專利名稱：一種測(cè)試電容式電壓互感器介損和電容量的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明所涉及電カ設(shè)備測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及ー種測(cè)試電容式電壓互感器介損和電容量的方法。
背景技術(shù)：
電容式電壓互感器由電容分壓器和電磁單元組成，從結(jié)構(gòu)上講，分為分裝式和疊裝式。前者的電容分壓器和電磁單元由外部連線連接在一起；后者的電容分壓器和電磁單元在內(nèi)部已通過(guò)分壓器的抽壓端子與電磁單元的高壓端子連接在一起。對(duì)于分裝式電容式電壓互感器的介損測(cè)量，現(xiàn)場(chǎng)和エ廠都是采用常規(guī)法進(jìn)行。對(duì)于疊裝式電容式電壓互感器，又分為中間抽壓端子和無(wú)中間抽壓端子兩種。有中間抽壓端子的電容式電壓互感器，在現(xiàn)場(chǎng)和エ廠ー樣可以采用常規(guī)法進(jìn)行測(cè)量；無(wú)中間抽壓端子的電容式電壓互感器在現(xiàn)場(chǎng)常采用自激法進(jìn)行測(cè)量，自激法在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中存在以下兩個(gè)方面的問(wèn)題ー是標(biāo)準(zhǔn)電容器CN是通過(guò)Cl串接進(jìn)入電橋，它會(huì)影響測(cè)試的準(zhǔn)確度；ニ是由于測(cè)試回路中，有電抗器與電容器C2串接，所以高壓回路屬串聯(lián)諧振回路，有可能產(chǎn)生過(guò)電壓而損壞電容式電壓互感器自身。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供既不會(huì)損壞電容分壓単元和電磁單元，又能較為準(zhǔn)確方便地測(cè)試電容式電壓互感器介損和電容量的一種測(cè)試電容式電壓互感器介損和電容量的方法。為達(dá)到本發(fā)明目的所采用的技術(shù)方案是ー種測(cè)試電容式電壓互感器介損和電容量的方法，用整體法分別對(duì)電容式電壓互感器進(jìn)行正接線和反接線試驗(yàn)，將兩次試驗(yàn)結(jié)果通過(guò)下述公式計(jì)算得出真實(shí)準(zhǔn)確的電容式電壓互感器介損和電容量，
t 5 — cM 5I+0; 5Z
P = Cl^2 ,x 2
式中Cl和tg S I分別為正接線測(cè)得的電容量和介損值，C2和tg S 2分別為反接線測(cè)得的電容量和介損值。由于電容式電壓互感器電磁單元的影響，用整體法進(jìn)行正接線試驗(yàn)，測(cè)得的介損和電容量比真實(shí)值要小，而用反接線進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，測(cè)得的介損和電容量比真實(shí)值要大。而通過(guò)正反接線試驗(yàn)后，用上述公式進(jìn)行計(jì)算，可以得到較為接近真實(shí)值的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。


下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)ー步詳細(xì)說(shuō)明 圖I是用整體法正接線測(cè)試介損和電容量
圖2是用整體法反接線測(cè)試介損和電容量、圖3是用整體法正接線測(cè)試誤差分析電路原理圖 圖4是用整體法正接線測(cè)試誤差分析相量圖 圖5是用整體法反接線測(cè)試誤差分析電路原理圖 圖6是用整體法反接線測(cè)試誤差分析相量圖 圖7是根據(jù)整體法正反接線得出真實(shí)的介損和電容量相量分析圖 圖8是當(dāng)正接線出現(xiàn)介損出現(xiàn)負(fù)值時(shí)，根據(jù)整體法正反接線得出真實(shí)的介損和電容量 相量分析圖。
具體實(shí)施例方式如圖I至圖8所示一種測(cè)試電容式電壓互感器介損和電容量的方法，用整體法分別對(duì)電容式電壓互感器進(jìn)行正接線和反接線試驗(yàn)，將兩次試驗(yàn)結(jié)果通過(guò)下述公式計(jì)算得出真實(shí)準(zhǔn)確的電容式電壓互感器介損和電容量，
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試電容式電壓互感器介損和電容量的方法，用整體法分別對(duì)電容式電壓互感器進(jìn)行正接線和反接線試驗(yàn)，將兩次試驗(yàn)結(jié)果通過(guò)下述公式計(jì)算得出真實(shí)準(zhǔn)確的電容式電壓互感器介損和電容量，
全文摘要
本發(fā)明公開了一種測(cè)試電容式電壓互感器介損和電容量的方法，用整體法分別對(duì)電容式電壓互感器進(jìn)行正接線和反接線試驗(yàn)，將兩次試驗(yàn)結(jié)果通過(guò)公式計(jì)算得出真實(shí)準(zhǔn)確的電容式電壓互感器介損和電容量。由于電容式電壓互感器電磁單元的影響，用整體法進(jìn)行正接線試驗(yàn)，測(cè)得的介損和電容量比真實(shí)值要小，而用反接線進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，測(cè)得的介損和電容量比真實(shí)值要大。而通過(guò)正反接線試驗(yàn)后，通過(guò)公式進(jìn)行計(jì)算，可以得到較為接近真實(shí)值的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G01R27/26GK102662110SQ201210113958
公開日2012年9月12日 申請(qǐng)日期2012年4月18日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月18日
發(fā)明者張仲, 彭清峰, 李秀珍, 杜巖偉, 楊雙宇, 柳玉朝, 鄭衛(wèi)東 申請(qǐng)人:河南省電力公司南陽(yáng)供電公司