X射線熒光分析測定水泥成分的方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明是關于X射線熒光分析測定水泥成分的方法及系統(tǒng)。所述方法包括：制備標準水泥樣品熔片和待測水泥樣品熔片，并測量X熒光強度；將待測水泥樣品測得的各個元素強度轉化為稀釋比為5的強度值，計算待測水泥樣品各化學成分的含量，計算待測水泥樣品各化學成分的含量總和；并判斷待測水泥樣品各化學成分的含量總SUM和與標準樣品中各化學成分的含量總和SUMS之差是否在預設范圍內，多次計算，當所述之差位于預設范圍內時，該次計算得到的質量分數即為測定結果。所述X射線熒光分析系統(tǒng)，其包括的數據處理裝置執(zhí)行上述方法中的某些步驟。本發(fā)明的方法及系統(tǒng)操作過程簡便易行，適于實用。
【專利說明】X射線熒光分析測定水泥成分的方法及系統(tǒng)
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種水泥成分測定技術，特別是涉及一種采用X射線熒光分析測定水泥成分的方法及系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]目前，熔融法X射線熒光分析水泥樣品時，首先要制備系列校準樣品，用固定的標準稀釋比將校準樣品熔融制備成玻璃熔片，然后通過測量系列校準樣品的X射線熒光強度制作工作曲線。然后根據水泥試樣及熔劑在熔融溫度下的燒失量，按照標準稀釋比的要求，準確地定量稱取試樣與熔劑，任何稱量的不準確與熔樣過程中樣品或熔劑的損失及熔樣設備的溫度誤差與溫度不均勻性都會為測定結果造成誤差。因此，對水泥系列校準樣品、熔樣設備、熔劑燒失量及操作人員的技能都有較高要求。
[0003]有鑒于上述現(xiàn)有的X射線熒光分析中存在的缺陷，本發(fā)明人積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設一種新的X射線熒光分析測定水泥成分的方法以改進上述缺陷。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明的主要目的在于，提供一種新的X射線熒光分析測定水泥成分的方法及系統(tǒng)，使其操作過程更加簡便易行，從而適于實用。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提出一種X射線熒光分析測定水泥成分的方法，其包括:
[0006]步驟1，制備標準水泥樣品熔片，該熔片的稀釋比為5 ；
[0007]步驟2，制備待測水泥樣品溶片；
[0008]步驟3，用X射線熒光儀測量上述標準水泥樣品熔片和待測水泥樣品熔片中各化學成分對應元素的強度；
[0009]步驟4，按照式(I)將待測水泥樣品測得的各個元素強度轉化為稀釋比為5的強度值，
【權利要求】
1.一種X射線熒光分析測定水泥成分的方法，其特征在于其包括: 步驟1，制備標準水泥樣品熔片，該熔片的稀釋比為5 ； 步驟2，制備待測水泥樣品熔片； 步驟3，用X射線熒光儀測量上述標準水泥樣品熔片和待測水泥樣品熔片中各化學成分對應元素的強度； 步驟4，按照式(I)將待測水泥樣品測得的各個元素強度轉化為稀釋比為5的強度值，
2.根據權利要求1所述的X射線熒光分析測定水泥成分的方法，其特征在于，所述的步驟2中制備的待測水泥樣品熔片的稀釋比為2.5-10。
3.根據權利要求1所述的X射線熒光分析測定水泥成分的方法，其特征在于，所述的步驟5中，第一次給R賦值為5。
4.根據權利要求1所述的X射線熒光分析測定水泥成分的方法，其特征在于，所述的預設范圍為-0.05%-0.05%。
5.根據權利要求1所述的X射線熒光分析測定水泥成分的方法，其特征在于，當SUM〉SUMS時，步驟6中重新給R賦值小于前次R值，當SUM〈SUMS時，步驟6中重新給R賦值大于前次R值。
6.根據權利要求1或5所述的X射線熒光分析測定水泥成分的方法，其特征在于，步驟6中重新給R賦值的步長的范圍為0.001-0.1。
7.—種X射線熒光分析系 統(tǒng)，包括數據處理裝置，其特征在于，所述數據處理裝置執(zhí)行權利要求1-6任一項所述的方法中的步驟4至步驟6。
【文檔編號】G01N23/223GK103969272SQ201310036148
【公開日】2014年8月6日 申請日期:2013年1月30日 優(yōu)先權日:2013年1月30日
【發(fā)明者】馬振珠, 劉玉兵, 賈慶海, 戴平, 趙鷹立, 閆冉, 韓蔚 申請人:中國建材檢驗認證集團股份有限公司