專利名稱：應(yīng)用于bcm的測試系統(tǒng)及其方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及汽車測試領(lǐng)域，尤其涉及一種應(yīng)用于車身控制模塊(BCM :Body Control Module)的測試系統(tǒng)及其測試方法。
背景技術(shù)：
隨著對(duì)更多功能及更高可靠性的需求持續(xù)增長，汽車電子的種類和復(fù)雜性也在迅速增加。BCM是汽車內(nèi)最重要的模塊之一，其被用來控制不需專用控制器的常用“車身” 功能，包括車窗、車鏡、車門鎖和車燈控制、以及接收發(fā)自車鑰匙和胎壓監(jiān)測器信息的射頻 (RF Radio Frequency)接收器等功能。此外，BCM還具有通過網(wǎng)絡(luò)總線在不同模塊間傳輸數(shù)據(jù)的網(wǎng)關(guān)作用。利用BCM與其他模塊共同承擔(dān)整車的性能與安全的實(shí)現(xiàn)，可以為駕駛帶來更多的智能與舒適。越來越多的車身電子設(shè)備在車身得到應(yīng)用，使得BCM控制對(duì)象更多；各電子設(shè)備的功能越來越多，各種功能都需要通過BCM來實(shí)現(xiàn)，使得BCM功能更加強(qiáng)大。由于BCM產(chǎn)品是針對(duì)每個(gè)車型定制開發(fā)的，BCM產(chǎn)品輸入、輸出端口多，信號(hào)復(fù)雜，因此對(duì)BCM產(chǎn)品的邏輯性能軟硬件測試則變得越來越復(fù)雜，同樣受到成本以及工期的限制?，F(xiàn)有技術(shù)中對(duì)BCM產(chǎn)品的測試基本上都是用單片機(jī)實(shí)現(xiàn)，由于每個(gè)產(chǎn)品的特殊性，每個(gè)產(chǎn)品都需要做一套不同的硬件及軟件進(jìn)行測試。如果對(duì)每個(gè)產(chǎn)品都開發(fā)一套不同的測試系統(tǒng)，那么將對(duì)測試系統(tǒng)開發(fā)成本、及開發(fā)周期帶來很大的壓力。因此，能否找到一種行之有效的方法對(duì)BCM產(chǎn)品進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、高效的測試，為BCM產(chǎn)品的開發(fā)提供有力的支持，成為了 BCM開發(fā)和生產(chǎn)的關(guān)鍵。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一目的在于，提供一種BCM測試系統(tǒng),其可以在同一系統(tǒng)內(nèi)實(shí)現(xiàn)對(duì)BCM所有產(chǎn)品進(jìn)行共平臺(tái)測試，不僅系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，且解決了 BCM產(chǎn)品測試多樣性的問題；
本發(fā)明的另一目的在于，提供一種應(yīng)用于BCM的測試方法，其可以在同一測試平臺(tái)內(nèi)實(shí)現(xiàn)所有BCM產(chǎn)品的測試，不僅快速、準(zhǔn)確、高效，且測試成本較低。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種BCM測試系統(tǒng)，包括待測BCM產(chǎn)品，其還包括一工業(yè)控制計(jì)算機(jī)、用于連接待測BCM產(chǎn)品與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)的產(chǎn)品測試工裝、及一 RKE測試單元；所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)內(nèi)設(shè)有待測BCM產(chǎn)品的測試配置文件，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接有I/O測試單元、CAN總線通訊模塊、及模擬信號(hào)測試單元；該I/O測試單元另一端與待測BCM產(chǎn)品的I/O接口電性連接，其用于測試待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)；該CAN總線通訊模塊另一端與待測BCM產(chǎn)品的CAN總線電性連接，其用于與測試待測BCM產(chǎn)品進(jìn)行通訊連接；該模擬信號(hào)測試單元另一端與待測BCM產(chǎn)品的模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)端口電性連接，其用于對(duì)待測BCM產(chǎn)品的模擬信號(hào)及數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測試；所述RKE測試單元與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接，其用于對(duì)遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試。其中，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過一 PCI總線與I/O測試單元電性連接，該I/O測試單元為一 I/O擴(kuò)展卡；該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線擴(kuò)展有128個(gè)I/O接口，該128個(gè)I/ O接口與待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)對(duì)應(yīng)電性連接，用于測試待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)。本發(fā)明中，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線、及一 PCI總線控制器擴(kuò)展有128個(gè) I/o接口，該每一 I/O接口均經(jīng)過光電隔離后與待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)對(duì)應(yīng)電性連接。工業(yè)控制計(jì)算機(jī)可以通過USB接口或PCI接口與CAN總線通訊模塊電性連接，該 CAN總線通訊模塊為一 CAN擴(kuò)展卡；待測BCM產(chǎn)品包括有CAN總線、LIN總線、或K_LINE總線，該CAN總線、LIN總線、或K_LINE總線均與CAN總線通訊模塊電性連接。此外，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)還電性連接一可編程電子負(fù)載、及可編程電源，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源均通過串行接口與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源另一端均與待測BCM產(chǎn)品電性連接。具體的，所述RKE測試單元包括一 MCU、與MCU電性連接的PLL頻率合成器、依次電性連接的數(shù)字信號(hào)處理器、調(diào)制解調(diào)器、壓控振蕩器、帶通濾波器、及可編程增益放大器；該 MCU另一端與可編程增益放大器電性連接，PLL頻率合成器一端與壓控振蕩器電性連接，另一端還電性連接一基準(zhǔn)信號(hào)源，該可編程增益放大器另一端與一天線電性連接。進(jìn)一步的，本發(fā)明還提供一種應(yīng)用于BCM的測試方法，其包括如下步驟
將待測BCM產(chǎn)品通過測試工裝與一工業(yè)控制計(jì)算機(jī)進(jìn)行連接，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)內(nèi)設(shè)
有待測BCM產(chǎn)品的測試配置文件，不同的狀態(tài)和時(shí)間參數(shù)采用后臺(tái)修改測試文件的方法實(shí)現(xiàn)不同產(chǎn)品的特征參數(shù)配置；
工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線擴(kuò)展128個(gè)I/O接口用于測試待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)，該每一 I/O接口均通過光電隔離；
工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過CAN總線通訊模塊與待測BCM產(chǎn)品的CAN總線相連接，該待測BCM 產(chǎn)品的LIN總線及K_LINE總線均通過該CAN總線通訊模塊與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接； 工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過模擬信號(hào)測試單元對(duì)待測BCM產(chǎn)品的模擬信號(hào)及數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測試測試；
工業(yè)控制計(jì)算機(jī)采用PLL頻率合成器實(shí)現(xiàn)遙控門禁系統(tǒng)射頻部分不同工作頻率的接收，通過數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)不同信號(hào)進(jìn)行調(diào)制解調(diào)，從而對(duì)遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試；
工業(yè)控制計(jì)算機(jī)按照測試配置文件對(duì)待測BCM產(chǎn)品的每種功能及遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試。其中，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線與一 I/O測試單元電性連接，該I/O測試單元為一 I/O擴(kuò)展卡；該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過USB接口或PCI接口與一 CAN總線通訊模塊電性連接，該CAN總線通訊模塊為一 CAN擴(kuò)展卡；該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線與一模擬信號(hào)測試單元電性連接；該I/O測試單元、CAN總線通訊模塊、及模擬信號(hào)測試單元另一端均分別與待測BCM產(chǎn)品電性連接。本發(fā)明的工業(yè)控制計(jì)算機(jī)還電性連接一可編程電子負(fù)載、及可編程電源，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源均通過串行接口與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源另一端均與待測BCM產(chǎn)品電性連接。此外,所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接一 RKE測試單元,該RKE測試單元包括一 MCU、與MCU電性連接的PLL頻率合成器、依次電性連接的數(shù)字信號(hào)處理器、調(diào)制解調(diào)器、壓控振蕩器、帶通濾波器、及可編程增益放大器；該1(^另一端與可編程增益放大器電性連接，PLL 頻率合成器一端與壓控振蕩器電性連接，另一端還電性連接一基準(zhǔn)信號(hào)源，該可編程增益放大器另一端與一天線電性連接。本發(fā)明的應(yīng)用于BCM的測試系統(tǒng)及其方法，其可以實(shí)現(xiàn)不同BCM產(chǎn)品間的共平臺(tái)測試，最終達(dá)到所有的BCM產(chǎn)品可以在同一測試平臺(tái)上進(jìn)行的目的，不僅解決了產(chǎn)品測試多樣性的問題，且不同BCM產(chǎn)品測試只需要制作一個(gè)后臺(tái)文件、增加一臺(tái)測試工裝即可，極大的降低了測試成本，測試更加快速、準(zhǔn)確、高效，為BCM產(chǎn)品的開發(fā)提供了有力的支持。


圖I為本發(fā)明BCM測試系統(tǒng)一種具體實(shí)施例的模塊結(jié)構(gòu)示意圖2為本發(fā)明中I/O測試單元一種具體實(shí)施例的電路圖3為本發(fā)明中RKE測試單元一種具體實(shí)施例的模塊結(jié)構(gòu)示意圖4為本發(fā)明中應(yīng)用于BCM的測試方法一種具體實(shí)施例的流程示意圖。
具體實(shí)施例方式如圖I所示，本發(fā)明提供一種BCM測試系統(tǒng)，其包括待測BCM產(chǎn)品10，其還包括一工業(yè)控制計(jì)算機(jī)(IPC :Industrial Personal Computer) 20、用于連接待測BCM產(chǎn)品10 與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20的產(chǎn)品測試工裝(未圖示)、及一遙控門禁系統(tǒng)(RKE =Remote Keyless Entry)測試單元30。所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20內(nèi)設(shè)有待測BCM產(chǎn)品10的測試配置文件，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20電性連接有I/O測試單元22、CAN總線通訊模塊24、及模擬信號(hào)測試單元26 ;該I/O測試單元22另一端與待測BCM產(chǎn)品10的I/O接口電性連接，其用于測試待測BCM產(chǎn)品10的I/O控制信號(hào)；該CAN總線通訊模塊24另一端與待測BCM產(chǎn)品10的CAN 總線電性連接，其用于與測試待測BCM產(chǎn)品10進(jìn)行通訊連接；該模擬信號(hào)測試單元26另一端與待測BCM產(chǎn)品10的模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)端口電性連接，其用于對(duì)待測BCM產(chǎn)品10的模擬信號(hào)及數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測試；所述RKE測試單元30與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20電性連接，其用于對(duì)遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試。其中，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20可以通過一周邊元件擴(kuò)展接口(PCI Peripheral Component Interconnection)總線21與1/0測試單元22電性連接。作為本發(fā)明的一種具體實(shí)施例，該1/0測試單元22可以為一 1/0擴(kuò)展卡。在本發(fā)明中，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20通過PCI總線21擴(kuò)展有128個(gè)1/0接口 23，該128個(gè)1/0接口 23與待測BCM產(chǎn)品10的1/0 控制信號(hào)對(duì)應(yīng)電性連接，用于測試待測BCM產(chǎn)品10的1/0控制信號(hào)。如圖2所示，作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實(shí)施例，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20可以通過PCI總線21、及一 PCI總線控制器25擴(kuò)展有128個(gè)1/0接口 23。為了測試系統(tǒng)的安全穩(wěn)定，該每一 1/0接口 23均經(jīng)過光電隔離后與待測BCM產(chǎn)品10的1/0控制信號(hào)對(duì)應(yīng)電性連接。作為本發(fā)明的一種選擇性實(shí)施例，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20可以通過USB接口或PCI接口 27與CAN總線通訊模塊24電性連接。本發(fā)明中，該CAN總線通訊模塊24可以具體為一 CAN擴(kuò)展卡。待測BCM產(chǎn)品10包括有CAN總線、LIN總線、或K_LINE總線，該CAN總線、LIN 總線、或K_LINE總線均與CAN總線通訊模塊24電性連接，即CAN總線、LIN總線、及K_LINE總線通訊共用CAN擴(kuò)展卡與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20進(jìn)行通信。此外，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20還電性連接一可編程電子負(fù)載28、及可編程電源 29，該可編程電子負(fù)載28、及可編程電源29均通過串行接口與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20電性連接，該可編程電子負(fù)載28、及可編程電源29另一端均與待測BCM產(chǎn)品10電性連接。具體的，本發(fā)明中的RKE測試單元30 (圖3所示)包括一 MCU31、與MCU31電性連接的鎖相環(huán)(PLL :Phase Locked Loop)頻率合成器32、依次電性連接的數(shù)字信號(hào)處理器 (DSP Digital Signal Processing) 33、調(diào)制解調(diào)器(MOD modem) 34、壓控振蕩器 35、帶通濾波器(BPF :Band-Pass Filter) 36、及可編程增益放大器37。其中，該MCU31另一端與可編程增益放大器37電性連接，PLL頻率合成器32 —端與壓控振蕩器35電性連接，另一端還電性連接一基準(zhǔn)信號(hào)源38，該可編程增益放大器37另一端與一天線39電性連接。作為本發(fā)明的一種具體實(shí)施例，該RKE測試單元30可以通過串行接口 32與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20 電性連接。本發(fā)明對(duì)遙控門禁系統(tǒng)的信號(hào)調(diào)制采用射頻(RF :Radio Frequency)部分通過 PLL頻率合成器32實(shí)現(xiàn)不同的接收工作頻率，采用數(shù)字信號(hào)處理器33實(shí)現(xiàn)不同信號(hào)的調(diào)制解調(diào)。本發(fā)明的BCM測試系統(tǒng)，其將待測BCM產(chǎn)品10的功能測試轉(zhuǎn)化為對(duì)產(chǎn)品的端口狀態(tài)的診斷識(shí)別，可以很好的解決產(chǎn)品測試多樣性的問題。該BCM測試系統(tǒng)通過調(diào)用動(dòng)態(tài)鏈接庫(DLL Dynamic Link Library)實(shí)現(xiàn)硬件驅(qū)動(dòng),工業(yè)控制計(jì)算機(jī)20端口與待測BCM產(chǎn)品10端口連接通過測試工裝完成，通過CAN擴(kuò)展卡建立與待測BCM產(chǎn)品10的CAN總線相連接。在測試時(shí)，首先需要測試操作人員通過測試平臺(tái)軟件制作一測試文件，測試產(chǎn)品時(shí)通過工控機(jī)平臺(tái)測試軟件首先載入待測BCM產(chǎn)品10的測試配置文件，啟動(dòng)測試，系統(tǒng)就會(huì)按照測試配置文件一個(gè)功能一個(gè)功能的進(jìn)行測試。進(jìn)一步的，如圖4所示，本發(fā)明還提供一種應(yīng)用于BCM的測試方法，其包括如下步驟
步驟1，將待測BCM產(chǎn)品通過測試工裝與一工業(yè)控制計(jì)算機(jī)進(jìn)行連接，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)內(nèi)設(shè)有待測BCM產(chǎn)品的測試配置文件，不同的狀態(tài)和時(shí)間參數(shù)采用后臺(tái)修改測試文件的方法實(shí)現(xiàn)不同產(chǎn)品的特征參數(shù)配置。本發(fā)明BCM的測試方法，對(duì)不同待測BCM產(chǎn)品的測試只需要制作一個(gè)后臺(tái)文件，增加一臺(tái)測試工裝即可，很好的解決了不同產(chǎn)品間的特殊處理功能，極大的降低了測試成本，測試更加快速、準(zhǔn)確、高效，為BCM產(chǎn)品的開發(fā)提供了有力的支持。步驟2，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線擴(kuò)展128個(gè)1/0接口用于測試待測BCM產(chǎn)品的I/0控制信號(hào)，該每一 1/0接口均通過光電隔離。在本發(fā)明具體實(shí)施例中，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線與一 I/O測試單元電性連接，該1/0測試單元另一端均與待測BCM產(chǎn)品電性連接，該1/0測試單元可以具體為一 1/0擴(kuò)展卡。步驟3，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過CAN總線通訊模塊與待測BCM產(chǎn)品的CAN總線相連接，該待測BCM產(chǎn)品的LIN總線及K_LINE總線均通過該CAN總線通訊模塊與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接。在本發(fā)明中，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)可以通過USB接口或PCI接口與一 CAN總線通訊模塊電性連接，該CAN總線通訊模塊另一端均與待測BCM產(chǎn)品電性連接。在本發(fā)明具體實(shí)施例中，該CAN總線通訊模塊可以為一 CAN擴(kuò)展卡。待測BCM產(chǎn)品的CAN總線、LIN總線、及K_LINE總線均與該CAN總線通訊模塊電性連接，即CAN總線、LIN總線、及K_LINE總線通訊共用CAN擴(kuò)展卡與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信。步驟4，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過模擬信號(hào)測試單元對(duì)待測BCM產(chǎn)品的模擬信號(hào)及數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測試測試。本發(fā)明中，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線與一模擬信號(hào)測試單元電性連接，該模擬信號(hào)測試單元另一端均與待測BCM產(chǎn)品電性連接。進(jìn)一步的，本發(fā)明的工業(yè)控制計(jì)算機(jī)還電性連接有一可編程電子負(fù)載、及可編程電源，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源均可通過串行接口與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源另一端均與待測BCM產(chǎn)品電性連接。步驟5，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)采用PLL頻率合成器實(shí)現(xiàn)遙控門禁系統(tǒng)射頻部分不同工作頻率的接收，通過數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)不同信號(hào)進(jìn)行調(diào)制解調(diào)，從而對(duì)遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試。作為本發(fā)明的一種優(yōu)選實(shí)施例，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接一 RKE測試單元，該 RKE測試單元包括一 MCU、與MCU電性連接的PLL頻率合成器、依次電性連接的數(shù)字信號(hào)處理器、調(diào)制解調(diào)器、壓控振蕩器、帶通濾波器、及可編程增益放大器；該MCU另一端與可編程增益放大器電性連接，PLL頻率合成器一端與壓控振蕩器電性連接，另一端還電性連接一基準(zhǔn)信號(hào)源，該可編程增益放大器另一端與一天線電性連接。步驟6，工業(yè)控制計(jì)算機(jī)按照測試配置文件對(duì)待測BCM產(chǎn)品的每種功能及遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試。利用本發(fā)明的方法對(duì)待測BCM產(chǎn)品進(jìn)行測試時(shí)，首選需要測試操作人員通過測試平臺(tái)軟件制作一測試文件，測試產(chǎn)品時(shí)，通過工控機(jī)平臺(tái)測試軟件首先載入待測 BCM產(chǎn)品的測試配制文件，接著按下測試開始按鍵啟動(dòng)測試，BCM的測試系統(tǒng)就會(huì)按照測試配置文件一個(gè)功能一個(gè)功能的進(jìn)行測試。每個(gè)功能測試完成后，合格則顯示0K，不合格則顯示ERROR，測試完成后如果合格顯示綠燈，不合格則顯示紅燈進(jìn)行提醒。綜上所述，本發(fā)明的應(yīng)用于BCM的測試系統(tǒng)及其方法，其可以實(shí)現(xiàn)不同BCM產(chǎn)品間的共平臺(tái)測試，最終達(dá)到所有的BCM產(chǎn)品可以在同一測試平臺(tái)上進(jìn)行的目的，不僅解決了產(chǎn)品測試多樣性的問題，且不同BCM產(chǎn)品測試只需要制作一個(gè)后臺(tái)文件、增加一臺(tái)測試工裝即可，極大的降低了測試成本，測試更加快速、準(zhǔn)確、高效，為BCM產(chǎn)品的開發(fā)提供了有力的支持。以上所述，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明后附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種BCM測試系統(tǒng)，包括待測BCM產(chǎn)品，其特征在于，還包括一工業(yè)控制計(jì)算機(jī)、用于連接待測BCM產(chǎn)品與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)的產(chǎn)品測試工裝、及一RKE測試單元；所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)內(nèi)設(shè)有待測BCM產(chǎn)品的測試配置文件，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接有I/O測試單元、 CAN總線通訊模塊、及模擬信號(hào)測試單元；該I/O測試單元另一端與待測BCM產(chǎn)品的I/O接口電性連接，其用于測試待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)；該CAN總線通訊模塊另一端與待測 BCM產(chǎn)品的CAN總線電性連接，其用于與測試待測BCM產(chǎn)品進(jìn)行通訊連接；該模擬信號(hào)測試單元另一端與待測BCM產(chǎn)品的模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)端口電性連接，其用于對(duì)待測BCM產(chǎn)品的模擬信號(hào)及數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測試；所述RKE測試單元與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接，其用于對(duì)遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試。
2.如權(quán)利要求I所述的BCM測試系統(tǒng)，其特征在于，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過一PCI總線與I/O測試單元電性連接，該I/O測試單元為一 I/O擴(kuò)展卡；該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI 總線擴(kuò)展有128個(gè)I/O接口，該128個(gè)I/O接口與待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)對(duì)應(yīng)電性連接，用于測試待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)。
3.如權(quán)利要求2所述的BCM測試系統(tǒng)，其特征在于，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線、及一 PCI總線控制器擴(kuò)展有128個(gè)I/O接口，該每一 I/O接口均經(jīng)過光電隔離后與待測 BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)對(duì)應(yīng)電性連接。
4.如權(quán)利要求I所述的BCM測試系統(tǒng)，其特征在于，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過USB接口或PCI接口與CAN總線通訊模塊電性連接，該CAN總線通訊模塊為一 CAN擴(kuò)展卡；待測BCM 產(chǎn)品包括有CAN總線、LIN總線、或K_LINE總線，該CAN總線、LIN總線、或K_LINE總線均與 CAN總線通訊模塊電性連接。
5.如權(quán)利要求I所述的BCM測試系統(tǒng)，其特征在于，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)還電性連接一可編程電子負(fù)載、及可編程電源，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源均通過串行接口與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源另一端均與待測BCM產(chǎn)品電性連接。
6.如權(quán)利要求I所述的BCM測試系統(tǒng)，其特征在于，所述RKE測試單元包括一MCU、與 MCU電性連接的PLL頻率合成器、依次電性連接的數(shù)字信號(hào)處理器、調(diào)制解調(diào)器、壓控振蕩器、帶通濾波器、及可編程增益放大器；該MCU另一端與可編程增益放大器電性連接，PLL頻率合成器一端與壓控振蕩器電性連接，另一端還電性連接一基準(zhǔn)信號(hào)源，該可編程增益放大器另一端與一天線電性連接。
7.一種應(yīng)用于BCM的測試方法，其特征在于，包括如下步驟將待測BCM產(chǎn)品通過測試工裝與一工業(yè)控制計(jì)算機(jī)進(jìn)行連接，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)內(nèi)設(shè)有待測BCM產(chǎn)品的測試配置文件，不同的狀態(tài)和時(shí)間參數(shù)采用后臺(tái)修改測試文件的方法實(shí)現(xiàn)不同產(chǎn)品的特征參數(shù)配置；工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線擴(kuò)展128個(gè)I/O接口用于測試待測BCM產(chǎn)品的I/O控制信號(hào)，該每一 I/O接口均通過光電隔離；工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過CAN總線通訊模塊與待測BCM產(chǎn)品的CAN總線相連接，該待測BCM 產(chǎn)品的LIN總線及K_LINE總線均通過該CAN總線通訊模塊與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接；工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過模擬信號(hào)測試單元對(duì)待測BCM產(chǎn)品的模擬信號(hào)及數(shù)字信號(hào)進(jìn)行測試測試；工業(yè)控制計(jì)算機(jī)采用PLL頻率合成器實(shí)現(xiàn)遙控門禁系統(tǒng)射頻部分不同工作頻率的接收，通過數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)不同信號(hào)進(jìn)行調(diào)制解調(diào)，從而對(duì)遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試；工業(yè)控制計(jì)算機(jī)按照測試配置文件對(duì)待測BCM產(chǎn)品的每種功能及遙控門禁系統(tǒng)進(jìn)行測試。
8.如權(quán)利要求7所述的應(yīng)用于BCM的測試方法，其特征在于，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過 PCI總線與一 I/O測試單元電性連接，該I/O測試單元為一 I/O擴(kuò)展卡；該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過USB接口或PCI接口與一 CAN總線通訊模塊電性連接，該CAN總線通訊模塊為一 CAN擴(kuò)展卡；該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)通過PCI總線與一模擬信號(hào)測試單元電性連接；該I/O測試單元、 CAN總線通訊模塊、及模擬信號(hào)測試單元另一端均分別與待測BCM產(chǎn)品電性連接。
9.如權(quán)利要求7所述的應(yīng)用于BCM的測試方法，其特征在于，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)還電性連接一可編程電子負(fù)載、及可編程電源，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源均通過串行接口與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接，該可編程電子負(fù)載、及可編程電源另一端均與待測BCM產(chǎn)品電性連接。
10.如權(quán)利要求7所述的應(yīng)用于BCM的測試方法，其特征在于，所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接一 RKE測試單元，該RKE測試單元包括一 MCU、與MCU電性連接的PLL頻率合成器、依次電性連接的數(shù)字信號(hào)處理器、調(diào)制解調(diào)器、壓控振蕩器、帶通濾波器、及可編程增益放大器；該MCU另一端與可編程增益放大器電性連接，PLL頻率合成器一端與壓控振蕩器電性連接，另一端還電性連接一基準(zhǔn)信號(hào)源，該可編程增益放大器另一端與一天線電性連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種應(yīng)用于BCM的測試系統(tǒng)及其方法，該BCM測試系統(tǒng)包括待測BCM產(chǎn)品、一工業(yè)控制計(jì)算機(jī)、產(chǎn)品測試工裝、及一RKE測試單元；所述工業(yè)控制計(jì)算機(jī)內(nèi)設(shè)有待測BCM產(chǎn)品的測試配置文件，該工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接有I/O測試單元、CAN總線通訊模塊、及模擬信號(hào)測試單元；I/O測試單元另一端與待測BCM產(chǎn)品的I/O接口電性連接；CAN總線通訊模塊另一端與待測BCM產(chǎn)品的CAN總線電性連接；模擬信號(hào)測試單元另一端與待測BCM產(chǎn)品的模擬信號(hào)和數(shù)字信號(hào)端口電性連接；所述RKE測試單元與工業(yè)控制計(jì)算機(jī)電性連接。本發(fā)明可以在同一系統(tǒng)內(nèi)實(shí)現(xiàn)對(duì)BCM所有產(chǎn)品進(jìn)行共平臺(tái)測試，不僅系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，且解決了BCM產(chǎn)品測試多樣性的問題。
文檔編號(hào)G05B23/02GK102608996SQ20121008611
公開日2012年7月25日 申請(qǐng)日期2012年3月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月28日
發(fā)明者郭青松 申請(qǐng)人:重慶集誠汽車電子有限責(zé)任公司