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一種檢測儀的制作方法

文檔序號:5949889閱讀:166來源:國知局
專利名稱:一種檢測儀的制作方法
技術領域
本發(fā)明涉及檢測儀,特別是指一種光學鏡頭檢測儀。
背景技術
光學鏡頭檢測儀是一種用于檢測光學鏡頭是否達到光學技術指標的裝置。目前,在光學鏡頭生產(chǎn)行業(yè)的檢測環(huán)節(jié),普遍使用光學逆投影機來檢測鏡頭的解像力、分辨率、拖影、銳度等技術參數(shù)。一般這種類似設備的檢測方式是由人眼來判斷,缺乏客觀性,同時操作效率低下,對人員素質要求較高,培訓時間長;而且對環(huán)境的光線要求較高,占地面積大;設備消耗品較多,維護成本高。

發(fā)明內容
本發(fā)明提出一種檢測儀,解決了現(xiàn)有技術中檢測儀操作效率低、要求高和維護成本高的問題,測試速度快,檢測項目嚴謹,功能全;人員培訓簡單,工作占地面積小。本發(fā)明的技術方案是這樣實現(xiàn)的一種檢測儀,包括主機和機架,所述主機固定在所述機架上;所述主機包括鏡頭測試夾具、調整托臺、數(shù)據(jù)傳輸接口、焦距調整裝置、芯片、空腔和側板;所述鏡頭測試夾具設于所述調整托臺上方;所述調整托臺設于所述空腔上方;所述數(shù)據(jù)傳輸接口設于所述側板上,且所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述芯片電性連接;所述焦距調整裝置設于所述空腔上,且所述焦距調整裝置與所述芯片電性連接;所述芯片安裝在所述空腔內;所述側板固定在所述空腔的外圍。進一步,所述側板包括底座板和側板,所述側板包括第一側板、第二側板和第三側板,所述第一側板、所述第二側板和所述第三側板固定在所述空腔側面,所述底座板固定在所述空腔下方。進一步,所述底座板上設有第一通孔,所述空腔上設有第二通孔,所述調整托臺上設有第三通孔,所述檢測儀進一步設有螺釘,所述螺釘貫穿所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔。進一步,所述第一側板上設有指示燈,且所述數(shù)據(jù)傳輸接口設于所述第二側板上。進一步,所述焦距調整裝置上設有刻度。進一步,所述調整托臺上設有凹槽,所述鏡頭測試夾具下方設有凸起,所述凸起設于所述凹槽內。進一步,所述芯片包括第一芯片和第二芯片,所述第一芯片為數(shù)字處理電路板,所述第二芯片為控制傳輸電路板;所述數(shù)字處理電路板圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊,所述控制傳輸電路板包括調制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊圖像和圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊。進一步,所述調制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊、所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊、所述圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊均與所述圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊電性連接。進一步,所述機架包括支架、日光燈光管、光學標靶和升降裝置;所述日光燈光管、所述光學標靶和所述升降裝置均固定在所述支架上,且所述主機固定在所述升降裝置上。進一步,所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊電性連接,所述圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊與所述光學標靶感應連接。本發(fā)明檢測儀通過在主機上設有芯片,芯片包括調制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊、圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊、圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊,故在對大批量的鏡頭進行測試時,因設備的數(shù)據(jù)準確、穩(wěn)定且客觀,故消除了人員的判別差異,且可以自動保留數(shù)據(jù),嚴格客觀的確保鏡頭的生產(chǎn)品質;另外檢測儀的測試速度快,檢測項目嚴謹,功能全;人員培訓簡單,工作占地面積小;通過在多個工廠的現(xiàn)場大批量測試驗證,其穩(wěn)定度,準確度均有大幅度提高。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明檢測儀的結構圖;圖2為本發(fā)明檢測儀主機的結構圖;圖3為本發(fā)明檢測儀主機的分解圖;圖4為本發(fā)明檢測儀的光學標靶圖;圖5為本發(fā)明檢測儀主機的計算結果函數(shù)圖;圖6為本發(fā)明檢測儀主機的另一計算結果函數(shù)圖。
具體實施例方式下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。參照圖I、圖2及圖3,一種檢測儀1,包括主機2和機架3,所述主機2固定在所述機架3上;所述主機2包括鏡頭測試夾具4、調整托臺5、數(shù)據(jù)傳輸接口 6、焦距調整裝置7、芯片(未圖示)、空腔8和側板9 ;所述鏡頭測試夾具4設于所述調整托臺5上方;所述調整托臺5設于所述空腔8上方;所述數(shù)據(jù)傳輸接口 6設于所述側板9上,且所述數(shù)據(jù)傳輸接口6與所述芯片電性連接;所述焦距調整裝置7設于所述空腔8上,且所述焦距調整裝置7與所述芯片電性連接;所述芯片安裝在所述空腔8內;所述側板9固定在所述空腔8的外圍。進一步,所述側板9包括底座板91和側板92,所述側板92包括第一側板921、第二側板922和第三側板923,所述第一側板921、所述第二側板922和所述第三側板923固、定在所述空腔8側面,所述底座板91固定在所述空腔8下方。所述側板的設置,對所述空腔有一定的保護作用,防止碰撞過程中,對空腔內的芯片造成影響,使其無法正常工作 ’另夕卜,側板還具有防塵的功能,防止灰塵掉在所述空腔上,并對其內的芯片造成污染并影響其性能,使用者可以根據(jù)需要再增設一第四側板(未圖示),所述第四側板也固定在所述空腔的側面,從而將所述空腔的四周都密封起來。進一步,所述底座板91上設有第一通孔911,所述空腔8上設有第二通孔81,所述調整托臺5上設有第三通孔51,所述檢測儀進一步設有螺釘(未圖示),所述螺釘貫穿所述第一通孔911、所述第二通孔81和所述第三通孔51。所述底座板、所述調整托臺和所述空腔通過螺釘來固定,第一通孔和第二通孔的數(shù)量使用者根據(jù)實際需求來進行設計,只需將底座板、調整托臺、空腔固定牢固即可;另外使用者也可以根據(jù)需要選擇其它的固定方式,只需將三者固定在一起即可。
進一步,所述第一側板921上設有指示燈10,且所述數(shù)據(jù)傳輸接口 6設于所述第二側板922上;當然使用者也可以根據(jù)需要選擇將指示燈和數(shù)據(jù)接口同時設在第一側板、第二側板或者第三側板上,或者分別設在不同的側板上。指示燈設有兩個,一個紅燈和一個綠燈;所述數(shù)據(jù)傳輸接口的設置,方便將檢測儀的主機接入到外界的硬件設備(如電腦等)上;所述指示燈的設置,用于方便使用者分辨外界的硬件設備是否跟檢測儀的主機連接上以及設備的工作狀態(tài),當外界硬件設備通過所述數(shù)據(jù)傳輸接口連接到檢測儀的主機時,如果連接正常,則綠燈亮,如果連接不正常,則紅燈亮。所述數(shù)據(jù)傳輸接口可以是USB接口,即USB2. 0或者USB3. 0等,使用者也可以根據(jù)需要選擇其它類型的接口,如HiSpeed等,只需將芯片內的數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)傳輸接口傳輸至外界設備即可。進一步,所述焦距調整裝置7上設有刻度(未圖示)。所述刻度的設置,使得使用者在調整鏡頭的焦距時,方便讀取和記錄刻度,并計算誤差。進一步,所述調整托臺5上設有凹槽52,所述鏡頭測試夾具4下方設有凸起41,所述凸起41設于所述凹槽52內。通過將凸起41設于凹槽52中,使得鏡頭測試夾具固定在調整托臺上,在測試大批量的鏡頭時,將鏡頭置于所述鏡頭測試夾具上時,所述鏡頭測試夾具在所述調整托臺上可以旋轉角度且不易移動,故不易引起誤差。進一步,所述芯片包括第一芯片和第二芯片,所述第一芯片為數(shù)字處理電路板,所述第二芯片為控制傳輸電路板;所述數(shù)字處理電路板圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊,所述控制傳輸電路板包括調制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊圖像和圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊。使用者可以根據(jù)工作需要,可以選擇安裝其他的芯片,將檢測儀的性能進一步的進行優(yōu)化,滿足工作需要。進一步,所述調制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊、所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊、所述圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊均與所述圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊電性連接。所述圖像數(shù)據(jù)傳輸分析模塊能實現(xiàn)圖像數(shù)據(jù)的高速傳輸與預處理;所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊能實現(xiàn)顏色高精度(單色12Bit)、高分辨率的圖形采集還原;所述標靶動態(tài)捕捉定位模塊能快速(0. I秒)將所述光學標靶上面的目標圖像捕捉出來,并進行自動精確定位與自動調整,且計算定位精度小于0. 25個CCD/CM0S像素(CCD為Charge Couple Device的縮寫,中文名稱“電荷率禹合圖像傳感器”;CMOS為Complementary Metal-Oxide Semiconductor的縮寫,中文名稱為“互補金屬氧化物半導體圖像傳感器”。);所述MTF(調制傳遞函數(shù)MTF,ModulationTransfer Function)全頻域推算模塊的分析速度快,0. 3秒內可以將全部MTF函數(shù)數(shù)據(jù)分析出來,并且同時計算出畸變值、相對亮度差、相對后焦值、視場角度值。進一步,所述機架3包括支架31、日光燈光管32、光學標靶33和升降裝置34 ;所述日光燈光管32、所述光學標靶33和所述升降裝置34均固定在所述支架31上,且所述主機2固定在所述升降裝置34上。所述主機的高低可以通過所述升降裝置的的升降來進行調節(jié)。進一步,所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述圖像數(shù)據(jù)傳輸分析模塊電性連接,所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊與所述光學標靶通過被測試鏡頭的光學系統(tǒng)進行光學感應。使用者可以根據(jù)需要調整所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊與所述光學標靶的感應距離,只需鏡頭光學系統(tǒng)生成的圖像能夠完整地顯示整幅的所述光學標靶即可。所述光學標靶具有全頻域多點分析、畸變分析、焦距分析、暗角分析、視場角計算等功能,故該檢測儀能夠適合于畸變較大的鏡頭檢測。本發(fā)明檢測儀在初次使用時,先將主機安裝在所述機架上,將被測試鏡頭擺放于鏡頭測試夾具,然后調整升降裝置,使得所述主機處于合適的位置,然后將主機通過數(shù)據(jù)傳輸接口連接到電腦上并打開軟件,故第一芯片和第二芯片上的數(shù)據(jù)便可以通過電腦讀出來,使用者通過操作電腦,將各參數(shù)設定為標準值,相應的光學標靶上便會光學標靶圖,使用者通過調節(jié)焦距調整旋鈕、日光燈光管的高度和光學標靶的高度,將主機和電腦統(tǒng)一,調整好之后,便可以批量對光學鏡頭進行測試。測試時,將光學鏡頭放在檢測儀上,光學標靶的圖形沒有發(fā)生改變,便表明該鏡頭合格,否之則需要進行調試。本發(fā)明檢測儀通過在主機上設有第一芯片和第二芯片,且第一芯片為數(shù)字處理電路板,第二芯片為控制傳輸電路板;數(shù)字處理電路板包括圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊,控制傳輸電路板包括調制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊圖像和圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊。故在對大批量的鏡頭進行測試時,因設備的數(shù)據(jù)準確、穩(wěn)定且客觀,故消除了人員的判別差異,且可以自動保留數(shù)據(jù),嚴格客觀的確保鏡頭的生產(chǎn)品質;另外檢測儀的測試速度快,檢測項目嚴謹,功能全;人員培訓簡單,工作占地面積??;通過在多個工廠的現(xiàn)場大批量測試驗證,其穩(wěn)定度,準確度均有大幅度提高。以光學鏡頭型號Phenix P220-M為例,將該鏡頭放在所述鏡頭測試夾具4上,調整升降裝置,使得所述主機處于合適的位置,然后將主機通過數(shù)據(jù)傳輸接口連接到電腦上并打開軟件,故第一芯片和第二芯片上的數(shù)據(jù)便可以通過電腦讀出來,使用者通過操作電腦,將各參數(shù)設定為標準值,相應的光學標靶上便會光學標靶圖,參照圖4,A為光學標靶圖中間的MTF函數(shù)數(shù)據(jù),B為光學標靶圖外圍的MTF函數(shù)數(shù)據(jù);使用者通過調節(jié)焦距調整旋鈕、日光燈光管的高度和光學標祀的高度,將主機和電腦統(tǒng)一,調整好之后,通過所述第一芯片上的圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊進行邏輯運算,便可將圖4中間和外圍的數(shù)據(jù)函數(shù)圖在電腦上顯示出來,請參照圖5和圖6,圖5和圖6說明越往中間,光學鏡頭的性能越佳,MTF函數(shù)值就越高。隨著視場角度變小,其MTF函數(shù)曲線上升、畸變值變小、相對亮度差變小。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內,所作的任何修改、等同替換、改進等,均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
權利要求
1.一種檢測儀,其特征在于,包括主機和機架,所述主機固定在所述機架上; 所述主機包括鏡頭測試夾具、調整托臺、數(shù)據(jù)傳輸接口、焦距調整裝置、芯片、空腔和側板; 所述鏡頭測試夾具設于所述調整托臺上方; 所述調整托臺設于所述空腔上方; 所述數(shù)據(jù)傳輸接口設于所述側板上,且所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述芯片電性連接; 所述焦距調整裝置設于所述空腔上,且所述焦距調整裝置與所述芯片電性連接; 所述芯片安裝在所述空腔內; 所述側板固定在所述空腔的外圍。
2.如權利要求I所述的檢測儀,其特征在于,所述側板包括底座板和側板,所述側板包括第一側板、第二側板和第三側板,所述第一側板、所述第二側板和所述第三側板固定在所述空腔側面,所述底座板固定在所述空腔下方。
3.如權利要求2所述的檢測儀,其特征在于,所述底座板上設有第一通孔,所述空腔上設有第二通孔,所述調整托臺上設有第三通孔,所述檢測儀進一步設有螺釘,所述螺釘貫穿所述第一通孔、所述第二通孔和所述第三通孔。
4.如權利要求3所述的檢測儀,其特征在于,所述第一側板上設有指示燈,且所述數(shù)據(jù)傳輸接口設于所述第二側板上。
5.如權利要求4所述的檢測儀,其特征在于,所述焦距調整裝置上設有刻度。
6.如權利要求5所述的檢測儀,其特征在于,所述調整托臺上設有凹槽,所述鏡頭測試夾具下方設有凸起,所述凸起設于所述凹槽內。
7.如權利要求1-6中任一項所述的檢測儀,其特征在于,所述芯片包括第一芯片和第二芯片,所述第一芯片為數(shù)字處理電路板,所述第二芯片為控制傳輸電路板;所述數(shù)字處理電路板圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊和圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊,所述控制傳輸電路板包括調制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊圖像和圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊。
8.如權利要求7所述的檢測儀,其特征在于,所述調制傳遞函數(shù)MTF全頻域推算模塊、所述圖像數(shù)據(jù)采集還原模塊、所述圖像數(shù)據(jù)分析傳輸模塊均與所述圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊電性連接。
9.如權利要求8所述的檢測儀,其特征在于,所述機架包括支架、日光燈光管、光學標靶和升降裝置;所述日光燈光管、所述光學標靶和所述升降裝置均固定在所述支架上,且所述主機固定在所述升降裝置上。
10.如權利要求9所述的檢測儀,其特征在于,所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述圖像數(shù)據(jù)分析 傳輸模塊電性連接,所述圖像標靶動態(tài)捕捉定位模塊與所述光學標靶感應連接。
全文摘要
本發(fā)明提出了一種檢測儀,包括主機和機架,所述主機固定在所述機架上;所述主機包括鏡頭測試夾具、調整托臺、數(shù)據(jù)傳輸接口、焦距調整裝置、芯片、空腔和側板;所述鏡頭測試夾具設于所述調整托臺上方;所述調整托臺設于所述空腔上方;所述數(shù)據(jù)傳輸接口設于所述側板上,且所述數(shù)據(jù)傳輸接口與所述芯片電性連接;所述焦距調整裝置設于所述空腔上,且所述焦距調整裝置與所述芯片電性連接;所述芯片安裝在所述空腔內;所述側板固定在所述空腔的外圍。本發(fā)明檢測儀結構簡單、測試速度快,檢測項目嚴謹,功能全;人員培訓簡單,工作占地面積小。
文檔編號G01M11/02GK102721531SQ201210185290
公開日2012年10月10日 申請日期2012年6月6日 優(yōu)先權日2012年6月6日
發(fā)明者李明 申請人:李明
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