專利名稱：用于多芯電纜綜合測試裝置的掃描選擇電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種掃描選擇電路。
背景技術(shù)：
目前，對電纜進(jìn)行測試多采用萬用表。把萬用表的兩支表筆接在電纜兩端，然后進(jìn)行測試。當(dāng)對多芯電纜進(jìn)行測試時，必須對每一根電纜芯逐一進(jìn)行測試。采用這種方法需要投入大量人力、物力，而且因人為因素而產(chǎn)生錯誤的機(jī)率很大。如果要作高壓實(shí)驗(yàn)還必須借助于其他儀器。使用不方便，影響工作效率。
實(shí)用新型內(nèi)容針對上述不足，本實(shí)用新型提供一種能夠迅速準(zhǔn)確測試大量電纜芯是否開路或短路的用于多芯電纜綜合測試裝置的掃描選擇電路。
為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案一種用于多芯電纜綜合測試裝置的掃描選擇電路，包括若干并聯(lián)的相同的掃描選擇單元，該掃描選擇單元包括若干并聯(lián)的相同的單個選擇測試電路，該選擇測試電路包括兩個并聯(lián)的繼電器，所述繼電器的線圈并聯(lián)后一端接控制信號源，另一端接電源，所述繼電器的開關(guān)K2n、K2n-1一端接被測電纜，另一端接探測器電路。
本實(shí)用新型具有以下有益效果多芯電纜綜合測試裝置主要由主控部分和本實(shí)用新型用于多芯電纜綜合測試裝置的掃描選擇電路組成。掃描選擇單元完成線路的切換。每個掃描選擇單元，可測試100條電纜，并受主控部分控制。這樣，可根據(jù)用戶實(shí)際需要任意組合成若干個掃描選擇單元。能夠同時測試若干條線路。


圖1為多芯電纜綜合測試裝置的電路方框圖。
圖2為本實(shí)用新型用于多芯電纜綜合測試裝置的掃描選擇電路圖。
圖3為開路探測器電路圖。
圖4為短路探測器電路圖。
圖5為直流高壓探測器電路圖。
圖6為交流高壓探測器電路圖。
具體實(shí)施例參照附圖1，本實(shí)用新型多芯電纜綜合測試裝置在多芯電纜測試端連接有多芯電纜，該多芯電纜測試端與多芯電纜掃描、選擇線路連接，該多芯電纜掃描、選擇線路與探測器電路串聯(lián)，該探測器電路與CPU相連。探測器電路包括開路探測器電路、短路探測器電路、直流高壓探測器電路、交流高壓探測器電路。CPU發(fā)送控制信號給多芯電纜掃描、選擇線路。
參照附圖2、3所述多芯電纜掃描、選擇線路包括若干并聯(lián)的相同的單個選擇測試電路，該單個選擇測試電路包括兩個并聯(lián)的繼電器，所述繼電器的線圈并聯(lián)后一端接所述CPU，另一端接電源，所述繼電器的開關(guān)K2n一端接測試輸入端，另一端在常開時接開路探測器電路，K2n-1一端接測試輸出端，另一端接地。所述開路探測器電路包括兩個串聯(lián)的分壓電阻、該兩個串聯(lián)的分壓電阻之間接有恒流源，所述兩個串聯(lián)的分壓電阻的一端與所述多芯電纜掃描、選擇線路連接，另一端與兩級串聯(lián)的比較放大器的一端串聯(lián)，該兩級串聯(lián)的比較放大器的另一端與光電耦合器串聯(lián)，該光電耦合器與所述CPU相連。
開路探測器工作，GRD接地，CONT與開路探測器連接，CPU發(fā)送控制信號給多芯電纜掃描、選擇線路。CPU發(fā)出第n(1＜＝n＜＝N)條控制命令，第n組繼電器閉合，本實(shí)用新型多芯電纜綜合測試裝置將被測的N條線路中的第n條線路的兩端分別與CONT和地相連接，恒流源接入被測電纜，調(diào)整N2的放大系數(shù)，通過測試被測電纜對地的電壓來測試電纜兩端的電阻，從而判定電纜是否開路。
參照附圖2、4所述多芯電纜掃描、選擇線路包括若干并聯(lián)的相同的單個選擇測試電路，該單個選擇測試電路包括兩個并聯(lián)的繼電器，所述繼電器的線圈并聯(lián)后一端接所述CPU，另一端接電源，所述繼電器的開關(guān)K2n一端接測試輸入端，另一端在常開時接地，在常閉時接短路探測器電路，K2n-1一端接測試輸出端，另一端接地。所述短路探測器電路包括兩個并聯(lián)的分流電阻，該兩個并聯(lián)的分流電阻一端接比較放大器的反向輸入端，另一端接電源，所述比較放大器輸出端接所述CPU。
短路探測器工作，GRD和CONT接地，CPU發(fā)送控制信號給多芯電纜掃描、選擇線路。CPU發(fā)出第n(1＜＝n＜＝N)條控制命令，第n組繼電器閉合，本實(shí)用新型多芯電纜綜合測試裝置將被測的N條線路中的第n條線路提出，再分別與剩下的(N-1)條線路比較，若有短路現(xiàn)象，則SHORT接地，返回低電平經(jīng)N1比較放大送回CPU判定；若無短路現(xiàn)象，則SHORT返回高電平經(jīng)N1比較放大送回CPU判定。
參照附圖2、5所述多芯電纜掃描、選擇線路包括若干并聯(lián)的相同的單個選擇測試電路，該單個選擇測試電路包括兩個并聯(lián)的繼電器，所述繼電器的線圈并聯(lián)后一端接所述CPU，另一端接電源，所述繼電器的開關(guān)K2n一端接測試輸入端，另一端在常開時接直流高壓探測器電路，在常閉時接直流高壓，K2n-1一端接測試輸出端，另一端懸空。所述直流高壓探測器電路包括兩個串聯(lián)的分壓電阻、該兩個串聯(lián)的分壓電阻的接點(diǎn)與地之間接有五個串聯(lián)的二極管，每個二極管都并聯(lián)有電阻，所述兩個串聯(lián)的分壓電阻的一端與所述多芯電纜掃描、選擇線路連接，另一端與兩級串聯(lián)的比較放大器的一端串聯(lián)，該兩級串聯(lián)的比較放大器的另一端與光電耦合器串聯(lián)，該光電耦合器與所述CPU相連。
直流高壓探測器工作，GRD懸空，SHORT為直流高壓輸入線，將直流高壓加到被測試的N條線路上，CONT作為返回信號線與直流高壓探測器相連。CPU發(fā)出第n(1＜＝n＜＝N)條控制命令，第n組繼電器閉合，本實(shí)用新型多芯電纜綜合測試裝置將被測的N條線路中的第n條線路與直流高壓探測器相連，同時將高壓下第n條線路與剩下的(N-1)條線路間絕緣性能最差的信號通過CONT返回直流高壓探測器處理，并報(bào)CPU判定。
參照附圖2、6所述多芯電纜掃描、選擇線路包括若干并聯(lián)的相同的單個選擇測試電路，該單個選擇測試電路包括兩個并聯(lián)的繼電器，所述繼電器的線圈并聯(lián)后一端接所述CPU，另一端接電源，所述繼電器的開關(guān)K2n一端接測試輸入端，另一端在常開時接交流高壓探測器電路，在常閉時接交流高壓，K2n-1一端接測試輸出端，另一端懸空。所述交流高壓探測器電路包括一整流電路，該整流電路接射隨器的輸入端，該射隨器的輸出端與兩級串聯(lián)的比較放大器的一端串聯(lián)，該兩級串聯(lián)的比較放大器的另一端與所述CPU相連。
交流高壓探測器工作，GRD懸空，SHORT為交流高壓輸入線，將交流高壓加到被測試的N條線路上，CONT作為返回信號線與交流高壓探測器相連。CPU發(fā)出第n(1＜＝n＜＝N)條控制命令，第n組繼電器閉合，本實(shí)用新型多芯電纜綜合測試裝置將被測的N條線路中的第n條線路與交流高壓探測器相連，同時將高壓下第n條線路與剩下的(N-1)條線路間絕緣性能最差的信號通過CONT返回交流高壓探測器處理，并報(bào)CPU判定。
權(quán)利要求1.一種用于多芯電纜綜合測試裝置的掃描選擇電路，其特征在于包括若干并聯(lián)的相同的掃描選擇單元，該掃描選擇單元包括若干并聯(lián)的相同的單個選擇測試電路，該選擇測試電路包括兩個并聯(lián)的繼電器，所述繼電器的線圈并聯(lián)后一端接控制信號源，另一端接電源，所述繼電器的開關(guān)K2n、K2n-1一端接被測電纜，另一端接探測器電路。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種用于多芯電纜綜合測試裝置的掃描選擇電路，解決了現(xiàn)有多芯電纜綜合測試裝置測試效率差的問題。包括若干并聯(lián)的相同的掃描選擇單元，該掃描選擇單元包括若干并聯(lián)的相同的單個選擇測試電路，該選擇測試電路包括兩個并聯(lián)的繼電器，所述繼電器的線圈并聯(lián)后一端接控制信號源，另一端接電源，所述繼電器的開關(guān)K
文檔編號G01R31/08GK2779418SQ20042007758
公開日2006年5月10日 申請日期2004年7月12日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月12日
發(fā)明者林星山, 王槐 申請人:林星山, 王槐