專利名稱：電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及虛擬儀器技術(shù)領(lǐng)域，是一種電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀器。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的電路參數(shù)測(cè)試儀器，有些采用矩陣開關(guān)，但帶來了開關(guān)數(shù)量的浪費(fèi)，有些采 用多路開關(guān)，但帶來了測(cè)試不靈活的缺點(diǎn)。另外，電路參數(shù)測(cè)試儀器的擴(kuò)展性差，多臺(tái)測(cè)試 儀器不能同時(shí)工作。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于克服電路參數(shù)測(cè)試中測(cè)試儀器擴(kuò)展性差，多臺(tái)測(cè)試儀器不能同時(shí) 工作，僅用矩陣開關(guān)帶來的開關(guān)數(shù)量的浪費(fèi)和僅用多路開關(guān)帶來的測(cè)試的不靈活的缺點(diǎn)， 提供一種擴(kuò)展性強(qiáng)、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)靈活的開放式電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀。本發(fā)明的技術(shù)解決方案是一種電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀，包括至少一臺(tái)電路參數(shù)測(cè)試儀器1、模擬總線2、多路 開關(guān)組、轉(zhuǎn)接器6，所述多路開關(guān)組包括多個(gè)多路開關(guān)5，所述轉(zhuǎn)接器6用于連接多路開關(guān)5 和被測(cè)電路9，其特殊之處在于所述電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀還包括儀器端矩陣開關(guān)4，所述 儀器端矩陣開關(guān)4用于儀器測(cè)試線8和模擬總線2之間的選通，所述每個(gè)多路開關(guān)5包括 模擬總線連接開關(guān)51和電路連接開關(guān)52，所述多路開關(guān)組的模擬總線連接開關(guān)51、模擬總 線2組成電路端矩陣開關(guān)7，所述電路連接開關(guān)52用于實(shí)現(xiàn)測(cè)試回路在不同被測(cè)電路9之 間的切換。上述電路參數(shù)測(cè)試儀器1包括萬用表、絕緣性測(cè)試儀、耐壓測(cè)試儀中的一種或任 意幾種的組合。上述電路參數(shù)測(cè)試儀器1包括萬用表、信號(hào)源、示波器、絕緣性測(cè)試儀、耐壓測(cè)試 儀中的一種或任意幾種的組合。上述模擬總線2還包括擴(kuò)展模擬總線3。本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)1、本發(fā)明通過測(cè)試儀器、儀器端矩陣開關(guān)的組合，可實(shí)現(xiàn)多種測(cè)試功能的任意擴(kuò) 展；通過增加多路開關(guān)的數(shù)量可以實(shí)現(xiàn)多路測(cè)試的測(cè)試點(diǎn)數(shù)的任意擴(kuò)展；2、本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)多臺(tái)測(cè)試儀器同時(shí)測(cè)試。3、本發(fā)明特別適合于大型設(shè)備和系統(tǒng)中各種電路的維修和故障定位，可應(yīng)用于船 舶、航天、航空、大型測(cè)試系統(tǒng)及自動(dòng)化工廠等領(lǐng)域中。


圖1是本發(fā)明多芯電纜測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)示意框圖；圖2是本發(fā)明多芯電纜測(cè)試儀的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)圖；其中1_電路參數(shù)測(cè)試儀器，2-模擬總線，3-擴(kuò)展模擬總線，4-儀器端矩陣開關(guān)，5-多路開關(guān)，51-模擬總線連接開關(guān)，52-電路連接開關(guān)，6-轉(zhuǎn)接器，7-電路端矩陣開關(guān)， 8-儀器測(cè)試線，9-被測(cè)電路。
具體實(shí)施方式

本發(fā)明電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀的組成如圖1和圖2所示，由多臺(tái)電路參數(shù)測(cè)試儀器 1、儀器端矩陣開關(guān)4、電路端矩陣開關(guān)7、電路連接開關(guān)52、轉(zhuǎn)接器6組成。測(cè)試儀器用來實(shí) 現(xiàn)被測(cè)電路各個(gè)性能參數(shù)的測(cè)試，包括萬用表、信號(hào)源、示波器、絕緣性測(cè)試儀、耐壓測(cè)試儀 等，還可根據(jù)需求增加其它參數(shù)測(cè)試儀。儀器端矩陣開關(guān)和電路端矩陣開關(guān)用來實(shí)現(xiàn)把測(cè) 試儀器的測(cè)試端選通到不同的電路連接開關(guān)52。左邊部分為儀器端矩陣開關(guān)，由模擬總線 和測(cè)試儀器的儀器測(cè)試線通過開關(guān)連接而成；右邊部分為電路端矩陣開關(guān)，由模擬總線和 模擬總線連接開關(guān)51連接而成。模擬總線的數(shù)量由同時(shí)工作的測(cè)試儀器的最多測(cè)試線數(shù) 決定，其它儀器的測(cè)試則采用模擬總線共享的方法。電路連接開關(guān)52用來實(shí)現(xiàn)測(cè)試回路在 被測(cè)電路的不同的測(cè)試點(diǎn)之間的切換。在2線測(cè)試中，把被測(cè)電路的兩端分別連接到兩個(gè) 電路連接開關(guān)上；在4線測(cè)試中，按照4線測(cè)試的方法，把被測(cè)電路的各端分別連接到四個(gè) 電路連接開關(guān)上；也可以把多個(gè)電路分別連接到多個(gè)電路連接開關(guān)上，對(duì)多個(gè)被測(cè)電路進(jìn) 行同時(shí)測(cè)試；可以把多個(gè)電路連接開關(guān)合并，形成通道更多的電路連接開關(guān)。轉(zhuǎn)接器用來實(shí) 現(xiàn)電路連接開關(guān)和被測(cè)電路之間的連接。本發(fā)明是利用電路測(cè)試儀器、矩陣開關(guān)和多路開關(guān)來實(shí)現(xiàn)電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試的功 能，主要作用是對(duì)各種電路的電氣參數(shù)、導(dǎo)通性、絕緣性和耐壓等指標(biāo)進(jìn)行檢測(cè)，并可以把 電路的故障定位到具體的測(cè)試點(diǎn)上。本發(fā)明測(cè)試儀器可以任意擴(kuò)展，可以把測(cè)試儀器的測(cè) 試端選通到不同的測(cè)試點(diǎn)之間，所以可實(shí)現(xiàn)測(cè)試回路在不同的測(cè)試點(diǎn)之間的切換。本發(fā)明模擬總線的數(shù)量如果選用4根，則可進(jìn)行電路參數(shù)的2線測(cè)試和4線測(cè)試； 多路開關(guān)選用8個(gè)1選24多路開關(guān)，可實(shí)現(xiàn)2線測(cè)試最多80點(diǎn)電路的測(cè)試和4線測(cè)試最 多40點(diǎn)電路的測(cè)試，并可實(shí)現(xiàn)兩臺(tái)2線測(cè)試儀器同時(shí)進(jìn)行工作。圖2所示模擬總線的數(shù)量 是5根，擴(kuò)展模擬總線的數(shù)量是2根。本發(fā)明可測(cè)點(diǎn)數(shù)等于多路開關(guān)的通道數(shù)減去模擬總 線數(shù)。本發(fā)明可用于多芯電纜的參數(shù)和性能測(cè)試。
權(quán)利要求
一種電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀，包括至少一臺(tái)電路參數(shù)測(cè)試儀器(1)、模擬總線(2)、多路開關(guān)組、轉(zhuǎn)接器(6)，所述多路開關(guān)組包括多個(gè)多路開關(guān)(5)，所述轉(zhuǎn)接器(6)用于連接多路開關(guān)(5)和被測(cè)電路(9)，其特征在于所述電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀還包括儀器端矩陣開關(guān)(4)，所述儀器端矩陣開關(guān)(4)用于儀器測(cè)試線(8)和模擬總線(2)之間的選通，所述每個(gè)多路開關(guān)(5)包括模擬總線連接開關(guān)(51)和電路連接開關(guān)(52)，所述多路開關(guān)組的模擬總線連接開關(guān)(51)、模擬總線(2)組成電路端矩陣開關(guān)(7)，所述電路連接開關(guān)(52)用于實(shí)現(xiàn)測(cè)試回路在不同被測(cè)電路(9)之間的切換。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀，其特征在于所述電路參數(shù)測(cè)試儀器 (1)包括萬用表、絕緣性測(cè)試儀、耐壓測(cè)試儀中的一種或任意幾種的組合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀，其特征在于所述電路參數(shù)測(cè)試儀器(1)包括萬用表、信號(hào)源、示波器、絕緣性測(cè)試儀、耐壓測(cè)試儀中的一種或任意幾種的組合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀，其特征在于所述模擬總線(2)還包括擴(kuò)展模擬總線(3)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀，包括至少一臺(tái)電路參數(shù)測(cè)試儀器、模擬總線、多路開關(guān)組、轉(zhuǎn)接器，所述多路開關(guān)組包括多個(gè)多路開關(guān)，所述轉(zhuǎn)接器用于連接多路開關(guān)和被測(cè)電路，所述電路參數(shù)多點(diǎn)測(cè)試儀還包括儀器端矩陣開關(guān)，所述儀器端矩陣開關(guān)用于儀器測(cè)試線和模擬總線之間的選通，所述每個(gè)多路開關(guān)包括模擬總線連接開關(guān)和電路連接開關(guān)，所述多路開關(guān)組的模擬總線連接開關(guān)、模擬總線組成電路端矩陣開關(guān)，所述電路連接開關(guān)用于實(shí)現(xiàn)測(cè)試回路在不同被測(cè)電路之間的切換。本發(fā)明解決了電路參數(shù)測(cè)試中測(cè)試儀器擴(kuò)展性差，多臺(tái)測(cè)試儀器不能同時(shí)工作，浪費(fèi)以及測(cè)試不靈活的缺點(diǎn)，具有擴(kuò)展性強(qiáng)、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)靈活的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01R31/02GK101876685SQ200910022230
公開日2010年11月3日 申請(qǐng)日期2009年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月28日
發(fā)明者劉衛(wèi)東, 張亞峰, 白曉峰, 郭恩全, 高寶平 申請(qǐng)人:陜西海泰電子有限責(zé)任公司