專利名稱：用于顯微維氏硬度計的砝碼托架的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及機械領域，尤其涉及材料硬度測試裝置，特別涉及用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，具體的是一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架。
背景技術：
現(xiàn)有技術中，顯微維氏硬度計用于測試金屬材料，包括微小零件、薄板、金屬箔、電線、薄硬化層和電鍍層，還可以用于測試玻璃、珠寶和陶瓷等非金屬材料，它可以遵循金屬的結構，測試感應硬化或滲碳等材料的內(nèi)部硬度。顯微維氏硬度計中利用砝碼對杠桿加壓， 實現(xiàn)需要的加荷。砝碼從大到小層疊放置，相鄰的砝碼之間容易放錯和發(fā)生碰撞，影響砝碼的精度。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，所述的這種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架要解決現(xiàn)有技術中顯微維氏硬度計中相鄰的砝碼之間容易放錯和發(fā)生碰撞、影響砝碼的精度的技術問題。本實用新型的這種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，由一個圓錐臺形外殼構成， 其中，所述的圓錐臺形外殼的頂面的直徑大于其底面的直徑，圓錐臺形外殼的內(nèi)壁中連續(xù)設置有兩個以上數(shù)目的環(huán)狀臺階，任意一個所述的環(huán)狀臺階的內(nèi)圓周均與圓錐臺形外殼共軸，從圓錐臺形外殼的下端向上、環(huán)狀臺階的內(nèi)圓周的直徑逐個遞增，任意一個環(huán)狀臺階的下臺階面均與圓錐臺形外殼的軸向垂直，任意一個環(huán)狀臺階的上臺階面均是其上側相鄰的環(huán)狀臺階的下臺階面。進一步的，任意一個所述的環(huán)狀臺階的下臺階面上，均各自放置有一個砝碼，砝碼所在的環(huán)狀臺階的高度均大于該砝碼的高度，砝碼所在的環(huán)狀臺階的內(nèi)圓周的直徑均大于該砝碼的直徑。進一步的，圓錐臺形外殼的底面的下側同軸設置有一個連接座。本實用新型的工作原理是砝碼由小到大，按從下到上的順序放置在圓錐臺形外殼內(nèi)，每個砝碼只能對應放置在一個環(huán)狀臺階上，環(huán)狀臺階的高度大于砝碼的高度，因此上下相鄰的任意兩個砝碼之間不會接觸。本實用新型和已有技術相比較，其效果是積極和明顯的。本實用新型利用圓錐臺形外殼構成砝碼托架，在圓錐臺形外殼的內(nèi)側連續(xù)設置兩個以上數(shù)目的環(huán)狀臺階，每個砝碼只能對應放置在一個環(huán)狀臺階上，不會放錯，同時，環(huán)狀臺階的高度大于砝碼的高度，上下相鄰的任意兩個砝碼之間不接觸，因此不會發(fā)生碰撞。
圖1是本實用新型的用于顯微維氏硬度計的砝碼托架的結構示意圖。
具體實施方式
實施例1[0013]如圖1所示，本實用新型的用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，由一個圓錐臺形外殼1構成，其中，所述的圓錐臺形外殼1的頂面的直徑大于其底面的直徑，圓錐臺形外殼1 的內(nèi)壁中連續(xù)設置有兩個以上數(shù)目的環(huán)狀臺階2，任意一個所述的環(huán)狀臺階2的內(nèi)圓周均與圓錐臺形外殼1共軸，從圓錐臺形外殼1的下端向上、環(huán)狀臺階2的內(nèi)圓周的直徑逐個遞增，任意一個環(huán)狀臺階2的下臺階面3均與圓錐臺形外殼1的軸向垂直，任意一個環(huán)狀臺階 2的上臺階面4均是其上側相鄰的環(huán)狀臺階2的下臺階面。進一步的，任意一個所述的環(huán)狀臺階2的下臺階面3上，均各自放置有一個砝碼5， 砝碼5所在的環(huán)狀臺階2的高度均大于該砝碼5的高度，砝碼5所在的環(huán)狀臺階2的內(nèi)圓周的直徑均大于該砝碼5的直徑。進一步的，圓錐臺形外殼1的底面的下側同軸設置有一個連接座6。本實施例的工作過程是砝碼5由小到大，按從下到上的順序放置在圓錐臺形外殼1內(nèi)，每個砝碼5只能對應放置在一個環(huán)狀臺階2上，環(huán)狀臺階2的高度大于砝碼5的高度，因此上下相鄰的任意兩個砝碼5之間不會接觸。
權利要求1.一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，由一個圓錐臺形外殼構成，其特征在于所述的圓錐臺形外殼的頂面的直徑大于其底面的直徑，圓錐臺形外殼的內(nèi)壁中連續(xù)設置有兩個以上數(shù)目的環(huán)狀臺階，任意一個所述的環(huán)狀臺階的內(nèi)圓周均與圓錐臺形外殼共軸，從圓錐臺形外殼的下端向上、環(huán)狀臺階的內(nèi)圓周的直徑逐個遞增，任意一個環(huán)狀臺階的下臺階面均與圓錐臺形外殼的軸向垂直，任意一個環(huán)狀臺階的上臺階面均是其上側相鄰的環(huán)狀臺階的下臺階面。
2.如權利要求1所述的用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，其特征在于任意一個所述的環(huán)狀臺階的下臺階面上，均各自放置有一個砝碼，砝碼所在的環(huán)狀臺階的高度均大于該砝碼的高度，砝碼所在的環(huán)狀臺階的內(nèi)圓周的直徑均大于該砝碼的直徑。
3.如權利要求1所述的用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，其特征在于圓錐臺形外殼的底面的下側同軸設置有一個連接座。
專利摘要一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，由圓錐臺形外殼構成，圓錐臺形外殼的頂面的直徑大于其底面的直徑，圓錐臺形外殼的內(nèi)壁中沿軸向連續(xù)設置有兩個以上數(shù)目的環(huán)狀臺階，任意一個環(huán)狀臺階的內(nèi)圓周均與圓錐臺形外殼共軸，從圓錐臺形外殼的下端向上、環(huán)狀臺階的內(nèi)圓周的直徑逐個遞增，環(huán)狀臺階的下臺階面均與圓錐臺形外殼軸向垂直，任意一個環(huán)狀臺階的上臺階面均是其上側相鄰的環(huán)狀臺階的下臺階面。環(huán)狀臺階的下臺階面上各自放置有一個砝碼，砝碼所在的環(huán)狀臺階的高度大于該砝碼的高度。砝碼由小到大，按從下到上的順序?qū)胖迷诃h(huán)狀臺階上，不會放錯，環(huán)狀臺階的高度大于砝碼的高度，因此上下相鄰的任意兩個砝碼之間不會接觸碰撞。
文檔編號G01N3/02GK202141637SQ20112024420
公開日2012年2月8日 申請日期2011年7月12日 優(yōu)先權日2011年7月12日
發(fā)明者錢保根 申請人:上海尚材試驗機有限公司