專利名稱：高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀成像方法及光譜儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種快速獲得目標(biāo)干涉光譜的動(dòng)鏡式干涉成像方法及實(shí)現(xiàn)該方法的光譜儀，具體涉及一種高穩(wěn)定度、高光譜分辨率干涉成像光譜儀的成像方法及實(shí)現(xiàn)該方法的光譜儀。
背景技術(shù)：
較早的成像光譜儀有法國(guó)太空空間與戰(zhàn)略系統(tǒng)分部于1991年研制出的邁克爾遜干涉型時(shí)間調(diào)制空間成像傅里葉變換光譜儀D Simenoni.New concept forhigh-compact imaging Fourier transform spectrometer(IFTS)[C].SPIE，1991，1479127-138.，美國(guó)羅倫斯利物摩爾實(shí)驗(yàn)室于1995年研制出的邁克爾遜干涉型時(shí)間調(diào)制空間成像傅里葉變換光譜儀Michael R Carter，Charles L Bennett，David J Fields，etal.Live more imaging Fourier transform spectrometer[C].SPIE，1995，2480380-386.。其采用線性往復(fù)掃描方式，每次掃描結(jié)束時(shí)必須轉(zhuǎn)向，待穩(wěn)定后再采集數(shù)據(jù)。所以，采集數(shù)據(jù)時(shí)必須通過一束參考激光提供相應(yīng)的相干采樣圖譜。掃描速度通過伺服系統(tǒng)控制，并在轉(zhuǎn)向時(shí)提供逆程掃描，隨著掃描頻率、速度的增加，往返時(shí)間成為總掃描時(shí)間的重要部分。為了得到精確的采樣干涉圖，伺服系統(tǒng)所需的帶寬急劇增加。而隨著掃描速度的增加，分辨率會(huì)受上述因素的制約。由于往返時(shí)間成為總掃描時(shí)間的重要部分，占空比會(huì)因伺服系統(tǒng)功率、掃描器件尺寸大小、掃描器件重量及系統(tǒng)穩(wěn)定時(shí)間的制約而降低。例如，在360次/秒掃描、單次掃描時(shí)間為2.8毫秒的掃描頻率下極難實(shí)現(xiàn)往復(fù)掃描。1-2毫秒的返程與穩(wěn)定時(shí)間會(huì)將占空比降低至33-50％。在重復(fù)頻率很高的情況下，將制約對(duì)分辨率有影響的掃描長(zhǎng)度。因此，邁克爾遜干涉型時(shí)間調(diào)制空間成像傅里葉變換光譜儀穩(wěn)定性差，工藝復(fù)雜，只適用于空間和光譜時(shí)間變化較慢的目標(biāo)。
轉(zhuǎn)鏡干涉光譜成像是變形的時(shí)間調(diào)制型邁可爾遜干涉技術(shù)J.Peter Dybward，et.al.“New Interferometer Design Concept”，STC Technical Report 2637，Science andTechnology Corp，Hampton，VA，under contract#DAAA15-89-D-007，US Army CRDEC，APG，MD，8/92.，該技術(shù)在掃描過程中有空掃。即轉(zhuǎn)鏡旋轉(zhuǎn)時(shí)僅在一定角度內(nèi)可獲得干涉光譜圖，而在其他角度為空掃。工作效率低，且只能對(duì)單象素取樣，即只能對(duì)點(diǎn)目標(biāo)掃描，只能應(yīng)用于一個(gè)角度光線的掃描。
一種超高速掃描傅立葉變化紅外光譜測(cè)定法Peter R.Griffiths，Blayne L.Hirsche，Christopher J.Manning.Ultra-rapid-scanning Fourier transform infared spectrometry.Vibrational Spectroscopy 19(1999)165-176.，雖解決了轉(zhuǎn)鏡空掃的問題，但仍只能對(duì)單象素取樣。如果要獲得線目標(biāo)或者面目標(biāo)的干涉圖譜，就必須在系統(tǒng)前部附加一個(gè)前置掃描系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)每個(gè)點(diǎn)的逐個(gè)掃描，最后集合而獲得整個(gè)目標(biāo)的干涉圖譜。存在的缺陷是系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜，體積較大，重量重。由于實(shí)時(shí)性差，不僅影響光譜圖的質(zhì)量，且掃描時(shí)間長(zhǎng)，掃描速度低，分辨率低，適用的工作范圍也較窄。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀成像方法及光譜儀，其解決了背景技術(shù)中只能對(duì)單象素取樣、工作效率低，或系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、掃描速度低、穩(wěn)定性差，光譜分辨率相對(duì)較低的技術(shù)問題。
本發(fā)明的技術(shù)解決方案是一種高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀的成像方法，其特殊之處在于該方法包括以下步驟1)準(zhǔn)直透鏡1將來自目標(biāo)的光束轉(zhuǎn)換成平行光束；2)分束器2將平行光束分為反射光束IF和透射光束IT；①.被分束器2分出的反射光束IF經(jīng)轉(zhuǎn)鏡3和角反射器5多次反射，再回到分束器2，通過傅立葉透鏡8會(huì)聚到探測(cè)器9，形成第一束光的光程；②.被分束器2分出的透射光束IT到達(dá)平面反射鏡7，經(jīng)平面反射鏡7和角反射器6多次反射，再回到分束器2，通過傅立葉透鏡8會(huì)聚到探測(cè)器9，形成第二束光的光程；3)第一束光與第二束光通過傅立葉透鏡8到達(dá)探測(cè)器9時(shí)產(chǎn)生光程差，成為兩束相干光，在探測(cè)器9上產(chǎn)生干涉光譜圖；4)干涉光譜圖經(jīng)計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)12進(jìn)行傅立葉變換，得到復(fù)原的目標(biāo)圖像。
上述第一束光的光程可以是1)被分束器2分出的反射光束IF(i)被轉(zhuǎn)鏡3反射到角反射器5，角反射器5把入射的光沿與入射方向平行的方向反射回轉(zhuǎn)鏡3；(ii)轉(zhuǎn)鏡3將光反射回分束器2；(iii)反射回分束器2的光又被分為反射光束IFF和透射光束IFT；2)被分束器2分出的反射光束IF再次被分束器2分出的透射光束IFT，透過分束器2到達(dá)傅立葉透鏡8，被探測(cè)器9接收；上述第二束光的光程可以是1)被分束器2分出的透射光束IT(i)被平面反射鏡7反射到角反射器6，角反射器6把入射光沿與入射方向平行的方向反射回平面反射鏡7；(ii)平面反射鏡7將光反射回分束器2；(iii)反射回分束器2的光又被分為反射光束ITF和透射光束ITT；2)被分束器2分出的透射光束IT再次被分束器2分出的反射光束ITF，通過傅立葉透鏡8，被探測(cè)器9接收。
一種實(shí)現(xiàn)上述高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀成像方法的光譜儀，包括傅立葉透鏡8，位于傅立葉透鏡8焦面上的探測(cè)器9，與探測(cè)器9相連接的計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)12，設(shè)置于前置光學(xué)系統(tǒng)11主光軸上的準(zhǔn)直透鏡1，設(shè)置于準(zhǔn)直透鏡1軸線OO′上的分束器2，其特殊之處在于它還包括平面反射鏡7，角反射器5和角反射器6，與電機(jī)4相連的轉(zhuǎn)鏡3；所述平面反射鏡7的位置應(yīng)滿足當(dāng)轉(zhuǎn)鏡3、角反射器5-6在某一位置定位時(shí)，1)主光軸上的光被分束器2第一次分出的反射光束IF為第一束光；第一束光經(jīng)轉(zhuǎn)鏡3和角反射器5多次反射，再回到分束器2，通過傅立葉透鏡8會(huì)聚到探測(cè)器9形成的第一束光的光程；2)主光軸上的光被分束器2第一次分出的透射光束IT為第二束光；第二束光到達(dá)平面反射鏡7，經(jīng)平面反射鏡7和角反射器6多次反射，再回到分束器2，通過傅立葉透鏡8會(huì)聚到探測(cè)器9形成的第二束光的光程；3)第一束光再回到分束器2的交點(diǎn)與第二束光再回到分束器2的交點(diǎn)相重合；4)第一束光被分束器2再次分出的透射光束IFT和第二束被分束器2再次分出的反射光束ITF光路重合；5)第一束光的光程與第二束光的光程相等；所述分束器2的位置還應(yīng)滿足1)能接收到通過準(zhǔn)直透鏡1的初始入射光；2)能接收到經(jīng)轉(zhuǎn)鏡3和角反射器5反射回的反射光；3)能接收到平面反射鏡7和角反射器6反射回的反射光；所述傅立葉透鏡8的光軸位于第一束光的透射光束IFT與第二束光的反射光束ITF相重合的光路上。
上述角反射器5、角反射器6的結(jié)構(gòu)相同，以兩者背向固連為一體為佳。
上述探測(cè)器9以采用紅外探測(cè)器為佳，具體可采用CCD紅外探測(cè)器。
上述轉(zhuǎn)鏡3以由圓柱體的斜端面構(gòu)成為宜，其便于加工、安裝。
本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)1.可實(shí)現(xiàn)高頻掃描，且穩(wěn)定性好。采用轉(zhuǎn)鏡式動(dòng)鏡，系統(tǒng)運(yùn)行連續(xù)，當(dāng)掃描速度很高時(shí)，由于慣性的作用，旋轉(zhuǎn)伺服系統(tǒng)仍能保持較好的穩(wěn)定性。
2.抗干擾能力強(qiáng)。由于獲得干涉圖的時(shí)間極短，系統(tǒng)對(duì)振動(dòng)敏感的程度低，機(jī)械振動(dòng)頻率一般對(duì)光譜圖的質(zhì)量無影響。
3.角反射器與轉(zhuǎn)鏡匹配形成的光路具有自補(bǔ)償特性，從而使本發(fā)明具有較好的抗干擾性。
4.掃描效率高。轉(zhuǎn)鏡以一個(gè)圓柱體的具有一定傾斜度的端面作為反射面，在電機(jī)的帶動(dòng)下轉(zhuǎn)動(dòng)，無空掃現(xiàn)象，掃描效率高。
5.可實(shí)現(xiàn)線目標(biāo)或面目標(biāo)的直接掃描。采用角反射鏡，不僅能掃描主光軸光線，還可掃描具有一定角度的光線，即可對(duì)線目標(biāo)或面目標(biāo)直接進(jìn)行掃描，縮短了掃描時(shí)間，進(jìn)一步提高了掃描效率和光譜圖的質(zhì)量。
6.實(shí)時(shí)性好，分辨率更高，工作范圍寬。尤適用于對(duì)較大目標(biāo)的大面積掃描。
7.功耗低，所需驅(qū)動(dòng)更功率小。
8.結(jié)構(gòu)更簡(jiǎn)單。采用角反射鏡和平面反射鏡結(jié)合的設(shè)計(jì)，大大縮小了儀器的整體結(jié)構(gòu)，更進(jìn)一步減輕了儀器的重量。
9.結(jié)構(gòu)相同的兩個(gè)角反射器背向固連為一體，在裝配時(shí)位置容易確定，加工簡(jiǎn)單。
10兩個(gè)角反射器的結(jié)構(gòu)相同，可抵消加工所產(chǎn)生誤差的影響；固連為一體，避免了角反射器位置匹配不精確引起出射光和入射光不平行的影響，提高了信噪比。


圖1為本發(fā)明高穩(wěn)定轉(zhuǎn)鏡成像光譜原理示意；圖2為本發(fā)明成像光譜儀實(shí)施例的原理示意圖。
附圖標(biāo)號(hào)說明1-準(zhǔn)直透鏡，2-分束器，3-轉(zhuǎn)鏡，4-電機(jī)，5-角反射器，6-角反射器，7-平面反射鏡，8-傅立葉透鏡，9-探測(cè)器，10-被觀測(cè)物，11-前置光學(xué)系統(tǒng)，12-計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)。
具體實(shí)施例方式
參見附圖1，本發(fā)明的光學(xué)系統(tǒng)主要由準(zhǔn)直透鏡1、分束器2、轉(zhuǎn)鏡3、角反射器5-6、前置光學(xué)系統(tǒng)11和傅立葉透鏡8構(gòu)成；干涉系統(tǒng)主要由準(zhǔn)直透鏡1、分束器2、轉(zhuǎn)鏡3、角反射器5-6、平面反射鏡7和傅立葉透鏡8構(gòu)成。探測(cè)系統(tǒng)主要由探測(cè)器9構(gòu)成，信息處理系統(tǒng)主要由計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)12構(gòu)成，見附圖2。
本發(fā)明的工作原理在轉(zhuǎn)鏡3靜止時(shí)，主光軸上的光束被分束器2分成兩束光，該兩束光的光程相等。當(dāng)轉(zhuǎn)鏡3在電機(jī)4的帶動(dòng)下轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，被分束器2第一次分出的反射光束IF，經(jīng)轉(zhuǎn)鏡3與角反射器5多次反射后，回到分束器2，再到達(dá)傅立葉透鏡8的第一束光的光程會(huì)發(fā)生變化。而被分束器2第一次分出的透射光束IT，經(jīng)過平面反射鏡7與角反射器6多次反射后，回到分束器2，被分束器2反射到達(dá)傅立葉透鏡8的第二束光的光程不變化。兩束光的光路不再重合，最后到達(dá)探測(cè)器9的光程不再相等，從而產(chǎn)生光程差，成為兩束相干光，在探測(cè)器9上產(chǎn)生干涉圖。隨著轉(zhuǎn)鏡3的轉(zhuǎn)動(dòng)，兩束光的光程差不斷變化，由此獲得干涉光譜圖。干涉光譜圖經(jīng)計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)12進(jìn)行傅立葉變換后，可得到復(fù)原的目標(biāo)圖像。轉(zhuǎn)鏡3在電機(jī)4帶動(dòng)下高速轉(zhuǎn)動(dòng)，即可實(shí)現(xiàn)高速掃描。
參見圖1，本發(fā)明準(zhǔn)直透鏡1的軸線OO′位于前置光學(xué)系統(tǒng)11的主光軸上。分束器2的位置應(yīng)確保既能接收到通過準(zhǔn)直透鏡1的初始入射光，又能接收到通過轉(zhuǎn)鏡3與角反射器5、平面反射鏡7與角反射器6多次反射回的光。與電機(jī)4相連的轉(zhuǎn)鏡3的位置根據(jù)實(shí)際設(shè)計(jì)需要設(shè)置。角反射器5、角反射器6的結(jié)構(gòu)相同，兩者背向固連為一體。平面反射鏡7的位置應(yīng)滿足當(dāng)轉(zhuǎn)鏡3、角反射器5-6在某一位置定位時(shí)，1)主光軸上的光在分束器2上第一次被分出的反射光束IF為第一束光；其經(jīng)轉(zhuǎn)鏡3和角反射器5多次反射，再回到分束器2，被分束器2分為反射光束IFF和透射光束IFT，透射光束IFT通過傅立葉透鏡8到達(dá)探測(cè)器9的光程形成第一束光的光程。
2)主光軸上的光在分束器2上第一次被分出的透射光束IT為第二束光；其經(jīng)平面反射鏡7和角反射器6多次反射，再回到分束器2，被分束器2分為反射光束ITF和透射光束ITT，反射光束ITF通過傅立葉透鏡8到達(dá)探測(cè)器9的光程形成第二束光的光程。
3)第一束光再回到分束器2的交點(diǎn)與第二束光再回到分束器2的交點(diǎn)相重合。
4)第一束光被分束器2再次分出的透射光束IFT和第二束被分束器2再次分出的反射光束ITF光路重合。
5)第一束光的光程與第二束光的光程相等。
傅立葉透鏡8的光軸位于第一束光的透射光束IFT與第二束光的反射光束ITF相重合的光路上。探測(cè)器9位于傅立葉透鏡8的焦面上。探測(cè)器9以采用紅外CCD探測(cè)器為宜。圖2所示的被觀測(cè)物10是火箭，其是本發(fā)明用于觀測(cè)火箭尾焰的示意圖。
本發(fā)明光的傳輸過程
1.來自目標(biāo)的光束經(jīng)前置光學(xué)系統(tǒng)11到達(dá)準(zhǔn)直透鏡1，準(zhǔn)直透鏡1將目標(biāo)光束轉(zhuǎn)換成平行光束；平行光束投射到鍍有半透半反膜的分束器2上。
2.分束器2將光束分為反射光束IF和透射光束IT。其中，1)被分束器2分出的反射光束IF(1)經(jīng)轉(zhuǎn)鏡3反射到角反射器5，角反射器5把入射的光沿與入射方向平行的方向反射回轉(zhuǎn)鏡3；(2)轉(zhuǎn)鏡3將光反射回分束器2；(3)反射回分束器2的光再次被分為反射光束IFF和透射光束IFT。
2)被分束器2分出的透射光束IT(1)被平面反射鏡7反射到角反射器6，角反射器6把入射光沿與入射方向平行的方向反射至平面反射鏡7；(2)平面反射鏡7將光反射回分束器2；(3)反射回分束器2的光再次被分為反射光束ITF和透射光束ITT。
3.被分束器2分出的反射光束IF再次被分束器2分出的透射光束IFT，透過分束器2到達(dá)傅立葉透鏡8，被位于傅立葉透鏡8焦面上的探測(cè)器9接收。
4.被分束器2分出的透射光束IT再次被分束器2分出的反射光束ITF，通過傅立葉透鏡8，被位于傅立葉透鏡8焦面上的探測(cè)器9接收。
5.分束器2第一次分出的反射光束IF，經(jīng)轉(zhuǎn)鏡3和角反射器5多次反射，再回到分束器2，通過傅立葉透鏡8會(huì)聚到探測(cè)器9形成第一束光的光程；分束器2第一次分出的透射光束IT，到達(dá)平面反射鏡7，又經(jīng)平面反射鏡7和角反射器6多次反射，再回到分束器2，通過傅立葉透鏡8會(huì)聚到探測(cè)器9形成第二束光的光程；該兩束光產(chǎn)生光程差，成為兩束相干光，在探測(cè)器9上產(chǎn)生干涉光譜圖。
6.干涉光譜圖經(jīng)計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)12進(jìn)行傅立葉變換，得到復(fù)原的目標(biāo)圖像。
權(quán)利要求
1.一種高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀的成像方法，其特征在于該方法包括以下步驟1)準(zhǔn)直透鏡(1)將來自目標(biāo)的光束轉(zhuǎn)換成平行光束；2)分束器(2)將平行光束分為反射光束IF和透射光束IT；①.被分束器(2)分出的反射光束IF經(jīng)轉(zhuǎn)鏡(3)和角反射器(5)多次反射，再回到分束器(2)，通過傅立葉透鏡(8)會(huì)聚到探測(cè)器(9)，形成第一束光的光程；②.被分束器(2)分出的透射光束IT到達(dá)平面反射鏡(7)，經(jīng)平面反射鏡(7)和角反射器(6)多次反射，再回到分束器(2)，通過傅立葉透鏡(8)會(huì)聚到探測(cè)器(9)，形成第二束光的光程；3)第一束光與第二束光通過傅立葉透鏡(8)到達(dá)探測(cè)器(9)時(shí)產(chǎn)生光程差，成為兩束相干光，在探測(cè)器(9)上產(chǎn)生干涉光譜圖；4)干涉光譜圖經(jīng)計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)(12)進(jìn)行傅立葉變換，得到復(fù)原的目標(biāo)圖像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀的成像方法，其特征在于所述第一束光的光程是1)被分束器(2)分出的反射光束IF(i)被轉(zhuǎn)鏡(3)反射到角反射器(5)，角反射器(5)把入射的光沿與入射方向平行的方向反射回轉(zhuǎn)鏡(3)；(ii)轉(zhuǎn)鏡(3)將光反射回分束器(2)；(iii)反射回分束器(2)的光又被分為反射光束IFF和透射光束IFT；2)被分束器(2)分出的反射光束IF再次被分束器(2)分出的透射光束IFT，透過分束器(2)到達(dá)傅立葉透鏡(8)，被探測(cè)器(9)接收；所述第二束光的光程是1)被分束器(2)分出的透射光束IT(i)被平面反射鏡(7)反射到角反射器(6)，角反射器(6)把入射光沿與入射方向平行的方向反射回平面反射鏡(7)；(ii)平面反射鏡(7)將光反射回分束器(2)；(iii)反射回分束器(2)的光又被分為反射光束ITF和透射光束ITT；2)被分束器(2)分出的透射光束IT再次被分束器(2)分出的反射光束ITF，通過傅立葉透鏡(8)，被探測(cè)器(9)接收。
3.一種實(shí)現(xiàn)上述高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀成像方法的光譜儀，包括傅立葉透鏡(8)，位于傅立葉透鏡(8)的焦面上的探測(cè)器(9)，與探測(cè)器(9)相連接的計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)(12)，設(shè)置于前置光學(xué)系統(tǒng)(11)主光軸上的準(zhǔn)直透鏡(1)，設(shè)置于準(zhǔn)直透鏡(1)軸線OO′上的分束器(2)，其特征在于它還包括角反射器(5-6)、平面反射鏡(7)、與電機(jī)(4)相連的轉(zhuǎn)鏡(3)；所述平面反射鏡(7)的位置應(yīng)滿足當(dāng)轉(zhuǎn)鏡(3)、角反射器(5-6)在某一位置定位時(shí)，1)主光軸上的光被分束器(2)第一次分出的反射光束IF為第一束光；第一束光經(jīng)轉(zhuǎn)鏡(3)和角反射器(5)多次反射，再回到分束器(2)，通過傅立葉透鏡(8)會(huì)聚到探測(cè)器(9)形成的第一束光的光程；2)主光軸上的光被分束器(2)第一次分出的透射光束IT為第二束光；第二束光到達(dá)平面反射鏡(7)，經(jīng)平面反射鏡(7)和角反射器(6)多次反射，再回到分束器(2)，通過傅立葉透鏡(8)會(huì)聚到探測(cè)器(9)形成的第二束光的光程；3)第一束光再回到分束器(2)的交點(diǎn)與第二束光再回到分束器(2)的交點(diǎn)相重合；4)第一束光被分束器(2)再次分出的透射光束IFT和第二束被分束器(2)再次分出的反射光束ITF光路重合；5)第一束光的光程與第二束光的光程相等；所述分束器(2)的位置還應(yīng)滿足1)能接收到通過準(zhǔn)直透鏡(1)的初始入射光；2)能接收到經(jīng)轉(zhuǎn)鏡(3)和角反射器(5)反射回的反射光；3)能接收到平面反射鏡(7)和角反射器(6)反射回的反射光；所述傅立葉透鏡(8)的光軸位于第一束光的透射光束IFT與第二束光的反射光束ITF相重合的光路上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀，其特征在于所述角反射器(5)、角反射器(6)的結(jié)構(gòu)相同，兩者背向固連為一體。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的高穩(wěn)定度干涉成像光譜儀，其特征在于所述的探測(cè)器(9)為紅外探測(cè)器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高穩(wěn)定度干涉成像光譜儀，其特征在于所述轉(zhuǎn)鏡(3)由圓柱體的斜端面構(gòu)成。
全文摘要
一種高穩(wěn)定度高光譜分辨率干涉成像光譜儀成像方法及光譜儀，其準(zhǔn)直透鏡將來自目標(biāo)的光轉(zhuǎn)換成平行光束，經(jīng)分束器后分為反射光束和透射光束。反射光束經(jīng)轉(zhuǎn)鏡和角反射器多次反射后回到分束器，由傅立葉透鏡會(huì)聚到探測(cè)器，形成第一束光的光程。透射光束經(jīng)平面反射鏡和角反射器多次反射后回到分束器，由傅立葉透鏡會(huì)聚到探測(cè)器，形成第二束光的光程。兩束光到達(dá)探測(cè)器時(shí)產(chǎn)生光程差，在探測(cè)器上產(chǎn)生干涉光譜圖。干涉光譜圖經(jīng)計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)傅立葉變換，得到復(fù)原的目標(biāo)圖像。本發(fā)明解決了背景技術(shù)只能對(duì)單象素取樣，或系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、穩(wěn)定性差等技術(shù)問題，其可大大縮小儀器的整體結(jié)構(gòu)，且加工簡(jiǎn)單。
文檔編號(hào)G02B27/10GK1945243SQ200510096120
公開日2007年4月11日 申請(qǐng)日期2005年10月9日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月9日
發(fā)明者相里斌, 蘇麗娟, 袁艷, 黃旻, 張文喜, 陶然 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所