專利名稱：用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及電磁場的場均勻性的校準技術領域，特別涉及一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)。
背景技術：
對于射頻電磁場，IEC61000系列標準給出了兩種電磁場的場均勻性的校準方法，即恒定場強校準法和恒定功率校準法。恒定場強校準法是通過調整前向輸出功率建立一個場強恒定的均勻場，然后用一個經校準的場強探頭以指定的步長在每個頻段對待測區(qū)域內的各個點進行測量。恒定功率校準法與之不同的是測量時保持前向輸出功率恒定。對于瞬變電磁場，MIL-STD-461F標準采用了上述恒定場強校準法。但是，恒定場強校準法存在以下不足(I)瞬變電磁場由脈沖信號源觸發(fā)的單脈沖信號產生，為了獲得恒定的電磁場，需要反復調節(jié)脈沖信號源的輸出功率，因此必須既可以準確監(jiān)測所用脈沖信號源的輸出功率，又可以對所用脈沖信號源的輸出功率進行微調，對包括脈沖信號源在內的瞬變電磁場產生裝置的要求高；(2)通常需要用高壓探頭監(jiān)測脈沖信號源的輸出功率，在實際應用中有時很難實現(xiàn)；(3)校準時間較長，使用不方便。對于瞬變電磁場，如果采用恒定功率校準法，也存在以下問題(I)需要脈沖信號源多次觸發(fā)輸出多個單脈沖信號，各個單脈沖信號的幅度很難完全保持一致，即存在脈沖信號源輸出的各個單脈沖信號不穩(wěn)定的問題，導致瞬變電磁場均勻性校準的準確度降低；(2)對脈沖信號源輸出穩(wěn)定性的要求導致瞬變電磁場產生裝置的成本較高。用于校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)通常需要測試多個位置。校準瞬變電磁場的場均勻性時，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調節(jié)測試探頭的位置和角度。具體地，校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要通過調節(jié)支架來改變固定有探頭的測試桿的角度和長度，甚至需要通過調節(jié)支架實現(xiàn)測試桿繞固定軸的轉動?，F(xiàn)有技術中的支架都不能直接實現(xiàn)上述功能，因此在用于校準瞬變電磁場的場均勻性時非常不便。目前，非常需要一種對包括脈沖信號源在內的瞬變電磁場產生裝置要求低、快速、準確且低成本的瞬變電磁場的場均勻性的校準系統(tǒng)。

實用新型內容本實用新型的目的是提供一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)。本實用新型提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)包括支架、示波器和至少一個探頭，所述支架包括支撐桿、定位環(huán)、旋轉盤、旋鈕和測試桿，所述定位環(huán)設于所述支撐桿的頂端，所述定位環(huán)的內周側設有多個凹槽，所述定位環(huán)的中心設有至少一個連接鍵，每個所述連接鍵的一端與所述旋鈕固接，每個所述連接鍵的另一端與定位鍵鉸接，所述旋轉盤的一側設有外徑小于所述定位環(huán)內徑的凸緣，所述凸緣上設有與所述定位鍵配合的缺口，所述旋轉盤的設有所述凸緣的一側的中心設有轉軸，所述凸緣穿進所述定位環(huán)，且所述定位鍵能夠穿過所述缺口，所述旋鈕安裝于所述轉軸上，且所述旋鈕能夠繞所述轉軸轉動，所述測試桿固接于所述旋轉盤的與所述凸緣相對的一側，所述測試桿上設有至少一個探頭固定裝置，所述探頭通過所述探頭固定裝置固定于所述測試桿上，所述探頭與所述示波器電連接。優(yōu)選地，所述連接鍵的一端設有第一螺孔，所述旋鈕上設有與所述第一螺孔配合的第二螺孔，所述連接鍵通過所述第一螺孔和所述第二螺孔與所述旋鈕固接。優(yōu)選地，所述連接鍵的另一端設有不帶 螺紋的通孔，所述連接鍵通過所述通孔與所述定位鍵鉸接。優(yōu)選地，所述定位環(huán)上設有固定座，所述定位環(huán)通過所述固定座固定于所述支撐桿的頂端。優(yōu)選地，所述支架還包括與支撐桿的底端固接的底座。優(yōu)選地，所述支撐桿的高度可調。優(yōu)選地，所述測試桿的長度可調。優(yōu)選地，所述探頭固定裝置設于所述測試桿的自由端和/或中間。本實用新型具有如下有益效果(I)所述系統(tǒng)對包括脈沖信號源在內的瞬變電磁場產生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準；(2)所述系統(tǒng)的支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調節(jié)探頭的位置和角度；(3)與現(xiàn)有技術的校準系統(tǒng)相比，所述系統(tǒng)對瞬變電磁場場均勻性的校準速度明顯加快；(4)所述系統(tǒng)的支架對探頭的位置和角度的調節(jié)精度高；(5)所述系統(tǒng)結構簡單，制作成本低，使用方便。

圖I為本實用新型實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)的不意圖；圖2為本實用新型實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)的支架的結構示意圖；圖3為本實用新型實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)的支架的定位環(huán)12、旋轉盤13和旋鈕14的連接示意圖；圖4為旋鈕14被沿逆時針方向旋轉時定位環(huán)12的俯視圖；圖5為停止旋轉旋鈕14且測試桿15的位置固定時定位環(huán)12的俯視圖。
具體實施方式
以下結合附圖及實施例對本實用新型的內容作進一步的描述。[0033]本實施例提供的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)包括支架I、示波器2和至少一個探頭3，如圖I所示。支架I包括支撐桿11、定位環(huán)12、旋轉盤13、旋鈕14、測試桿15和底座16，如圖2所示。定位環(huán)12設于支撐桿11的頂端。在本實施例中，定位環(huán)12上設有固定座124,定 位環(huán)12通過固定座124固定于支撐桿11的頂端。支撐桿11的底端與底座16固接。定位環(huán)12的內周側設有多個凹槽121，定位環(huán)12的中心設有至少一個連接鍵122，每個連接鍵122的一端與旋鈕14固接，每個連接鍵122的另一端與定位鍵123鉸接，如圖3所示。在本實施例中，定位環(huán)12的中心設有例如對稱分布的四個連接鍵122。在本實施例中，每個連接鍵122的一端設有第一螺孔1221，旋鈕14上設有與第一螺孔1221配合的第二螺孔141，連接鍵122通過第一螺孔1221和第二螺孔141與旋鈕14固接。每個連接鍵122的另一端設有不帶螺紋的通孔1222，連接鍵122通過通孔1222與定位鍵123鉸接。旋轉盤13的一側設有外徑小于定位環(huán)12內徑的凸緣131，凸緣131上設有與定位鍵123配合的缺口 132。旋轉盤13的設有凸緣131的一側的中心設有轉軸133，凸緣131穿進定位環(huán)12，且定位鍵123能夠穿過缺口 132，旋鈕14安裝于轉軸133上，且旋鈕14能夠繞轉軸133轉動。測試桿15固接于旋轉盤13的與凸緣131相對的一側，測試桿15上設有至少一個探頭固定裝置151。探頭固定裝置151設于測試桿15的自由端和/或中間。探頭3通過探頭固定裝置151固定于測試桿15上。探頭3與示波器2電連接。在本實施例中，測試桿15的例如自由端設有例如一個探頭固定裝置151，例如一個探頭3通過探頭固定裝置151固定于測試桿15上。在本實施例中，支撐桿11的高度例如可調，測試桿15的長度例如可調。如圖4所示，當旋鈕14被沿例如逆時針方向旋轉時,旋鈕14帶動連接鍵122沿逆時針方向轉動，連接鍵122進而帶動定位鍵123從凹槽121內脫出并向靠近定位環(huán)12中心的方向穿過旋轉盤13的缺口 132，之后，旋鈕14帶動旋轉盤13沿逆時針方向轉動，旋轉盤13進而帶動測試桿15沿逆時針方向轉動。旋鈕14也可以被沿順時針方向轉動。旋鈕14被沿順時針方向旋轉時的情況與旋鈕14被沿逆時針方向旋轉時的情況類似。如圖5所示，當通過旋轉旋鈕14使測試桿15到達測試位置時，停止旋轉旋鈕14，定位鍵123向遠離定位環(huán)12中心的方向穿過旋轉盤13的缺口 132進入凹槽121內，且定位鍵123與連接鍵122成一條直線，旋轉盤13的位置被定位鍵123固定，進而使得測試桿15的位置被固定。所述系統(tǒng)對包括脈沖信號源在內的瞬變電磁場產生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準。所述系統(tǒng)的支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調節(jié)探頭的位置和角度。與現(xiàn)有技術的校準系統(tǒng)相比，所述系統(tǒng)對瞬變電磁場場均勻性的校準速度明顯加快。所述系統(tǒng)的支架對探頭的位置和角度的調節(jié)精度高。所述系統(tǒng)結構簡單，制作成本低，使用方便。應當理解，以上借助優(yōu)選實施例對本實用新型的技術方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領域的普通技術人員在閱讀本實用新型說明書的基礎上可以對各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本實用新型各實施例技術方案的精神和范圍。
權利要求1.用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括支架(I)、示波器(2)和至少一個探頭(3)，所述支架(I)包括支撐桿(11)、定位環(huán)(12)、旋轉盤(13)、旋鈕(14)和測試桿(15)，所述定位環(huán)(12)設于所述支撐桿(11)的頂端，所述定位環(huán)(12)的內周側設有多個凹槽(121)，所述定位環(huán)(12)的中心設有至少一個連接鍵(122)，每個所述連接鍵(122)的一端與所述旋鈕(14)固接，每個所述連接鍵(122)的另一端與定位鍵(123)鉸接，所述旋轉盤(13)的一側設有外徑小于所述定位環(huán)(12)內徑的凸緣(131)，所述凸緣(131)上設有與所述定位鍵(123)配合的缺口(132)，所述旋轉盤(13)的設有所述凸緣(131)的一側的中心設有轉軸(133)，所述凸緣(131)穿進所述定位環(huán)(12)，且所述定位鍵(123)能夠穿過所述缺口(132)，所述旋鈕(14)安裝于所述轉軸(133)上，且所述旋鈕(14)能夠繞所述轉軸(133)轉動，所述測試桿(15)固接于所述旋轉盤(14)的與所述凸緣(131)相對的一側，所述測試桿(15)上設有至少一個探頭固定裝置(151)，所述探頭(3)通過所述探頭固定裝置(151)固定于所述測試桿(15)上，所述探頭(3)與所述示波器(2)電連接。
2.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，其特征在于，所述連接鍵(122)的一端設有第一螺孔(1221)，所述旋鈕(14)上設有與所述第一螺孔(1221)配合的第二螺孔(141)，所述連接鍵(122)通過所述第一螺孔(1221)和所述第二螺孔(141)與所述旋鈕(14)固接。
3.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，其特征在于，所述連接鍵(122)的另一端設有不帶螺紋的通孔(1222)，所述連接鍵(122)通過所述通孔(1222)與所述定位鍵(123)鉸接。
4.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，其特征在于，所述定位環(huán)(12)上設有固定座(124)，所述定位環(huán)(12)通過所述固定座(124)固定于所述支撐桿(11)的頂端。
5.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，其特征在于，所述支架還包括與支撐桿(11)的底端固接的底座(16)。
6.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，其特征在于，所述支撐桿(11)的高度可調。
7.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，其特征在于，所述測試桿(15)的長度可調。
8.根據權利要求I所述的用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，其特征在于，所述探頭固定裝置(151)設于所述測試桿(15)的自由端和/或中間。
專利摘要本實用新型公開了一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括支架(1)、示波器(2)和至少一個探頭(3)，支架(1)包括支撐桿(11)、定位環(huán)(12)、旋轉盤(13)、旋鈕(14)和測試桿(15)，測試桿(15)上設有至少一個探頭固定裝置(151)，探頭(3)通過探頭固定裝置(151)固定于測試桿(15)上，探頭(3)與示波器(2)電連接。所述系統(tǒng)對包括脈沖信號源在內的瞬變電磁場產生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準。所述系統(tǒng)的支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調節(jié)探頭的位置和角度。與現(xiàn)有技術的校準系統(tǒng)相比，所述系統(tǒng)對瞬變電磁場場均勻性的校準速度明顯加快。所述系統(tǒng)的支架對探頭的位置和角度的調節(jié)精度高。
文檔編號G01R29/08GK202794354SQ20122043022
公開日2013年3月13日 申請日期2012年8月27日 優(yōu)先權日2012年8月27日
發(fā)明者姚利軍, 黃建領, 沈濤 申請人:北京無線電計量測試研究所