專利名稱：用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，且特別指一種用于電阻式 觸控裝置的偵測觸碰位置的方法。
背景技術(shù)：
請參閱圖1，是現(xiàn)有技術(shù)電阻式觸控裝置的剖面示意圖。該電阻式觸控裝置10主 要包括一第一導(dǎo)電層12、一第二導(dǎo)電層14和多個間隔球(Spacer) 16，這些間隔球16位于 第一導(dǎo)電層12和第二導(dǎo)電層14之間，以將第一導(dǎo)電層12和第二導(dǎo)電層14分開，避免無觸 碰時(shí)造成短路而產(chǎn)生錯誤動作。第一導(dǎo)電層12和第二導(dǎo)電層14分別負(fù)責(zé)偵測觸碰處的不 同軸向的位置，例如第一導(dǎo)電層12負(fù)責(zé)偵測X軸向的位置，第二導(dǎo)電層14負(fù)責(zé)偵測Y軸向 的位置。在操作時(shí)，第一導(dǎo)電層12和第二導(dǎo)電層14分別被施以一不同電壓，當(dāng)使用者碰觸 觸控裝置10時(shí)，第一導(dǎo)電層12的對應(yīng)觸碰處的區(qū)域和第二導(dǎo)電層14的對應(yīng)觸碰處的區(qū)域 將接觸而使第一導(dǎo)電層12和第二導(dǎo)電層14分別產(chǎn)生電壓變化，通過偵測第一導(dǎo)電層12的 電壓變化可得知觸碰處在X軸向的位置，以及通過偵測第二導(dǎo)電層14的電壓變化可得知觸 碰處在Y軸向的位置。在理想狀態(tài)下，觸控裝置10偵測到的觸碰處的位置應(yīng)等于觸碰處的實(shí)際位置，但 由于第一導(dǎo)電層12中的導(dǎo)電線路間之間距、第二導(dǎo)電層14中的導(dǎo)電線路間之間距和所使 用的數(shù)據(jù)處理方法等影響，將產(chǎn)生誤差，造成偵測到的觸碰處的位置與觸碰處的實(shí)際位置 不相同。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法易產(chǎn)生誤差的問題，有 必要提供一種可有效避免誤差產(chǎn)生的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法。一種用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其包括提供一觸控裝置，該觸控裝置 具有一第一導(dǎo)電層和設(shè)置在該第一導(dǎo)電層的一側(cè)邊的多個感測電極，該感測電極彼此相間 隔；提供一第一電壓到該第一導(dǎo)電層；觸碰該觸控裝置而使該第一導(dǎo)電層的一區(qū)域的該第 一電壓被改變，其中該區(qū)域是對應(yīng)觸碰該觸控裝置的觸碰處，該觸碰處具有一觸碰位置；量 測該感測電極而得到多個電壓信號；依據(jù)該電壓信號和一位置估算模式而得一第一感測位 置；和依據(jù)該第一感測位置和一校正模式而得一第二感測位置，其中該第二感測位置等于 該觸碰位置，該校正模式具有一第一曲線關(guān)系。另外，一種用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其包括提供一觸控裝置，該觸 控裝置具有一第一導(dǎo)電層和設(shè)置在該第一導(dǎo)電層的一第一側(cè)邊的多個感測電極，該感測電 極彼此相間隔；提供一第一電壓到該第一導(dǎo)電層；觸碰該觸控裝置而使該第一導(dǎo)電層的一 區(qū)域的該第一電壓被改變，其中該區(qū)域是對應(yīng)觸碰該觸控裝置的觸碰處，該觸碰處具有一 觸碰位置；量測該感測電極而得到多個電壓信號，其中該電壓信號包括一極值電壓信號、一第一電壓信號和一第二電壓信號，該感測電極包括一第一感測電極、一第二感測電極和一 第三感測電極，該第一電壓信號自該第一感測電極而得出，該極值電壓信號自該第二感測 電極而得出，該第二電壓信號自該第三感測電極而得出，該第二感測電極位于該第一感測 電極與該第三感測電極之間，并且該第二感測電極分別與該第一感測電極和該第三感測電 極相鄰；依據(jù)一電壓調(diào)整模式調(diào)整該第二電壓信號而得一修正電壓信號；依據(jù)該第一電壓 信號、該極值電壓信號、該修正電壓信號和一位置估算模式而得一第一感測位置；和依據(jù)該 第一感測位置和一校正模式而得一第二感測位置，其中該第二感測位置等于該觸碰位置， 該校正模式具有一第一曲線關(guān)系。綜上所述，由于本發(fā)明的實(shí)施例的該偵測該觸碰位置的方法是利用該位置估算模 式來產(chǎn)生該第一感測位置，再利用該校正模式來修正該第一感測位置而產(chǎn)生該第二感測位 置，此時(shí)，該第二感測位置將等于該觸碰位置，因此定位出該觸碰處的X值，偵測出該觸碰 處的位置，解決了現(xiàn)有的誤差問題。


圖1是一種現(xiàn)有技術(shù)電阻式觸控裝置的剖面示意圖。圖2是本發(fā)明實(shí)施例所應(yīng)用的觸控裝置的剖面示意圖。圖3是圖2所示觸控裝置的第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層的相對位置示意圖。圖4是本發(fā)明的一實(shí)施例的偵測觸碰位置的方法的流程圖。圖5是第一 X軸向感測位置與X軸向觸碰位置的坐標(biāo)示意圖。
具體實(shí)施例方式請參閱圖2，是本發(fā)明的實(shí)施例所應(yīng)用的觸控裝置的剖面示意圖。該觸控裝置20 包括相對設(shè)置的一第一基板22、一第二基板24、一第一導(dǎo)電層26、一第二導(dǎo)電層28和多個 間隔球30。第一基板22 —般為聚酯膜，第二基板24 —般為玻璃基板，第一導(dǎo)電層26設(shè)置 在第一基板22的面對第二基板24的表面，第二導(dǎo)電層28設(shè)置在第二基板24的面對第一 基板22的表面，第二導(dǎo)電層28與第一導(dǎo)電層26相迭合，這些間隔球30設(shè)置在第一導(dǎo)電層 26和第二導(dǎo)電層28之間，具絕緣和支撐作用，以使第一導(dǎo)電層26和第二導(dǎo)電層28在觸控 裝置20未被按壓的狀態(tài)下保持電分離狀態(tài)。請參閱圖3，是該觸控裝置20的第一導(dǎo)電層26和第二導(dǎo)電層28的相對位置示意 圖。觸控裝置20進(jìn)一步具有設(shè)置在第一導(dǎo)電層26的一第一側(cè)邊32的多個感測電極34， 這些感測電極34彼此相間隔，以及設(shè)置在第二導(dǎo)電層28的一側(cè)邊36的多個感測電極38， 這些感測電極38彼此相間隔，第二導(dǎo)電層28設(shè)置有該感測電極38的側(cè)邊36是鄰近第一 導(dǎo)電層26的第一側(cè)邊32的一第二側(cè)邊40。第一導(dǎo)電層26具有阻抗異向性，例如為一碳 納米管膜，其導(dǎo)電方向大致平行Y軸方向；第二導(dǎo)電層28具有阻抗異向性，例如為一碳納米 管膜，其導(dǎo)電方向大致平行X軸方向。此外，第一導(dǎo)電層26具有一邊界區(qū)42和一非邊界區(qū) 44。邊界區(qū)42是位于一第一線A和一第二線B之間。第一線A是自這些感測電極34中最 靠近第二側(cè)邊40的感測電極(自該第二側(cè)邊數(shù)第一個感測電極)延伸且平行第二側(cè)邊40 ； 第二線B自這些感測電極34中與最靠近第二側(cè)邊40的感測電極相鄰和相間的兩感側(cè)電極 的正中間(自第二側(cè)邊40數(shù)第二個感測電極和第三個感測電極間的正中間)延伸且平行第二側(cè)邊40。非邊界區(qū)44為第二線B到第一導(dǎo)電層26的一第三側(cè)邊45間的區(qū)域。第三 側(cè)邊45與第二側(cè)邊40相對，同理，第二導(dǎo)電層28也具有一邊界區(qū)46和一非邊界區(qū)48。請參閱圖4，是本發(fā)明的一實(shí)施例的偵測觸碰位置的方法的流程圖。本實(shí)施例揭露 一種用于上述的觸控裝置20的偵測觸碰位置的方法，使用者觸碰觸控裝置20的觸碰處的 位置是以XY平面坐標(biāo)系統(tǒng)表示，因此目前的觸碰處具有一 X軸向觸碰位置和一 Y軸向觸碰 位置。第一導(dǎo)電層26的感測電極34是用以偵測該觸碰處的該X軸向觸碰位置；第二導(dǎo)電 層28的這些感測電極38是用以偵測該觸碰處的該Y軸向觸碰位置。以下先以偵測該X軸 向觸碰位置的方法進(jìn)行說明，偵測該X軸向觸碰位置的方法為步驟SlO 提供一第一電壓，例如0伏特，到第一導(dǎo)電層26上的這些感測電極34， 使第一導(dǎo)電層26布滿該第一電壓，以及提供一不同于該第一電壓的第二電壓，例如5伏特， 到第二導(dǎo)電層28上的這些感測電極38，使第二導(dǎo)電層28布滿該第二電壓；步驟S15 觸碰觸控裝置20而使第一導(dǎo)電層26的對應(yīng)的該觸碰處的區(qū)域，即被按 壓的區(qū)域，接觸第二導(dǎo)電層28的對應(yīng)該觸碰處的區(qū)域，即被第一導(dǎo)電層26的該被按壓的區(qū) 域所碰觸的區(qū)域，致使第一導(dǎo)電層26的對應(yīng)該觸碰處的區(qū)域的該第一電壓被改變；步驟S20 依序量測設(shè)置在第一導(dǎo)電層26上的這些感測電極34而得到多個電壓 信號；步驟S25 依據(jù)該電壓信號和一位置估算模式而得一第一 X軸向感測位置；和步驟S30 依據(jù)該第一 X軸向感測位置和一校正模式而得一第二 X軸向感測位置， 其中該第二X軸向感測位置等于該X軸向觸碰位置，該校正模式具有一第一曲線關(guān)系，例如 為第一波形曲線關(guān)系。這些電壓信號包括一極值電壓信號、一第一電壓信號和一第二電壓信號，該極值 電壓信號為該電壓信號中的最大者。這些感測電極34包括一第一感測電極、一第二感測電 極和一第三感測電極。該第一電壓信號自該第一感測電極而得出；該極值電壓信號自該第 二感測電極而得出；該第二電壓信號自該第三感測電極而得出。該第一感測電極、該第二感 測電極和該第三感測電極依X軸向排列，且該第二感測電極是位于該第一感測電極與該第 三感測電極之間，并且該第二感測電極分別與該第一感測電極和該第三感測電極相鄰。這些感測電極34中的每相鄰兩者相距一間距，該位置估算模式所包含的多個運(yùn) 算參數(shù)包括該極值電壓信號與該第一電壓信號的差值、該極值電壓信號與第二電壓信號的 差值和該間距，該位置估算模式是包含三個方程式，如下所示Δ1>Δ2^Λ =0.5.Ρ χΔ1~Δ2
ΔΙ=Al <Δ2=>Δ^=0.5^ χΛ1~Λ2
“ Δ2其中Δ 1為該極值電壓信號減該第一電壓信號的差值，Δ 2為該極值電壓信號減 該第二電壓信號的差值和Px為該間距，Δ S為該第一 X軸向感測位置減該第二感測電極的 在X軸向的位置的差值。依上述位置估算模式所計(jì)算出的該第一 X軸向感測位置與實(shí)際的該X軸向觸碰位 置間存在誤差值。請參閱圖5，是為第一 X軸向感測位置與X軸向觸碰位置的坐標(biāo)示意圖。 圖5是統(tǒng)計(jì)該第二感測電極的位于X軸向的位置C加0. 5Ρχ(Ε點(diǎn))和該第二感測電極的位于X軸向的位置C減0.5Px(D點(diǎn))間的區(qū)間中。多個X軸向觸碰位置和分別對應(yīng)該X軸向 觸碰位置的多個第一 X軸向感測位置而得，其中水平軸代表第一 X軸向感測位置和垂直軸 代表X軸向觸碰位置。由圖5可知，依該位置估算模式所得的該第一 X軸向感測位置與該X 軸向觸碰位置間存在一第二波形曲線關(guān)系G，非呈斜率為1的直線F關(guān)系，也即該第一 X軸 向感測位置與該X軸向觸碰位置并不會相等，其間存在一差值，因此需再進(jìn)行步驟S30的校 正模式，該校正模式所具有的第一波形曲線關(guān)系以H表示，第一波形曲線關(guān)系H與第二波形 曲線關(guān)系G是反相，且第一波形曲線關(guān)系H與第二波形曲線關(guān)系G皆以該第二感測電極的 位于X軸向的位置C為反曲點(diǎn)。該校正模式具有依據(jù)該第一 X軸向感測位置與該X軸向觸碰位置而建立的關(guān)聯(lián) 性，如第一波形曲線關(guān)系H所示，可依據(jù)第一波形曲線關(guān)系H對該第一 X軸向感測位置進(jìn)行 修正而得一第二 X軸向感測位置，該第二 X軸向感測位置將等于目前的觸碰處的該X軸向 觸碰位置，因而定位出該觸碰處的該X軸向觸碰位置?；蛘撸撔ＵＪ桨谎a(bǔ)償表，該 補(bǔ)償表內(nèi)的多個數(shù)據(jù)呈現(xiàn)第一波形曲線關(guān)系H，該補(bǔ)償表內(nèi)的該數(shù)據(jù)由位于該第二感測電 極的位于X軸向的位置C士0. 5Px(D和C點(diǎn))的區(qū)間中每一該X軸向觸碰位置減對應(yīng)的該 第一X軸向感測位置而得的一差值所構(gòu)成。因此通過查詢該補(bǔ)償表可推得該第一X軸向感 測位置所應(yīng)補(bǔ)償?shù)牟钪担⒃摰谝?X軸向感測位置加其所應(yīng)補(bǔ)償?shù)脑摬钪悼傻靡坏诙?X 軸向感測位置，該第二 X軸向感測位置將等于目前的觸碰處的X軸向觸碰位置，因而定位出 該觸碰處的X軸向觸碰位置。以上所揭露的偵測該X軸向觸碰位置的方法是適用于目前的該觸碰處位于第一 導(dǎo)電層26的非邊界區(qū)內(nèi)，如果目前的該觸碰處位于第一導(dǎo)電層26的邊界區(qū)內(nèi)，則該第二電 壓信號需經(jīng)下述的電壓調(diào)整模式調(diào)整電壓后再帶入該位置估算模式，非如前述直接帶入該 位置估算模式。 若該觸碰處位于第一導(dǎo)電層26的邊界區(qū)內(nèi)，則表示該X軸向觸碰位置是位于第一 導(dǎo)電層26的第一線A和第二線B之間和該第三感測電極是為第一導(dǎo)電層26上的該感測電 極中最靠近第一導(dǎo)電層26的第二側(cè)邊40者。該電壓調(diào)整模式具有依據(jù)該第一電壓、一第 三電壓信號和一第四電壓信號而建立的關(guān)聯(lián)性，得出該第三電壓信號和該第四電壓信號的 方式說明如后當(dāng)?shù)谝粚?dǎo)電層26的一中間線42因被觸碰而改變的中間線42的該第一電壓 時(shí)，該第三電壓信號自該第三感測電極而得出，該第四電壓信號自該第二感測電極而得出， 中間線42是位于第一線A和一第三線J間的正中間，第三線J自該第二感測電極延伸且平 行第二側(cè)邊40，并且中間線42的該第一電壓被改變的位置相距第一側(cè)邊32的距離等于該 觸碰位置相距第一側(cè)邊32的距離。該電壓調(diào)整模式可以一方程式表示，該方程式為V4 = Vr-(Vr-V3) X (Vr_V2)/(Vr-Vl)，其中Vl為該第三電壓信號、V2為該第四電 壓信號、V3為該第二電壓信號、V4為一修正電壓信號和Vr為該第一電壓。因此，當(dāng)目前的X軸向觸碰位置是位于第一導(dǎo)電層26的邊界區(qū)內(nèi)時(shí)，自該第三感 測電極得出的該第二電壓信號需經(jīng)該電壓調(diào)整模式調(diào)整后而得出該修正電壓信號，再將該 第一電壓信號、該極值電壓信號和該修正電壓信號帶入該位置估算模式而得出一第一 X軸 向感測位置，此時(shí)該位置估算模式所包含三個方程式中的△ 2為該極值電壓信號減修正電 壓信號的差值。之后進(jìn)行上述的步驟S30而得出一第二 X軸向感測位置，該第二 X軸向感測位置將等于該位于該邊界區(qū)內(nèi)的該X軸向觸碰位置。偵測該Y軸向觸碰位置的方法與偵測該X軸向觸碰位置的方法的原理相同，其差 異處在于軸向的不同，以及在觸碰觸控裝置20而使第一導(dǎo)電層26和第二導(dǎo)電層28接觸 時(shí)，第一導(dǎo)電層26的對應(yīng)的該觸碰處的區(qū)域是為升壓，第二導(dǎo)電層28的對應(yīng)的該觸碰處的 區(qū)域是為降壓，因此應(yīng)用于偵測該Y軸向觸碰位置的方法中的該極值電壓信號是為該電壓 信號中的最小值。除上述差異點(diǎn)外，偵測該Y軸向觸碰位置的方法可由以上所揭露的偵測 該X軸向觸碰位置的方法得知，故在此不再贅述。綜上所述，由于本發(fā)明的實(shí)施例的該偵測該X軸向觸碰位置的方法是利用一位置 估算模式來產(chǎn)生該第一 χ軸向感測位置，再利用該校正模式來修正該第一 χ軸向感測位置 而產(chǎn)生該第二 X軸向感測位置，此時(shí)，該第二 X軸向感測位置將等于該X軸向觸碰位置，因 此定位出該觸碰處的X值，同理，也利用該偵測該Y軸向觸碰位置的方法，定位出該觸碰處 的Y值，因而偵測出該觸碰處的位置，解決了現(xiàn)有的誤差問題。
權(quán)利要求
一種用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其包括提供一觸控裝置，其具有一第一導(dǎo)電層和設(shè)置在該第一導(dǎo)電層的一側(cè)邊的多個感測電極，該感測電極彼此相間隔；提供一第一電壓到該第一導(dǎo)電層；觸碰該觸控裝置而使該第一導(dǎo)電層的一區(qū)域的該第一電壓被改變，其中該區(qū)域是對應(yīng)觸碰該觸控裝置的觸碰處，該觸碰處具有一觸碰位置；量測該感測電極而得到多個電壓信號；依據(jù)該電壓信號和一位置估算模式而得一第一感測位置；和依據(jù)該第一感測位置和一校正模式而得一第二感測位置，其中該第二感測位置等于該觸碰位置，該校正模式具有一第一曲線關(guān)系。
2.如權(quán)利要求1所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該校正模 式的該第一曲線關(guān)系為一第一波形曲線關(guān)系。
3.如權(quán)利要求2所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該位置估 算模式所得的該第一感測位置與該觸碰位置間存在一第二波形曲線關(guān)系，該第二波形曲線 關(guān)系與該第一波形曲線關(guān)系呈反相。
4.如權(quán)利要求2所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該電壓信 號包括一極值電壓信號、一第一電壓信號和一第二電壓信號，該感測電極包括一第一感測 電極、一第二感測電極和一第三感測電極，該第一電壓信號自該第一感測電極而得出，該極 值電壓信號自該第二感測電極而得出，該第二電壓信號自該第三感測電極而得出，該第二 感測電極位于該第一感測電極與該第三感測電極之間，并且該第二感測電極分別與該第一 感測電極和該第三感測電極相鄰。
5.如權(quán)利要求4所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該第一波 形曲線關(guān)系以該第二感測電極的位置為反曲點(diǎn)。
6.如權(quán)利要求4所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該感測電 極中的每相鄰兩者是相距一間距，該位置估算模式所包含的多個運(yùn)算參數(shù)包括該極值電壓 信號與該第一電壓信號的差值、該極值電壓信號與第二電壓信號的差值和該間距。
7.如權(quán)利要求2所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該校正模 式包含一補(bǔ)償表，該補(bǔ)償表內(nèi)的多個數(shù)據(jù)呈現(xiàn)該第一波形曲線關(guān)系。
8.如權(quán)利要求7所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該補(bǔ)償表 內(nèi)的這些數(shù)據(jù)具有該觸碰位置與該第一感測位置間的差值。
9.如權(quán)利要求1所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該第一導(dǎo) 電層具有阻抗異向性。
10.如權(quán)利要求9所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該觸控裝 置進(jìn)一步具有一第二導(dǎo)電層，與該第一導(dǎo)電層相迭合，該偵測觸碰位置的方法進(jìn)一步包括 提供一第二電壓到該第二導(dǎo)電層，該第二電壓不同于該第一電壓，其中在該觸碰該觸控裝 置的步驟中，該第一導(dǎo)電層的對應(yīng)該觸碰處的該區(qū)域與該第二導(dǎo)電層的對應(yīng)該觸碰處的區(qū) 域相接觸而使該第一電壓被改變。
11.一種用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其包括提供一觸控裝置，其具有一第一導(dǎo)電層和設(shè)置在該第一導(dǎo)電層的一第一側(cè)邊的多個感測電極，該感測電極彼此相間隔；提供一第一電壓到該第一導(dǎo)電層；觸碰該觸控裝置而使該第一導(dǎo)電層的一區(qū)域的該第一電壓被改變，其中該區(qū)域是對應(yīng) 觸碰該觸控裝置的觸碰處，該觸碰處具有一觸碰位置；量測該感測電極而得到多個電壓信號，其中該電壓信號包括一極值電壓信號、一第一 電壓信號和一第二電壓信號，該感測電極包括一第一感測電極、一第二感測電極和一第三 感測電極，該第一電壓信號自該第一感測電極而得出，該極值電壓信號自該第二感測電極 而得出，該第二電壓信號自該第三感測電極而得出，該第二感測電極位于該第一感測電極 與該第三感測電極之間，并且該第二感測電極分別與該第一感測電極和該第三感測電極相 鄰；依據(jù)一電壓調(diào)整模式調(diào)整該第二電壓信號而得一修正電壓信號；依據(jù)該第一電壓信號、該極值電壓信號、該修正電壓信號和一位置估算模式而得一第 一感測位置；和依據(jù)該第一感測位置和一校正模式而得一第二感測位置，其中該第二感測位置等于該 觸碰位置，該校正模式具有一第一曲線關(guān)系。
12.如權(quán)利要求11所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該第三 感測電極為該感測電極中最靠近該第一導(dǎo)電層的垂直該第一側(cè)邊的一第二側(cè)邊者且該觸 碰位置是位于一第一線和一第二線之間，其中該第一線自該第三感測電極延伸且平行該第 二側(cè)邊，該第二線自該第二感測電極與該第一感測電極間的正中間延伸且平行該第二側(cè) 邊。
13.如權(quán)利要求12所述的觸控裝置，其特征在于該觸控裝置進(jìn)一步具有一第二導(dǎo)電 層和設(shè)置在該第二導(dǎo)電層的一側(cè)邊的多個感測電極，該第二導(dǎo)電層與該第一導(dǎo)電層相迭 合，該第一導(dǎo)電層的該第二側(cè)邊鄰近該第二導(dǎo)電層的該側(cè)邊。
14.如權(quán)利要求12所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該電壓 調(diào)整模式具有依據(jù)該第一電壓、一第三電壓信號和一第四電壓信號而建立的關(guān)聯(lián)性，當(dāng)該 第一導(dǎo)電層的一中間線因被觸碰而改變該中間線的該第一電壓時(shí)，該第三電壓信號自該第 三感測電極而得出，該第四電壓信號自該第二感測電極而得出，該中間線是位于該第一線 和該第三線的正中間，該第三線自該第二感測電極延伸且平行該第二側(cè)邊。
15.如權(quán)利要求14所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該電壓 調(diào)整模式包含一方程式，該方程式為V4 = Vr-(Vr-V3) X (Vr_V2)/(Vr-Vl)，其中Vl為該第三電壓信號、V2為該第四電壓信 號、V3為該第二電壓信號、V4為該修正電壓信號和Vr為該第一電壓。
16.如權(quán)利要求14所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該中間 線的該第一電壓被改變的位置相距該第一側(cè)邊的距離等于該觸碰位置相距該第一側(cè)邊的 距離。
17.如權(quán)利要求11所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該感測 電極中的每相鄰兩者是相距一間距，該位置估算模式所包含的多個運(yùn)算參數(shù)包括該極值電 壓信號與該第一電壓信號的差值、該極值電壓信號與該修正電壓信號的差值和該間距。
18.如權(quán)利要求11所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該校正模式的該第一曲線關(guān)系為一第一波形曲線關(guān)系。
19.如權(quán)利要求18所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該第一 波形曲線關(guān)系以該第二感測電極的位置為反曲點(diǎn)。
20.如權(quán)利要求18所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該校正 模式是為一補(bǔ)償表，該補(bǔ)償表內(nèi)的多個數(shù)據(jù)呈現(xiàn)該第一波形曲線關(guān)系
21.如權(quán)利要求20所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該補(bǔ)償 表內(nèi)的該數(shù)據(jù)具有該觸碰位置與該第一感測位置間的差值。
22.如權(quán)利要求11所述的用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其特征在于該第一 導(dǎo)電層具有阻抗異向性。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法，其包括提供一觸控裝置，該觸控裝置具有第一導(dǎo)電層和設(shè)置在第一導(dǎo)電層的一側(cè)邊的多個感測電極，這些感測電極彼此相間隔；提供第一電壓到第一導(dǎo)電層；觸碰觸控裝置而使第一導(dǎo)電層的一區(qū)域的第一電壓被改變，其中該區(qū)域是對應(yīng)觸碰觸控裝置的觸碰處，觸碰處具有一觸碰位置；量測這些感測電極而得到多個電壓信號；依據(jù)這些電壓信號和一位置估算模式而得一第一感測位置；和依據(jù)第一感測位置和一校正模式而得一第二感測位置，其中第二感測位置等于觸碰位置，校正模式具有一第一曲線關(guān)系。該用于觸控裝置的偵測觸碰位置的方法可有效避免誤差的產(chǎn)生。
文檔編號G06F3/045GK101950231SQ20091030424
公開日2011年1月19日 申請日期2009年7月10日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月10日
發(fā)明者施博盛, 陳柏仰 申請人:群康科技(深圳)有限公司;群創(chuàng)光電股份有限公司