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一種顯示器底托支架平坦度測量裝置制造方法

文檔序號:6199599閱讀:188來源:國知局
一種顯示器底托支架平坦度測量裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型屬于顯示器制造【技術領域】,具體涉及一種顯示器底托支架平坦度測量裝置,包括:定位單元,用于定位待測底托支架;移動測量單元,包括測量儀固定裝置、兩根平行設置的直線導軌,所述測量儀固定裝置固定有至少一個平坦度測量儀,在驅(qū)動裝置驅(qū)動下,沿所述直線導軌向所述待測底托支架移動,所述平坦度測量儀的測量端與所述待測底托支架上測量點對齊。本實用新型在驅(qū)動裝置驅(qū)動下使測量儀固定裝置沿直線導軌向被定位的待測底托支架移動,使測量儀固定裝置上安裝的平坦度測量儀的測量端與待測底托支架的上測量點對齊接觸測量,實現(xiàn)了對顯示器底托支架平坦度的精準檢驗,從而保證了裝配后的顯示器左右高度差在合理范圍內(nèi)。
【專利說明】一種顯示器底托支架平坦度測量裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于顯示器制造【技術領域】,具體涉及一種顯示器底托支架平坦度測量裝置。
【背景技術】
[0002]顯示器是人們?nèi)粘I睢⒐ぷ髦杏耙粼O備的重要工具,顯示器的左右高度差是對顯示器整機品質(zhì)影響大的性能參數(shù);對顯示器的使用效果有著至關重要的作用,顯示器左右高度差不良會對用戶造成使用不便。因為顯示器結(jié)構的特殊性,現(xiàn)用技術中很難對顯示器的左右高度差進行測量判定,大都憑據(jù)檢驗員主觀感覺操作判定;或者整機組裝后測量,嚴重影響量產(chǎn)性。在檢驗員憑感覺主觀檢驗判定下,主觀性過強,且誤差較大;組裝整機后測量,作業(yè)難度大,量產(chǎn)性極差,無法實現(xiàn)100%全檢。
實用新型內(nèi)容
[0003]本實用新型的目的在于解決上述技術問題而提供一種顯示器底托支架平坦度測量裝置,通過對顯示器底托支架的平坦度檢測來確保顯示器整機的平坦度。
[0004]為實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用如下技術方案:
[0005]一種顯示器底托支架平坦度測量裝置,包括:
[0006]定位單元,用于定位待測底托支架;
[0007]移動測量單元,包括測量儀固定裝置、兩根平行設置的直線導軌,所述測量儀固定裝置固定有至少一個平坦度測量儀,在驅(qū)動裝置驅(qū)動下,沿所述直線導軌向所述待測底托支架移動,所述平坦度測量儀的測量端與所述待測底托支架上測量點對齊。
[0008]所述定位單元包括定位塊,所述定位塊內(nèi)設有可將待測底托支架吸住定位的磁鐵。
[0009]所述磁鐵鑲嵌在所述定位塊中。
[0010]所述測量儀固定裝置包括一底板以及與所述底板垂直連接的立板,所述底板的底端面設有與所述直線導軌相配合的運動導軌,所述平坦度測量儀安裝在所述立板上。
[0011]所述平坦度測量儀采用至少兩個數(shù)顯式千分尺,根據(jù)所述數(shù)顯式千分尺的檢測數(shù)值差是否在預設范圍內(nèi),來判斷所述待測底托支架的平坦度是否合格。
[0012]所述驅(qū)動裝置采用氣缸。
[0013]本實用新型在驅(qū)動裝置驅(qū)動下使測量儀固定裝置沿直線導軌向被定位的待測底托支架移動,使測量儀固定裝置上安裝的平坦度測量儀的測量端與待測底托支架的上測量點對齊接觸測量,實現(xiàn)了對顯示器底托支架平坦度的精準檢驗,從而保證了裝配后的顯示器左右高度差在合理范圍內(nèi)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]圖1所示為本實用新型實施例提供的一種顯示器底托支架平坦度測量裝置的結(jié)構示意圖:
[0015]圖2所示為本實用新型實施例提供的定位單元與待測底托支架的連接示意圖?!揪唧w實施方式】
[0016]下面,結(jié)合實例對本實用新型的實質(zhì)性特點和優(yōu)勢作進一步的說明,但本實用新型并不局限于所列的實施例。
[0017]參見圖1所示,該圖示出了本實用新型實施例提供的一種顯示器底托支架平坦度測量裝置的結(jié)構。為了便于說明,僅示出了與本實用新型實施例有關的部分。
[0018]請參閱圖1,一種顯示器底托支架平坦度測量裝置,包括:
[0019]定位單元I,用于定位待測底托支架3 ;
[0020]移動測量單元2,位于所述定位單元I 一側(cè),包括測量儀固定裝置26、兩根平行設置的直線導軌21、22,所述測量儀固定裝置26固定有至少一個平坦度測量儀,在驅(qū)動裝置25驅(qū)動下,沿所述直線導軌21、22向所述的待測底托支架3移動,所述平坦度測量儀的測量端與所述待測底托支架3上測量點對齊。
[0021]所述定位單元I與所述移動測量單元2采用可更換的鑲塊結(jié)構嵌入在一平面基臺上,這樣方便根據(jù)不同型號的顯示器底托支架的進行更換不同型號的定位單元I與移動測量單元2進行測量。
[0022]參見圖2所示,該圖2示了本實用新型實施例提供的定位單元I與待測底托支架3的定位連接方式,本實用新型實施例中,所述定位單元I包括定位塊11,所述定位塊11的定位端具有與待測底托支架3相應端相適應的定位結(jié)構,所述定位塊11內(nèi)設有可將待測底托支架3吸住定位的磁鐵12。
[0023]所述待測底托支架3上相對所述定位塊11的端具有可由磁鐵12吸住的鐵質(zhì)或鋼質(zhì)材料,利用該鐵質(zhì)或鋼質(zhì)材料與所述磁鐵12吸附,并通過所述定位結(jié)構保證該待測底托支架3固定不動,從而實現(xiàn)將所述待測底托支架3定位固定吸附在所述定位單元I上。
[0024]進一步的,所述測量儀固定裝置26包括一底板261以及與所述底板261垂直連接的立板262,所述底板261下端設有與所述直線導軌21、22相配合的兩根運動導軌263,所述平坦度測量儀安裝在所述立板262上。
[0025]進一步的,本實用新型實施例中,所述平坦度測量儀采用至少兩個數(shù)顯式千分尺23、24,根據(jù)所述數(shù)顯式千分尺23、24的檢測數(shù)值差是否在預設范圍內(nèi),來判斷所述待測底托支架3的平坦度是否合格。
[0026]當然,也可以采用其它的可用的平坦度測量儀進行測量,并不局限于使用所述的數(shù)顯式千分尺。
[0027]本實用新型實施例中,所述驅(qū)動裝置25可以采用氣缸,采用氣缸時,可直接將氣缸與所述測量儀固定裝置26連接,由氣缸帶動所述測量儀固定裝置26移動,而帶動所述平坦度測量儀進行移動測量。
[0028]使用前,先將定位單元I以及移動測量單元2位置相對安裝在一水平的平面基臺上,使二者底端面位于同一平面上,然后將待測底托支架3的一端定位在定位單元I上,啟動驅(qū)動裝置25帶動測量儀固定裝置26沿所述直線導軌21、22向待測底托支架3移動,通過數(shù)顯式千分尺23、24上的測量端與待測底托支架3上的測量點對齊接觸后,該數(shù)顯式千分尺23、24自動顯示測量點的高度差。測量完畢后,在驅(qū)動裝置25帶動下,所述測量儀固定裝置26復位,再進行下一輪另一個待測底托支架的測量。
[0029]本實用新型可以采用電氣系統(tǒng)控制氣缸行程以及移動速度,從而實現(xiàn)移動速度、位置可調(diào)節(jié),平坦度測量儀位移及移動速度可任意設定,實現(xiàn)勻速移動,恒力接觸,排除非測量誤差,從而可有效解決人工測量無法實現(xiàn)的測量的速度、精確度,解決了量產(chǎn)實用性問題,可以實現(xiàn)批量生產(chǎn)100%檢驗,具備廣泛適用性,精度可達0.01mm。
[0030]本實用新型在驅(qū)動裝置驅(qū)動下使測量儀固定裝置沿直線導軌向被定位的待測底托支架移動,使測量儀固定裝置上安裝的平坦度測量儀的測量端與待測底托支架的上測量點對齊接觸測量,實現(xiàn)了對顯示器底托支架平坦度的精準檢驗,從而保證了裝配后的顯示器左右高度差在合理范圍內(nèi)。
[0031]以上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式,應當指出,對于本【技術領域】的普通技術人員來說,在不脫離本實用新型原理的前提下,還可以做出若干改進和潤飾,這些改進和潤飾也應視為本實用新型的保護范圍。
【權利要求】
1.一種顯示器底托支架平坦度測量裝置,其特征在于,包括: 定位單元,用于定位待測底托支架; 移動測量單元,包括測量儀固定裝置、兩根平行設置的直線導軌,所述測量儀固定裝置固定有至少一個平坦度測量儀,在驅(qū)動裝置驅(qū)動下,沿所述直線導軌向所述待測底托支架移動,所述平坦度測量儀的測量端與所述待測底托支架上測量點對齊。
2.根據(jù)權利要求1所述顯示器底托支架平坦度測量裝置,其特征在于,所述定位單元包括定位塊,所述定位塊內(nèi)設有可將待測底托支架吸住定位的磁鐵。
3.根據(jù)權利要求2所述顯示器底托支架平坦度測量裝置,其特征在于,所述磁鐵鑲嵌在所述定位塊中。
4.根據(jù)權利要求1所述顯示器底托支架平坦度測量裝置,其特征在于,所述測量儀固定裝置包括一底板以及與所述底板垂直連接的立板,所述底板的底端面設有與所述直線導軌相配合的運動導軌,所述平坦度測量儀安裝在所述立板上。
5.根據(jù)權利要求1所述顯示器底托支架平坦度測量裝置,其特征在于,所述平坦度測量儀采用至少兩個數(shù)顯式千分尺,根據(jù)所述數(shù)顯式千分尺的檢測數(shù)值差是否在預設范圍內(nèi),來判斷所述待測底托支架的平坦度是否合格。
6.根據(jù)權利要求1所述顯示器底托支架平坦度測量裝置,其特征在于,所述驅(qū)動裝置采用氣缸。
【文檔編號】G01B5/28GK203454948SQ201320582623
【公開日】2014年2月26日 申請日期:2013年9月18日 優(yōu)先權日:2013年9月18日
【發(fā)明者】張加凱 申請人:天津三星電子有限公司, 三星電子株式會社
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