專利名稱：一種內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器及計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及計算機領(lǐng)域中對計算機主板內(nèi)存糾錯功能的測試技術(shù)，特別是涉及一種內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器及相應(yīng)的計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試方法。
背景技術(shù)：
計算機的大部分元件均由半導(dǎo)體制作的，其非常重要的部件一內(nèi)存是由多顆隨機讀寫存儲半導(dǎo)體芯片和連接這些芯片的電路板組成。這些半導(dǎo)體存儲芯片中有成百萬個記憶單元，每個單元均存有“0”或“1”等信息。因為內(nèi)存配合CPU高速存儲正在執(zhí)行的程序和數(shù)據(jù)，所以作為計算機系統(tǒng)中重要的部件，其可靠性和容錯能力一直是業(yè)界研究的課題。
產(chǎn)業(yè)界已經(jīng)對半導(dǎo)體和內(nèi)存技術(shù)研究了多年，發(fā)現(xiàn)造成內(nèi)存錯誤的原因很多，主要分為硬錯誤和軟錯誤兩類。其中硬錯誤可以重復(fù)發(fā)生，主要由于內(nèi)存芯片中的記憶單元的硬件損壞或者是外部連線錯誤造成的。軟錯誤是隨機發(fā)生的錯誤，主要由數(shù)據(jù)傳輸中電信號的噪聲，環(huán)境中放射性物質(zhì)發(fā)出的α射線，以及宇宙射線造成的。
由于軟錯誤通常是1位錯誤，而且發(fā)生的概率較高，而且實現(xiàn)的成本較低廉，所以從1947年一位ECC(Error Correcting Code)糾錯碼技術(shù)誕生以來，這種糾錯技術(shù)在工作站、服務(wù)器產(chǎn)品中得到了較為廣泛地應(yīng)用。由于半導(dǎo)體器件在長期工作中老化造成的硬錯誤，往往是多位錯誤，會造成程序運行異常，甚至是系統(tǒng)崩潰。
雖然從1960年開始業(yè)界一直在研究多位糾錯碼技術(shù)，并在理論上取得了較大的進步，但是由于算法復(fù)雜，實現(xiàn)成本高，對系統(tǒng)的資源消耗大，甚至?xí)绊懻麢C的性能。所以這種技術(shù)一直僅在大型計算機系統(tǒng)中采用。
進入21世紀(jì)以來，計算機技術(shù)的不斷發(fā)展，CPU的性能不斷地提升，高端的PC服務(wù)器的性能在一些方面已經(jīng)大型計算機；半導(dǎo)體技術(shù)的高速發(fā)展，使在芯片組中實現(xiàn)多位ECC算法成為可能；信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展對PC服務(wù)器和工作站的可靠性提出了更高的要求；因此芯片組的制造廠商已經(jīng)將多位ECC糾錯的功能加入新一代的產(chǎn)品中。但是對計算機主板和系統(tǒng)的生產(chǎn)廠商而言，卻帶來了新的挑戰(zhàn)，因為不具有芯片組的制造廠商所具有的硬件檢測設(shè)備和技術(shù)，只能按照廠商推薦的硬件設(shè)計和BIOS的代碼完成產(chǎn)品的設(shè)計，而缺乏對此功能簡易方便的驗證手段和設(shè)備。
有鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本發(fā)明人基于豐富的實務(wù)經(jīng)驗及專業(yè)知識，積極加以研究創(chuàng)新，經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計，并經(jīng)反復(fù)試作樣品及改進試驗后，終于創(chuàng)設(shè)出確具實用價值的本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于，采用計算機軟件和內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器等，建立一套簡易方便的對計算機主板內(nèi)存糾錯功能的進行驗證測試系統(tǒng)，以實現(xiàn)下列目標(biāo)(1)通過軟件和內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器配，可以準(zhǔn)確產(chǎn)生1位，2位，連續(xù)4位，連續(xù)8位，連續(xù)16位的內(nèi)存錯誤。
(2)通過計算機軟件檢查，可驗證主板是否實現(xiàn)的檢查出內(nèi)存數(shù)據(jù)出現(xiàn)1位，2位，連續(xù)4位，連續(xù)8位，連續(xù)16位錯誤的功能。
(3)通過計算機軟件檢查，可驗證主板是否可以實現(xiàn)對內(nèi)存1位，連續(xù)4位或連續(xù)8位錯誤的糾錯。
(4)測試系統(tǒng)使用方便，操作簡單，硬件成本投入小，對被測系統(tǒng)干擾和影響小。
本發(fā)明的目的及解決其主要技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的一種內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器，其特征在于包括主板插頭、內(nèi)存插槽和按鈕，其中該主板插頭具有和內(nèi)存條相同數(shù)量的接口針腳，這些針腳的定義和內(nèi)存條的管腳定義完全相同；該內(nèi)存插槽的管腳定義和內(nèi)存的條的管腳定義完全匹配；該按鈕的一邊通過線路連接到內(nèi)存插槽的數(shù)據(jù)線，另一邊通過線路連接到內(nèi)存插槽的數(shù)字地線；按鈕被按下時，會將所連接的數(shù)據(jù)線和數(shù)字地線連通；按鈕被松開時處于斷開狀態(tài)。
前述的內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器，其中所述的按鈕共有五個，其中第一個按鈕連接1位數(shù)據(jù)線，第二個按鈕連接2位數(shù)據(jù)線，第三個按鈕連接4位數(shù)據(jù)線，第四個按鈕連接8位數(shù)據(jù)線，第五個按鈕連接16位數(shù)據(jù)線。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)措施來進一步實現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的一種計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試方法，其特征在于采用了內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器以及測試程序軟件，步驟包括A.將內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器插在被測試計算機主板的內(nèi)存插槽上，內(nèi)存條插在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上；在被測試計算機主板上安裝CPU，并通過數(shù)據(jù)連線連接存儲驅(qū)動器，將顯示器、電源與被測試計算機主板連接；B.啟動被測試計算機主板并引導(dǎo)到操作系統(tǒng)，運行測試軟件，進行測試程序。
前述的測試方法，其中所述的被測試計算機主板還連接鍵盤和鼠標(biāo)。
前述的測試方法，其中所述的測試軟件首先確認(rèn)已打開主板內(nèi)存糾錯的功能后，不斷向4個連續(xù)的內(nèi)存地址中分別寫入FFFFFFFF FFFFFFFF，然后從這4個連續(xù)的內(nèi)存地址中再分別讀出數(shù)據(jù)。
前述的測試方法，其中所述的測試軟件測試程序中，在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的一條數(shù)據(jù)線的按鈕，數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地線連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了一位錯；芯片組如支持1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示計算機主板完成了1位數(shù)據(jù)糾錯；如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的2條數(shù)據(jù)線的按鈕，這2條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地線連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了二位錯；芯片組如支持1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)不是FFFFFFFF FFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來，芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)2位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)2位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
前述的測試方法，其中所述的測試軟件測試程序中，如果主板支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能，需要內(nèi)存成對同時使用，將其中一條內(nèi)存安裝在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上；如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)4條數(shù)據(jù)線的按鈕，這4數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了連續(xù)4位錯；芯片組如支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是連續(xù)的4個地址中，每個地址上的FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯；測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示計算機主板完成了連續(xù)4位數(shù)據(jù)糾錯；如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器2上的連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)8條數(shù)據(jù)線的按鈕，那么這8條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了8位錯；芯片組如支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序從連續(xù)的4個地址得到的數(shù)據(jù)，不都是FFFFFFFF FFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來；芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
前述的測試方法，其中所述的測試軟件測試程序中，如果主板支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能，需要4條內(nèi)存同時使用，將其中一條內(nèi)存安裝在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上；如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)8條數(shù)據(jù)線的按鈕，這8條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了連續(xù)8位錯；芯片組如支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是連續(xù)的4個地址中，每個地址上的FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯；測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，如發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示被測計算機主板完成了連續(xù)8位數(shù)據(jù)糾錯。
如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)16條數(shù)據(jù)線的按鈕，而該按鈕，那么這16條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了16位錯；芯片組如支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序從連續(xù)的4個地址得到的數(shù)據(jù)，F(xiàn)FFFFFFFFFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來；芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)連續(xù)16位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)連續(xù)16位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點和有益效果。由以上技術(shù)方案可知，本發(fā)明實現(xiàn)了如下的效果(1)計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試系統(tǒng)采用計算機程序和內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器配合，能夠快速準(zhǔn)確的產(chǎn)生出1位，2位，連續(xù)4位，連續(xù)8位，連續(xù)16位的內(nèi)存錯誤。如果單獨使用內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器，也可以產(chǎn)生出1位，2位，連續(xù)4位，連續(xù)8位，連續(xù)16位的內(nèi)存錯誤。
(2)通過計算機軟件，可以驗證被測計算機主板能否發(fā)現(xiàn)內(nèi)存數(shù)據(jù)出現(xiàn)1位，2位，連續(xù)4位，連續(xù)8位，連續(xù)16位錯誤，和實現(xiàn)對內(nèi)存1位，連續(xù)4位或連續(xù)8位錯誤的糾錯的功能。
(3)這個測試系統(tǒng)除增加使用內(nèi)存錯誤發(fā)生器之外，無需其它硬件設(shè)備。內(nèi)存錯誤發(fā)生器安裝簡便，只需將原先插在被測主板上的內(nèi)存條轉(zhuǎn)為插在內(nèi)存錯誤發(fā)生器上，而將內(nèi)存錯誤發(fā)生器插在被測主板上即可。整個計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試系統(tǒng)使用起來也較簡單，硬件安裝好之后，啟動被測計算機主板并運行起來測試軟件后，只需按動內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的按鈕，檢查測試軟件的提示信息，即可完成測試。
綜上所述，本發(fā)明一種內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器及計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試方法，具有上述諸多的優(yōu)點及實用價值，并在同類產(chǎn)品中未見有類似的結(jié)構(gòu)設(shè)計和測試公開發(fā)表或使用，且其不論在結(jié)構(gòu)上或功能方法上皆有較大的改進，在技術(shù)上有較大的進步，并產(chǎn)生了好用及實用的效果，而確實具有增進的功效，從而更加適于實用，誠為一新穎、進步、實用的新設(shè)計。
上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實施，以下以本發(fā)明的較佳實施例并配合附圖詳細(xì)說明如后。
本發(fā)明的具體實施方式
由以下實施例及其附圖詳細(xì)給出。


圖1是通常情況下內(nèi)存條在計算機主板上的安裝示意圖；圖2是本發(fā)明的內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器外結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本發(fā)明的內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器內(nèi)部電路示意圖；圖4是本發(fā)明的內(nèi)存錯誤在計算機主板上的安裝示意圖；圖5是本發(fā)明的計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試系統(tǒng)硬件配置圖；圖6是本發(fā)明的測試軟件的流程圖；圖7是本發(fā)明的一個實施例中PC 100/133 SDRAM內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器的示意圖；圖8是本發(fā)明的第二個實施例中DDR 200/266內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器的示意圖。
圖中1.計算機主板 2.計算機主板上的內(nèi)存插槽 3.內(nèi)存條 4.內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器 401.線路板 402.內(nèi)存插槽 403、404、405、406、407.按鈕 408、409.連接點 5.CPU 6.電源 7.機箱8.電纜 9.CDROM或DVD驅(qū)動器 10.數(shù)據(jù)連線 11.軟盤驅(qū)動器 12.數(shù)據(jù)連線 13.硬盤驅(qū)動器 14.數(shù)據(jù)連線 15.電纜 16.電纜 17.220V交流電源 18.顯示器 19.鼠標(biāo) 20.鍵盤具體實施方式
以下結(jié)合附圖及較佳實施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的一種內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器及計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試方法，其具體實施方式
、結(jié)構(gòu)、方法及其功效，詳細(xì)說明如后。
通常情況下，內(nèi)存條的安裝方法如圖1所示，在被測試計算機主板1上有內(nèi)存插槽2，內(nèi)存條3插在內(nèi)存插槽2上，如局部放大所示。
整個計算機主板內(nèi)存糾錯功能的進行驗證測試系統(tǒng)是由安裝在被測計算機主板上的硬件和運行在被測計算機主板上的測試軟件兩部分組成的。兩部分相互配合工作，實現(xiàn)對內(nèi)存糾錯功能驗證的測試。
在進行計算機主板內(nèi)存糾錯功能驗證測試的時候，如圖2所示，將內(nèi)存條3插在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上面的內(nèi)存插槽402上。
內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4則插在被測試計算機主板1上的內(nèi)存插槽2上，如圖4所示。
圖2中，線路板401具有和內(nèi)存條3相同的接口機械結(jié)構(gòu)和尺寸公差，符合內(nèi)存條3所對應(yīng)國際標(biāo)準(zhǔn)中對線路板的要求。線路板401也具有和內(nèi)存條3相同數(shù)量的接口針腳，定義和內(nèi)存條3的管腳定義完全相同，這些針腳對應(yīng)連接到內(nèi)存插槽402的管腳上。
內(nèi)存插槽402固定在線路板401上而且內(nèi)存插槽402的管腳定義和內(nèi)存條3的管腳定義匹配。
按鈕403、404、405、406、407固定在線路板401上，而且一邊通過線路板401連接到內(nèi)存條3的數(shù)據(jù)線，另一邊通過線路板401連接到內(nèi)存條3的數(shù)字地線。正常情況下，按鈕403、404、405、406、407處于常斷的狀態(tài)；當(dāng)按下時，會將所連接的數(shù)據(jù)線和數(shù)字地線連通。線路板401通過內(nèi)存插槽402與內(nèi)存條3連接的數(shù)據(jù)線共72位，按鈕403連接其中1位，如果按下會產(chǎn)生計算機和內(nèi)存數(shù)據(jù)通信中的1位錯；按鈕404連接2位數(shù)據(jù)線，如果按下會產(chǎn)生計算機和內(nèi)存數(shù)據(jù)通信中的2位錯；按鈕405連接連續(xù)4位數(shù)據(jù)線，如果按下會產(chǎn)生計算機和內(nèi)存數(shù)據(jù)通信中的連續(xù)4位錯；按鈕406連接連續(xù)8位數(shù)據(jù)線，如果按下會產(chǎn)生計算機和內(nèi)存數(shù)據(jù)通信中的連續(xù)8位錯；按鈕407連接連續(xù)16位數(shù)據(jù)線，如果按下會產(chǎn)生計算機和內(nèi)存數(shù)據(jù)通信中的連續(xù)16位錯。
圖3為內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器的電路示意圖，R3遠(yuǎn)小于R1和R2。
1.當(dāng)主板1上的芯片組向內(nèi)存3寫數(shù)據(jù)的時候，如果寫入的數(shù)是“1”即高電平，按下了內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕404，使72位數(shù)據(jù)線其中的兩條與數(shù)字地線連接。圖3中408、409點的電壓由于R1和R3的分壓，變?yōu)檩^低的電壓值，即變?yōu)榱说碗娖剑壿嫾礊椤?”。此時內(nèi)存條3上的內(nèi)存芯片讀數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)，將把“0”存儲起來。按鈕404松開后芯片組再讀此數(shù)據(jù)時，會發(fā)現(xiàn)2位數(shù)據(jù)變?yōu)榱恕?”即產(chǎn)生了2位錯。
2.當(dāng)主板1上的芯片組從內(nèi)存3讀數(shù)據(jù)的時候，如果內(nèi)存條3上內(nèi)存芯片寫入的數(shù)是“1”即高電平，按下了內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕404，使72位數(shù)據(jù)線其中的兩條與數(shù)字地線連接。圖3中408、409點的電壓由于R2和R3的分壓，變?yōu)檩^低的電壓值，即變?yōu)榱说碗娖?，邏輯即為?”。此時芯片組讀數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)，將把“0”讀入。即產(chǎn)生了2位錯誤。
3.當(dāng)主板1上的芯片組向內(nèi)存3先寫入“1”再從內(nèi)存3讀數(shù)據(jù)的過程中，內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕404均按下了，那么寫入內(nèi)存條3上內(nèi)存芯片的數(shù)據(jù)已有兩位變?yōu)椤?”，芯片組讀出的數(shù)值對應(yīng)的兩位也為“0”。即產(chǎn)生了2位錯誤。
4.內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上其他按鈕403、405、406、407的電路與按鈕404的類似，只是連接的數(shù)據(jù)線的條數(shù)為1、4、8和16，403可以連接72條數(shù)據(jù)線中任意一根；404可以連接72條數(shù)據(jù)線中任意2根；405需要連接連續(xù)的4根且第一條應(yīng)為72條數(shù)據(jù)線中的第4n條(0≤n≤17)；406需要連接連續(xù)的8根且第一條應(yīng)為72條數(shù)據(jù)線中的第8n條(0≤n≤8)；407需要連接連續(xù)的16根且第一條應(yīng)為72條數(shù)據(jù)線中的第8n條(0≤n≤7)。
如圖5所示，除內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4代替內(nèi)存條插在被測試的計算機主板1的第一個內(nèi)存插槽上之外，被測試的計算機主板1還應(yīng)安裝CPU 5，如可能應(yīng)固定在適合的計算機機箱7內(nèi)，這樣可以使被測計算機主板1得到保護，同時整體的散熱條件有所改善。
計算機電源6輸入端通過電纜16與220V交流電源17連接，輸出端通過電纜8與被測試的計算機主板1連接，為主板供電。
CDROM或DVD驅(qū)動器9通過數(shù)據(jù)連線10與被測試的計算機主板1連接，軟盤驅(qū)動器11通過數(shù)據(jù)連線12與被測試的計算機主板1連接，硬盤驅(qū)動器13通過數(shù)據(jù)連線14與被測試的計算機主板1連接。CDROM或DVD驅(qū)動器9、軟盤驅(qū)動器11、硬盤驅(qū)動器13通過電纜15與計算機電源6連接，這些外設(shè)起到引導(dǎo)操作系統(tǒng)，運行測試程序的作用，可以單獨一個使用，也可以二個或多個協(xié)同使用。其它的外設(shè)如能夠起到引導(dǎo)操作系統(tǒng)，運行測試程序的作用也可以成為計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試系統(tǒng)的一部分，如Zip驅(qū)動器，USB Flash驅(qū)動器等。
鍵盤20、鼠標(biāo)19、顯示器18與被測試的計算機主板1連接，分別作為測試系統(tǒng)的輸入和測試結(jié)果的輸出設(shè)備。
整個測試系統(tǒng)硬件連接正確之后，啟動被測計算機主板并引導(dǎo)到DOS操作系統(tǒng)環(huán)境，運行測試軟件。測試軟件的流程圖如圖6所示。
由測試軟件確認(rèn)已打開主板內(nèi)存糾錯的功能后，不斷向4個連續(xù)的內(nèi)存地址中分別寫入FFFFFFFF FFFFFFFF，然后從這4個連續(xù)的內(nèi)存地址中再分別讀出數(shù)據(jù)。
FFFFFFFF FFFFFFFF是64位數(shù)據(jù)，每個64位的數(shù)據(jù)對計算機來說是重要的，為保證數(shù)據(jù)傳輸正確，計算機主板上的硬件根據(jù)糾錯的方法不同，產(chǎn)生一定數(shù)目的校驗數(shù)據(jù)。如1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能和2位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤偵測功能，采用64位數(shù)據(jù)+8位校驗數(shù)據(jù)＝72位數(shù)據(jù)，這時最古老的內(nèi)存糾錯方法，使用了多年，所以支持?jǐn)?shù)據(jù)糾錯功能的內(nèi)存條的數(shù)據(jù)寬度是72位。
一種是采用128位數(shù)據(jù)+16位校驗數(shù)據(jù)＝144位數(shù)據(jù)的算法實現(xiàn)，即需要2條內(nèi)存一起工作。
連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯，16位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤偵測功能，采用256位數(shù)據(jù)+24位校驗數(shù)據(jù)＝280位數(shù)據(jù)的算法實現(xiàn)，即需要4條內(nèi)存一起工作。
1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能的驗證如果在讀寫的過程中按下圖2中內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕403，而按鈕403連接了數(shù)據(jù)中的一條數(shù)據(jù)線，那么此數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”。芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了一位錯。芯片組如支持1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯。測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示計算機主板完成了1位數(shù)據(jù)糾錯。
如果在讀寫的過程中按下圖2中內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕404，而按鈕404連接了數(shù)據(jù)中的2條數(shù)據(jù)線，么這2條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”。芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了二位錯。芯片組如支持1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)不是FFFFFFFF FFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來。芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)2位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)2位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能的驗證如果主板支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能，需要內(nèi)存成對同時使用。其中一條內(nèi)存應(yīng)安裝在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上。
如果在讀寫的過程中按下圖2中內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕405，而按鈕405連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)4條數(shù)據(jù)線，么這4數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”。芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了連續(xù)4位錯。芯片組如支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是連續(xù)的4個地址中，每個地址上的FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯。測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示計算機主板完成了連續(xù)4位數(shù)據(jù)糾錯。
如果在讀寫的過程中按下圖2中內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕406，而按鈕406連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)8條數(shù)據(jù)線，那么這8條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，據(jù)從“1”變?yōu)椤?”。芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了8位錯。芯片組如支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序從連續(xù)的4個地址得到的數(shù)據(jù)，可能不都是FFFFFFFF FFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來。芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能的驗證如果主板支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能，需要4條內(nèi)存同時使用。其中一條內(nèi)存應(yīng)安裝在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上。
如果在讀寫的過程中按下圖2中內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕406，而按鈕4 06連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)8條數(shù)據(jù)線，那么這8條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”。芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了連續(xù)8位錯。芯片組如支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是連續(xù)的4個地址中，每個地址上的FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯。測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，如發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示被測計算機主板完成了連續(xù)8位數(shù)據(jù)糾錯。
如果在讀寫的過程中按下圖2中內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器4上的按鈕407，而按鈕407連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)16條數(shù)據(jù)線，這16條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，據(jù)從“1”變?yōu)椤?”。芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了16位錯。芯片組如支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序從連續(xù)的4個地址得到的數(shù)據(jù)，可能不都是FFFFFFFF FFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來。芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)連續(xù)16位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)連續(xù)16位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
兩個實施例如下(1)PC 100/133 SDRAM計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試系統(tǒng)系統(tǒng)重要的組成部分PC 100/133 SDRAM內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器的結(jié)構(gòu)入圖7所示，底端金手指的管腳數(shù)為雙面共168針，有兩個鍵槽，線路板的各項電氣參數(shù)遵照PC 100/133的技術(shù)規(guī)范。
(2)DDR 200/266計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試系統(tǒng)系統(tǒng)重要的組成部分DDR 200/266內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器的結(jié)構(gòu)入圖8所示，底端金手指的管腳數(shù)為雙面共184針，有一個鍵槽，線路板的各項電氣參數(shù)遵照DDR 200/266的技術(shù)規(guī)范。
在如上所述的本發(fā)明的基本技術(shù)思想范圍內(nèi)，對具有本業(yè)界通常的知識的人來說，可進行其他多種變形，應(yīng)在本發(fā)明附加的專利申請的范圍內(nèi)給予解釋。
以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員可能利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容加以變更或修飾為等同變化的等效實施例，但是凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器，其特征在于包括主板插頭、內(nèi)存插槽和按鈕，其中該主板插頭具有和內(nèi)存條相同數(shù)量的接口針腳，這些針腳的定義和內(nèi)存條的管腳定義完全相同；該內(nèi)存插槽的管腳定義和內(nèi)存的條的管腳定義完全匹配；該按鈕的一邊通過線路連接到內(nèi)存插槽的數(shù)據(jù)線，另一邊通過線路連接到內(nèi)存插槽的數(shù)字地線；按鈕被按下時，會將所連接的數(shù)據(jù)線和數(shù)字地線連通；按鈕被松開時處于斷開狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器，其特征在于所述的按鈕共有五個，其中第一個按鈕連接1位數(shù)據(jù)線，第二個按鈕連接2位數(shù)據(jù)線，第三個按鈕連接4位數(shù)據(jù)線，第四個按鈕連接8位數(shù)據(jù)線，第五個按鈕連接16位數(shù)據(jù)線。
3.一種計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試方法，其特征在于采用了內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器以及測試程序軟件，步驟包括A.將內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器插在被測試計算機主板的內(nèi)存插槽上，內(nèi)存條插在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上；在被測試計算機主板上安裝CPU，并通過數(shù)據(jù)連線連接存儲驅(qū)動器，將顯示器、電源與被測試計算機主板連接；B.啟動被測試計算機主板并引導(dǎo)到操作系統(tǒng)，運行測試軟件，進行測試程序。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于其中所述的被測試計算機主板還連接鍵盤和鼠標(biāo)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于其中所述的測試軟件首先確認(rèn)已打開主板內(nèi)存糾錯的功能后，不斷向4個連續(xù)的內(nèi)存地址中分別寫入FFFFFFFF FFFFFFFF，然后從這4個連續(xù)的內(nèi)存地址中再分別讀出數(shù)據(jù)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試方法，其特征在于其中所述的測試程序中，在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的一條數(shù)據(jù)線的按鈕，數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地線連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了一位錯；芯片組如支持1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示計算機主板完成了1位數(shù)據(jù)糾錯；如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的2條數(shù)據(jù)線的按鈕，這2條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地線連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了二位錯；芯片組如支持1位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)不是FFFFFFFF FFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來，芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)2位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)2位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試方法，其特征在于其中所述的測試程序中，如果主板支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能，需要內(nèi)存成對同時使用，將其中一條內(nèi)存安裝在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上；如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)4條數(shù)據(jù)線的按鈕，這4數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了連續(xù)4位錯；芯片組如支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是連續(xù)的4個地址中，每個地址上的FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯；測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示計算機主板完成了連續(xù)4位數(shù)據(jù)糾錯；如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器2上的連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)8條數(shù)據(jù)線的按鈕，那么這8條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了8位錯；芯片組如支持連續(xù)4位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序從連續(xù)的4個地址得到的數(shù)據(jù)，不都是FFFFFFFF FFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來；芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
8.根據(jù)權(quán)利要求3、4所述的測試方法，其特征在于其中所述的測試程序中，如果主板支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯功能，需要4條內(nèi)存同時使用，將其中一條內(nèi)存安裝在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上；如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)8條數(shù)據(jù)線的按鈕，這8條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了連續(xù)8位錯；芯片組如支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，將會把這個錯誤糾正，程序得到數(shù)據(jù)還是連續(xù)的4個地址中，每個地址上的FFFFFFFF FFFFFFFF，但是芯片組中的寄存器會記錄完成連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯；測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，如發(fā)現(xiàn)進行了糾錯，測試軟件就會顯示被測計算機主板完成了連續(xù)8位數(shù)據(jù)糾錯。如果在讀寫的過程中按下內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上的連接了數(shù)據(jù)中的連續(xù)16條數(shù)據(jù)線的按鈕，而該按鈕，那么這16條數(shù)據(jù)線則與數(shù)字地連通，數(shù)據(jù)從“1”變?yōu)椤?”，芯片組從內(nèi)存中讀出的數(shù)據(jù)出現(xiàn)了16位錯；芯片組如支持連續(xù)8位內(nèi)存數(shù)據(jù)糾錯算法，也不能將這個錯誤糾正，程序從連續(xù)的4個地址得到的數(shù)據(jù)，不都是FFFFFFFF FFFFFFFF，測試軟件將會把程序得到的數(shù)據(jù)顯示出來；芯片組中的寄存器會記錄發(fā)現(xiàn)連續(xù)16位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤，測試軟件此時會讀寄存器中數(shù)據(jù)，并顯示計算機主板發(fā)現(xiàn)連續(xù)16位內(nèi)存數(shù)據(jù)錯誤。
全文摘要
發(fā)明涉及一種內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器及計算機主板內(nèi)存糾錯功能測試方法。內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器包括主板插頭、內(nèi)存插槽和按鈕，按鈕的一邊通過線連接到內(nèi)存插槽的數(shù)據(jù)線，另一邊通過線路連接到內(nèi)存插槽的數(shù)字地線。測試方法是A.將內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器插在被測試計算機主板的內(nèi)存插槽上，內(nèi)存條插在內(nèi)存錯誤產(chǎn)生器上；B.啟動被測試計算機主板并引導(dǎo)到操作系統(tǒng)，運行測試軟件，進行測試程序。運用這種測試方法可驗證主板是否實現(xiàn)檢查出內(nèi)存數(shù)據(jù)出現(xiàn)1位，2位，連續(xù)4位，連續(xù)8位，連續(xù)16位錯誤以及是否可以實現(xiàn)對這些錯誤的糾錯。這種測試系統(tǒng)使用方便，操作簡單，硬件成本投入小，對被測系統(tǒng)干擾和影響小。
文檔編號G06F11/36GK1492326SQ02146588
公開日2004年4月28日 申請日期2002年10月24日 優(yōu)先權(quán)日2002年10月24日
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