專利名稱：顆粒物性測(cè)量池和顆粒物性測(cè)量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于測(cè)量以zeta電位為主的顆粒的物性值的顆粒物性測(cè)量池或顆粒物性測(cè)量裝置。
背景技術(shù)：
在水溶液中，高分子及作為高分子聚集體的膠體顆粒因吸附解離性基團(tuán) (dissociable group)或離子而帶電。把因該帶電形成的電位稱為zeta( ζ )電位，通過(guò)對(duì)顆粒施加電場(chǎng)來(lái)測(cè)量顆粒的移動(dòng)速度(電泳速度)，從而可以計(jì)算出所述zeta電位。如專利文獻(xiàn)1所示，為了利用電泳速度測(cè)量裝置測(cè)量zeta電位，通過(guò)把電極插入到容納有分散有顆粒的液體試樣的測(cè)量池中，在該電極上施加直流電壓，邊對(duì)液體試樣中的顆粒施加電場(chǎng)，邊照射激光，在規(guī)定角度接收散射的散射光，并測(cè)量散射光與使一部分激光分開(kāi)后得到的參考光(reference light)的振動(dòng)數(shù)的差(干涉現(xiàn)象)，從而計(jì)算出液體試樣中的顆粒的移動(dòng)速度。然后通過(guò)對(duì)得到的移動(dòng)速度進(jìn)行規(guī)定的計(jì)算處理來(lái)計(jì)算出zeta 電位。如專利文獻(xiàn)1和專利文獻(xiàn)1的圖9所示，以往的zeta電位測(cè)量池包括有底筒形的池主體，用于容納液體試樣；以及電極傳感器，插入所述池主體中。所述電極傳感器具有一對(duì)施加電極和埋設(shè)有該施加電極的傳感器主體，通過(guò)把該傳感器主體嵌入池主體中，從而使一對(duì)施加電極與容納在池主體內(nèi)的液體試樣接觸。在該zeta電位測(cè)量池中，由于電流在一對(duì)施加電極中流動(dòng)，所以在施加電極上發(fā)生氧化還原反應(yīng)，液體試樣中的離子析出并附著在施加電極上。此外，在液體試樣例如含有蛋白質(zhì)等的情況下，所述蛋白質(zhì)會(huì)附著在電極上。因此，在測(cè)量前等必須進(jìn)行用于從施加電極上去除附著物的清洗?？墒?，在所述結(jié)構(gòu)的電極傳感器中，由于采用通過(guò)把一對(duì)施加電極埋設(shè)在傳感器主體中從而構(gòu)成一體的結(jié)構(gòu)，所以為了去除附著在施加電極上的物質(zhì)，必須把整個(gè)電極傳感器從池主體中取出來(lái)進(jìn)行清洗。于是，傳感器主體成為妨礙物，存在難以清洗電極的問(wèn)題。此外，在僅把電極更換成新的情況下，必須更換電極傳感器本身，在成本方面也是個(gè)問(wèn)題。此外，在要更換為與液體試樣的種類對(duì)應(yīng)的表面處理或材質(zhì)不同的施加電極的情況下，也必須更換電極傳感器本身，存在造成制造成本增大的問(wèn)題。專利文獻(xiàn)1 日本專利公開(kāi)公報(bào)特開(kāi)2010-101705號(hào)

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明可以一舉解決所述的問(wèn)題，本發(fā)明的主要目的是不僅可以獨(dú)立地更換施加電極，從而容易清洗施加電極，而且可以把舊的施加電極更換為新的施加電極，還可以根據(jù)液體試樣的種類更換施加電極，并且可以簡(jiǎn)化顆粒物性測(cè)量池的組裝操作。S卩，本發(fā)明提供一種顆粒物性測(cè)量池，用于測(cè)量分散在液體試樣中的顆粒的物性值的顆粒物性測(cè)量裝置，其特征在于，所述顆粒物性測(cè)量池包括有底筒形的池主體，形成有沿長(zhǎng)邊方向延伸的內(nèi)部空間，并在所述長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部開(kāi)口 ；一對(duì)施加電極，從所述長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部插入所述池主體內(nèi)，在所述內(nèi)部空間中相對(duì)配置；固定間隔件，通過(guò)從所述長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部插入所述池主體內(nèi)，并介于所述一對(duì)施加電極之間，來(lái)限定所述施加電極之間的距離，并且通過(guò)向所述池主體的內(nèi)側(cè)的面按壓所述一對(duì)施加電極來(lái)固定所述施加電極，其中，在所述固定間隔件插入到所述池主體內(nèi)的狀態(tài)下，在所述池主體的所述內(nèi)部空間下部形成有所述一對(duì)施加電極露出的顆粒物性測(cè)量空間。
按照所述的顆粒物性測(cè)量池，由于可以把施加電極和固定間隔件分別獨(dú)立地從池主體上取下來(lái)，所以可以簡(jiǎn)化施加電極的清洗操作。此外，在施加電極的污垢弄不掉等情況下而需要更換施加電極的情況下，由于可以獨(dú)立地更換施加電極，所以可以廉價(jià)地進(jìn)行施加電極的更換。此時(shí)，由于僅通過(guò)把一對(duì)施加電極和固定間隔件插入池主體內(nèi)，就可以在池主體內(nèi)形成顆粒物性測(cè)量空間，所以顆粒物性測(cè)量池的組裝簡(jiǎn)單。此外，由于可以獨(dú)立地制作與液體試樣的種類對(duì)應(yīng)的不同的表面處理或不同材質(zhì)的施加電極，且施加電極的更換也簡(jiǎn)單，從而可以容易地制作與各種液體試樣的種類專門(mén)對(duì)應(yīng)的顆粒物性測(cè)量池。為了實(shí)現(xiàn)不考慮固定間隔件相對(duì)于池主體的插入位置，僅通過(guò)把固定間隔件插入池主體中，就可以形成顆粒物性測(cè)量空間，優(yōu)選的是，所述固定間隔件包括插入部，插入所述池主體中；以及卡合部，在所述插入部插入到所述池主體中的狀態(tài)下，與所述長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部卡合，所述插入部比所述內(nèi)部空間的長(zhǎng)邊方向的長(zhǎng)度短。為了在利用固定間隔件把施加電極固定在池主體上后，可以把液體試樣導(dǎo)入顆粒物性測(cè)量空間內(nèi)，從而可以與分批式測(cè)量和流動(dòng)式測(cè)量的雙方對(duì)應(yīng)，優(yōu)選的是，所述固定間隔件具有試樣導(dǎo)入通道，該試樣導(dǎo)入通道把液體試樣從外部導(dǎo)入所述顆粒物性測(cè)量空間內(nèi)。本發(fā)明還提供一種顆粒物性測(cè)量裝置，使用所述的顆粒物性測(cè)量池。按照所述結(jié)構(gòu)的本發(fā)明，不僅可以獨(dú)立地更換施加電極，從而使施加電極的清洗變得容易，而且可以把舊的施加電極更換成新的施加電極，還可以根據(jù)液體試樣的種類更換施加電極，并且可以簡(jiǎn)化顆粒物性測(cè)量池的組裝操作。


圖1是表示本發(fā)明一個(gè)實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖。圖2是與圖1為相同實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量池的立體圖。圖3是與圖1為相同實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量池的主視圖。圖4是與圖1為相同實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量池的側(cè)視圖。圖5是與圖1為相同實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量池的俯視圖。圖6是與圖1為相同實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量池的A-A線剖面圖。圖7是與圖1為相同實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量池的B-B線剖面圖。圖8是與圖1為相同實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量池的分解立體圖。附圖標(biāo)記說(shuō)明100…zeta電位測(cè)量裝置(顆粒物性測(cè)量裝置)2…zeta電位測(cè)量池(顆粒物性測(cè)量池)
21"池主體
Si"內(nèi)部空間
21x 長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部
22..施加電極
23..固定間隔件
231 插入部
232 卡合部
23a 試樣導(dǎo)入通道
23b 試樣導(dǎo)出通道
S2..zeta電位測(cè)量空間(顆粒物性測(cè)量空間)
具體實(shí)施例方式下面參照附圖對(duì)本發(fā)明的zeta電位測(cè)量裝置的一個(gè)實(shí)施方式進(jìn)行說(shuō)明。如圖1所示，本實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量裝置100包括Zeta電位測(cè)量池(以下只稱為測(cè)量池)2，容納使顆粒團(tuán)分散于水等分散介質(zhì)中而形成的液體試樣，并且測(cè)量池2 具有施加電極22，該施加電極22對(duì)所述液體試樣施加電壓；激光源3，向容納在測(cè)量池2中的液體試樣照射激光L ；光檢測(cè)部4，接收從被照射了激光L的液體試樣中的顆粒團(tuán)發(fā)出的散射光S，由輸出與光子數(shù)對(duì)應(yīng)的脈沖信號(hào)或與光強(qiáng)度的波動(dòng)對(duì)應(yīng)的電信號(hào)的光電倍增管等構(gòu)成；參考光學(xué)系統(tǒng)5，包括半透半反鏡51，使從激光源3射出的一部分激光L分支；反射鏡52、53 ；以及半透半反鏡M，把來(lái)自反射鏡53的參考光R和散射光S混合。此時(shí)，參考光R也可以被調(diào)制。此外，本實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量裝置100在裝置主體(圖中沒(méi)有表示)內(nèi)容納有激光源3、光檢測(cè)部4和參考光學(xué)系統(tǒng)5，測(cè)量池2可以裝在裝置主體中或從裝置主體中取出來(lái)。此外，在利用所述zeta電位測(cè)量裝置100測(cè)量zeta電壓的情況下，使用電泳法， 通過(guò)在設(shè)置在測(cè)量池2中的施加電極22上施加直流或交流電壓，邊對(duì)液體試樣中的顆粒施加電場(chǎng)邊對(duì)液體試樣照射激光L，在規(guī)定角度處接受散射的散射光S,并測(cè)量散射光S與參考光R的振動(dòng)數(shù)的差(干涉現(xiàn)象)，從而計(jì)算出液體試樣中的顆粒的移動(dòng)速度。進(jìn)而通過(guò)對(duì)得到的移動(dòng)速度進(jìn)行規(guī)定的計(jì)算處理，來(lái)計(jì)算出zeta電位。如圖2 圖7所示，本實(shí)施方式的測(cè)量池2包括有底筒形的池主體21，形成沿長(zhǎng)邊方向延伸的內(nèi)部空間S 1，并在長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x開(kāi)口 ；一對(duì)施加電極22，從長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x插入池主體21內(nèi)，在所述內(nèi)部空間Sl中相對(duì)配置；以及固定間隔件 23，通過(guò)從長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x插入池主體21內(nèi)，并夾在一對(duì)施加電極22之間，來(lái)限定所述施加電極22之間的距離，并且通過(guò)把一對(duì)施加電極22按壓在所述池主體21的內(nèi)側(cè)的面上來(lái)固定所述施加電極22。下面參照?qǐng)D2 圖7對(duì)池主體21 固定間隔件23等各部分進(jìn)行說(shuō)明。池主體21例如由對(duì)有機(jī)溶劑等液體試樣有耐蝕性的石英玻璃等透明材料制成。 如圖2 圖5等所示，池主體21為在長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部(Z軸方向上部)2Ix開(kāi)口的有底筒形，池主體21包括底壁部21a ；左側(cè)壁部21b、右側(cè)壁部21c，在X軸方向上相對(duì)，為平板形；以及前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e，在Y軸方向上相對(duì)，為平板形。如上所述構(gòu)成的池主體21形成內(nèi)部空間Si，該內(nèi)部空間Sl由底壁部21a、左側(cè)壁部21b、右側(cè)壁部21c、前側(cè)壁部21d及后側(cè)壁部21e構(gòu)成，為等截面矩形，且沿長(zhǎng)邊方向延伸(參照?qǐng)D3)。此外，在用石英玻璃制成底壁部21a 后側(cè)壁部21e各壁部的情況下，通過(guò)玻璃熔接制造，使得可以承受清洗時(shí)的強(qiáng)度。如圖4等所示，在池主體21上，形成有在把測(cè)量池2安裝在裝置主體的池設(shè)置部 100H中的狀態(tài)下把來(lái)自激光源3的激光L導(dǎo)入后述的zeta電位測(cè)量空間S2內(nèi)的光導(dǎo)入窗 23 ；以及用于把透射過(guò)zeta電位測(cè)量空間S2的散射光S導(dǎo)入光檢測(cè)部4的光導(dǎo)出窗M。 所述光導(dǎo)入窗23和光導(dǎo)出窗M形成于在Y軸方向上相對(duì)的前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e 上。具體地說(shuō)，光導(dǎo)入窗23和光導(dǎo)出窗M設(shè)置在形成后述的zeta電位測(cè)量空間S2的側(cè)面的前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e上。如圖3、圖5和圖6所示，把一對(duì)施加電極22從長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部2Ix插入池主體21內(nèi)，一對(duì)施加電極22配置成在內(nèi)部空間S 1中在X軸方向上相對(duì)。此外，一對(duì)施加電極22分別例如由鉬等制成，為長(zhǎng)板形，一對(duì)施加電極22的形狀相互相同，如圖4所示，在本實(shí)施方式中，一對(duì)施加電極22從側(cè)面看大體為L(zhǎng)形。把所述施加電極22的垂直部221插入池主體21中。此外，在把測(cè)量池2安裝在裝置主體的池設(shè)置部100H中的狀態(tài)下，一對(duì)施加電極22的水平部(彎曲部)222與設(shè)置在裝置主體一側(cè)的電壓施加電路的施加端子61 接觸。此外，根據(jù)各種液體試樣，施加電極22可以使用各種材料和/或?qū)嵤┝烁鞣N處理的電極。例如在有機(jī)溶劑中使用施加電極22的情況下，優(yōu)選的是使用金。為了使顆粒在有機(jī)溶劑中泳動(dòng)，當(dāng)必須要施加高電壓時(shí)，如果施加電極22使用金，則因金的電阻值小而易導(dǎo)電，所以難以產(chǎn)生熱量，因此不易破壞液體試樣。此外，例如在水中使用施加電極22的情況下，優(yōu)選的是使用碳或金剛石。在含鹽的水中，在電極表面上容易產(chǎn)生極化電阻，難以產(chǎn)生與施加電極22對(duì)應(yīng)的電泳。此時(shí)，由于電極表面的表面積大的這些材料可以抑制極化電阻，所以可以按照施加電壓使顆粒泳動(dòng)。特別是在施加電極22使用碳時(shí)，即使在測(cè)量高鹽濃度的液體試樣時(shí)，也可以延長(zhǎng)施加電極22的壽命，并可以更進(jìn)一步抑制極化電阻。此外， 通過(guò)利用酸蝕刻或堿蝕刻使電極表面粗化，也可以具有同樣的效果。通過(guò)在酸或堿中使電流在施加電極22中流動(dòng)來(lái)進(jìn)行蝕刻。如圖6所示，施加電極22的垂直部221與形成在池主體21內(nèi)的內(nèi)部空間Sl的長(zhǎng)邊方向的長(zhǎng)度大體相同。即，在把垂直部221插入池主體21內(nèi)的狀態(tài)下，施加電極22的垂直部221延伸到內(nèi)部空間Sl的下側(cè)的面(底壁部21a)。此外，如圖7所示，垂直部221的寬度方向尺寸與池主體21的前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e相對(duì)的面的寬度(即內(nèi)部空間Sl 在Y軸方向上的尺寸)大體相同。此外，圖7中用粗線表示的部分是垂直部221的一部分。 由此，在把施加電極22的垂直部221插入池主體21內(nèi)的狀態(tài)下，內(nèi)部空間S 1在Y軸方向上的大體整個(gè)內(nèi)側(cè)的面被施加電極22覆蓋。如圖3等所示，池主體21的前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e的上端部比左側(cè)壁部21b、 右側(cè)壁部21c的上端部低，在把施加電極22插入到池主體21內(nèi)的狀態(tài)下，施加電極22的水平部222上側(cè)的面與左側(cè)壁部21b、右側(cè)壁部21c的上側(cè)的面大體在同一個(gè)面上。如圖2 圖5等所示，固定間隔件23為截面大體為矩形的柱狀，如前所述，通過(guò)將固定間隔件23從長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x插入池主體21內(nèi)，并夾在一對(duì)施加電極22之間， 來(lái)限定所述施加電極22之間的距離，并且通過(guò)把一對(duì)施加電極22按壓在池主體21的內(nèi)側(cè)的面上，從而把施加電極22固定在池主體21上。此外，該固定間隔件由耐蝕性優(yōu)良的PTFE 等氟樹(shù)脂制成。具體地說(shuō)，如圖6和圖7所示，固定間隔件23包括插入部231，插入池主體21中； 以及卡合部232，在把所述插入部231插入到池主體21中的狀態(tài)下，與池主體21的長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x卡合。如圖6所示，插入部231的X軸方向上的側(cè)面與施加電極22的側(cè)面接觸，限定施加電極22相對(duì)的電極面22A之間的距離，并且把施加電極22按壓在池主體21的左右側(cè)壁的內(nèi)側(cè)的面上從而固定施加電極22。S卩，插入部231的X軸方向上的尺寸為從內(nèi)部空間Sl 的X軸方向上的尺寸減去一對(duì)施加電極22的厚度后得到的尺寸。此外，如圖7所示，插入部231的Y軸方向上的尺寸與前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e的相對(duì)面的寬度(即內(nèi)部空間 Sl的Y軸方向上的尺寸)大體相同。另一方面，卡合部232與插入部231的長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部(Z軸方向的上端部) 連接設(shè)置，卡合部232通過(guò)與池主體21的長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x卡合，限定插入部231 在池主體21內(nèi)的內(nèi)部空間Sl中的插入位置。所述卡合部232具有前后卡合部23 ，與前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e的上端部接觸；以及左右卡合部232b，與左側(cè)壁部21b、右側(cè)壁部21c的上端部接觸。特別是由于左右卡合部232b位于施加電極22的上部(參照?qǐng)D6)， 所以可以防止施加電極22從池主體21脫出。此外，在本實(shí)施方式中，插入部231的長(zhǎng)邊方向的長(zhǎng)度被設(shè)定成比內(nèi)部空間Sl的長(zhǎng)邊方向的長(zhǎng)度小。由此，在卡合部232與長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x卡合的狀態(tài)下，在池主體21的內(nèi)部空間Sl下部形成一對(duì)施加電極22露出的zeta電位測(cè)量空間S2。這樣構(gòu)成的 zeta電位測(cè)量空間S2成為大體為長(zhǎng)方體形的空間，該長(zhǎng)方體形的空間的下側(cè)的面為池主體21的底壁部21a的內(nèi)側(cè)的面，上側(cè)的面為固定間隔件23的下側(cè)的面，左右側(cè)面為施加電極22的相對(duì)面(電極面22A)，前后側(cè)面為前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e的內(nèi)側(cè)的面。此時(shí)， 形成zeta電位測(cè)量空間S2的前側(cè)壁部21d、后側(cè)壁部21e成為所述光導(dǎo)入窗23和光導(dǎo)出窗對(duì)(參照?qǐng)D7)。如圖6等所示，在固定間隔件23上形成有用于把液體試樣從外部導(dǎo)入zeta電位測(cè)量空間S2的試樣導(dǎo)入通道23a和試樣導(dǎo)出通道23b。所述試樣導(dǎo)入通道23a和試樣導(dǎo)出通道2 沿長(zhǎng)邊方向相互并排，大體為直線形。試樣導(dǎo)入通道23a的一個(gè)端部和試樣導(dǎo)出通道23b的一個(gè)端部都在形成zeta電位測(cè)量空間S2的上側(cè)的面開(kāi)口，試樣導(dǎo)入通道23a 和試樣導(dǎo)出通道23b的另一端部在固定間隔件23的上側(cè)的面開(kāi)口。通過(guò)這樣形成試樣導(dǎo)入通道23a和試樣導(dǎo)出通道23b，當(dāng)測(cè)量池2在立起狀態(tài)下使用(測(cè)量池2被安裝在裝置主體上)時(shí)，內(nèi)部的液體試樣不會(huì)泄露到外部。如圖7所示，在固定間隔件23的側(cè)壁上形成有連通試樣導(dǎo)入通道23a和外周面的連通孔23h以及連通試樣導(dǎo)出通道2 和外周面的連通孔23h。由此，可以從外部看到試樣導(dǎo)入通道23a和試樣導(dǎo)出通道23b的內(nèi)部，可以確認(rèn)在試樣導(dǎo)入通道23a、試樣導(dǎo)出通道 23b內(nèi)是否滯留有氣泡等。在流動(dòng)測(cè)量的情況下，需要設(shè)置試樣導(dǎo)入通道23a和試樣導(dǎo)出通道23b，但在分批測(cè)量的情況下，特別是在測(cè)量池2為一次性的、無(wú)需排出容納的液體試樣的情況下，無(wú)需設(shè)置試樣導(dǎo)出通道23b。但是在這種情況下，如果也形成試樣導(dǎo)出通道23b，則由于除了作為排氣通道起作用以外，還可以用兩個(gè)流道把液體試樣導(dǎo)向zeta電位測(cè)量空間S2，因此可以提高導(dǎo)入試樣的可操作性。接著參照?qǐng)D8對(duì)如上結(jié)構(gòu)的測(cè)量池2的制造方法進(jìn)行簡(jiǎn)單說(shuō)明。首先，通過(guò)玻璃熔接由石英玻璃構(gòu)成的底壁部21a、左側(cè)壁部21b、右側(cè)壁部21c、前側(cè)壁部21d及后側(cè)壁部 2Ie，制造出池主體21。然后，通過(guò)把預(yù)先形成的施加電極22和固定間隔件23從長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x插入池主體21內(nèi)，以使施加電極22緊貼在池主體21的左側(cè)壁部21b、右側(cè)壁部21c內(nèi)側(cè)的面上的方式來(lái)固定施加電極22。此時(shí)，插入固定間隔件23，直到使固定間隔件23的卡合部232(前后卡合部23 、左右卡合部232b)與池主體21的長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部21x接觸。這樣制作出測(cè)量池2。此外，在要清洗或更換施加電極22的情況下，可以通過(guò)把固定間隔件23抽出，僅把施加電極22取下來(lái)進(jìn)行清洗或更換成不同的施加電極22寸?！幢緦?shí)施方式的效果〉按照所述結(jié)構(gòu)的本實(shí)施方式的zeta電位測(cè)量裝置100，由于可以把施加電極22和固定間隔件23分別獨(dú)立地從池主體21上取下來(lái)，所以可以簡(jiǎn)化施加電極22的清洗操作。此外，由于在施加電極22的污垢弄不掉等情況下而要更換施加電極22的情況下， 可以獨(dú)立地更換施加電極22，所以可以廉價(jià)地更換施加電極22。此時(shí)，僅通過(guò)把一對(duì)施加電極22和固定間隔件23插入池主體21內(nèi)，就可以在池主體21內(nèi)形成zeta電位測(cè)量空間 S2，所以zeta電位測(cè)量池2的組裝簡(jiǎn)單。此外，可以獨(dú)立地制造與液體試樣的種類對(duì)應(yīng)的不同的表面處理或不同材質(zhì)的施加電極22，施加電極22的更換也簡(jiǎn)單，可以容易地制作與各種液體試樣的種類專門(mén)對(duì)應(yīng)的 zeta電位測(cè)量池2。此外，無(wú)須如以往那樣制造具有一對(duì)施加電極22的單元，可以獨(dú)立地分別制造施加電極22和固定間隔件23，所以也可以降低制造成本。<其他的變形實(shí)施方式>本發(fā)明不限于所述實(shí)施方式。例如，所述實(shí)施方式的內(nèi)部空間大體為四棱柱形，除此以外，內(nèi)部空間也可以大體為多棱柱形，內(nèi)部空間還可以大體為圓柱形。此外，所述實(shí)施方式的施加電極在側(cè)面看大體為L(zhǎng)形，除此以外，施加電極從側(cè)面看也可以為矩形。此外，在所述實(shí)施方式中，作為卡合部具有左右卡合部和前后卡合部，但只要具有左右卡合部和前后卡合部中的任一個(gè)卡合部就可以。此外，在所述實(shí)施方式中對(duì)zeta電位測(cè)量裝置進(jìn)行了說(shuō)明，但也可以用于進(jìn)行 zeta電位以外的顆粒物性測(cè)量的裝置。此外，本發(fā)明不限于所述實(shí)施方式，當(dāng)然在不脫離本發(fā)明宗旨的范圍內(nèi)可以進(jìn)行各種變形。
權(quán)利要求
1.一種顆粒物性測(cè)量池，用于測(cè)量分散在液體試樣中的顆粒的物性值的顆粒物性測(cè)量裝置，其特征在于，所述顆粒物性測(cè)量池包括有底筒形的池主體，形成有沿長(zhǎng)邊方向延伸的內(nèi)部空間，并在所述長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部開(kāi)口 ；一對(duì)施加電極，從所述長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部插入所述池主體內(nèi)，在所述內(nèi)部空間中相對(duì)配置；固定間隔件，通過(guò)從所述長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部插入所述池主體內(nèi)，并介于所述一對(duì)施加電極之間，來(lái)限定所述施加電極之間的距離，并且通過(guò)向所述池主體的內(nèi)側(cè)的面按壓所述一對(duì)施加電極來(lái)固定所述施加電極，其中，在所述固定間隔件插入到所述池主體內(nèi)的狀態(tài)下，在所述池主體的所述內(nèi)部空間下部形成有所述一對(duì)施加電極露出的顆粒物性測(cè)量空間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物性測(cè)量池，其特征在于，所述固定間隔件包括插入部，插入所述池主體中；以及卡合部，在所述插入部插入到所述池主體中的狀態(tài)下，與所述長(zhǎng)邊方向的一個(gè)端部卡合，所述插入部比所述內(nèi)部空間的長(zhǎng)邊方向的長(zhǎng)度短。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒物性測(cè)量池，其特征在于，所述固定間隔件具有試樣導(dǎo)入通道，該試樣導(dǎo)入通道把液體試樣從外部導(dǎo)入所述顆粒物性測(cè)量空間內(nèi)。
4.一種顆粒物性測(cè)量裝置，其特征在于，使用權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的顆粒物性測(cè)量池。
全文摘要
本發(fā)明提供一種顆粒物性測(cè)量池和顆粒物性測(cè)量裝置。所述顆粒物性測(cè)量池包括有底筒形的池主體(21)，形成沿長(zhǎng)邊方向延伸的內(nèi)部空間(S1)，并在一個(gè)端部(21x)開(kāi)口；一對(duì)施加電極(22)，在內(nèi)部空間(S1)中相對(duì)配置；固定間隔件(23)，通過(guò)夾在一對(duì)施加電極(22)之間，限定所述施加電極(22)之間的距離，并且固定一對(duì)施加電極(22)。在把固定間隔件(23)插入到池主體(21)內(nèi)的狀態(tài)下，在池主體(21)的內(nèi)部空間(S1)的下部形成一對(duì)施加電極(22)露出的zeta電位測(cè)量空間(S2)。
文檔編號(hào)G01N15/00GK102401777SQ20111025170
公開(kāi)日2012年4月4日 申請(qǐng)日期2011年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月31日
發(fā)明者名倉(cāng)誠(chéng), 山口哲司 申請(qǐng)人:株式會(huì)社堀場(chǎng)制作所