(gè)MOS場(chǎng)效應(yīng)管的漏極所連接的鍵 盤接口 140的輸出引腳一定不同，從而可控制筆記本電腦1的鍵盤2上不同的按鍵。請(qǐng)?jiān)俅螀⒖紙D1，圖1是以4X4的鍵盤矩陣排列形式為例，其按鍵排線由四條行信 號(hào)線P1-P4及四條列信號(hào)線L1-L4組成。該4X4的排列形式共產(chǎn)生十六個(gè)交叉點(diǎn)，每一交 叉點(diǎn)處均設(shè)置有一按鍵開關(guān)。現(xiàn)以行信號(hào)線PI、P12及列信號(hào)線Li、L2為例，行信號(hào)線Pl 與列信號(hào)線Ll的交叉點(diǎn)上設(shè)置有一按鍵開關(guān)K1，行信號(hào)線P2及列信號(hào)線L2的交叉點(diǎn)上 設(shè)置有一按鍵開關(guān)K2。根據(jù)圖1分析得知，若該按鍵開關(guān)Kl工作正常便可確定該行信號(hào) 線Pl與列信號(hào)線Ll工作正常；若該按鍵開關(guān)K2工作正常便可確定該行信號(hào)線21及列信 號(hào)線22工作正常。因此，在圖1中，只需要確定按鍵開關(guān)K1、K2、K3、K4工作正常便可確定 圖1中其它的按鍵也可正常工作，因而無需對(duì)每一按鍵進(jìn)行檢測(cè)?；谏鲜龇治霾⒔Y(jié)合該筆記本電腦1的內(nèi)部按鍵排線形式得知，該筆記本電腦1 的鍵盤2上的END鍵、HOME鍵、左SHIFT鍵、{鍵、％鍵、(鍵、F9鍵、*鍵、@鍵、E鍵、左WIN 鍵、左ALT鍵、右WIN鍵、右CTRL鍵、Fl鍵、FN鍵等十六個(gè)按鍵在按鍵排線中所處的位置與 圖1中的按鍵開關(guān)K1、K2、K3、K4 一致。因此，只需對(duì)上述十六個(gè)按鍵進(jìn)行測(cè)試便可確定整 個(gè)鍵盤2是否可正常工作，而無需對(duì)筆記本電腦1的鍵盤2上的所有按鍵一一進(jìn)行測(cè)試。因此，本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)通過該鍵盤開關(guān)單元130內(nèi)的十六個(gè)MOS場(chǎng)效應(yīng) 管Q1-Q16分別控制鍵盤的END鍵、HOME鍵、左SHIFT鍵、{鍵、％鍵、(鍵、F9鍵、*鍵、@ 鍵、E鍵、左WIN鍵、左ALT鍵、右WIN鍵、右CTRL鍵、Fl鍵、FN鍵等十六個(gè)按鍵，即用十六個(gè) MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16模擬上述十六個(gè)按鍵被按下的情景。比如，該MOS場(chǎng)效應(yīng)管Ql被用于 控制該鍵盤2上的END鍵時(shí)，則當(dāng)該MOS暢銷管Ql導(dǎo)通時(shí)即表示該鍵盤2上的END鍵被按 下，則該END鍵所在的行信號(hào)線及列信號(hào)線被短路，從而輸出該END鍵的按鍵編碼信息。因此，本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)中的微處理器120還對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)有一測(cè)試程序，使 第一組輸出引腳PI. 0-P1. 7及第二組輸入輸出引腳P2. 0及P2. 7能夠依次輸出高電平的控 制信號(hào)控制對(duì)應(yīng)的MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16依次導(dǎo)通，從而使該主板200上的上述十六個(gè)按鍵 所對(duì)應(yīng)的行列信號(hào)線依次被短路，以輸出上述十六個(gè)按鍵的編碼信息。該比較單元300用于存儲(chǔ)一標(biāo)準(zhǔn)編碼信息，即當(dāng)該鍵盤2上的END鍵、HOME鍵、左 SHIFT鍵、{鍵、％鍵、(鍵、F9鍵、*鍵、@鍵、E鍵、左WIN鍵、左ALT鍵、右WIN鍵、右CTRL 鍵、Fl鍵、FN鍵等十六個(gè)按鍵在正常工作時(shí)所輸出的編碼信息。該比較單元300還用于將 測(cè)試時(shí)該主板200輸出的按鍵編碼信息與該標(biāo)準(zhǔn)編碼信息進(jìn)行比對(duì)，以確認(rèn)該主板200的 鍵盤功能是否正常，并根據(jù)比較結(jié)果輸出一指示信號(hào)給該指示單元400。該指示單元400根 據(jù)該指示信號(hào)進(jìn)行指示以表明該主板200的鍵盤功能是否正常。其中，該指示單元400可 為一蜂鳴器或一指示燈。本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)的具體工作過程如下在一般情況下，該微處理器120 的第三輸入輸出引腳P3.0被該電源VCC拉成高電平。當(dāng)要對(duì)筆記本電腦1的鍵盤2進(jìn)行 功能測(cè)試時(shí)，按下控制單元100中的控制開關(guān)SWl使該微處理器120的輸入輸出引腳P3. 0 通過電阻R2接地，從而提供一低電平信號(hào)作為一執(zhí)行指令提供給該微處理器120的第三 輸入輸出引腳P3.0，該微處理器120接收到該執(zhí)行指令后便開始執(zhí)行其內(nèi)部存儲(chǔ)的測(cè)試程 序，使該微處理器120的第一組輸入輸出引腳PI. 0-P1. 7及第二組輸入輸出引腳P2. 0-P2. 7依次輸出高電平的控制信號(hào)控制十六個(gè)MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16依次導(dǎo)通，從而使該主板200 依次輸出END鍵、HOME鍵、左SHIFT鍵、{鍵、％鍵、(鍵、F9鍵、*鍵、@鍵、E鍵、左WIN鍵、 左ALT鍵、右WIN鍵、右CTRL鍵、Fl鍵、FN鍵等十六個(gè)按鍵的編碼信息。當(dāng)微處理器120內(nèi)部的測(cè)試程序執(zhí)行結(jié)束后，該比較單元300將該主板200輸出 的編碼信息與內(nèi)部存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)編碼信息進(jìn)行比對(duì)，若主板200輸出的按鍵編碼信息與該標(biāo) 準(zhǔn)編碼信息一致，則比較單元200輸出一指示信號(hào)給該指示單元400，該指示單元400根據(jù) 該指示信號(hào)進(jìn)行指示以表明該主板200的鍵盤功能正常。若主板200輸出的編碼信息與標(biāo) 準(zhǔn)編碼信息不一致，則比較單元200輸出另一指示信號(hào)給該指示單元400，該指示單元400 根據(jù)該另一指示信號(hào)進(jìn)行指示以表明該主板200的鍵盤功能不正常。在其它實(shí)施方式中，本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)還可包括一顯示屏，與該主板200 相連，用于顯示該標(biāo)準(zhǔn)編碼信息以及測(cè)試過程中該主板200輸出的按鍵編碼信息，從而可 更直觀地了解該鍵盤測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試結(jié)果。因此，在其它實(shí)施方式中，該比較單元300及指 示單元400也可被省略，而直接根據(jù)該主板200輸出的按鍵編碼信息來判斷該主板200的 鍵盤功能是否正常。另外，由于不同筆記本電腦的鍵盤的按鍵在按鍵排線中所處的位置可能不同，因 此，在其它實(shí)施方式中，該十六個(gè)MOS場(chǎng)效應(yīng)管Q1-Q16也可用于控制另一種筆記本電腦鍵 盤上的其它按鍵，只要該等按鍵在按鍵排線中所處的位置與本較佳實(shí)施方式中該筆記本電 腦1的END鍵、HOME鍵、左SHIFT鍵、{鍵、％鍵、(鍵、F9鍵、*鍵、@鍵、E鍵、左WIN鍵、 左ALT鍵、右WIN鍵、右CTRL鍵、Fl鍵、FN鍵所處的位置相同即可。另外，本實(shí)用新型鍵 盤測(cè)試系統(tǒng)還可用于測(cè)試其它便攜式電子產(chǎn)品的主板的鍵盤功能，如手機(jī)，PDA (Personal DigitalAssistant，個(gè)人工作助理)等，其測(cè)試原理與上述相同。
權(quán)利要求一種鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)一主板的鍵盤功能進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于，該鍵盤測(cè)試系統(tǒng)包括一控制單元，用于輸出一執(zhí)行指令；一微處理器，與該控制單元相連以接收該執(zhí)行指令，并根據(jù)該執(zhí)行指令依次輸出若干控制信號(hào)；一鍵盤開關(guān)單元，與該微處理器相連，該鍵盤開關(guān)單元包括若干電子開關(guān)，該若干電子開關(guān)分別接收該微處理器輸出的若干控制信號(hào)并依次導(dǎo)通；一鍵盤接口，與該鍵盤開關(guān)單元的若干電子開關(guān)相連；以及一主板，包括一鍵盤接口電路，該鍵盤接口電路通過該鍵盤接口與該鍵盤開關(guān)單元的若干電子開關(guān)相連，當(dāng)該鍵盤開關(guān)單元內(nèi)的電子開關(guān)依次導(dǎo)通時(shí)該主板依次輸出對(duì)應(yīng)按鍵的編碼信息。
2.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于還包括一比較單元，與該主板相 連，該比較單元預(yù)先存儲(chǔ)一標(biāo)準(zhǔn)編碼信息，并將該主板輸出的按鍵編碼信息與該標(biāo)準(zhǔn)編碼 信息進(jìn)行比對(duì)，以及根據(jù)比對(duì)結(jié)果輸出一指示信號(hào)。
3.如權(quán)利要求2所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于還包括一指示單元，與該比較單元 相連，以接收該比較單元輸出的指示信號(hào)并進(jìn)行指示。
4.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于還包括一顯示屏，與該主板相連， 以顯示該主板輸出的對(duì)應(yīng)按鍵的編碼信息。
5.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該控制單元包括一控制開關(guān)，該控 制開關(guān)的第一端接地，其第二端通過一電阻與該微處理器相連。
6.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該鍵盤開關(guān)單元包括十六個(gè)電子 開關(guān)。
7.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于每一該電子開關(guān)為一金屬氧化物 半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管。
8.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于每一該電子開關(guān)為一三極管。
9.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該若干電子開關(guān)為金屬氧化物半 導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管及三極管之組合。
10.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該主板上對(duì)應(yīng)的按鍵為一筆記本 電腦上的END鍵、HOME鍵、左SHIFT鍵、{鍵、％鍵、(鍵、F9鍵、*鍵、@鍵、E鍵、左WIN鍵、 左ALT鍵、右WIN鍵、右CTRL鍵、Fl鍵以及FN鍵。
專利摘要一種鍵盤測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)一主板的鍵盤功能進(jìn)行檢測(cè)，其包括一控制單元，用于輸出一執(zhí)行指令；一微處理器，接收該執(zhí)行指令，并根據(jù)該執(zhí)行指令依次輸出若干控制信號(hào)；一鍵盤開關(guān)單元，包括若干電子開關(guān)，該若干電子開關(guān)分別接收該微處理器輸出的若干控制信號(hào)并依次導(dǎo)通；一鍵盤接口，與該鍵盤開關(guān)單元的若干電子開關(guān)相連；以及一主板，包括一鍵盤接口電路，該鍵盤接口電路通過該鍵盤接口與該鍵盤開關(guān)單元的若干電子開關(guān)相連，當(dāng)該鍵盤單元內(nèi)的若干電子開關(guān)依次導(dǎo)通后該主板依次輸出對(duì)應(yīng)按鍵的編碼信息。本實(shí)用新型鍵盤測(cè)試系統(tǒng)無需通過人工敲打鍵盤上所有的按鍵進(jìn)行檢測(cè)，因此，可提高檢測(cè)效率及檢測(cè)速度，以及節(jié)省人力成本。
文檔編號(hào)G06F11/22GK201673498SQ201020147268
公開日2010年12月15日 申請(qǐng)日期2010年3月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月3日
發(fā)明者李葉勝 申請(qǐng)人:神訊電腦(昆山)有限公司