專利名稱：電容式觸摸屏測試的工藝的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及觸摸屏的電性測試工藝，特別涉及一種采取多點模擬人手觸摸手機觸 摸屏狀況，進行測試的電容式觸摸屏測試工藝。
背景技術(shù)：
目前，手機觸摸屏測試方法通常有四種1.兩點模擬測試，2.采用線路板芯片測 試，3.裝機測試，4.產(chǎn)品線性測試。方法一采用兩點模擬測試的方法，其測試位置不能覆蓋整個觸摸范圍，只是對關(guān) 鍵兩點進行模擬測試，不能對所有ITO膜的圖案及銀線進行全面檢測；方法二采用線路板芯片測試的方法，是對所研發(fā)測試產(chǎn)品參數(shù)一致性進行統(tǒng)計分 析，不直接給出良品不良品判斷，依據(jù)統(tǒng)計分析結(jié)果判定良品和不良品，不適宜批量生產(chǎn)；方法三是采用裝機測試，此方法比較復(fù)雜，優(yōu)點是測試比較直觀，測試效果較好， 缺點是裝機測試如有不良品，需拆機換件，增加工時，影響生產(chǎn)進度；方法四采用產(chǎn)品線性測試儀測試比較直觀，測試效果較好，但測試速度較慢，批量 產(chǎn)品需全部測試，采取此方法的測試效率較低。綜合上述各種手機觸摸屏測試工藝的情況，對現(xiàn)有觸摸屏的電性測試工藝進行改 進和創(chuàng)新是十分必要的。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的就是，設(shè)計一種采用多點模擬人手觸摸 手機觸摸屏的觸摸屏測試工藝，為實現(xiàn)此工藝而開發(fā)專用的測試儀，使手機觸摸屏測試過 程達到操作簡單、方便和適合批量生產(chǎn)。本發(fā)明的目的是通過這樣的技術(shù)方案實現(xiàn)的，一種電容式觸摸屏測試工藝，其特 征在于所述工藝采用多點模擬人手觸摸手機觸摸屏的方法，由專用觸摸屏測試儀實現(xiàn)多 點模擬人手觸摸動作，使測試點覆蓋整個觸摸屏的有效范圍；所述觸摸屏測試儀包括由單 片機控制的測試芯片電路、儀器機殼、氣動觸摸頭、氣管、觸摸頭架、觸摸頭活動夾具和觸摸 屏測試接口板；測試芯片電路置于儀器機殼內(nèi)，測試芯片電路通過端子接口及排線連接觸 摸屏測試接口板內(nèi)置觸摸屏接口 ；氣動觸摸頭由金屬管和薄金屬盤帽構(gòu)成，金屬管下端部 的螺紋上，旋入薄金屬盤帽，薄金屬盤帽表面粘貼一層導(dǎo)電橡膠，金屬管上端部插接氣管， 氣管另一端連接氣泵，被測觸摸屏放置于觸摸屏測試接口板上，測試前，使氣動觸摸頭間隙 接觸觸摸屏的整個被測點，測試時，氣管連接氣源時，在氣壓的作用下，使采用彈性薄金屬 材料的薄金屬盤帽變形凸出，薄金屬盤帽表面的導(dǎo)電橡膠模擬人手指按壓觸摸屏被測點； 由測試芯片電路控制電動氣泵開關(guān)來控制氣管氣源的通斷；所述電容式觸摸屏測試的工藝 的測試過程包括如下步驟步驟1、測試前，氣動觸摸頭的薄金屬盤帽處于未受壓的狀態(tài)，薄金屬盤帽保持常 態(tài)形狀，此時氣動觸摸頭與觸摸屏被測點間隙接觸；
步驟2、測試時，氣管連接氣源，在氣壓的作用下，薄金屬盤帽彈性變形向下凸出， 薄金屬盤帽表面的導(dǎo)電橡膠模擬人手指按壓觸摸屏被測點；步驟3、當(dāng)氣管切斷氣源時，薄金屬盤帽恢復(fù)為常態(tài)形狀；測試芯片電路連接被測觸摸屏測試點的電容，單片機通過測量電容量的變化確定 觸摸位置，并獲得電容量變化信息。本發(fā)明產(chǎn)生的有益效果是測試位置覆蓋整個觸摸范圍，對所研發(fā)測試產(chǎn)品參數(shù) 一致性進行統(tǒng)計分析，可直接給出良品不良品判斷，依據(jù)統(tǒng)計分析結(jié)果判定良品和不良品， 采取此方法的測試效率高適宜批量生產(chǎn)；提高了測試精準(zhǔn)度和工作效率。


圖1是本發(fā)明的觸摸屏測試儀示意圖；圖2是氣動觸摸頭示意圖；圖3是被測試產(chǎn)品模擬觸摸點示意圖。
具體實施例方式如圖1至圖3所示，觸摸屏測儀包括由單片機控制的測試芯片電路、儀器機殼6、氣 動觸摸頭1、氣管2、觸摸頭架3、觸摸頭活動夾具4、和觸摸屏測試接口板5 ；氣動觸摸頭1由金屬管11和薄金屬盤帽12構(gòu)成，金屬管11下端部的螺紋上，旋 入薄金屬盤帽12，薄金屬盤帽12表面粘貼一層導(dǎo)電橡膠14，金屬管11端上部加工氣管接 口 13，氣管2插接在氣管接口 13上，氣管接口 13直徑與氣管2內(nèi)徑緊配合。儀器機殼6為觸摸頭架3的支承體，由12個氣動觸摸頭1金屬管11的下端部分 穿過觸摸頭架3上的12個孔，安裝在觸摸頭活動夾具4上，構(gòu)成氣動觸摸頭組合；每個氣動 觸摸頭1的薄金屬盤帽12—端位于觸摸頭活動夾具4平板下部，觸摸頭架3平板四角上各 裝有一個套管9，觸摸頭活動夾具4四角上各裝有一個裝有導(dǎo)柱10，通過套管9和導(dǎo)柱10 滑動配合，觸摸頭架3滑動連接觸摸頭活動夾具4 ；觸摸頭活動夾具4的導(dǎo)柱10可沿套管9 直線升降；套管9側(cè)面加裝頂絲可使觸摸頭活動夾具4定位。儀器機殼6上還設(shè)有液晶顯示終端7和氣量調(diào)整旋鈕8 ；測試芯片電路置于儀器 外殼6內(nèi)，通過測試電路端子接口板5及排線連接觸摸屏測試夾具內(nèi)置觸摸屏接口與產(chǎn)品 連接以便對產(chǎn)品進行測試；薄金屬盤帽12采用彈性薄金屬材料為銅質(zhì)。本發(fā)明是針對電容式觸摸屏進行的電性能檢測。根據(jù)驅(qū)動器芯片相關(guān)技術(shù)參數(shù)， 設(shè)計制作專用檢測儀器，對電容式觸摸屏各項技術(shù)性能進行檢測。編制相應(yīng)的測試程序使測試操作簡單、方便，作業(yè)員在電腦上打開相應(yīng)測試程序， 電腦和測試儀連通后作業(yè)員按要求在治具中放入待測試產(chǎn)品，按測試按鈕，測試儀便會自 動測試，并依據(jù)測試數(shù)據(jù)給出判定結(jié)果，同時電腦對測試數(shù)據(jù)進行記錄。作業(yè)員可依據(jù)判定 結(jié)果將良品、不良品進行分類放置，達到測試目的。電腦中的記錄可便于工程人員進行有效 追蹤及不良分析。自動測試流程[測試1]功率測試輸入功率短路、開路測試
[測試2]連接測試測試板和觸摸屏模組通信檢驗[測試3]模組版本測試模組軟件硬件版本檢查[測試4]通道短路測試FPCB軟纜和芯片短路檢驗[測試5]敏感度測試有模擬觸摸輸入時全部通道和坐標(biāo)輸出的敏感度檢驗和 FPCB、芯片、ITO圖案、銀線路開路檢驗[測試6]電流測試模組電流檢驗(動態(tài)/靜態(tài))例如當(dāng)被測試產(chǎn)品測試參數(shù)達到各項測試要求時，測試儀顯示區(qū)會顯示 "Pass",判定為良品；測試參數(shù)一項或多項未達到測試要求時，測試儀顯示區(qū)會顯示 ‘‘Fail”，判定為不良品。作業(yè)員可將測試后產(chǎn)品分類存放，良品轉(zhuǎn)下工序，不良品給工程人 員。工程人員依據(jù)測試記錄及不良品進行不良分析。提高了測試和不良分析工作效率。注 意點在產(chǎn)品進行測試中，不能移動產(chǎn)品，以免測試不準(zhǔn)，或引起測試儀器故障及人員安全 方面的問題。必須等產(chǎn)品測試完畢，給出測試結(jié)果后方可取出產(chǎn)品。
權(quán)利要求
一種電容式觸摸屏測試的工藝，其特征在于所述工藝采用多點模擬人手觸摸手機觸摸屏的方法，由專用觸摸屏測試儀實現(xiàn)多點模擬人手觸摸動作，使測試點覆蓋整個觸摸屏的有效范圍；所述觸摸屏測試儀包括由單片機控制的測試芯片電路、儀器機殼(6)、氣動觸摸頭(1)、氣管(2)、觸摸頭架(3)、觸摸頭活動夾具(4)和觸摸屏測試接口板(5)；測試芯片電路置于儀器機殼(6)內(nèi)，測試芯片電路通過端子接口及排線連接觸摸屏測試接口板(5)內(nèi)置觸摸屏接口；氣動觸摸頭(1)由金屬管(11)和薄金屬盤帽(12)構(gòu)成，金屬管(11)下端部的螺紋上，旋入薄金屬盤帽(12)，薄金屬盤帽(12)表面粘貼一層導(dǎo)電橡膠(14)，金屬管(11)上端部插接氣管(2)，氣管(2)另一端連接氣泵，被測觸摸屏放置于觸摸屏測試接口板(5)上，測試前，使氣動觸摸頭(1)間隙接觸觸摸屏的整個被測點，測試時，氣管(2)連接氣源時，在氣壓的作用下，使采用彈性薄金屬材料的薄金屬盤帽(12)變形凸出，薄金屬盤帽(12)表面的導(dǎo)電橡膠(14)模擬人手指按壓觸摸屏被測點；由測試芯片電路控制電動氣泵開關(guān)來控制氣管(2)氣源的通斷；所述電容式觸摸屏測試工藝的測試過程包括如下步驟步驟1、測試前，氣動觸摸頭(1)的薄金屬盤帽(12)處于未受壓的狀態(tài)，薄金屬盤帽(12)保持常態(tài)形狀，此時氣動觸摸頭與觸摸屏被測點間隙接觸；步驟2、測試時，氣管(2)連接氣源，在氣壓的作用下，薄金屬盤帽(12)彈性變形向下凸出，薄金屬盤帽(12)表面的導(dǎo)電橡膠(14)模擬人手指按壓觸摸屏被測點；步驟3、當(dāng)氣管(2)切斷氣源時，薄金屬盤帽(12)恢復(fù)為常態(tài)形狀；測試芯片電路連接被測觸摸屏測試點的電容，單片機通過測量電容量的變化確定觸摸位置，并獲得電容量變化信息。
2.如權(quán)利要求1所述電容式觸摸屏測試的工藝，其特征在于所述氣動觸摸頭(1)的 金屬管(11)下端部的螺紋上，旋入薄金屬盤帽(12)，金屬管(11)端上部加工氣管接口(13)，氣管(2)插接在氣管接口(13)上，氣管接口(13)直徑與氣管(2)內(nèi)徑緊配合。
3.如權(quán)利要求1或2所述電容式觸摸屏測試的工藝，其特征在于所述儀器機殼(6)為 觸摸頭架(3)的支承體，由12個氣動觸摸頭(1)金屬管(11)的下端部分穿過觸摸頭架(3) 上的12個孔，安裝在觸摸頭活動夾具(4)上，構(gòu)成氣動觸摸頭組合；每個氣動觸摸頭(1)的 薄金屬盤帽(12) —端位于觸摸頭活動夾具(4)平板下部，觸摸頭架(3)平板四角上各裝有 一個套管(9)，觸摸頭活動夾具(4)四角上各裝有一個裝有導(dǎo)柱(10)，通過套管(9)和導(dǎo)柱 (10)滑動配合，觸摸頭架(3)滑動連接觸摸頭活動夾具(4)；觸摸頭活動夾具(4)的導(dǎo)柱 (10)可沿套管(9)直線升降；套管(9)側(cè)面加裝頂絲可使觸摸頭活動夾具(4)定位。
4.如權(quán)利要求1或2所述電容式觸摸屏測試的工藝，其特征在于薄金屬盤帽(12)采 用彈性薄金屬材料為銅質(zhì)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種采取多點模擬人手觸摸手機觸摸屏狀況進行測試的電容式觸摸屏測試的工藝，工藝采用多點模擬人手觸摸手機觸摸屏的方法，由專用觸摸屏測試儀完成多點模擬人手觸摸動作，使測試點覆蓋整個觸摸屏的有效范圍，測試前，氣動觸摸頭的薄金屬盤帽處于未受壓的狀態(tài)，薄金屬盤帽保持常態(tài)形狀，此時氣動觸摸頭與觸摸屏被測點間隙接觸；測試時，氣管連接氣源，在氣壓的作用下，薄金屬盤帽彈性變形向下凸出，薄金屬盤帽表面的導(dǎo)電橡膠模擬人手指按壓觸摸屏被測點；當(dāng)氣管切斷氣源時，薄金屬盤帽恢復(fù)為常態(tài)形狀；測試芯片電路連接被測觸摸屏測試點的電容，單片機通過測量電容變化確定觸摸位置，并獲得電容變化信息。
文檔編號G01R31/00GK101982783SQ20101051274
公開日2011年3月2日 申請日期2010年10月20日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月20日
發(fā)明者王憲結(jié), 王瑞霞, 馬穎 申請人:天津市中環(huán)高科技有限公司