一種芬頓試劑快速配比裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種配比裝置，更確切地說，是一種芬頓試劑快速配比裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]芬頓試劑不易保存，大多是現(xiàn)場配置。當(dāng)大量需要芬頓試劑時，普通的配比方法速度慢，難以滿足需求量。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明主要是解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的技術(shù)問題，從而提供一種高效率配比的芬頓試劑快速配比裝置。
[0004]本發(fā)明的上述技術(shù)問題主要是通過下述技術(shù)方案得以解決的:
一種芬頓試劑快速配比裝置，包含一本體，在所述的本體底部設(shè)一第一卡槽和一第二卡槽，在所述的本體側(cè)面設(shè)一第一輸入口和一第二輸入口，在所述的本體的頂部設(shè)一芬頓試劑輸出口，在所述的本體底部設(shè)一主輸入口。
[0005]作為本發(fā)明較佳的實施例，所述的本體為耐腐蝕高硅鑄鐵制成。
[0006]作為本發(fā)明較佳的實施例，所述的第一輸入口、第二輸入口和主輸入口表面設(shè)有螺紋。
[0007]由于本發(fā)明的芬頓試劑快速配比裝置所述的本體為耐腐蝕高硅鑄鐵制成，從而可有效的抵御芬頓試劑的腐蝕作用，提高了使用壽命。由于所述的第一輸入口、第二輸入口和主輸入口表面設(shè)有螺紋，從而避免了使用塑性材料來達(dá)到密封的效果。
[0008]
【附圖說明】
[0009]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0010]圖1為本發(fā)明的芬頓試劑快速配比裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為圖1中的芬頓試劑快速配比裝置的立體結(jié)構(gòu)示意圖，此時為另一視角。
[0011]
【具體實施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行詳細(xì)闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對本發(fā)明的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
[0013]本發(fā)明提供了一種高效率配比的芬頓試劑快速配比裝置。
[0014]如圖1、圖2所示，一種芬頓試劑快速配比裝置1，包含一本體2，在所述的本體2底部設(shè)一第一卡槽31和一第二卡槽32，在所述的本體2側(cè)面設(shè)一第一輸入口 41和一第二輸入口 42，在所述的本體2的頂部設(shè)一芬頓試劑輸出口 51，在所述的本體2底部設(shè)一主輸入P 52ο
[0015]如圖1、圖2所示，所述的本體2為耐腐蝕高硅鑄鐵制成。
[0016]如圖1、圖2所示，所述的第一輸入口 41、第二輸入口 42和主輸入口 52表面設(shè)有螺紋。
該發(fā)明的芬頓試劑快速配比裝置所述的本體為耐腐蝕高硅鑄鐵制成，從而可有效的抵御芬頓試劑的腐蝕作用，提高了使用壽命。由于所述的第一輸入口、第二輸入口和主輸入口表面設(shè)有螺紋，從而避免了使用塑性材料來達(dá)到密封的效果。
[0017]以上僅僅以一個實施方式來說明本發(fā)明的設(shè)計思路，在系統(tǒng)允許的情況下，本發(fā)明可以擴展為同時外接更多的功能模塊，從而最大限度擴展其功能。
[0018]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書所限定的保護范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項】
1.一種芬頓試劑快速配比裝置(1)，包含一本體(2)，其特征在于，在所述的本體(2)底部設(shè)一第一卡槽(31)和一第二卡槽(32)，在所述的本體(2)側(cè)面設(shè)一第一輸入口(41)和一第二輸入口(42)，在所述的本體(2)的頂部設(shè)一芬頓試劑輸出口( 51)，在所述的本體(2)底部設(shè)一主輸入口(52)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芬頓試劑快速配比裝置，其特征在于，所述的本體(2)為耐腐蝕尚娃鑄鐵制成。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芬頓試劑快速配比裝置，其特征在于，所述的第一輸入口(41)、第二輸入口(42)和主輸入口(52)表面設(shè)有螺紋。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種芬頓試劑快速配比裝置，包含一本體，在所述的本體底部設(shè)一第一卡槽和一第二卡槽，在所述的本體側(cè)面設(shè)一第一輸入口和一第二輸入口，在所述的本體的頂部設(shè)一芬頓試劑輸出口，在所述的本體底部設(shè)一主輸入口。所述的本體為耐腐蝕高硅鑄鐵制成,所述的第一輸入口、第二輸入口和主輸入口表面設(shè)有螺紋。由于本發(fā)明的芬頓試劑快速配比裝置所述的本體為耐腐蝕高硅鑄鐵制成,從而可有效的抵御芬頓試劑的腐蝕作用,提高了使用壽命。由于所述的第一輸入口、第二輸入口和主輸入口表面設(shè)有螺紋,從而避免了使用塑性材料來達(dá)到密封的效果。
【IPC分類】B01F15-00
【公開號】CN104826536
【申請?zhí)枴緾N201510225822
【發(fā)明人】胡俊
【申請人】胡俊
【公開日】2015年8月12日
【申請日】2015年5月6日