一種振動(dòng)測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種振動(dòng)測試系統(tǒng)，包括：激光器，CCD線陣傳感器，與CCD線陣傳感器相連的數(shù)據(jù)采集裝置，以及與數(shù)據(jù)采集裝置相連的上位機(jī)，其中：激光器，用于按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象發(fā)射光線，光線經(jīng)過被測對(duì)象反射后照射在CCD線陣傳感器上；CCD線陣傳感器，用于檢測被測對(duì)象振動(dòng)前后光線照射在自身的不同位置，并將生成的表示該不同位置的位置信號(hào)發(fā)送給數(shù)據(jù)采集裝置；數(shù)據(jù)采集裝置，用于將接收的位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，并將位置數(shù)據(jù)發(fā)送給上位機(jī)；上位機(jī)，用于基于接收的位置數(shù)據(jù)和該預(yù)設(shè)角度，確定被測對(duì)象的振動(dòng)位移。采用本方案，提高了在強(qiáng)電磁場環(huán)境下長距離進(jìn)行振動(dòng)測試的測試效果。
【專利說明】一種振動(dòng)測試系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及振動(dòng)測試檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種振動(dòng)測試系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]在眾多的工程領(lǐng)域中，機(jī)械振動(dòng)和動(dòng)力學(xué)的測量日益突出，已經(jīng)成為機(jī)械、結(jié)構(gòu)產(chǎn)品研究設(shè)計(jì)、維護(hù)等不可或缺的一種手段。而振動(dòng)傳感器的選擇是振動(dòng)測量中首要考慮的問題。
[0003]目前，傳統(tǒng)的振動(dòng)測量方式分為接觸式測量和非接觸式測量。接觸式測量可以分為以下幾類:壓電式，電阻式，電動(dòng)式等。而在有些特定的環(huán)境下接觸測量很難實(shí)現(xiàn)，而對(duì)于非接觸測量如傳統(tǒng)的電渦流式傳感器、電感式傳感器易受到電磁場的干擾。
[0004]光纖振動(dòng)傳感器是一種新型的非接觸振動(dòng)傳感裝置，不受電磁場的干擾而且精度也很高，但是光纖振動(dòng)傳感器雖然為非接觸測量，對(duì)于測量距離也有一定要求，通常探頭距被測物體表面距離不能太遠(yuǎn)，一般為厘米級(jí)別。
[0005]目前，在實(shí)際應(yīng)用中，經(jīng)常需要對(duì)電接觸試驗(yàn)裝置的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的瞬態(tài)振動(dòng)進(jìn)行測量，這是由于電接觸實(shí)驗(yàn)裝置的接觸線與受電弓之間的相互作用決定了供電可靠性以及供電質(zhì)量，高速時(shí)由受電弓與接觸網(wǎng)構(gòu)成的受電弓-接觸網(wǎng)系統(tǒng)中參數(shù)變化會(huì)弓I起接觸線與受電弓之間動(dòng)態(tài)性能的劇烈變化，弓網(wǎng)的劇烈振動(dòng)使得弓網(wǎng)分離產(chǎn)生電弧，也可能引起電能傳輸中斷。
[0006]因此，通過對(duì)電接觸試驗(yàn)裝置的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的瞬態(tài)振動(dòng)進(jìn)行測量，了解弓網(wǎng)結(jié)構(gòu)的振動(dòng)情況、優(yōu)化弓網(wǎng)參數(shù)，來保證弓網(wǎng)運(yùn)行平穩(wěn)性，對(duì)提高受流質(zhì)量具有十分重大的意義。
[0007]然而，電接觸實(shí)驗(yàn)裝置通常用在強(qiáng)電磁場環(huán)境中，所以使用現(xiàn)有的振動(dòng)測試設(shè)備和方法，要么受限于強(qiáng)電磁場環(huán)境，要么受限于測試距離，從而導(dǎo)致測試效果較差。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明實(shí)施例提供一種振動(dòng)測試系統(tǒng)，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的在強(qiáng)電磁場環(huán)境下長距離進(jìn)行振動(dòng)測試的測試效果較差的問題。
[0009]本發(fā)明實(shí)施例提供一種振動(dòng)測試系統(tǒng)，包括:
[0010]激光器，電荷耦合元件CCD線陣傳感器，與所述CCD線陣傳感器相連的數(shù)據(jù)采集裝置，以及與所述數(shù)據(jù)采集裝置相連的上位機(jī)，其中:
[0011]所述激光器，用于按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象發(fā)射光線，所述光線經(jīng)過所述被測對(duì)象反射后照射在所述CCD線陣傳感器上；
[0012]所述CCD線陣傳感器，用于檢測所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線照射在自身的不同位置，并將生成的表示所述位置的位置信號(hào)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)采集裝置；
[0013]所述數(shù)據(jù)采集裝置，用于將接收所述位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，并將所述位置數(shù)據(jù)發(fā)送給所述上位機(jī)；
[0014]所述上位機(jī)，用于基于所述位置數(shù)據(jù)和所述預(yù)設(shè)角度，確定所述被測對(duì)象的振動(dòng)位移。
[0015]進(jìn)一步的，還包括:反光鏡片；
[0016]所述反光鏡片貼于所述被測對(duì)象表面，用于將所述激光器發(fā)射到自身的光線，反射到所述C⑶線陣傳感器上。
[0017]進(jìn)一步的，所述上位機(jī)，具體用于基于所述位置數(shù)據(jù)，確定所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線照射在所述CCD線陣傳感器的不同位置之間距離；根據(jù)所述距離和所述預(yù)設(shè)角度，確定所述被測對(duì)象的振動(dòng)位移。
[0018]進(jìn)一步的，所述數(shù)據(jù)采集裝置，還用于在所述激光器向被測對(duì)象發(fā)射光線之前，為所述CCD線陣傳感器的驅(qū)動(dòng)模塊上電；
[0019]所述CCD線陣傳感器，具體用于在自身的所述驅(qū)動(dòng)模塊上電后，生成驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，并通過所述驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，檢測所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線照射在自身的光敏面的不同位置。
[0020]本發(fā)明實(shí)施例還提供一種振動(dòng)測試系統(tǒng)，包括:
[0021]激光器，位移放大裝置，電荷耦合元件CCD線陣傳感器，與所述CCD線陣傳感器相連的數(shù)據(jù)采集裝置，以及與所述數(shù)據(jù)采集裝置相連的上位機(jī)，其中:
[0022]所述激光器，用于按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象發(fā)射光線，所述光線經(jīng)過所述被測對(duì)象反射后，經(jīng)過所述位移放大裝置改變照射路徑后，照射在所述CCD線陣傳感器上；
[0023]所述CCD線陣傳感器，用于檢測所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線經(jīng)過所述位移放大裝置后，照射在自身的不同位置，并將生成的表示所述位置的位置信號(hào)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)采集裝置；
[0024]所述數(shù)據(jù)采集裝置，用于將接收所述位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，并將所述位置數(shù)據(jù)發(fā)送給所述上位機(jī)；
[0025]所述上位機(jī)，用于基于所述位置數(shù)據(jù)和所述預(yù)設(shè)角度，以及所述位移放大裝置的放大倍數(shù)，確定所述被測對(duì)象的振動(dòng)位移。
[0026]進(jìn)一步的，還包括:反光鏡片；
[0027]所述反光鏡片貼于所述被測對(duì)象表面，用于將所述激光器發(fā)射到自身的光線，反射到所述C⑶線陣傳感器上。
[0028]進(jìn)一步的，所述上位機(jī)，具體用于基于所述位置數(shù)據(jù)，確定所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線經(jīng)過所述位移放大裝置后，照射在所述CCD線陣傳感器的不同位置之間距離；根據(jù)所述距離和所述預(yù)設(shè)角度，以及所述位移放大裝置的放大倍數(shù)，確定所述被測對(duì)象的振動(dòng)位移。
[0029]進(jìn)一步的，所述數(shù)據(jù)采集裝置，還用于在所述激光器向被測對(duì)象發(fā)射光線之前，為所述CCD線陣傳感器的驅(qū)動(dòng)模塊上電；
[0030]所述CCD線陣傳感器，具體用于在自身的所述驅(qū)動(dòng)模塊上電后，生成驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，并通過所述驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，檢測所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線經(jīng)過所述位移放大裝置后，照射在自身的光敏面的不同位置。
[0031]本發(fā)明有益效果包括:
[0032]使用本發(fā)明實(shí)施例提供的振動(dòng)測試系統(tǒng)進(jìn)行振動(dòng)測試時(shí)，是通過CCD線陣傳感器檢測被測對(duì)象振動(dòng)前后所反射的光線照射在自身的不同位置，進(jìn)而由數(shù)據(jù)采集裝置將CCD線陣傳感器生成的位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，再由上位機(jī)基于該位置數(shù)據(jù)確定被測對(duì)象的振動(dòng)位移。由于CCD線陣傳感器不受強(qiáng)電磁場的干擾，所以本發(fā)明實(shí)施例提供的振動(dòng)測試系統(tǒng)可應(yīng)用于強(qiáng)電磁場環(huán)境，并且，由于是基于被測對(duì)象振動(dòng)前后所反射的光線照射的不同位置，確定被測對(duì)象的振動(dòng)位移，所以可以使得在測試時(shí)不受距離的限制，可以長距離的進(jìn)行振動(dòng)測試，進(jìn)而相比現(xiàn)有技術(shù)，提高了在強(qiáng)電磁場環(huán)境下長距離進(jìn)行振動(dòng)測試的測試效果。
[0033]本申請(qǐng)的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實(shí)施本申請(qǐng)而了解。本申請(qǐng)的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在所寫的說明書、權(quán)利要求書、以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0034]附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本發(fā)明實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0035]圖1為本發(fā)明實(shí)施例1提供的振動(dòng)測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0036]圖2為本發(fā)明實(shí)施例2提供的振動(dòng)測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0037]為了給出提高在強(qiáng)電磁場環(huán)境下長距離進(jìn)行振動(dòng)測試的測試效果的實(shí)現(xiàn)方案，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種振動(dòng)測試系統(tǒng)，以下結(jié)合說明書附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說明，應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的優(yōu)選實(shí)施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。并且在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
[0038]實(shí)施例1:
[0039]本發(fā)明實(shí)施例1提供一種振動(dòng)測試系統(tǒng)，如圖1所示，包括:
[0040]激光器11,電荷稱合元件(CO), Charge-coupled Device)線陣傳感器12,與CO)線陣傳感器12相連的數(shù)據(jù)采集裝置13，以及與數(shù)據(jù)采集裝置13相連的上位機(jī)14，其中:
[0041]激光器11，用于按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象15發(fā)射光線，光線經(jīng)過被測對(duì)象15反射后照射在(XD線陣傳感器12上；
[0042]C⑶線陣傳感器12，用于檢測被測對(duì)象15振動(dòng)前后光線照射在自身的不同位置，并將生成的表示該不同位置的位置信號(hào)發(fā)送給數(shù)據(jù)采集裝置13 ；
[0043]數(shù)據(jù)采集裝置13，用于將接收的位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，并將位置數(shù)據(jù)發(fā)送給上位機(jī)14 ；
[0044]上位機(jī)14，用于基于接收的位置數(shù)據(jù)和該預(yù)設(shè)角度，確定被測對(duì)象15的振動(dòng)位移。
[0045]本發(fā)明實(shí)施例1中，在使用上述圖1所示的振動(dòng)測試系統(tǒng)進(jìn)行振動(dòng)測試時(shí)，可以先通過數(shù)據(jù)采集裝置13為(XD線陣傳感器12的驅(qū)動(dòng)模塊上電，(XD線陣傳感器12在自身的驅(qū)動(dòng)模塊上電后，生成驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，用于后續(xù)檢測光線照射在自身的光敏面的位置。
[0046]在對(duì)CCD線陣傳感器12的驅(qū)動(dòng)模塊上電后，即可以觸發(fā)激光器11按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象15發(fā)射光線，光線經(jīng)過被測對(duì)象15反射后照射在CCD線陣傳感器12上，CCD線陣傳感器12通過已生成的驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，檢測被測對(duì)象15振動(dòng)前后光線照射在CCD線陣傳感器12的光敏面的不同位置。
[0047]CCD線陣傳感器12檢測到光線照射在自身的光敏面的不同位置后，將生成表示該不同位置的位置信號(hào)，并將生成的該位置信號(hào)發(fā)送給數(shù)據(jù)采集裝置13。
[0048]數(shù)據(jù)采集裝置13在接收到該位置信號(hào)后，對(duì)該位置信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，將該位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，該位置數(shù)據(jù)可以表示光線照射在CCD線陣傳感器12的光敏面的位置，并將該位置數(shù)據(jù)發(fā)送給上位機(jī)14。
[0049]本發(fā)明實(shí)施例1中，該數(shù)據(jù)采集裝置13可以為DSP(數(shù)字信號(hào)處理，DigitalSignal Processing)設(shè)備。
[0050]上位機(jī)14在接收到該位置數(shù)據(jù)后，及可以基于該位置數(shù)據(jù)和激光器11發(fā)射的光線照射在被測對(duì)象15上的預(yù)設(shè)角度，確定被測對(duì)象15的振動(dòng)位移。
[0051]具體可以可以先基于接收的位置數(shù)據(jù)，確定被測對(duì)象15振動(dòng)前后光線照射在CCD線陣傳感器12的不同位置之間距離，然后根據(jù)該距離和該預(yù)設(shè)角度，確定被測對(duì)象15的振動(dòng)位移。
[0052]以圖1中所示為例，激光器11發(fā)射的光線照射在被測對(duì)象15上的預(yù)設(shè)角度為α，被測對(duì)象15振動(dòng)前，光線照射在被測對(duì)象15上的位置為ol點(diǎn)，光線經(jīng)被測對(duì)象15反射后，照射在CCD線陣傳感器12的光敏面的位置為a點(diǎn)，被測對(duì)象15振動(dòng)后，光線照射在被測對(duì)象15上的位置為o2點(diǎn)，光線經(jīng)被測對(duì)象15反射后，照射在CCD線陣傳感器12的光敏面的位置為b點(diǎn)，且a點(diǎn)與b點(diǎn)之間的距離為d，則可以采用如下公式計(jì)算被測對(duì)象15的振動(dòng)位移h:
[0053]h = d/2tan α
[0054]本發(fā)明實(shí)施例1提供的上述振動(dòng)測試系統(tǒng)，進(jìn)一步的，還可以包括反光鏡片16，當(dāng)被測對(duì)象15無法反射激光器11發(fā)射的光線時(shí)，可以將反光鏡片16貼于被測對(duì)象15的表面，用于將激光器11發(fā)射到反光鏡片16的光線，反射到CCD線陣傳感器12上。
[0055]采用本發(fā)明實(shí)施例1提供的上述振動(dòng)測試系統(tǒng)，可以在強(qiáng)電磁場環(huán)境下，對(duì)電接觸實(shí)驗(yàn)裝置的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的瞬態(tài)振動(dòng)進(jìn)行測量，由于CCD線陣傳感器不受強(qiáng)電磁場的干擾，所以可以即便應(yīng)用于強(qiáng)電磁場環(huán)境下，仍然能夠?qū)崿F(xiàn)準(zhǔn)確的測量；并且，由于是基于被測對(duì)象振動(dòng)前后所反射的光線照射的不同位置，確定被測對(duì)象的振動(dòng)位移，所以可以使得在測試時(shí)不受距離的限制，即可以長距離的進(jìn)行振動(dòng)測試，進(jìn)而相比現(xiàn)有技術(shù)，提高了在強(qiáng)電磁場環(huán)境下長距離進(jìn)行振動(dòng)測試的測試效果。
[0056]實(shí)施例2:
[0057]本發(fā)明實(shí)施例2提供一種振動(dòng)測試系統(tǒng)，如圖2所示，包括:
[0058]激光器21，位移放大裝置22，CXD線陣傳感器23，與CXD線陣傳感器23相連的數(shù)據(jù)采集裝置24，以及與數(shù)據(jù)采集裝置24相連的上位機(jī)25，其中:
[0059]激光器21，用于按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象26發(fā)射光線，光線經(jīng)過被測對(duì)象26反射后，經(jīng)過位移放大裝置22改變照射路徑后，照射在CXD線陣傳感器上23 ；
[0060]CXD線陣傳感器23，用于檢測被測對(duì)象26振動(dòng)前后光線經(jīng)過位移放大裝置22后，照射在自身的不同位置，并將生成的表示該不同位置的位置信號(hào)發(fā)送給數(shù)據(jù)采集裝置24 ；
[0061]數(shù)據(jù)采集裝置24，用于將接收的位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，并將位置數(shù)據(jù)發(fā)送給上位機(jī)25 ；
[0062]上位機(jī)25，用于基于接收的位置數(shù)據(jù)和該預(yù)設(shè)角度，以及位移放大裝置22的放大倍數(shù)，確定被測對(duì)象26的振動(dòng)位移。
[0063]本發(fā)明實(shí)施例2中，在使用上述圖2所示的振動(dòng)測試系統(tǒng)進(jìn)行振動(dòng)測試時(shí)，可以先通過數(shù)據(jù)采集裝置24為CXD線陣傳感器23的驅(qū)動(dòng)模塊上電，CXD線陣傳感器23在自身的驅(qū)動(dòng)模塊上電后，生成驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，用于后續(xù)檢測光線經(jīng)過位移放大裝置22后照射在自身的光敏面的位置。
[0064]在對(duì)CCD線陣傳感器23的驅(qū)動(dòng)模塊上電后，即可以觸發(fā)激光器21按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象26發(fā)射光線，光線經(jīng)過被測對(duì)象26反射后，經(jīng)過位移放大裝置22改變照射路徑后，照射在CXD線陣傳感器23上，CXD線陣傳感器23通過已生成的驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，檢測被測對(duì)象26振動(dòng)前后光線經(jīng)過位移放大裝置22后，照射在CCD線陣傳感器23的光敏面的不同位置。
[0065]CCD線陣傳感器23檢測到光線照射在自身的光敏面的不同位置后，將生成表示該不同位置的位置信號(hào)，并將生成的該位置信號(hào)發(fā)送給數(shù)據(jù)采集裝置24。
[0066]數(shù)據(jù)采集裝置24在接收到該位置信號(hào)后，對(duì)該位置信號(hào)進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換，將該位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，該位置數(shù)據(jù)可以表示光線照射在CCD線陣傳感器23的光敏面的位置，并將該位置數(shù)據(jù)發(fā)送給上位機(jī)25。
[0067]本發(fā)明實(shí)施例2中，該數(shù)據(jù)采集裝置24可以為DSP(數(shù)字信號(hào)處理，DigitalSignal Processing)設(shè)備。
[0068]上位機(jī)25在接收到該位置數(shù)據(jù)后，及可以基于該位置數(shù)據(jù)和激光器21發(fā)射的光線照射在被測對(duì)象26上的預(yù)設(shè)角度，以及位移放大裝置22的放大倍數(shù)，確定被測對(duì)象26的振動(dòng)位移。
[0069]具體可以可以先基于接收的位置數(shù)據(jù)，確定被測對(duì)象26振動(dòng)前后光線經(jīng)過位置放大裝置22后，照射在CCD線陣傳感器23的不同位置之間距離，然后根據(jù)該距離和該預(yù)設(shè)角度，以及位移放大裝置22的放大倍數(shù)，確定被測對(duì)象26的振動(dòng)位移。
[0070]以圖2中所示為例，激光器21發(fā)射的光線照射在被測對(duì)象26上的預(yù)設(shè)角度為β，被測對(duì)象26振動(dòng)前，光線照射在被測對(duì)象26上的位置為pi點(diǎn)，光線經(jīng)被測對(duì)象26反射后，且經(jīng)過位置放大裝置22后，照射在CXD線陣傳感器23的光敏面的位置為e點(diǎn)，被測對(duì)象26振動(dòng)后，光線照射在被測對(duì)象26上的位置為p2點(diǎn)，光線經(jīng)被測對(duì)象26反射后，且經(jīng)過位置放大裝置22后，照射在CXD線陣傳感器23的光敏面的位置為f點(diǎn)，且e點(diǎn)與f點(diǎn)之間的距離為k，且位置放大裝置22的放大倍數(shù)為C，則可以采用如下公式計(jì)算被測對(duì)象26的振動(dòng)位移h:
[0071]h = k/2ctan β
[0072]本發(fā)明實(shí)施例2提供的上述振動(dòng)測試系統(tǒng)，進(jìn)一步的，還可以包括反光鏡片27，當(dāng)被測對(duì)象26無法反射激光器21發(fā)射的光線時(shí)，可以將反光鏡片27貼于被測對(duì)象26的表面，用于將激光器21發(fā)射到反光鏡片27的光線，經(jīng)過位移放大裝置22后，反射到CCD線陣傳感器23上。
[0073]采用本發(fā)明實(shí)施例2提供的上述振動(dòng)測試系統(tǒng)，可以在強(qiáng)電磁場環(huán)境下，對(duì)電接觸實(shí)驗(yàn)裝置的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的瞬態(tài)振動(dòng)進(jìn)行測量，由于CCD線陣傳感器不受強(qiáng)電磁場的干擾，所以可以即便應(yīng)用于強(qiáng)電磁場環(huán)境下，仍然能夠?qū)崿F(xiàn)準(zhǔn)確的測量；并且，由于是基于被測對(duì)象振動(dòng)前后所反射的光線照射的不同位置，確定被測對(duì)象的振動(dòng)位移，所以可以使得在測試時(shí)不受距離的限制，即可以長距離的進(jìn)行振動(dòng)測試，進(jìn)而相比現(xiàn)有技術(shù)，提高了在強(qiáng)電磁場環(huán)境下長距離進(jìn)行振動(dòng)測試的測試效果。
[0074]并且，由于光線在經(jīng)過被測對(duì)象反射后，經(jīng)過位移放大裝置改變光線路徑后，能放大被測對(duì)象振動(dòng)前后，光線照射在CCD線陣傳感器上的不同位置之間的距離，從而使得后續(xù)根據(jù)該距離確定被測對(duì)象的振動(dòng)位移時(shí)，得到更準(zhǔn)確的結(jié)果。
[0075]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種振動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于，包括: 激光器，電荷耦合元件CCD線陣傳感器，與所述CCD線陣傳感器相連的數(shù)據(jù)采集裝置，以及與所述數(shù)據(jù)采集裝置相連的上位機(jī)，其中: 所述激光器，用于按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象發(fā)射光線，所述光線經(jīng)過所述被測對(duì)象反射后照射在所述CCD線陣傳感器上； 所述CCD線陣傳感器，用于檢測所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線照射在自身的不同位置，并將生成的表示所述位置的位置信號(hào)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)采集裝置； 所述數(shù)據(jù)采集裝置，用于將接收所述位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，并將所述位置數(shù)據(jù)發(fā)送給所述上位機(jī)； 所述上位機(jī)，用于基于所述位置數(shù)據(jù)和所述預(yù)設(shè)角度，確定所述被測對(duì)象的振動(dòng)位移。
2.如權(quán)利要求1所述的振動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括:反光鏡片； 所述反光鏡片貼于所述被測對(duì)象表面，用于將所述激光器發(fā)射到自身的光線，反射到所述C⑶線陣傳感器上。
3.如權(quán)利要求1或2所述的振動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機(jī)，具體用于基于所述位置數(shù)據(jù)，確定所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線照射在所述CCD線陣傳感器的不同位置之間距離；根據(jù)所述距離和所述預(yù)設(shè)角度，確定所述被測對(duì)象的振動(dòng)位移。
4.如權(quán)利要求1或2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集裝置，還用于在所述激光器向被測對(duì)象發(fā)射光線之前，為所述CCD線陣傳感器的驅(qū)動(dòng)模塊上電； 所述CCD線陣傳感器，具體用于在自身的所述驅(qū)動(dòng)模塊上電后，生成驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，并通過所述驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，檢測所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線照射在自身的光敏面的不同位置。
5.—種振動(dòng)測試系統(tǒng),其特征在于,包括: 激光器，位移放大裝置，電荷耦合元件CCD線陣傳感器，與所述CCD線陣傳感器相連的數(shù)據(jù)采集裝置，以及與所述數(shù)據(jù)采集裝置相連的上位機(jī)，其中: 所述激光器，用于按照預(yù)設(shè)角度向被測對(duì)象發(fā)射光線，所述光線經(jīng)過所述被測對(duì)象反射后，經(jīng)過所述位移放大裝置改變照射路徑后，照射在所述CCD線陣傳感器上； 所述CCD線陣傳感器，用于檢測所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線經(jīng)過所述位移放大裝置后，照射在自身的不同位置，并將生成的表示所述位置的位置信號(hào)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)采集裝置； 所述數(shù)據(jù)采集裝置，用于將接收所述位置信號(hào)轉(zhuǎn)換為位置數(shù)據(jù)，并將所述位置數(shù)據(jù)發(fā)送給所述上位機(jī)； 所述上位機(jī)，用于基于所述位置數(shù)據(jù)和所述預(yù)設(shè)角度，以及所述位移放大裝置的放大倍數(shù)，確定所述被測對(duì)象的振動(dòng)位移。
6.如權(quán)利要求1所述的振動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括:反光鏡片； 所述反光鏡片貼于所述被測對(duì)象表面，用于將所述激光器發(fā)射到自身的光線，反射到所述C⑶線陣傳感器上。
7.如權(quán)利要求5或6所述的振動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位機(jī)，具體用于基于所述位置數(shù)據(jù)，確定所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線經(jīng)過所述位移放大裝置后，照射在所述CCD線陣傳感器的不同位置之間距離；根據(jù)所述距離和所述預(yù)設(shè)角度，以及所述位移放大裝置的放大倍數(shù)，確定所述被測對(duì)象的振動(dòng)位移。
8.如權(quán)利要求5或6所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集裝置，還用于在所述激光器向被測對(duì)象發(fā)射光線之前，為所述CCD線陣傳感器的驅(qū)動(dòng)模塊上電； 所述CCD線陣傳感器，具體用于在自身的所述驅(qū)動(dòng)模塊上電后，生成驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，并通過所述驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘脈沖，檢測所述被測對(duì)象振動(dòng)前后所述光線經(jīng)過所述位移放大裝置后，照射在自身的光敏面的不同位置。
【文檔編號(hào)】G01H9/00GK104457959SQ201410734330
【公開日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年12月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月5日
【發(fā)明者】溫銀堂, 張玉燕, 王洪斌, 王洪瑞, 王振春, 戰(zhàn)再吉, 周航 申請(qǐng)人:燕山大學(xué)