一種豎向標(biāo)高傳遞裝置的制造方法
【專利說明】
[0001]技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種結(jié)構(gòu)施工中的樓層標(biāo)高控制，尤其是設(shè)計(jì)一種豎向標(biāo)高傳遞裝置。
[0002]【背景技術(shù)】:
在首層平面易于向上傳遞標(biāo)高的位置布設(shè)基本傳遞高程點(diǎn)，用水準(zhǔn)儀往返測，測設(shè)合格后，用紅色油漆標(biāo)記，并在旁邊注建筑標(biāo)高，以紅色上頂先為標(biāo)高基準(zhǔn)，同一層平面紅色標(biāo)記不得少于三個(gè)，間距分布均勻并要滿足結(jié)構(gòu)施工的需要，且紅色標(biāo)記需設(shè)在同一水平高度，其誤差控制在正負(fù)5_以內(nèi)則認(rèn)為合格，在施測各層標(biāo)高時(shí)，應(yīng)后視其中的兩個(gè)紅色標(biāo)記上頂線以作校核。
[0003]
【發(fā)明內(nèi)容】
:
本發(fā)明的目的就是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷而提供一種豎向標(biāo)高傳遞裝置。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:
一種豎向標(biāo)高傳遞裝置，由首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值、SI水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)、S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)及待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值組成，S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)及待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值位于所述裝置的右上端，所述首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值及SI水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)位于所述裝置的右下端，利用水準(zhǔn)儀、塔尺和一把50m鋼尺，依次將3個(gè)標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)由線錘預(yù)留洞口傳遞至待測樓層，依次支座本樓層統(tǒng)一的標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)，并對各點(diǎn)進(jìn)行聯(lián)測，高差滿足2mm的精度要求后使用，用紅三角標(biāo)記為該樓層的標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)。
[0005]【附圖說明】:
圖1為本發(fā)明實(shí)施的結(jié)構(gòu)示意圖:
圖中，1、首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值，2、SI水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)，3、S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)，4、待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)聞值。
[0006]【具體實(shí)施方式】:
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。
[0007]—種豎向標(biāo)高傳遞裝置，由首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值(I)、SI水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)(2)、S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)(3)及待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值(4)組成，S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)(3)及待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值(4)位于所述裝置的右上端，所述首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值(I)及SI水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)(2)位于所述裝置的右下端，利用水準(zhǔn)儀、塔尺和一把50m鋼尺，依次將3個(gè)標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)由線錘預(yù)留洞口傳遞至待測樓層，依次支座本樓層統(tǒng)一的標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)，并對各點(diǎn)進(jìn)行聯(lián)測，高差滿足2_的精度要求后使用，用紅三角標(biāo)記為該樓層的標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種豎向標(biāo)高傳遞裝置，由首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值(I)、SI水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)(2)、S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)(3)及待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值(4)組成，其特征是:S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)(3)及待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值(4)位于所述裝置的右上端，所述首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值(I)及SI水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)(2)位于所述裝置的右下端，利用水準(zhǔn)儀、塔尺和一把50m鋼尺，依次將3個(gè)標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)由線錘預(yù)留洞口傳遞至待測樓層，依次支座本樓層統(tǒng)一的標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)，并對各點(diǎn)進(jìn)行聯(lián)測，高差滿足2_的精度要求后使用，用紅三角標(biāo)記為該樓層的標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)。
【專利摘要】一種豎向標(biāo)高傳遞裝置，由首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值、S1水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)、S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)及待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值組成，S2水準(zhǔn)儀在塔尺讀數(shù)及待測樓層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值位于所述裝置的右上端，所述首層基準(zhǔn)點(diǎn)標(biāo)高值及S1水準(zhǔn)儀在鋼尺讀數(shù)位于所述裝置的右下端，利用水準(zhǔn)儀、塔尺和一把50m鋼尺，依次將3個(gè)標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)由線錘預(yù)留洞口傳遞至待測樓層，依次支座本樓層統(tǒng)一的標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)，并對各點(diǎn)進(jìn)行聯(lián)測，高差滿足2mm的精度要求后使用，用紅三角標(biāo)記為該樓層的標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)。
【IPC分類】G01C15-02
【公開號】CN104677345
【申請?zhí)枴緾N201310636573
【發(fā)明人】王海剛
【申請人】黑龍江融德建筑技術(shù)開發(fā)有限公司
【公開日】2015年6月3日
【申請日】2013年12月3日