一種漏牙檢測機構的制作方法
【技術領域】
[0001 ]本發(fā)明屬于機械加工檢測技術領域，尤其涉及一種漏牙檢測機構。
【背景技術】
[0002]目前檢測有無攻牙手段很多，其中人工手動拿牙規(guī)或PIN規(guī)去檢為一種，一種CCD拍照比對檢測有無攻牙。這兩種方式一種浪費人力，效率低下。另一種是成本太高且對產(chǎn)品有要求，實用范圍較窄。影響生產(chǎn)成本和效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明主要是解決現(xiàn)有技術所存在的技術問題，從而提供一種操作簡單，成本低，穩(wěn)定性好，效率高，通用性強的自動調心對正的漏牙檢測機構。
[0004]本發(fā)明的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的:
本發(fā)明的一種漏牙檢測機構，包括檢測PIN、線簧、調心柱體蓋、調心柱體、探針座以及探針;所述調心柱體蓋蓋在調心柱體的上端，所述檢測PIN的下端伸入到調心柱體的內(nèi)部，上端穿過調心柱體蓋伸出，在檢測PIN伸出調心柱體蓋的部分設有一凸臺，線簧設置在凸臺的下表面與調心柱體蓋之間，在調心柱體的內(nèi)部還設有柱蕊，柱蕊套在檢測PIN的下端，所述探針座設置在調心柱體的下端，探針的上端在探針座的內(nèi)部，該端與檢測PIN的下端不接觸，探針下端從從探針座的下端伸出。
[0005]作為優(yōu)選，所述調心柱體內(nèi)部上端設有第一柱體型腔，下端設有第二柱體型腔，第一柱體型腔的直徑大于第二柱體型腔直徑，柱蕊位于第一柱體型腔內(nèi)，其外徑小于第一柱體型腔的直徑并且大于檢測PIN的直徑，在柱蕊的上表面與調心柱體蓋的下表面之間設有若干滾珠，在柱蕊的下表面與第一柱體型腔底部之間也設有若干滾珠，滾珠圍繞檢測PIN的外側壁排列。
[0006]作為優(yōu)選，所述第一柱體型腔的直徑比柱蕊的直徑大1.5_。
[0007]作為優(yōu)選，所述調心柱體的下方設有螺接端，在探針座內(nèi)設有與之對應的針座型腔。
[0008]作為優(yōu)選，滾珠圍繞檢測PIN的外側壁的排列為均勻排列。
[0009]作為優(yōu)選，所述探針采用導電材質，探針的頂端與檢測PIN的底端均為平面。
[0010]作為優(yōu)選，所述檢測PIN的頂端為錐體。
[0011]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過調心柱體內(nèi)加裝精密滾珠，讓檢測PIN針可以在360度自由轉動且保持垂直狀態(tài)，可以允許產(chǎn)品攻牙孔1.5MM左右偏差，移位及不對位，從而保證檢測時準確性及穩(wěn)定性。節(jié)約成本，提高效率，適合不同大小各種形狀之攻牙孔檢測。
【附圖說明】
[0012]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0013]圖1為本發(fā)明一種漏牙檢測機構的結構示意圖；
圖2為本發(fā)明柱蕊、滾珠以及調心柱體部分的截面圖；
圖3為檢測PIN的結構不意圖；
圖4為調心柱體的結構不意圖；
圖5為探針座的結構示意圖；
圖6為探針的結構示意圖；
圖7為帶牙孔的電路板的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0014]下面結合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行詳細闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本發(fā)明的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
[0015]由于攻過牙的牙孔要比沒攻牙的牙孔直徑要小，因此可以通過檢測PIN10能否穿過牙孔來判斷是否攻牙。
如圖1-圖7所示，一種漏牙檢測機構，包括檢測PIN10(檢測針)、檢測PIN10的頂端為錐體，線簧11、調心柱體蓋12、調心柱體21、探針座31以及探針32;所述調心柱體蓋12蓋在調心柱體21的上端，所述檢測PIN 10的下端伸入到調心柱體21的內(nèi)部，上端穿過調心柱體蓋12伸出，在檢測PIN 10伸出調心柱體蓋12的部分設有一凸臺101，線簧11設置在凸臺101的下表面與調心柱體蓋12之間，在調心柱體21的內(nèi)部還設有柱蕊20，柱蕊20套在檢測PIN 10的下端，柱蕊20與檢測PIN 10的外側壁貼合，所述探針座31設置在調心柱體21的下端，探針32的上端在探針座31的內(nèi)部，該端與檢測PIN 10的下端不接觸，探針32下端從從探針座31的下端伸出。
[0016]進一步的，所述調心柱體21內(nèi)部上端設有第一柱體型腔211，下端設有第二柱體型腔212，第一柱體型腔的直徑大于第二柱體型腔212直徑，柱蕊20位于第一柱體型腔211內(nèi)，其外徑小于第一柱體型腔211的直徑1.5mm，并且大于檢測PIN 10的直徑，在柱蕊20的上表面與調心柱體蓋12的下表面之間設有若干滾珠33，在柱蕊20的下表面與第一柱體型腔211底部之間也設有若干滾珠33，滾珠33圍繞檢測PIN 10的外側壁均勻的排列，此種結構使得柱蕊20帶著檢測PIN 10通過滾珠33在水平方向上有1.5mm任意滑動的位移，即使檢測PIN和牙孔沒有完全對準也可以正常進行檢測，實現(xiàn)待檢測產(chǎn)品牙孔位偏的自動對中心，并且柱蕊20在上下層滾珠33的壓力下能夠使檢測PIN 10保持垂直。
[0017]進一步的，所述調心柱體21的下方設有螺接端213，在探針座31內(nèi)設有與之對應的針座型腔311，調心柱體21與探針座31通過螺接端213螺接形成一個完整的整體。
[0018]進一步的，所述探針32采用導電材質，探針32的頂端與檢測PIN10的底端均為平面。
[0019]使用的時候，將本發(fā)明中的檢測PIN10伸入到帶牙孔的電路板(如圖7)的牙孔41中，若此時牙孔41攻過牙，則其內(nèi)徑會比較大，檢測PIN10將不能穿過牙孔41，其將向調心柱體21內(nèi)收縮，其下端將和探針32的上端接觸，將使電信號導通，從而判斷攻牙，若無攻牙，則檢測PIN 10將穿過牙孔41，檢測PIN 10和探針32將不會接觸，也就不會產(chǎn)生信號，將判斷為未攻牙。
[0020]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動想到的變化或替換，都應涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應該以權利要求書所限定的保護范圍為準。
【主權項】
1.一種漏牙檢測機構，其特征在于:包括檢測PIN( 10)、線簧(11)、調心柱體蓋(12)、調心柱體(21)、探針座(31)以及探針(32);所述調心柱體蓋(12)蓋在調心柱體(21)的上端，所述檢測PIN( 10 )的下端伸入到調心柱體(21)的內(nèi)部，上端穿過調心柱體蓋(12 )伸出，在檢測PIN( 10)伸出調心柱體蓋(12)的部分設有一凸臺(101)，線簧(11)設置在凸臺(101)的下表面與調心柱體蓋(12)之間，在調心柱體(21)的內(nèi)部還設有柱蕊(20)，柱蕊(20)套在檢測PIN(10 )的下端，所述探針座(31)設置在調心柱體(21)的下端，探針(32 )的上端在探針座(31)的內(nèi)部，該端與檢測PIN( 10)的下端不接觸，探針(32)下端從從探針座(31)的下端伸出。2.根據(jù)權利要求1所述的一種漏牙檢測機構，其特征在于:所述調心柱體(21)內(nèi)部上端設有第一柱體型腔(211)，下端設有第二柱體型腔(212)，第一柱體型腔的直徑大于第二柱體型腔(212)直徑，柱蕊(20)位于第一柱體型腔(211)內(nèi)，其外徑小于第一柱體型腔(211)的直徑并且大于檢測PIN(1)的直徑，在柱蕊(20)的上表面與調心柱體蓋(12)的下表面之間設有若干滾珠(33)，在柱蕊(20)的下表面與第一柱體型腔(211)底部之間也設有若干滾珠(33)，滾珠(33)圍繞檢測PIN( 10)的外側壁排列。3.根據(jù)權利要求2所述的一種漏牙檢測機構，其特征在于:所述第一柱體型腔(211)的直徑比柱蕊(20)的直徑大1.5mm。4.根據(jù)權利要求1所述的一種漏牙檢測機構，其特征在于:所述調心柱體(21)的下方設有螺接端(213)，在探針座(31)內(nèi)設有與之對應的針座型腔(311)。5.根據(jù)權利要求2所述的一種漏牙檢測機構，其特征在于:滾珠(33)圍繞檢測PIN(1)的外側壁的排列為均勻排列。6.根據(jù)權利要求1所述的一種漏牙檢測機構，其特征在于:所述探針(32)采用導電材質，探針(32)的頂端與檢測PIN(1)的底端均為平面。7.根據(jù)權利要求1所述的一種漏牙檢測機構，其特征在于:所述檢測PIN(1)的頂端為錐體。
【專利摘要】本發(fā)明是一種漏牙檢測機構，包括檢測PIN、線簧、調心柱體蓋、調心柱體、探針座以及探針；所述調心柱體蓋在調心柱體的上端，所述檢測PIN的下端伸入到調心柱體的內(nèi)部，上端穿過調心柱體蓋伸出，在檢測PIN伸出調心柱體蓋的部分設有一凸臺，線簧設置在凸臺的下表面與調心柱體蓋之間，在調心柱體的內(nèi)部還設有柱蕊，柱蕊套在檢測PIN的下端，所述探針座設置在調心柱體的下端，探針的上端在探針座的內(nèi)部，該端與檢測PIN的下端不接觸，探針下端從探針座的下端伸出，本發(fā)明通過調心柱體內(nèi)加裝精密滾珠，讓檢測PIN針可以在360度自由轉動且保持垂直狀態(tài)，可以允許產(chǎn)品攻牙孔有偏差及不對位，從而保證檢測時準確性及穩(wěn)定性，節(jié)約成本，提高效率。
【IPC分類】G01V3/02
【公開號】CN105445804
【申請?zhí)枴緾N201510882319
【發(fā)明人】鄧光輝
【申請人】昆山乙盛機械工業(yè)有限公司
【公開日】2016年3月30日
【申請日】2015年12月4日