一種紅外探測(cè)器單黑體響應(yīng)率測(cè)試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及光電探測(cè)器的標(biāo)定和測(cè)量技術(shù)，特別是防止紅外探測(cè)器響應(yīng)率隨溫度 變化的單黑體響應(yīng)率測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 響應(yīng)率是指在指定波長(zhǎng)下，探測(cè)器所產(chǎn)生的信號(hào)與入射的該波長(zhǎng)光功率的比值， 要實(shí)現(xiàn)其絕對(duì)測(cè)量需要準(zhǔn)確測(cè)量得到入射到探測(cè)器的該波長(zhǎng)的光功率和探測(cè)器產(chǎn)生的信 號(hào)。
[0003] 單黑體響應(yīng)率測(cè)試的原理為:在光學(xué)測(cè)試結(jié)構(gòu)滿足條件的前提下，不同黑體溫度 下探測(cè)器的輸出之差與溫度與黑體溫度之差的比值;但是單黑體在在切換溫度的過(guò)程中， 紅外探測(cè)器本身會(huì)發(fā)生輸出漂移的現(xiàn)象，降低了響應(yīng)率的測(cè)試精度;有待改進(jìn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種防止紅外探測(cè)器本身發(fā)生輸出漂移的現(xiàn) 象，提高響應(yīng)率的測(cè)試精度的紅外探測(cè)器單黑體響應(yīng)率測(cè)試方法。
[0005] 為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明目的，提供了 W下技術(shù)方案:一種紅外探測(cè)器單黑體響應(yīng)率測(cè)試方 法，在測(cè)試單黑體不同溫度時(shí)的紅外探測(cè)器輸出時(shí)，其特征在于包括W下步驟： a. 首先采集單黑體溫度為T1的基準(zhǔn)電壓Vtl，單黑體溫度為T2的基準(zhǔn)電壓Vt2; b. 然后當(dāng)單黑體溫度切換成T1時(shí)，檢測(cè)出當(dāng)時(shí)的輸出電壓VI，當(dāng)單黑體溫度切換成T2 時(shí)，檢測(cè)出當(dāng)時(shí)的輸出電壓V2; C.利用T1的基準(zhǔn)電壓Vtl，T2的基準(zhǔn)電壓Vt2對(duì)所要測(cè)試的溫度的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，進(jìn)而 計(jì)算出測(cè)試的響應(yīng)率，計(jì)算公式如下：
式中：\^'為紅外探測(cè)器的響應(yīng)率，￥1為探測(cè)器對(duì)在單黑體溫度為1!的輸出電壓，￥*1為 在黑體溫度為T1的基準(zhǔn)電壓，V2為探測(cè)器對(duì)著在黑體溫度為T2的輸出電壓，Vt2為在黑體溫 度為T2的基準(zhǔn)電壓，ΔΤ為T1-T2的溫度差。
[0006] 本發(fā)明有益效果:本發(fā)明通過(guò)設(shè)置檢測(cè)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)，通過(guò)基準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行 逐行矯正，有效防止紅外探測(cè)器本身發(fā)生輸出漂移的現(xiàn)象，提高響應(yīng)率的測(cè)試精度。
【具體實(shí)施方式】
[0007] 實(shí)施例1: 一種紅外探測(cè)器單黑體響應(yīng)率測(cè)試方法，在測(cè)試單黑體不同溫度時(shí)的紅 外探測(cè)器輸出時(shí)，其特征在于包括W下步驟:首先采集單黑體溫度為T1的基準(zhǔn)電壓Vtl，單 黑體溫度為T2的基準(zhǔn)電壓Vt2;然后當(dāng)單黑體溫度切換成T1時(shí)，檢測(cè)出當(dāng)時(shí)的輸出電壓VI， 當(dāng)單黑體溫度切換成T2時(shí)，檢測(cè)出當(dāng)時(shí)的輸出電壓V2;利用T1的基準(zhǔn)電壓Vtl，T2的基準(zhǔn)電 壓Vt2對(duì)所要測(cè)試的溫度的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，進(jìn)而計(jì)算出測(cè)試的響應(yīng)率，計(jì)算公式如下：
黑體溫度分別設(shè)置為20°C和35°C，采用常規(guī)方法測(cè)試的響應(yīng)率見(jiàn)表1為： 表1采用常規(guī)方法測(cè)試的響應(yīng)率：
黑體溫度分別設(shè)置為20°C和35攝氏度，采用該專利方法測(cè)試的響應(yīng)率見(jiàn)表2為： 表2采用該申請(qǐng)方法測(cè)試的響應(yīng)率：
對(duì)比表1和表2的響應(yīng)率的標(biāo)準(zhǔn)差克制，采用該專利方法測(cè)試的響應(yīng)率的重復(fù)性更高。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種紅外探測(cè)器單黑體響應(yīng)率測(cè)試方法，在測(cè)試單黑體不同溫度時(shí)的紅外探測(cè)器輸 出時(shí)，其特征在于包括以下步驟： 首先采集單黑體溫度為T1的基準(zhǔn)電壓Vtl，單黑體溫度為T2的基準(zhǔn)電壓Vt2; 然后當(dāng)單黑體溫度切換成T1時(shí)，檢測(cè)出當(dāng)時(shí)的輸出電壓VI，當(dāng)單黑體溫度切換成T2時(shí)， 檢測(cè)出當(dāng)時(shí)的輸出電壓V2; 利用T1的基準(zhǔn)電壓Vtl，T2的基準(zhǔn)電壓Vt2對(duì)所要測(cè)試的溫度的數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，進(jìn)而計(jì) 算出測(cè)試的響應(yīng)率，計(jì)算公式如下：式中：Vr為紅外探測(cè)器的響應(yīng)率，VI為探測(cè)器對(duì)在單黑體溫度為T1的輸出電壓，Vtl為 在黑體溫度為T1的基準(zhǔn)電壓，V2為探測(cè)器對(duì)著在黑體溫度為T2的輸出電壓，Vt2為在黑體溫 度為T2的基準(zhǔn)電壓，ΔΤ為T1-T2的溫度差。
【專利摘要】一種紅外探測(cè)器單黑體響應(yīng)率測(cè)試方法，涉及光電探測(cè)器的標(biāo)定和測(cè)量技術(shù)，通過(guò)在測(cè)試不同黑體溫度的探測(cè)器輸出時(shí)，首先采集同一基準(zhǔn)面的數(shù)據(jù)，采用該基準(zhǔn)面的探測(cè)器輸出數(shù)據(jù)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，進(jìn)而計(jì)算出測(cè)試的響應(yīng)率，計(jì)算公式如下：？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？有效防止紅外探測(cè)器本身發(fā)生輸出漂移的現(xiàn)象，提高響應(yīng)率的測(cè)試精度。
【IPC分類】G01J5/00
【公開號(hào)】CN105628215
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201610088982
【發(fā)明人】呂鵬, 何旭嬌, 談彬武, 張豪, 許勇, 周平
【申請(qǐng)人】無(wú)錫元?jiǎng)?chuàng)華芯微機(jī)電有限公司
【公開日】2016年6月1日
【申請(qǐng)日】2016年2月17日